軟件測(cè)試課件7

軟件測(cè)試實(shí)踐所需技能

韋慶杰軟件工程學(xué)科研究生課程–——軟件質(zhì)量保證與測(cè)試2中文軟件測(cè)試網(wǎng)站：

英文軟件測(cè)試網(wǎng)站：

/

/參考鏈接測(cè)試文檔的編寫測(cè)試策略測(cè)試計(jì)劃測(cè)試用例測(cè)試報(bào)告缺陷報(bào)告缺陷管理軟件測(cè)試實(shí)踐所需技能一個(gè)幫助組織和管理測(cè)試項(xiàng)目的文件（Adocumentwhichhelpsorganizeandmanagethetestingeffort）一個(gè)描述測(cè)試范圍、做法、資源和計(jì)劃進(jìn)行測(cè)試的時(shí)間表。它確定測(cè)試細(xì)節(jié)、要測(cè)試的功能、測(cè)試任務(wù)、負(fù)責(zé)人和需要相應(yīng)緊急計(jì)劃的風(fēng)險(xiǎn)。（Adocumentdescribingthescope,approach,resources,andscheduleofintendedtestingactivities.Itidentifiestestitems,thefeaturestobetested,thetestingtasks,whowilldoeachtask,andanyrisksrequiringcontingencyplanning）測(cè)試計(jì)劃16componentsofTestPlan(IEEE,1983)1)Testplanidentifier（測(cè)試計(jì)劃標(biāo)識(shí))2)Instruction(引言）3)TestItems（定義或主題詞)4)Featurestobetested（需要被測(cè)試的功能)5)Featuresnottobetested(無(wú)需被測(cè)試的功能)6)Approach(方法和途徑）7)Itemspass/failcriteria（測(cè)試通過(guò)、失敗的標(biāo)準(zhǔn))8)Suspensioncriteriaandresumptionrequirements（延遲的標(biāo)準(zhǔn)和再恢復(fù)的要求)測(cè)試計(jì)劃標(biāo)準(zhǔn)格式16componentsofTestPlan(IEEE,1983)9)Testdeliverables(測(cè)試交付的內(nèi)容)10)TestingTasks(測(cè)試任務(wù))11)Environmentalneeds（必備的環(huán)境)12)Responsibilities(職責(zé))13)Staffingandtrainingneeds(人員和必需的培訓(xùn))14)Schedule(時(shí)間進(jìn)度表)15)Riskandcontingencies(風(fēng)險(xiǎn)和相關(guān)費(fèi)用）16)Approvals（批準(zhǔn))測(cè)試計(jì)劃標(biāo)準(zhǔn)格式1)測(cè)試范圍2)角色和任務(wù)分配3)測(cè)試方法4)優(yōu)先度設(shè)定和決策分析5)編寫測(cè)試規(guī)范6)測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)7)里程碑的進(jìn)入和退出標(biāo)準(zhǔn)8)測(cè)試計(jì)劃模板9)風(fēng)險(xiǎn)分析與對(duì)策……測(cè)試計(jì)劃考慮因素見測(cè)試計(jì)劃模板測(cè)試計(jì)劃實(shí)例分析IEEE的定義：有對(duì)一個(gè)或多個(gè)軟件功能測(cè)試的途徑和確認(rèn)所需的測(cè)試詳細(xì)描述的文件（“adocumentspecifyingthedetailsofthetestapproachesforasoftwarefeatureorcombinationofsoftwarefeaturesandidentifyingtheassociatedtests）” TheInstituteofElectricalandElectronicsEngineers(IEEE):IEEEStandardforSoftwareTestDocumentation，1998。有的公司也叫TDS，即TestDesignSpecification的簡(jiǎn)稱。意思是測(cè)試設(shè)計(jì)規(guī)范。測(cè)試規(guī)范1)對(duì)要測(cè)功能的解釋說(shuō)明2)測(cè)試的相關(guān)性和依賴性3)測(cè)試的具體方法和策略4)專項(xiàng)測(cè)試和具體測(cè)試范圍5)功能細(xì)分后的具體測(cè)試方法和時(shí)間安排6)測(cè)試的子功能細(xì)分及要驗(yàn)證的期望行為7)確定自動(dòng)化測(cè)試方法測(cè)試規(guī)范主要內(nèi)容1)測(cè)試用例：是描述具體怎樣測(cè)試一種軟件行為的文字段落。2)測(cè)試用例通常描述指定的數(shù)據(jù)或文字輸入、軟件行為、事件和期望的結(jié)果。3)執(zhí)行一個(gè)測(cè)試用例是要驗(yàn)證軟件行為是否符合用戶的期望結(jié)果和是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo)。測(cè)試用例基本概念1)執(zhí)行測(cè)試，發(fā)現(xiàn)缺陷2)重復(fù)執(zhí)行測(cè)試，重現(xiàn)缺陷3)管理測(cè)試過(guò)程4)回歸測(cè)試，驗(yàn)證缺陷是否修復(fù)5)使測(cè)試更加方便的執(zhí)行6)提高測(cè)試效率7)節(jié)省執(zhí)行測(cè)試的時(shí)間8)使測(cè)試更能按照時(shí)間計(jì)劃進(jìn)行9)使測(cè)試過(guò)程更方便管理測(cè)試用例的用途和目的有效用例(Validcase)或者叫合法輸入用例：是那些已知軟件程序能正確地處理的測(cè)試用例（atestcasethattheprogramisdesignedtohandlecorrectly無(wú)效用例（Invalidcase有人叫不合法輸入用例）或者出錯(cuò)用例(errorcase)：是那些事先就知道軟件程序不支持處理的測(cè)試用例。（atestcasethattheprogramisNOTdesignedtohandlecorrectly）有效用例和無(wú)效用例1)標(biāo)題（突出目的）2)測(cè)試版本3)初始條件4)輸入的數(shù)據(jù)和輸出結(jié)果5)執(zhí)行程序的步驟6)標(biāo)明預(yù)期的結(jié)果或者意外的結(jié)果7)標(biāo)明任何所需的測(cè)試裝配/環(huán)境需要參考：測(cè)試用例模板測(cè)試用例常見內(nèi)容和格式測(cè)試用例的代表性

能夠代表并覆蓋各種合理的和不合理的、合法的和非法的、邊界的和越界的以及極限的輸入數(shù)據(jù)、操作和環(huán)境設(shè)置等。測(cè)試結(jié)果的可判定性

即測(cè)試執(zhí)行結(jié)果的正確性是可判定的，每一個(gè)測(cè)試用例都應(yīng)有相應(yīng)的期望結(jié)果。測(cè)試結(jié)果的可再現(xiàn)性

即對(duì)同樣的測(cè)試用例，系統(tǒng)的執(zhí)行結(jié)果應(yīng)當(dāng)是相同的。設(shè)計(jì)測(cè)試用例的基本準(zhǔn)則1)假設(shè)讀者知道所需要的背景知識(shí)，省略重要解釋或步驟2)引用信息卻無(wú)信息出處3)對(duì)特定功能的測(cè)試目的太籠統(tǒng)4)要求驗(yàn)證的期望行為太多，致使如果有一個(gè)期望行為沒通過(guò)而其他都通過(guò)也不能算該測(cè)試是‘通過(guò)’5)使用無(wú)清楚定義的概念和假設(shè)6)使用首字母縮寫詞或者只有少數(shù)人員知道的開發(fā)項(xiàng)目的縮寫或代號(hào)7)執(zhí)行步驟過(guò)分簡(jiǎn)單或者過(guò)分復(fù)雜編寫測(cè)試用例應(yīng)避免的問(wèn)題Myers提出了使用各種測(cè)試方法的綜合策略：1)在任何情況下都必須使用邊界值分析方法，經(jīng)驗(yàn)表明用這種方法設(shè)計(jì)出測(cè)試用例發(fā)現(xiàn)程序錯(cuò)誤的能力最強(qiáng)。2)必要時(shí)用等價(jià)類劃分方法補(bǔ)充一些測(cè)試用例。3)用錯(cuò)誤推測(cè)法再追加一些測(cè)試用例。4)對(duì)照程序邏輯，檢查已設(shè)計(jì)出的測(cè)試用例的邏輯覆蓋程度，如果沒有達(dá)到要求的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)當(dāng)再補(bǔ)充足夠的測(cè)試用例。5)如果程序的功能說(shuō)明中含有輸入條件的組合情況，則一開始就可選用條件組合覆蓋。測(cè)試用例設(shè)計(jì)的策略測(cè)試用例設(shè)計(jì)實(shí)例在軟件設(shè)計(jì)方面的場(chǎng)景設(shè)計(jì)法可以引入到軟件測(cè)試中，可以比較生動(dòng)地描繪出事件觸發(fā)時(shí)的情景，有利于測(cè)試設(shè)計(jì)者設(shè)計(jì)測(cè)試用例，同時(shí)使測(cè)試用例更容易理解和執(zhí)行基本流和備選流：如下圖所示，圖中經(jīng)過(guò)用例的每條路徑都用基本流和備選流來(lái)表示，直黑線表示基本流，是經(jīng)過(guò)用例的最簡(jiǎn)單的路徑場(chǎng)景設(shè)計(jì)法場(chǎng)景設(shè)計(jì)場(chǎng)景1——成功提款基本流

場(chǎng)景2——ATM內(nèi)沒有現(xiàn)金基本流備選流2場(chǎng)景3——ATM內(nèi)現(xiàn)金不足基本流備選流3場(chǎng)景4——PIN有誤（還有輸入機(jī)會(huì)）基本流備選流4場(chǎng)景5——PIN有誤（不再有輸入機(jī)會(huì)）基本流備選流4場(chǎng)景6——賬戶不存在/賬戶類型有誤基本流備選流5場(chǎng)景7——賬戶余額不足基本流備選流6對(duì)于這7個(gè)場(chǎng)景中的每一個(gè)場(chǎng)景都需要確定測(cè)試用例?？梢圆捎镁仃嚮驔Q策表來(lái)確定和管理測(cè)試用例。下面顯示了一種通用格式，其中各行代表各個(gè)測(cè)試用例，而各列則代表測(cè)試用例的信息。本示例中，對(duì)于每個(gè)測(cè)試用例，存在一個(gè)測(cè)試用例ID、條件（或說(shuō)明）、測(cè)試用例中涉及的所有數(shù)據(jù)元素（作為輸入或已經(jīng)存在于數(shù)據(jù)庫(kù)中）以及預(yù)期結(jié)果測(cè)試用例設(shè)計(jì)測(cè)試用例表TC（測(cè)試用例）ID號(hào)場(chǎng)景/條件PIN賬號(hào)輸入（或選擇）的金額賬面金額ATM內(nèi)的金額預(yù)期結(jié)果CW1場(chǎng)景1：成功提款VVVVV成功提款CW2場(chǎng)景2：ATM內(nèi)沒有現(xiàn)金VVVVI提款選項(xiàng)不可用，用例結(jié)束CW3場(chǎng)景3：ATM內(nèi)現(xiàn)金不足VVVVI警告消息，返回基本流步驟6，輸入金額CW4場(chǎng)景4：PIN有誤（還有不止一次輸入機(jī)會(huì)）IVn/aVV警告消息，返回基本流步驟4，輸入PINCW5場(chǎng)景4：PIN有誤（還有一次輸入機(jī)會(huì)）I

Vn/aVV警告消息，返回基本流步驟4，輸入PINCW6場(chǎng)景4：PIN有誤（不再有輸入機(jī)會(huì)）IVn/aVV警告消息，卡予保留，用例結(jié)束測(cè)試用例數(shù)據(jù)設(shè)計(jì)TC（測(cè)試用例）ID號(hào)場(chǎng)景/條件PIN賬號(hào)輸入（或選擇）的金額（元）賬面

金額（元）ATM內(nèi)的金額（元）預(yù)期結(jié)果CW1場(chǎng)景1：成功提款4987809-49850.00500.002000成功提款。賬戶余額被更新為450.00CW2場(chǎng)景2：ATM內(nèi)沒有現(xiàn)金4987809-498100.00500.000.00提款選項(xiàng)不可用，用例結(jié)束CW3場(chǎng)景3：ATM內(nèi)現(xiàn)金不足4987809-498100.00500.0070.00警告消息，返回基本流步驟6，輸入金額CW4場(chǎng)景4：PIN有誤（還有不止一次輸入機(jī)會(huì)）4978809-498n/a500.002000警告消息，返回基本流步驟4，輸入PINCW5場(chǎng)景4：PIN有誤（還有一次輸入機(jī)會(huì)）4978809-498n/a500.002000警告消息，返回基本流步驟4，輸入PINCW6場(chǎng)景4：PIN有誤（不再有輸入機(jī)會(huì)）4978809-498n/a500.002000警告消息，卡予保留，用例結(jié)束1)測(cè)試結(jié)果報(bào)告是總結(jié)某階段完成的測(cè)試執(zhí)行和已找到的缺陷結(jié)果的分析和說(shuō)明。2)缺陷分析本質(zhì)上是對(duì)缺陷中包含的信息項(xiàng)進(jìn)行收集，匯總，分類之后使用適當(dāng)方法（或者分析模型）得出分析結(jié)果的過(guò)程。3)缺陷分析得出的結(jié)果可以用來(lái)：度量軟件開發(fā)過(guò)程中各階段中工作產(chǎn)品的質(zhì)量了解缺陷集中的區(qū)域明晰缺陷發(fā)展趨向

什么是測(cè)試結(jié)果報(bào)告1缺陷的嚴(yán)重等級(jí)2缺陷所在