特種設備高級考試-工藝復習一點總結

2、無損檢測機構質量目標（1）（2）質量目標應能表述機構的近、中期目標和長遠的奮斗目標（3最高管理者應確保質量目標在檢測機構的相關職能（和層次（管理層、作業(yè)層得到建立，即分解到各職能和層次（4）質量目標是可以考核的。3、質量體系:指為保證產品、過程或服務質量，滿足規(guī)定（或潛有）的要求，由組織機構、職責、程序、活動、能力和資源等構成的有機整體。也就是說，為了實現質量目標的需要而建立的綜合體.企業(yè)在非合同環(huán)境下，只建有質量管理體系；在合同環(huán)境下，企業(yè)應建有質量管理體系和質量保證體系。質量管理體系定義為“在質量方面指揮和控制組織的管理體系”通常包括制定質量方針、目標以及質量策劃、質量控制、質量保證和質量改進等活動。實現質量管理的方針目標，有效地開展各項質量管理活動，必須建立相應的管理體系，這系就叫質量管理體系。質量保證體系是指企業(yè)以提高和保證產品質量為目標運用系統(tǒng)方法依靠必要的組織結構把組織內各環(huán)節(jié)的質量管理活動嚴密組織起來，將產品研制、設計制造、銷售服務和反饋的整個過程中影響產品質量的一切因素統(tǒng)統(tǒng)控制起來形成的一個有明確任務職責權限相互協(xié)調、相互促進的質量管理的有機整體。質量保證體系相應分為質量保證體系和外部質量保證體系。無損檢測機構質量管理體系—5方面17基本(4）檢測實施---檢測過程控制程序、合同評審工作指令控制程序、檢測方法的確定及應用程序、采購服務及供應品管理程序、檢測物品管理程（推薦增加制程序、計算機軟件編審和數據安全程序、檢測工作中意外情況的處理程序）5、應當保持所有檢測和技術的相關和資格、技能、經歷的記錄，如：學歷證明、證明、培訓記錄及專業(yè)培訓6、檢測設備：內容應包括：制造商名稱、型式型號、系列號或者號、接收日期、啟用日期、接收時的狀態(tài)和驗收記錄、設備說明書或者制造商的其他資料等；自校準方程、比對規(guī)定，以及自校準、比對記錄；JB/T4730標準要求對下列設備進行定期校驗：射線探傷機曲線每年校驗一次；黑度計每6個月校驗一次。7、射線檢測技術文件包括檢測方法標準與驗收標準、檢測工藝規(guī)程和工8、無損檢測資料（直接與檢測工作質量相關的）：委托單、作業(yè)通知書（派工單、通用工藝規(guī)程、工藝卡、檢測原始記錄、檢測報告等9、管理是室直接對實體和信息進行管理并提供利用服務的各項業(yè)務工作的總稱，管理包括：收集、整理、價值鑒定、保管、編目和檢索、統(tǒng)計、編輯和研究、提供利用等活動。強天鵬老師某乙烯工程一臺堿渣反應器，（三類容器）介質為液態(tài)堿和烴，設計壓力為8.77MPa，設計溫度為300℃。反應器采用復合板制造，基層材質為16MnR36mm0Cr18i123.0mm（圖略B1（圖略所示。如果在異種鋼結合面上有一條寬度為0.1mm600mm（焊縫余高忽略不計，射線源有效焦點尺寸為3×3mm）答：源在內：L1=564mm 計算源在內的W' 源在外：L1=597mmL2=3 df=3mm計算源在外的W'＜W∴σ=1－W'/2W=1－0.015/2×01=0.925兩者之比：0.925/0.28=3.3（倍一、與射線檢測技術級別1.100＜D≤400的環(huán)向焊接接頭可放寬K≤1，2的規(guī)定2.射線膠片的選用，A級和AB級射線檢測技術應采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術應采用T2類或更高類別的膠一次透照長度與檢測技術級別有關（K值γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍與檢測的技術級別有關，其他透照方式‘放寬最小透照厚度’與技術級別有關（僅限于A級AB級確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術級別有X射線的量的選擇與檢測技術級別有底片評定范圍內的黑度與技術級別有關；黑采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度與技術級別有關（材質無關如采用Co60或高能X射線（4MeV以下）選擇增感屏所用的材只有采當用內透法時f值可以減小。中心50﹪，偏心20﹪而小徑管的透照次數與技術評定區(qū)尺寸選取只與母材的公稱厚度有關，與技術級別X射線照相，能量在500KV以下增感屏的材料應是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術級別只與射線能量有小徑管的透照次數與管外徑和壁厚有關，與檢測技術級別無不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術級別無確定射線源至工件表面的最小距離減小值與檢測技術級別無關，與透照方式有和控制散射線與檢測對接接頭中存在缺陷的性質、數量和密集程度進行質量分級與技術級別無在模擬綜合題（P470-P472頁某檢測機構在對一 球罐（該球罐的規(guī)格：1000MM、壁厚42mm、材質16MnVR）進行開罐檢測時，在該球罐上極板外壁環(huán)焊在模擬綜合題（P470-P472頁度為50mm（做磁粉探傷時發(fā)現經打磨消除后該裂紋深度為6mm1、對該返修部位應進行哪些方法的無損檢測工答：邊返修，邊MT或PT檢測，確認裂紋消除；如補焊方式返修，則返修完畢，進行MT或PT檢測，確認未產生新的表面缺陷；同時，使用RT方法確認未產生新的缺陷。2、對該返修部位編制射線檢測工藝卡時應注意哪些問題？并說明依據和理由？答：射線檢測的技術等級：AB級。按JB/T470.-205第3.8.1條；焊補質量驗收等級：Ⅱ級。按GB12337-1998第8.6.4.4條（注意此條適合安裝組焊時檢測時機：該材質有延遲裂紋傾向，焊接結束至少36h后進行檢測。按GB12337-1998第8.6.2.2條規(guī)定及GB50094-20107.1.3條規(guī)定（注意此條適合安裝組焊時3、比較對焊補部位射線檢測時采用源在外和源在內兩2）從缺陷的檢出能力方面考慮，由于焊補部位在球殼外壁，且16MnVR裂紋敏感性材料，采用源在外透照方式的幾何不綜合應用Di1100×14mm。該容器殼體對接焊縫采用埋弧自動焊，其余為手工雙面電弧焊，B62mm。B4XXH2505、XXQ25052.5×2.5mm、2.5×2.5mm)，Se-75γ射線機（50Ci、焦2×2mm，200×80圖1：為設備結構示意圖 圖2、圖3為曲線1、根據固容規(guī)和GB150的相關規(guī)定，B1焊縫的檢測方法和比例如何選擇2、B5焊縫最優(yōu)的透照方式是哪種？給出選擇的理由。尺寸過大且不利于源在中心布置，而選擇γ射線機時由于源的強度過大根據曲線可知F=152mmT=14時的曝6s4.4.2要求，故不采用源在內中心透照法。33、若B6焊縫， JB/T4730.2-20054.3.1知，ABf≥10d*b2/3，d=2.5mmb=6+2mmf≥100mm，機頭貼緊管透照時焦距最小，其焦距若用X射線機時約為159+2+150（機頭）即Fmin=311mm；而γ射線機因時間過短棄用。F=700mm時幾何不清晰度小，而一次透照長度小，時間長，效率低；4、A1焊縫，若透照焦距為600mm，其一次透照長度為多少5、對B1焊縫而言，根據所給設備，比較其工藝的優(yōu)劣2.0×2.0mmXX25052、源在外單壁透照及源在內偏心透照：比較γ射線機，XXH2505射線機透照時幾何不清晰度比稍大，底片對比66、若采用γ射線周向透照B2焊縫，在曲線上，根據哪個厚度選量2.52.02.5時，能保證母材部RT工藝編制的1通用：TSGR004-20094.5無損檢測全部（100%：技術等級≥AB級，合格≥Ⅱ級50%制造：GB150.1～4-2011《壓力容器》10無損檢測（100%50%在用：TSGR7001-2013全部合格Ⅱ級；局部合格Ⅲ級制造：GB/T20801.1～6-20066.3焊接接頭的無損檢測全部（Ⅰ100%：合格Ⅱ級局部（檢查等級Ⅱ20%、Ⅲ10%、Ⅳ5%：合格Ⅲ級材質方面考慮制造：1.裂紋：延遲裂紋傾向o鋼、再熱裂紋傾向、Rm≥540MPa低合金高強鋼；2.焊接缺在用：1、應力腐蝕傾向：a奧氏體不銹鋼的Cl、Br腐蝕，b低合金鋼的H2S、液氨、NaOH腐蝕；2、氫致表面裂紋、鋼在高溫高壓作用下的氫腐3、疲勞裂以這些條件為作為初步考慮的依據12變小致使1幾何不清晰度Ug減小，2且減小了W（’=df21+2）)使得可檢出的細小裂紋的寬度W也減小，3同時σ增大（但W≥W’時，有σ=1—2）對比度ΔD（ΔD=0434μσGΔ(1+n)）也增大，進而提高了照相靈敏度。2、選擇膠片——優(yōu)先選用梯噪比高的2類膠片。梯噪比高意味著信號的放大能力越強且產生的附加噪聲越小，從而提高底片對影像細節(jié)的顯示能力，最終提高細小裂紋的檢出率。C格對于在用容器看是否有人孔，有則可考慮中心透RT A1、透照靈敏度：單壁透照的靈敏度明顯高于雙壁透照2、缺陷檢出特點：相比源在內透照，源在外透照對容器內壁表面裂紋有更高的檢出率（理由見上；雙壁透照的直透法（比斜透法）更容易檢出未焊透或根部未熔合缺陷（理由是：對此類根部缺陷而言，直透方向形成厚度差ΔT；34、一次透照長度：源在內中心透照法最優(yōu)。一次透照長度較大的透照方式可以提高檢測速度和工作效5、操作方便性X6、試件及探傷設備的具體情況：線源或周向X射線機時，選擇源在內中心透照法對環(huán)焊縫周向，更能發(fā)揮設備的優(yōu)點。值得強調的是，對環(huán)焊縫的各種透照方式中，以源在內中心透照周向法最佳，該方法透照厚度均一，橫向裂紋檢出角為0°，底片黑度、靈敏度俱佳，缺陷檢出率高，且一次透照整條環(huán)縫，工作效率高，應盡可能選用。 考慮題中工件的厚度，結合透照方式計算出透照厚度W（不考慮墊板及余高），根據標準要求γ源允許的透照厚度范圍，如：Se75AB級(5)10≤W≤40B級(最低7)14≤W≤40Ir192AB級(最低10)20≤W≤100B級(如果不滿足要求則選擇X射線機。如果滿足上述要求，則需根據題意對比X射線機與γ射線機的適用性。射線能量的選擇原則：在保證力的前提下，選擇能量較低的射線，以保證照相靈敏度隨著射線能量的增加，射線的平均波長變短，線質變硬，在物質中的衰減變小，能力增強。對比度D降低，固有不清晰Ui增大，底片顆粒也將增大，其效果是射線照相靈敏度下降。選擇的射線能量過低，力不夠，到達膠片的透射線強度過小造成底片黑度不足灰霧增大時間過份延長但可以獲得較高的對比度DD卻意味著較低的透照厚度寬容度L()因此，在有透照厚度差的情況下，選擇射線能量還必須考慮能夠得到合適的透照厚度寬容度L。在底片黑度不變的前提下，提高射線能量可以縮短時間從而可以提高工作效率但其代價是靈敏度降低。為保證透照質量標準對透照不同厚度允許使用的最高管電壓進行限制并要求有適當的量。X①體積較大，以便鞋式、移動式、固定式依次增②基本費用和均較大③能檢查40mm以上的鋼厚度的大X射線機成本很高，一般為移動式而非便攜式④X射線為連續(xù)譜且能量可改變對各種厚度的試件均可使用最適宜的能量同時有利于提高對比度的軟線質部分因此有更高的對比度和高靈敏度；⑤X射線機可用開關切斷，故較易實施射線防護⑥時間一般為幾分鐘⑦所有X射線機均需電源，有些還需水源8對某些條件的現場透照，體積龐大的X射線機使用不方便可能成為主要問題γ①體積小，質量輕，可用于X射線機頭無法接近的現②不需水源或電源，特別適用于野外作業(yè)和在用設備的③可以連續(xù)運行，且不受溫度、壓力、磁場等外界條件④時間長，通常需幾十分鐘，甚至多少小時⑤對薄鋼件（如5mm以下）只有合適的放射性同位素（如Se75）才能獲得較高的靈敏度6γ射線源都有一定的半衰期，給使用帶來不7γ射線是線狀譜，輻射能量固定，無法根據試件厚度進行調節(jié)，當厚度與能量不適配時，靈敏度下降較嚴重8固有不清晰度比X射線大，用同樣的器材及透照技術條件，其靈敏度低于X射線9對安全防護要求高，管理嚴射線源種類對裂紋檢出率有很大的影響，試驗及實踐均表明：Xγ射線底片。任一射線照相靈敏度和裂紋檢出率的角度考慮，選擇射線源應優(yōu)先選X射線機。但由于條件限制，只能采用γ射線源時，應在透照布置、透照器材選用、透照參數選擇、散射線等方面采取措施，盡量提C的焦距必須滿足射線照相對幾何不清晰度的規(guī)定。焦距F越大，Ug值越小，底片上的影像越清新。焦距對射線照相靈敏度影響主要表現在幾何不清晰度Ug上Ug=dfL2/(F—L2)。(此條實際是確定了焦距的最小值)2不同透照方式的焦距選②環(huán)縫偏心內透（F<R，FR）的焦距盡量接近環(huán)縫的半徑減小20%時，應適當增大焦距，減小Ug） 51量與黑度、靈敏度的關系對于X射線來說，量是指管電流i與照射時間t的乘積（=t：對于γ射線來說，量是指放射源活度A與照射時間t的乘積（=At底片的黑度取決于膠片感光乳劑吸收的射線量（即量。如果固定各項透照條件（試件尺寸，源試件、膠片的相對位置，膠片和增感屏，給定的放射源或管電壓，則底片黑度與量52量基準值的確定量應不低于某一最小值。在焦距為700mm，量的基準值為15mA.min（照相質量等級A、AB級）和20mA.min（照相質量等B級53量的調整平方成反E散射線的控制散射線會使射線底片的灰霧黑度增大，影象對比度降低，對射線相質量是有害的。但由于受射線照射的一切物體都是散射源，所以實際上散射線是無法消除的，只能盡量設法減少。例如余高較高的焊縫或小徑管透照時,散射比隨射線能量的增大而減小,因此可以通過提高射線能量的方法來減少散射線。但射線能量值只能適當提高以免對主因對比度和固有不清晰度產生明顯不利的影響。還具有吸收低能散射線的作用,也是最常用的方法。選擇較厚的鉛箔減少散射線的效果較好但會使增感效率降低,因此鉛箔厚度也不能過大。實際使用的鉛箔厚度與射線能量有關,且后屏的厚度一般大于前屏。背防護鉛板：當暗盒背后近距離內金屬或非金屬材料物體,例如鋼平臺、木頭桌面、水泥地面等鉛罩和光闌：使用鉛罩和鉛光闌可以減小照射場范圍,從而在一定程度上減少散射線厚度補償物：在對厚度差較大的工件透照時,可采用厚度補償措施來減少散射線。焊縫照相可使用厚度補償塊,可以在射線窗口處加一金屬薄板,稱為濾板濾板可將x射線束中波長較長的軟射線吸收掉使透過射線波長均勻化,有效能量提高從而減少邊蝕散射。濾板可用黃銅、鉛或鋼制作。遮蔽物：當被透照的試件小于膠片時,應使用遮蔽物對直接處于射線照射的那部分膠片進行遮蔽,以減少邊蝕散,檢查重要的焊縫時,將焊縫余高磨平后透照,可明顯減小散射比獲得更佳的照相質量。另外，對散射線的控制應進行背散射防護檢查，在暗盒背面貼附“B”鉛字標記答：1、固定式壓力容器安全技術監(jiān)察規(guī)程 3、JB/T4730-2005承壓設備無損檢答：Xγ源；T2或T1類；RT方法。5措有利影不利影1幾何不清晰度Ug減小2且減小了W’（W’=dfL2/(L1+L2）)使得可檢出的細小裂紋的寬度也減小1 時間變焦距增3同時σ增大（但W≥W’時，有σ=1—W’/2W）對比度μσGΔT/(1+n)）也增2、散射線3、工作效率低4、均提高了照相靈敏5、透照場變大且更均6、提高裂紋檢出1、底片顆粒度變1、時間變2、底片寬容度變2、黑度變3、梯度變3、散射線4、最小可識別對比度增4、底片靈敏度3、工作效1、感光速1、底片顆粒度變小2、時間變采用高梯噪比膠2、膠片的梯度G變大3、散射線3、提高照相靈4、底片寬容度變4、提高裂紋檢出5、工作效三級理論考試工藝題的解答布置幾何參數（包括：透照厚度、透照焦距、透照次數、一次透照長度、搭接長度等；參數（包括：射kV；；膠片暗室處理參數定影時間等；散射線的處理、安全防護措施等。這些參數和措施并非割裂或各自獨立的，而是互相影響、主線，針對受檢工件的結構特點（）與客觀條件（題目給出的檢測設備與器材、環(huán)境條GB150GB/T20801《壓力管道規(guī)范JB/T4730.2-2005標準對射線源（能量、膠片、增感屏的使用，透照布置、焦距、量、像質計與標記的擺放JB/T4730.2-2005AB級射線檢測技術的要求考慮相對小徑管環(huán)縫，采壁雙影透照方式，并應根據其規(guī)格、焊縫寬度等條件，按JB/T4730.2-2005第4.1.4條規(guī)定難的部位。若為在役的壓力管道、鍋爐管子等工件因檢測時不可拆卸，不能實現單壁透照，可采用環(huán)向焊接接X射線機或適當的γ射線源，對環(huán)縫可采用中心的方式。對球形容器可將射源置于球形容器中心進行全3JB/T4730.2-20054.2條規(guī)定，選0.03mmγJB/T4730.1-20054.2.4JB/T4730.2-20053.5T2類膠片（Agfa-D4型膠片）0.1mm的鉛箔增D4、D5；Fuji50、80；V；GX-A5。③T3類：KodaA、B；Agfa-C7、D7、D8