GB/T 10263.1-1988輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)基本要求與方法總則

UDC621.039：681.2.001.4F85中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10263.1-88輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)基本要求與方法總則Basicenvironmentaltestingproceduresforradiationdetectors-Generalprogram1988-12-30發(fā)布1989-10-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)UDC621.039:681輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)基本.2.001.4GB10263.1-88要求與方法總則Basicenvironmentaltestingproceduresforradiationdetectors-Generalprogram一般的試驗(yàn)項(xiàng)目外，本標(biāo)準(zhǔn)編寫的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目除-，考慮到輻射探測(cè)器的特性，增加了光效應(yīng)、核輻照和磁場(chǎng)三項(xiàng)試驗(yàn)項(xiàng)目。本標(biāo)準(zhǔn)所提到的試驗(yàn)項(xiàng)目可根據(jù)輻射探測(cè)器的特性及產(chǎn)品的用途各有所側(cè)重。主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)的總則、要求與方法、并對(duì)輻射探測(cè)器在環(huán)境試驗(yàn)中共同性的問(wèn)題作了統(tǒng)一規(guī)定。本標(biāo)準(zhǔn)適用于輻射探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)，對(duì)于組成輻射探測(cè)器的部件亦可參照使用。引用標(biāo)準(zhǔn)GB2421~2424電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程3術(shù)語(yǔ)3.1輻射源radiationsource能發(fā)射電離輻射的裝置與物質(zhì)。3.2放射源radiactivesource用作電離輻射的任何址的放射性物質(zhì)、3.3福射探測(cè)器radiationdetectors以直接或間接方式給出適用于測(cè)最人射輻射的一個(gè)或幾個(gè)量的信息的部件、裝置或材料.3.4光效應(yīng)effectofexposuretolight器件受到光輻照時(shí)或輻照后，其性能發(fā)生變化或所產(chǎn)生各種效應(yīng)。3.5福照irradiation電離輻射的照射。3.6福射損傷radiationdamage材料或器件的物理或化學(xué)性質(zhì)因受電離輻射的照射而引起的有害變化。3.7福射損傷radiationdamagethreshold產(chǎn)生輻射損傷時(shí)最小的累積劑量（累積通量）或劑量辜（瞬時(shí)劑量)。3.8黑積劑量accumulativedose以連續(xù)或不連續(xù)的方式所受輻射照射的吸收劑址之和，有時(shí)亦指劑量當(dāng)最之和。3.9環(huán)境試驗(yàn)enviromentaltest把器件放置于一種或幾種環(huán)境條件下，以確定這些條件對(duì)其性能特性的影響。3.10環(huán)境條件enviromentalcondition來(lái)自器件外部、作用于受試器件并可能影響器件性