ASME-RT-檢驗規(guī)程解讀課件

ASMERT

檢驗規(guī)程●1范圍●人員資格

從事本項檢驗的人員，應按照SNT-TC-1A推薦實施規(guī)程《無損檢測人員的資格評定和證書》，取得射線檢驗資格證書。

Ⅰ級人員應服從Ⅱ、Ⅲ級人員的指導監(jiān)督，Ⅱ級人員應服從Ⅲ級人員的指導監(jiān)督。

ASMERT檢驗規(guī)程●1范圍1ASMERT檢驗規(guī)程所有檢驗人員均應在自己的職責范圍內(nèi)勝任ASME法規(guī)、標準以及書面規(guī)程所涉及的檢驗工作，并對工作質(zhì)量負責?！裨O備及材料

檢驗人員應依照標準中規(guī)定的膠片、增感屏、像質(zhì)計、觀片設施、黑度計和階梯黑度片和專用工藝卡選擇設備和材料。

ASMERT檢驗規(guī)程所有檢驗人員均應在自己的職責范圍內(nèi)2ASMERT檢驗規(guī)程■黑度計應最少每隔90天校驗一次?！鲂枰ｒ灥暮诙扔嫅趪覙藴实碾A梯片或楔形階梯比較片上讀出最接近1.0,2.0,3.0及4.0的黑度值?！黾偃绾诙茸x數(shù)與階梯檢驗黑度片上的實際讀數(shù)的變化不超過0.05，則該黑度計驗收合格。

ASMERT檢驗規(guī)程■黑度計應最少每隔90天校驗一次。3ASMERT檢驗規(guī)程■周期校驗a黑度計：在每班工作開始，連續(xù)使用8小時，測量光圈改變時，無論上述哪種情況首先發(fā)生，黑度計應進行周期檢驗驗證。

ASMERT檢驗規(guī)程■周期校驗4ASMERT檢驗規(guī)程■當焊縫有余高或帶襯環(huán)(墊)時，像質(zhì)計下面應放置薄墊片，薄墊片的材質(zhì)應與被檢工件相同或近似，其尺寸、厚度(ts)按圖3.6確定。

t1t2IQI3.2mmts=t1+t2IQI3.2mmts=t1+t3t1t3(a)雙面焊(b)帶襯墊的單面焊ASMERT檢驗規(guī)程■當焊縫有余高或帶襯環(huán)(墊)時，像5ASMERT檢驗規(guī)程1.6mmB13mm8mmASMERT檢驗規(guī)程1.6mmB13mm8mm6ASMERT檢驗規(guī)程

■“B”標記應采用如圖所示尺寸的“B”鉛字標記來檢查背部散射?！?/p>

背散射：將鉛字“B”在曝光時貼到每個膠片暗盒的背面，以測定背散射是否到達膠片。鉛字“B”的尺寸高度不小于12.7mm，厚度不小于1.6mm。當“B”的淡色影像出現(xiàn)在背景較黑的射線照片上，即表示背散射的防護不夠充分，該射線底片應當認為是不合格的。當“B”的黑影像出現(xiàn)在較淡的背景上，則不得作為底片質(zhì)量不合格的原因。

ASMERT檢驗規(guī)程7ASMERT檢驗規(guī)程識別標記IQIX射線機B標記950920BT2551日期B標記Markers

厚度

操作者定位標記工件編號0HBC1152028Z--203L（G）RI1制造廠令號焊縫種類返修次數(shù)ASMERT檢驗規(guī)程識別標記IQIX射線機B標記95098ASMERT檢驗規(guī)程●識別標記每張底片上應該顯示的識別標記，字母或數(shù)字用鉛字制做，其高度略大于像質(zhì)計的識別號碼；可將這些字母或數(shù)字做成一個鉛字牌，用兩塊磁鐵將它固定在被檢工件上。底片上的這些標記，應是永久性的。如合同號、零件號、焊縫或焊縫接頭號或部件號、制造廠的標記符號或名稱、產(chǎn)品規(guī)格、操作者、照相日期、返修次數(shù)?！馎SMERT檢驗規(guī)程●9ASMERT檢驗規(guī)程●表面制備

■應采用適當?shù)姆椒ㄏ齼?nèi)壁(可靠近時)和外壁的焊波或焊縫表面的高低不平，直至它們在射線底片上形成的影像不致于遮蔽任何缺陷的影像，或是與它們相混淆?！鏊袑雍缚p表面施焊完工后可以加工到與母材齊平，或是有適當而均勻的突起，但其余高應符合相關標準規(guī)定的要求。ASMERT檢驗規(guī)程●表面制備10ASMERT檢驗規(guī)程●檢驗■射線照相技術(shù)當只要可以實施，就應當采用單壁透照技術(shù)。一般應將射線中心束對準并垂直于被檢區(qū)域中心。當要發(fā)現(xiàn)特殊缺陷時，Ⅲ級人員可制定臨時工藝卡，確定透照方向。ASMERT檢驗規(guī)程●檢驗11ASMERT檢驗規(guī)程■當單壁透照技術(shù)無法實施時，可采用以下雙壁透照技術(shù)?！鲭p壁單影——當要求環(huán)縫全部檢驗時，應至少互成120°三次曝光?！鲭p壁雙影——對于外徑小于或等于89mm的管子焊縫，可采用雙壁雙影成像技術(shù)。射線源至焊縫表面的距離大于等于600mm。ASMERT檢驗規(guī)程■當單壁透照技術(shù)無法實施時，可采用以12ASMERT檢驗規(guī)程a）采用適當射線偏角，保證橢圓投影中兩側(cè)焊縫的間距約為5～10mm。當要求整個焊縫全部檢驗時，應至少互成90°兩次曝光。b)也可進行垂直透照,使雙壁影像垂疊在一起，當要求全部檢驗時，每個接頭至少要進行三次互成60°或120°的曝光。c)如果(a)、(b)的最少曝光次數(shù)還不能達到射線照相的覆蓋要求，則應增加曝光次數(shù)。ASMERT檢驗規(guī)程a）采用適當射線偏角，保證橢圓投影中13ASMERT檢驗規(guī)程d)對于無法進行兩次互成90°曝光的焊縫，例如成屏后管子對接縫及其它類似情況，也可采用一個方向橢圓曝光。

ASMERT檢驗規(guī)程d)對于無法進行兩次互成90°曝14ASMERT檢驗規(guī)程●射線能量的選擇對任何一種照相方法所采用的射線能量應達到本規(guī)程對底片IQI及黑度的要求?！駧缀尾磺逦取渚€照相的幾何不清晰度由下式?jīng)Q定:FdUg=—D其中:Ug=幾何不清晰度F=射源尺寸:射線源的最大投影尺寸，mmD=射線源至焊縫或工件表面的距離，mm

ASMERT檢驗規(guī)程15

ASMERT檢驗規(guī)程d=射源側(cè)被檢工件表面至膠片的距離，mm●射線照相幾何不清晰度的限定

一般情況下，幾何不清晰度不應超過ASMEⅤ卷Ⅱ章的規(guī)定。對于特殊情況，如采用周向曝光技術(shù)對環(huán)縫照相時，幾何不清晰度最大值不應超過1.78mm。ASMERT檢驗規(guī)程d=射源側(cè)被檢工件表面至膠片的距16ASMERT檢驗規(guī)程Ug值，(T—274)mm材料厚度最大Ugt≤500.5050＜t≤750.7675t≤1001.02t＞1001.8注：材料厚度是指IQI放置處的厚度。

ASMERT檢驗規(guī)程Ug值，(T—17ASMERT檢驗規(guī)程在底片上以影像形式出現(xiàn)的定位標記應按下列要求放置:射源側(cè)對于下列工件進行射線照相時，定位標記應放在射源側(cè):(a)平板部件、圓柱形、圓錐形部件的縱向焊縫；(b)焦距小于半徑，射源在內(nèi)膠片在外的環(huán)向焊縫；(c)膠片在內(nèi)射源在外的環(huán)向焊縫。

ASMERT檢驗規(guī)程在底片上以影像形式出現(xiàn)的定位標記應按18ASMERT檢驗規(guī)程膠片側(cè)(a)焦距大于半徑，射源在內(nèi)，膠片在外的環(huán)向焊縫；(b)當?shù)灼瑥蜕w寬度超過圖5.4.2所示標記范圍時，可用膠片側(cè)標記代替5.4.1(a)中的射源側(cè)標記。ASMERT檢驗規(guī)程膠片側(cè)19ASMERT檢驗規(guī)程兩側(cè)均可焦距等于半徑的周向曝光，定位標記可置于射源側(cè)，也可置于膠片側(cè)。對于雙壁透照,每張底片至少應在焊縫附近(或有效檢驗區(qū)段）放置一個定位標志。識別標記

ASMERT檢驗規(guī)程兩側(cè)均可20ASMERT檢驗規(guī)程別標記應至少包括以下內(nèi)容:檢驗單位、日期、工件編號、焊縫編號，應用不容易混淆的方式記錄在底片上。返修底片應用“R”字母來表示，其后的數(shù)字代表返修次數(shù)。所有標記應離焊縫邊緣至少5mm，且不得遮擋被檢區(qū)。ASMERT檢驗規(guī)程別標記應至少包括以下內(nèi)容:檢驗單位21ASMERT檢驗規(guī)程“B”標記

每次曝光時，所有暗盒背部必須貼附一個鉛字母“B”，用以確定背部散射線是否防護不良。像質(zhì)計的選擇

要求選擇的像質(zhì)計或線徑見表。在其它照相要求滿足的情況下，小孔大厚度或大孔小厚度的板孔像質(zhì)計均可使用。ASMERT檢驗規(guī)程“B”標記22ASMERT檢驗規(guī)程

對于帶余高焊縫，像質(zhì)計選擇依據(jù)標稱單壁厚度加余高高度。像質(zhì)計選擇時不應考慮襯環(huán)或襯墊的厚度。

沒有余高的焊縫，像質(zhì)計選擇依據(jù)標稱單壁厚度。像質(zhì)計選擇時不應考慮襯環(huán)和襯墊的厚度。ASMERT檢驗規(guī)程

對于帶余高焊縫，像質(zhì)計選擇依23ASMERT檢驗規(guī)程像質(zhì)計的使用

對于異種鋼焊縫或異種填充金屬的焊縫，當焊縫金屬屬于同一合金組或級別，但具有與母材不同的輻射衰減時，像質(zhì)計的材料應按焊縫金屬選擇。

除上述所述情況外，像質(zhì)計應放在射源側(cè)，板孔型像質(zhì)計可以放在焊縫旁邊或放在焊縫上，線型像質(zhì)計應放在焊縫上，線的長度方向應與焊縫長度方向垂直。如圖5.8所示。ASMERT檢驗規(guī)程像質(zhì)計的使用24ASMERT檢驗規(guī)程011/41/21/4最細絲圖.5.8ASMERT檢驗規(guī)程011/425ASMERT檢驗規(guī)程

在射源側(cè)無法放置的情況下，可以將像質(zhì)計放在膠片側(cè)。此時像質(zhì)計附近應有一個鉛字母“F”；若使用板孔型像質(zhì)計，此“F”標記不得遮擋基本孔的影像顯示。

對于一次曝光使用一個以上暗盒的工件，除上述情況外，每張底片上至少要有一個像質(zhì)計的影像。ASMERT檢驗規(guī)程

在射源側(cè)無法放置的情況下，可以26ASMERT檢驗規(guī)程特殊情況(1)對圓柱形容器，射線源位于工件的軸線上進行一次曝光,在以下情況下至少要求采用三個透度計，彼此相隔成120°左右:(a)當用一個或多個底片盒對整個圓周進行射線照相時，或；(b)當采用一個或多個底片盒對圓周一段或多段進行射線照相時，最外段端部之間的跨距范圍為ASMERT檢驗規(guī)程特殊情況27ASMERT檢驗規(guī)程(2)對圓柱形容器射線源位于工件軸線上進行一次曝光，在以下情況下,要求至少采用三個透度計，兩個分別放在射線檢驗的圓周跨距的兩端,另一個放在跨距大致中心位置:(a)當僅采用一個底片盒，對圓周范圍大于120°而小于240°的部分進行射線檢驗時，或；ASMERT檢驗規(guī)程(2)對圓柱形容器射線源位于工28ASMERT檢驗規(guī)程(b)當采用一個或多個底片盒對圓周的一段或多段進行射線檢驗，最外段之間跨距范圍小于240°時。(3)在以上的(1)、(2)中,當與環(huán)縫相連的縱向焊縫與環(huán)縫同時進行射線照相檢驗時，在離被檢環(huán)縫接頭最遠的每條縱縫端部另放一個透度計。ASMERT檢驗規(guī)程(b)當采用一個或多個底片盒29ASMERT檢驗規(guī)程(4)對于球形容器，當射線源放在工件的中心用一次曝光時,在以下情況下,至少要求采用三個透度計，相互間隔120°:(a)當用一個或多個底片盒對整個圓周進行射線照相時，或；(b)當用一個或多個底片盒對圓周一段或多段進行射線照相時，最外段端部之間的跨距范圍為240°或大于240°，需要增加的膠片位置應滿足透度計間隔要求。ASMERT檢驗規(guī)程(4)對于球形容器，當射線源放在30ASMERT檢驗規(guī)程

(5)對于球形工件，射線源位于工件軸線上進行一次曝光，在以下情況下,要求至少采用三個透度計，兩個分別放在射線檢驗的圓周跨距的兩端,另一個放在跨距大致中心位置:(a)當僅采用一個底片盒，對圓周范圍大于120°而小于240°的部分進行射線檢驗時，或；

(b)當采用一個或多個底片盒,對圓周的一段或多段進行射線檢驗時,被檢部分端部之間的跨距范圍小于240°時。ASMERT檢驗規(guī)程(5)對于球形工件，射線源位31ASMERT檢驗規(guī)程

(6)在以上(4)、(5)中，與其它焊縫同時進行射線照相時,其它每條焊縫應放一個透度計。(7)當工件排列成圓周進行射線照相時，每個工件上至少顯示一個透度計。(8)為了保證每次記錄與以后多次曝光記錄的連續(xù)，所有符合(1)～(6)技術(shù)要求顯示透度計的影像的射線底片都必須保存。

ASMERT檢驗規(guī)程(6)在以上(4)32ASMERT檢驗規(guī)程

如果被檢區(qū)的黑度低于像質(zhì)計影像黑度的15%（或高于30%），且在規(guī)定的范圍之內(nèi),則應使用兩只像質(zhì)計，一只放在最談區(qū)，另一只放在最暗區(qū)，重新透照。

ASMERT檢驗規(guī)程如果被檢區(qū)的黑度低于像質(zhì)計影像黑度33

ASMERT檢驗規(guī)程

底片質(zhì)量

所有底片不應存在有影響被檢區(qū)缺陷辨認的機械損傷、化學污物或其它偽缺陷。

如:(a)霧翳；(b)暗室處理偽缺陷，如:污斑、水跡、化學銹蝕；(c)撕裂、皺折、指印、臟物、靜電感光、黑點等；(d)由于增感屏與膠片接觸不良而引起的模糊不清；(e)由于增感屏損壞或增感屏內(nèi)部有缺陷而形成的假像等。ASMERT檢驗規(guī)程底片質(zhì)量34ASMERT檢驗規(guī)程底片黑度

注:

*被檢區(qū)域任何一點的黑度值，應該保證在像質(zhì)計黑度值的-15%和+30%之內(nèi)。**雙片重疊觀察時，單片的最低黑度值為1.3。

觀片方式底

片

黑

度

最小黑度

最大黑度

X射線

γ射線

單片1.82.04.0重疊2.6(1.3**)2.6(1.3**)4.0ASMERT檢驗規(guī)程底片黑度底片黑度最小黑35ASMERT檢驗規(guī)程

檢收標準(PW—51，UW—51，AI—510)

焊縫底片上具有下列缺陷顯示特征的影像應判為不合格:

任何裂紋、未熔合及未焊透；

超出下述規(guī)定的條狀顯示:6mm,當t≤19mm時；1/3t,當19＜t≤57mm時；19mm,當t＞57mm時。

其中t為被檢材料厚度(不包括余高高度)。如果為不等厚材料焊接而成，則t為二者較薄者。

ASMERT檢驗規(guī)程檢收標準(PW—51，UW36ASMERT檢驗規(guī)程

相鄰兩缺陷間距不超過6L的任何一組條狀夾渣，其累計長度在12t焊縫長度內(nèi)超過t的(其中L為該組缺陷中最長者的長度)。

記錄報告及存檔

射線檢驗記錄應包括底片評定記錄、報告及工藝卡等。

上述記錄和報告由評定人員填寫，報告和記錄中，應有評定、審核等人員的簽名。

全部底片以及有關記錄報告等應依據(jù)法規(guī)有關規(guī)定妥善保管。

ASMERT檢驗規(guī)程

相鄰兩缺陷間距不超過37ASMERT檢驗規(guī)程文

件

1黑度計：按相關要求校驗的黑度計應編制文件，但每一階梯讀數(shù)并不需要記錄。定期進行黑度計驗證應按周期檢驗a進行，但也不需要記錄。

2階梯黑度校驗片：按照相關要求進行驗證的階梯黑度校驗片應編制文件。但每

一階梯的實際讀數(shù)不需要記錄。ASMERT檢驗規(guī)程文件

1黑度計：按相關要求校38

39ASMERT

檢驗規(guī)程●1范圍●人員資格

從事本項檢驗的人員，應按照SNT-TC-1A推薦實施規(guī)程《無損檢測人員的資格評定和證書》，取得射線檢驗資格證書。

Ⅰ級人員應服從Ⅱ、Ⅲ級人員的指導監(jiān)督，Ⅱ級人員應服從Ⅲ級人員的指導監(jiān)督。

ASMERT檢驗規(guī)程●1范圍40ASMERT檢驗規(guī)程所有檢驗人員均應在自己的職責范圍內(nèi)勝任ASME法規(guī)、標準以及書面規(guī)程所涉及的檢驗工作，并對工作質(zhì)量負責?！裨O備及材料

檢驗人員應依照標準中規(guī)定的膠片、增感屏、像質(zhì)計、觀片設施、黑度計和階梯黑度片和專用工藝卡選擇設備和材料。

ASMERT檢驗規(guī)程所有檢驗人員均應在自己的職責范圍內(nèi)41ASMERT檢驗規(guī)程■黑度計應最少每隔90天校驗一次?！鲂枰ｒ灥暮诙扔嫅趪覙藴实碾A梯片或楔形階梯比較片上讀出最接近1.0,2.0,3.0及4.0的黑度值?！黾偃绾诙茸x數(shù)與階梯檢驗黑度片上的實際讀數(shù)的變化不超過0.05，則該黑度計驗收合格。

ASMERT檢驗規(guī)程■黑度計應最少每隔90天校驗一次。42ASMERT檢驗規(guī)程■周期校驗a黑度計：在每班工作開始，連續(xù)使用8小時，測量光圈改變時，無論上述哪種情況首先發(fā)生，黑度計應進行周期檢驗驗證。

ASMERT檢驗規(guī)程■周期校驗43ASMERT檢驗規(guī)程■當焊縫有余高或帶襯環(huán)(墊)時，像質(zhì)計下面應放置薄墊片，薄墊片的材質(zhì)應與被檢工件相同或近似，其尺寸、厚度(ts)按圖3.6確定。

t1t2IQI3.2mmts=t1+t2IQI3.2mmts=t1+t3t1t3(a)雙面焊(b)帶襯墊的單面焊ASMERT檢驗規(guī)程■當焊縫有余高或帶襯環(huán)(墊)時，像44ASMERT檢驗規(guī)程1.6mmB13mm8mmASMERT檢驗規(guī)程1.6mmB13mm8mm45ASMERT檢驗規(guī)程

■“B”標記應采用如圖所示尺寸的“B”鉛字標記來檢查背部散射?！?/p>

背散射：將鉛字“B”在曝光時貼到每個膠片暗盒的背面，以測定背散射是否到達膠片。鉛字“B”的尺寸高度不小于12.7mm，厚度不小于1.6mm。當“B”的淡色影像出現(xiàn)在背景較黑的射線照片上，即表示背散射的防護不夠充分，該射線底片應當認為是不合格的。當“B”的黑影像出現(xiàn)在較淡的背景上，則不得作為底片質(zhì)量不合格的原因。

ASMERT檢驗規(guī)程46ASMERT檢驗規(guī)程識別標記IQIX射線機B標記950920BT2551日期B標記Markers

厚度

操作者定位標記工件編號0HBC1152028Z--203L（G）RI1制造廠令號焊縫種類返修次數(shù)ASMERT檢驗規(guī)程識別標記IQIX射線機B標記950947ASMERT檢驗規(guī)程●識別標記每張底片上應該顯示的識別標記，字母或數(shù)字用鉛字制做，其高度略大于像質(zhì)計的識別號碼；可將這些字母或數(shù)字做成一個鉛字牌，用兩塊磁鐵將它固定在被檢工件上。底片上的這些標記，應是永久性的。如合同號、零件號、焊縫或焊縫接頭號或部件號、制造廠的標記符號或名稱、產(chǎn)品規(guī)格、操作者、照相日期、返修次數(shù)?！馎SMERT檢驗規(guī)程●48ASMERT檢驗規(guī)程●表面制備

■應采用適當?shù)姆椒ㄏ齼?nèi)壁(可靠近時)和外壁的焊波或焊縫表面的高低不平，直至它們在射線底片上形成的影像不致于遮蔽任何缺陷的影像，或是與它們相混淆?！鏊袑雍缚p表面施焊完工后可以加工到與母材齊平，或是有適當而均勻的突起，但其余高應符合相關標準規(guī)定的要求。ASMERT檢驗規(guī)程●表面制備49ASMERT檢驗規(guī)程●檢驗■射線照相技術(shù)當只要可以實施，就應當采用單壁透照技術(shù)。一般應將射線中心束對準并垂直于被檢區(qū)域中心。當要發(fā)現(xiàn)特殊缺陷時，Ⅲ級人員可制定臨時工藝卡，確定透照方向。ASMERT檢驗規(guī)程●檢驗50ASMERT檢驗規(guī)程■當單壁透照技術(shù)無法實施時，可采用以下雙壁透照技術(shù)?！鲭p壁單影——當要求環(huán)縫全部檢驗時，應至少互成120°三次曝光?！鲭p壁雙影——對于外徑小于或等于89mm的管子焊縫，可采用雙壁雙影成像技術(shù)。射線源至焊縫表面的距離大于等于600mm。ASMERT檢驗規(guī)程■當單壁透照技術(shù)無法實施時，可采用以51ASMERT檢驗規(guī)程a）采用適當射線偏角，保證橢圓投影中兩側(cè)焊縫的間距約為5～10mm。當要求整個焊縫全部檢驗時，應至少互成90°兩次曝光。b)也可進行垂直透照,使雙壁影像垂疊在一起，當要求全部檢驗時，每個接頭至少要進行三次互成60°或120°的曝光。c)如果(a)、(b)的最少曝光次數(shù)還不能達到射線照相的覆蓋要求，則應增加曝光次數(shù)。ASMERT檢驗規(guī)程a）采用適當射線偏角，保證橢圓投影中52ASMERT檢驗規(guī)程d)對于無法進行兩次互成90°曝光的焊縫，例如成屏后管子對接縫及其它類似情況，也可采用一個方向橢圓曝光。

ASMERT檢驗規(guī)程d)對于無法進行兩次互成90°曝53ASMERT檢驗規(guī)程●射線能量的選擇對任何一種照相方法所采用的射線能量應達到本規(guī)程對底片IQI及黑度的要求?！駧缀尾磺逦取渚€照相的幾何不清晰度由下式?jīng)Q定:FdUg=—D其中:Ug=幾何不清晰度F=射源尺寸:射線源的最大投影尺寸，mmD=射線源至焊縫或工件表面的距離，mm

ASMERT檢驗規(guī)程54

ASMERT檢驗規(guī)程d=射源側(cè)被檢工件表面至膠片的距離，mm●射線照相幾何不清晰度的限定

一般情況下，幾何不清晰度不應超過ASMEⅤ卷Ⅱ章的規(guī)定。對于特殊情況，如采用周向曝光技術(shù)對環(huán)縫照相時，幾何不清晰度最大值不應超過1.78mm。ASMERT檢驗規(guī)程d=射源側(cè)被檢工件表面至膠片的距55ASMERT檢驗規(guī)程Ug值，(T—274)mm材料厚度最大Ugt≤500.5050＜t≤750.7675t≤1001.02t＞1001.8注：材料厚度是指IQI放置處的厚度。

ASMERT檢驗規(guī)程Ug值，(T—56ASMERT檢驗規(guī)程在底片上以影像形式出現(xiàn)的定位標記應按下列要求放置:射源側(cè)對于下列工件進行射線照相時，定位標記應放在射源側(cè):(a)平板部件、圓柱形、圓錐形部件的縱向焊縫；(b)焦距小于半徑，射源在內(nèi)膠片在外的環(huán)向焊縫；(c)膠片在內(nèi)射源在外的環(huán)向焊縫。

ASMERT檢驗規(guī)程在底片上以影像形式出現(xiàn)的定位標記應按57ASMERT檢驗規(guī)程膠片側(cè)(a)焦距大于半徑，射源在內(nèi)，膠片在外的環(huán)向焊縫；(b)當?shù)灼瑥蜕w寬度超過圖5.4.2所示標記范圍時，可用膠片側(cè)標記代替5.4.1(a)中的射源側(cè)標記。ASMERT檢驗規(guī)程膠片側(cè)58ASMERT檢驗規(guī)程兩側(cè)均可焦距等于半徑的周向曝光，定位標記可置于射源側(cè)，也可置于膠片側(cè)。對于雙壁透照,每張底片至少應在焊縫附近(或有效檢驗區(qū)段）放置一個定位標志。識別標記

ASMERT檢驗規(guī)程兩側(cè)均可59ASMERT檢驗規(guī)程別標記應至少包括以下內(nèi)容:檢驗單位、日期、工件編號、焊縫編號，應用不容易混淆的方式記錄在底片上。返修底片應用“R”字母來表示，其后的數(shù)字代表返修次數(shù)。所有標記應離焊縫邊緣至少5mm，且不得遮擋被檢區(qū)。ASMERT檢驗規(guī)程別標記應至少包括以下內(nèi)容:檢驗單位60ASMERT檢驗規(guī)程“B”標記

每次曝光時，所有暗盒背部必須貼附一個鉛字母“B”，用以確定背部散射線是否防護不良。像質(zhì)計的選擇

要求選擇的像質(zhì)計或線徑見表。在其它照相要求滿足的情況下，小孔大厚度或大孔小厚度的板孔像質(zhì)計均可使用。ASMERT檢驗規(guī)程“B”標記61ASMERT檢驗規(guī)程

對于帶余高焊縫，像質(zhì)計選擇依據(jù)標稱單壁厚度加余高高度。像質(zhì)計選擇時不應考慮襯環(huán)或襯墊的厚度。

沒有余高的焊縫，像質(zhì)計選擇依據(jù)標稱單壁厚度。像質(zhì)計選擇時不應考慮襯環(huán)和襯墊的厚度。ASMERT檢驗規(guī)程

對于帶余高焊縫，像質(zhì)計選擇依62ASMERT檢驗規(guī)程像質(zhì)計的使用

對于異種鋼焊縫或異種填充金屬的焊縫，當焊縫金屬屬于同一合金組或級別，但具有與母材不同的輻射衰減時，像質(zhì)計的材料應按焊縫金屬選擇。

除上述所述情況外，像質(zhì)計應放在射源側(cè)，板孔型像質(zhì)計可以放在焊縫旁邊或放在焊縫上，線型像質(zhì)計應放在焊縫上，線的長度方向應與焊縫長度方向垂直。如圖5.8所示。ASMERT檢驗規(guī)程像質(zhì)計的使用63ASMERT檢驗規(guī)程011/41/21/4最細絲圖.5.8ASMERT檢驗規(guī)程011/464ASMERT檢驗規(guī)程

在射源側(cè)無法放置的情況下，可以將像質(zhì)計放在膠片側(cè)。此時像質(zhì)計附近應有一個鉛字母“F”；若使用板孔型像質(zhì)計，此“F”標記不得遮擋基本孔的影像顯示。

對于一次曝光使用一個以上暗盒的工件，除上述情況外，每張底片上至少要有一個像質(zhì)計的影像。ASMERT檢驗規(guī)程

在射源側(cè)無法放置的情況下，可以65ASMERT檢驗規(guī)程特殊情況(1)對圓柱形容器，射線源位于工件的軸線上進行一次曝光,在以下情況下至少要求采用三個透度計，彼此相隔成120°左右:(a)當用一個或多個底片盒對整個圓周進行射線照相時，或；(b)當采用一個或多個底片盒對圓周一段或多段進行射線照相時，最外段端部之間的跨距范圍為ASMERT檢驗規(guī)程特殊情況66ASMERT檢驗規(guī)程(2)對圓柱形容器射線源位于工件軸線上進行一次曝光，在以下情況下,要求至少采用三個透度計，兩個分別放在射線檢驗的圓周跨距的兩端,另一個放在跨距大致中心位置:(a)當僅采用一個底片盒，對圓周范圍大于120°而小于240°的部分進行射線檢驗時，或；ASMERT檢驗規(guī)程(2)對圓柱形容器射線源位于工67ASMERT檢驗規(guī)程(b)當采用一個或多個底片盒對圓周的一段或多段進行射線檢驗，最外段之間跨距范圍小于240°時。(3)在以上的(1)、(2)中,當與環(huán)縫相連的縱向焊縫與環(huán)縫同時進行射線照相檢驗時，在離被檢環(huán)縫接頭最遠的每條縱縫端部另放一個透度計。ASMERT檢驗規(guī)程(b)當采用一個或多個底片盒68ASMERT檢驗規(guī)程(4)對于球形容器，當射線源放在工件的中心用一次曝光時,在以下情況下,至少要求采用三個透度計，相互間隔120°:(a)當用一個或多個底片盒對整個圓周進行射線照相時，或；(b)當用一個或多個底片盒對圓周一段或多段進行射線照相時，最外段端部之間的跨距范圍為240°或大于240°，需要增加的膠片位置應滿足透度計間隔要求。ASMERT檢驗規(guī)程(4)對于球形容器，當射線源放在69ASMERT檢驗規(guī)程

(5)對于球形工件，射線源位于工件軸線上進行一次曝光，在以下情況下,要求至少采用三個透度計，兩個分別放在射線檢驗的圓周跨距的兩端,另一個放在跨距大致中心位置:(a)當僅采用一個底片盒，對圓周范圍大于120°而小于240°的部分進行射線檢驗時，或；

(b)當采用一個或多個底片盒,對圓周的一段或多段進行射線檢驗時,被檢部分端部之間的跨距范圍小于240°時。ASMERT檢驗規(guī)程(5)對于球形工件，射線源位70ASMERT檢驗規(guī)程

(6)在以上(4)、(5)中，與其它焊縫同時進行射線照相時,其它每條焊縫應放一個透度計。(7)當工件排列成圓周進行射線照相時，每個工件上至少顯示一個透度計。(8)為了保證每次記錄與以后多次曝光記錄的連續(xù)，所有符合(1)～(6)技術(shù)要求顯示透度計的影像的射線底片都必須保存。

ASMERT檢驗規(guī)程(6)在以上(4)71ASMERT檢驗規(guī)程

如果被