質(zhì)量管理體系五大手冊SPC教材

統(tǒng)計過程控制

StatisticalProcessControl1什么是SPC統(tǒng)計過程控制？

SPC強調(diào)預(yù)防，防患於未然是SPC的宗旨實施SPC的目的：（過程分布的最小化）

對過程作出可靠的評估；確定過程的統(tǒng)計控制界限，判斷過程是否失控和過程是否有能力；為過程提供一個早期報警系統(tǒng)，及時監(jiān)控過程的情況以防止廢品的發(fā)生；減少對常規(guī)檢驗的依賴性，定時的觀察以及系統(tǒng)的測量方法替代大量的檢測和驗證工作在線監(jiān)控異常預(yù)警系統(tǒng)分析持續(xù)改進S(Statistical):運用統(tǒng)計性資料和分析技法（如控制圖）

P(Process):確認(rèn)Process引起變動的原因和能力狀態(tài)C(Control):為達(dá)成Process目標(biāo)，維持和持續(xù)改進過程的管理活動。2過程控制傳統(tǒng)的過程控制即對產(chǎn)品和過程特性進行檢驗。預(yù)防與檢測檢測——容忍浪費預(yù)防——避免浪費3評判型檢驗4SQC和下游檢驗5源頭檢驗6統(tǒng)計過程控制模型我們工作的方式/資源的融合產(chǎn)品或服務(wù)顧客識別不斷變化的需求和期望顧客的呼聲輸入人設(shè)備材料方法環(huán)境過程/系統(tǒng)輸出過程的呼聲統(tǒng)計方法顧客的呼聲7SPC常用術(shù)語解釋名稱解釋平均值（X）一組測量值的均值極差Range一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差變差（Variation）過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。σ（Sigma）用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(StandardDeviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母σ或字母s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。普通原因（CommonCause）造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。特殊原因（SpecialCause）一種間斷性的，不可預(yù)計的，不穩(wěn)定的變差根源。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。8名稱解釋穩(wěn)定過程（StableProcess）處于統(tǒng)計控制狀態(tài)的過程。統(tǒng)計控制（StatisticalControl）描述一個過程的狀態(tài)，這個過程中所有的特殊原因變差都已排除，并且僅存在普通原因。即：觀察到的變差可歸咎于恒定系統(tǒng)的偶然原因。過程能力(ProcessCapability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。計量型數(shù)據(jù)（VariableData）定量的數(shù)據(jù)，可用測量值來分析。例如：用毫米表示的軸承軸頸直徑，用牛頓表示關(guān)門的力，用百分?jǐn)?shù)表示電解液的濃度等。計數(shù)型數(shù)據(jù)（AttributesData）可以用來記錄和分析的定性數(shù)據(jù)，例如：用通止規(guī)檢驗一根軸的可接受性、一個油漆后工件上的顆粒數(shù)、一匹布上的疵點數(shù)等。過度調(diào)整把每一個偏離目標(biāo)的值當(dāng)作過程中特殊原因處理的作法。如果根據(jù)每一次所作的測量來調(diào)整一個穩(wěn)定的過程，則調(diào)整就成了另外一個變差源。SPC常用術(shù)語解釋9每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同范圍范圍范圍范圍但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個分布：分布可以通過以下因素來加以區(qū)分：位置分布寬度形狀樣本數(shù)量規(guī)范中心均值10正態(tài)分布N（μ，σ）的概率特性界限μ±kσ界限內(nèi)的概率（％）界限外的概率（％）μ±0.67σ50.0050.00μ±1σ68.2631.74μ±1.96σ95.005.00μ±2σ95.454.55μ±2.58σ99.001.00μ±3σ99.730.27μ±4σ99.99370.00631168.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分布概率12如果僅存在變差的普通原因，目標(biāo)值線隨著時間的推移，過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。預(yù)測

時間范圍目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推預(yù)測移，過程的輸出不穩(wěn)定。

時間

范圍13過程控制

受控

（消除了特殊原因）

時間范圍不受控（存在特殊原因）14

過程能力受控且有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差已減少）

規(guī)范下限

規(guī)范上限

時間范圍受控但沒有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差太大）15局部措施和對系統(tǒng)采取措施局部措施通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相關(guān)的人員實施大約可糾正15%的過程問題對系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施，以便糾正大約可糾正85%的過程問題普通原因受控系統(tǒng)措施特殊原因非受控局部措施總結(jié)16過程控制和過程能力控制滿足要求受控不受控可接受1類（理想狀態(tài)）3類（存在變差的特殊原因）不可接受2類(存在過大的變差的普通原因）4類（存在變差的普通原因和特殊原因）簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于受統(tǒng)計控制狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，就可評定滿足顧客期望的能力。17持續(xù)改進18SPC興起的背景：起源戰(zhàn)后經(jīng)濟遭受嚴(yán)重破壞的日本在1950年通過休哈特早期的一個同事戴明(W.Ed-wardsDeming)博士，將SPC的概念引入日本。從1950～1980年，經(jīng)過30年的努力，日本躍居世界質(zhì)量與生產(chǎn)率的領(lǐng)先地位。美國著名質(zhì)量管理專家伯格(RogerW.Berger)教授指出，日本成功的基石之一就是SPC。美國美國貝爾實驗室休哈特博士（W.A.Shewhart）於1924年發(fā)明控制圖，開啟了統(tǒng)計質(zhì)量控制的新時代。

1940’s二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。19控制圖上控制限中心限下控制限1、收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限識別變差的特殊原因并采取措施3、分析及改進確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個階段從而不斷改進過程20控制圖的目的控制圖和其他的統(tǒng)計圖（趨勢圖、推移圖）不同，因為它不但能夠把數(shù)據(jù)用曲線表示出來，觀察其變化的趨勢，而且能顯示變異是屬于機遇性或非機遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，從而采取適當(dāng)?shù)拇胧＠每刂葡迏^(qū)分是否為非機遇性21控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計量值控制圖均值與極差控制圖均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位數(shù)與極差控制圖單值與移動極差控制圖計數(shù)值控制圖不良率控制圖(P)不良數(shù)控制圖(np)缺點數(shù)控制圖(c)單位缺點控制圖(u)22控制圖的應(yīng)用時機計量型數(shù)據(jù)嗎？

n=1？關(guān)心的是不合格率嗎？均值是否方便計算？n是否恒定？n是否恒定？

n≥9？s是否方便計算？Pn或p圖p圖C或U圖U圖是否是是是是是是是否否否否否否否n：樣本容量23CASESTUDY質(zhì)量特性樣本數(shù)選用什么圖長度5重量10乙醇比重1電燈亮／不亮100每一百平方米的缺點100平方米24控制圖種類(依用途來分)解析用控制圖決定方針用過程解析用過程能力研究用過程控制準(zhǔn)備用控制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項原因并且研究采取防止此項原因重復(fù)發(fā)生之措施。解析用穩(wěn)定控制用25控制界限和規(guī)格界限規(guī)格界限：是用以說明產(chǎn)品特性之最大許可值，來保證各個單位產(chǎn)品之正確性能。（如：長度10+/-0.5mm;-0.5—+0.5)控制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體之量度，這種量度是從一群中各個單位產(chǎn)品所得的觀測值所計算出來者。26使用控制圖的準(zhǔn)備建立適用于實施的環(huán)境（人力、物力的提供）定義過程（通過因果分析、過程流程確定哪一個過程、控制計劃）確定待管理的特性，考慮到顧客的需求（客戶指定的產(chǎn)品/過程特性）當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域（問題集中出現(xiàn)）特性間的相互關(guān)係（特性之間的代替轉(zhuǎn)換）確定測量系統(tǒng)（力求良好的準(zhǔn)確度、精密度）使不必要的變差最小27抽樣方案a.子組大?。哼x擇子組應(yīng)使得一個子組內(nèi)在該單元中的各樣之間出現(xiàn)變差的機會小。如果一個子組內(nèi)的變差代表很短時間內(nèi)的零件間的變差，則在子組之間出現(xiàn)不正常的變差則表明過程發(fā)生變化，應(yīng)進行調(diào)查并采取適當(dāng)?shù)拇胧?。因此，每個子組內(nèi)的變差主要應(yīng)是普通原因造成的b.子組頻率——其目的是檢查經(jīng)過一段時間后過程中的變化。應(yīng)當(dāng)在適當(dāng)?shù)臅r間收集足夠的子組，這樣子組才能反映潛在的變化。這些變化的潛在原因可能是換班、或操作人員更換、溫升趨勢、材料批次等原因造成的。目標(biāo)：子組內(nèi)出現(xiàn)特殊原因的機率小，子組間大2829建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋30建立Xbar-R圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計算每個子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差劃到控制圖上3132每個子組的平均值和極差的計算11009899100982989998101973999710010098410010010199995101999910099平均99.698.699.410098.2極差3332233平均值和極差平均值的計算（樣本平均值）R值的計算（樣本極差）34Ｂ計算控制限B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線建立Xbar-R圖的步驟B35計算控制線36

注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值

見下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3?????0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31

注：對于樣本容量小于7的情況，LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為6的子組，6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。

3738Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限建立Xbar-R圖的步驟C39控制圖的判讀超出控制界限的點：出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處于非受控控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異常說明控制限計算或描點錯誤；零件分布寬度變大或變?。粶y量系統(tǒng)已改變(如：不同的檢驗員、量具、分辨力不適用)。40控制圖的判讀鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)連續(xù)7點上升(后點等于或大于前點)或下降。UCLCLLCL輸出值的分布寬度增加(減小)或是由于過程中的某個要素變化；測量系統(tǒng)改變；測量系統(tǒng)改變，這樣會遮掩過程真實性能的變化。41控制圖的判讀明顯的非隨機圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有2/3的點落于中間1/3的區(qū)域。UCLCLLCL控制限或描點已計算措或描錯；過程或取樣方法被分層；數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯；42控制圖失控檢驗Test1.OnePointBeyondZoneCTest2.NinePointsinaRowonOneSideoftheCenterLineTest3.SixPointsinaRowSteadilyIncreasingorDecreasingTest4.FourteenPointsinaRowAlternatingUpandDownxxxxUCLLCLCCBAABUCLLCLCCBAABUCLLCLCCBAABUCLLCLCCBAABxx43控制圖失控檢驗UCLLCLCCBAABTest5.TwoOutofThreePointsinaRowinZoneCorBeyondTest6.FourOutofFivePointsinaRowinZoneBandBeyondTest7.FifteenPointsinaRowinZoneA(AboveandBelowCenterline)Test8.EightPointsinaRowonBothSidesofCenterlinewithNoneinZoneAxxxxxxxUCLLCLCCBAABUCLLCLCCBAABUCLLCLCCBAAB44為了繼續(xù)進行控制延長控制限當(dāng)過程受控時，延長控制限使之覆蓋將來的一段時間。這些控制限可用來繼續(xù)對過程進行監(jiān)視，操作人員和檢驗人員根據(jù)Xbar或R圖上出現(xiàn)的非受控狀態(tài)的信號采取及時的措施。子組的容量的變化將影響期望的平均極差以及控制限，這種情況可能發(fā)生。如：決定減少樣本容量但增加抽樣頻次，這樣可以不增加每天抽樣零件數(shù)的情況下，更快地檢測到大的過程變化。如果有證據(jù)表明過程已不受控，應(yīng)查明原因；如果變化是可調(diào)整的，則應(yīng)根據(jù)當(dāng)前的性能重新計劃控制限。45重新計劃控制限計算新的控制限用新的子組容量查系數(shù)估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差用現(xiàn)有的子組容量計算

n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.0846收集數(shù)據(jù)繪圖及計算控制限是否異常延伸控制限N找出異常點原因并提出相應(yīng)措施過程有變化人機料法環(huán)測量Y控制限運用說明47Casestudy12345678910111213141677674727674707270737473707226875737478747274787674767579368779675787173757775767775804697995728072717672757772727815161718192021222324252627281757470627478808072557073727327478656475778179685672737472378776562767281746858717670744797264617573797465567274747648Casestudy請計算出上表的X-R控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？如果過程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=4調(diào)為n=5時，那么其新控制限為何？49Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立Xbar-R圖的步驟D50過程能力指數(shù)Cp51過程能力指數(shù)Cpk52過程性能指數(shù)Ppk53101418T1216μCpCPLCPUCPKCpm1321.52.51.51.11T1014181216101418T1216μCpCPLCPUCPKCpm1422.02.02.01.11μCpCPLCPUCPKCpm1522.51.51.51.11指數(shù)差異說明54A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：Xbar-s控制圖55B計算控制限Xbar-s控制圖56C過程控制解釋(同Xbar-R圖解釋)Xbar-s控制圖D過程能力解釋估計過程標(biāo)準(zhǔn)差57A收集數(shù)據(jù)一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。58B計算控制限59C過程控制解釋(同X-R圖解釋)估計過程標(biāo)準(zhǔn)差60測量費用很大時（例如破壞性實驗），或是當(dāng)任何時刻點的輸出性質(zhì)比較一致時（例如：化學(xué)溶液的PH值）。單值控制在檢查過程變化時不如X-R圖敏感。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用X-R。由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變異性，直到子組數(shù)達(dá)到100個以上。X-MR控制圖61A收集數(shù)據(jù)收集各組數(shù)據(jù)計算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個讀數(shù)點的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動極差的個數(shù)會比單值讀數(shù)少一個(25個讀值可得24個移動極差)，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如3或4個)或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個班上讀取)的基礎(chǔ)上計算極差。X-MR控制圖62B計算控制限X-MR控制圖63C過程控制解釋審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有連系的，因為它們至少有一點是共同的。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意?？捎脝沃祱D分析超出控制限的點，在控制限內(nèi)點的分布，以及趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號X-MR控制圖64估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：式中，R為移動極差的均值，d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。X-MR控制圖65Casestudy組12345678910數(shù)值96989892949597969690組11121314151617181920數(shù)值92908889949992949797組212223242526數(shù)值94989084889666Casestudy請計算出上表的X-MR控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？67不合格和缺陷的說明結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏／泄漏不合格品率-p圖不合格品數(shù)-np圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡缺陷數(shù)-c圖單位缺陷數(shù)-u圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯誤68p控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋69建立p圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖70A1子組容量、頻率、數(shù)量子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。71A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率記錄每個子組內(nèi)的下列值被檢項目的數(shù)量─n發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量─np通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率72A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。劃圖區(qū)域73A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個子組的p值，將這些點連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當(dāng)點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。7475Ｂ計算控制限B1計算過程平均不合格品率B2計算上、下控制限B3劃線并標(biāo)注建立p控制圖的步驟B76計算平均不合格率及控制限77劃線并標(biāo)注均值用水平實線線：一般為黑色或藍(lán)色實線?？刂葡抻盟教摼€：一般為紅色虛線。盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖：10020030010020010010020030010012121212327879Ｃ過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定證據(jù)C2尋找并糾正特殊原因C3重新計算控制界限超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形建立p圖的步驟C80尋找并糾正特殊原因當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了非受控的情況時，則必須研究操作過程以便確定其原因。然后糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對操作進行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。可利用諸如排列圖和因果分析圖等解決定問題數(shù)據(jù)。81控制圖的即時性processTIMEREALTIME82重新計算控制限當(dāng)進行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時，應(yīng)重新計算試驗控制限，以更排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時期。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對照它來評價。83Ｄ過程能力解釋D1計算過程能力D2評價過程能力D3改進過程能力D4繪制并分析修改后的過程控制圖建立p的步驟D84計算過程能力對于p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點都受控后才計算該值。如需要，還可以用符合規(guī)范的比例(1-p)來表示。對于過程能力的初步估計值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點。當(dāng)正式研究過程能力時，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個或更多時期子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。這些連續(xù)的受控的時期子組的p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計值。85評價過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取系統(tǒng)上的措施降低偶因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限86繪制并分析修改后的過程控制圖當(dāng)對過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來；控制圖成為驗證措施有效性的一種途徑。對過程進行改變時，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識別并糾正后，過程將按一個新的過程均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。這個新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進行調(diào)查和改進。87Casestudy組12345678910“n”100150100200150100100200150100“d”1013210210組11121314151617181920“n”150200100150100100150200200150“d”0102010210組2122232425“n”100150200150100“d”0120188Casestudy請計算出上表的p控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？89不合格品數(shù)np圖“np”圖是用來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量，與p圖不同，np圖表示不合格品實際數(shù)量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。（如：PPM）各階段子組的樣本容量相同?！皀p”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處棄如下：90A收集數(shù)據(jù)受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。91B計算控制限92過程控制解釋、過程能力解釋C過程控制解釋：同“p”圖的解釋。D過程能力解釋：過程能力如下：931001001001001001001001001001001210121202不合格品數(shù)np圖94Casestudy組12345678910“n”150150150150150150150150150150“d”1013210210組11121314151617181920“n”150150150150150150150150150150“d”0102010210組2122232425“n”150150150150150“d”0120195Casestudy請計算出上表的np控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？96缺陷數(shù)c圖“c”圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗：不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點)，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格)。主要不同之處如下：97A收集數(shù)據(jù)檢驗樣本的容量(零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外證的變化(樣本容量n)，在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；記錄并描繪每個子組內(nèi)的缺陷數(shù)(c)98B計算控制限99過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數(shù)平均值。100Casestudy組12345678910“c”1013210210組11121314151617181920“c”0102010210組2122232425“c”01201每一組的樣本數(shù)都是固定為100。101Casestudy請計算出上表的c控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？102單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的u圖“u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的?！皍”圖和“c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個“單位產(chǎn)品”的量，為使報告值更有意義時，可以使用“u”圖，并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用“