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10-5nm），因而通過各種途徑以求測得點陣常數(shù)的精確值點陣常數(shù)是通過X射線衍射線的位置θ 以立方晶系為例，測定θ后，點陣常數(shù)a點陣常數(shù)a的精度主要取決于sinθ的精度。θΔθ當Δθ一定時，sinθ的變化與θ的所在范圍有很大的關(guān)系！ 算。在討論吸收因子時曾，對于高度吸收的試樣，高角 吸收誤差對于φ所引起的總誤差可由下式求得： 校來校正或消除誤差。取衍射峰寬約1°處的寬度中點作為峰位。 物，即測量衍射峰頂部等間 定峰方法除以上幾種外，還有弦中、弦中點法、1/8高 性、中子衍射、X射線衍射力等。X射的不足之處在于其測定準確度尚不十分高，在測定構(gòu)件動態(tài)過程中的應(yīng)力等方面也存在一定的。 化相同，從而導致衍射線向某方向位移(2θ角的變化)，這就 要，X射的目觀應(yīng)力σφ，如圖為此，要利用彈性力學理論求出σφ的表達式，將其與晶面 角值，就可以計算出σφ值。完成上述測定的方法有照相分，則有sin2ψ法、0°-45°法等。照相法效率低，誤差 θ2θ 相對位置不變，即ψ0保持不變，而通過計數(shù)管掃描來接收個衍射峰，這種方法稱固定ψ0法。如果入射X射線方向固過程中ψ角保持不變，這種方法稱固定ψ法。顯然，固定ψ法測得的是ψ方向上的應(yīng)變，而固定ψ0ψψ0 Δdd=﹣cotθ·Δθ，或Δθ=﹣tanθ×Δd確測得，必須十分強調(diào)選用高角的衍射線條進 X射線衍射線的 面間距在鞏d0±Δd范圍內(nèi)變化。 X射線衍射法測定非晶結(jié)構(gòu)的原理是利用相干散射原子散射線互不，散射線的強度等于所有原子的散 對于晶體，原子有序分布，其散射線相互，故有很敏銳的衍射發(fā)生，其衍射花樣是

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