標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法》與《GB/T 15244-2002 玻璃的電子探針定量分析方法》相比，主要存在以下幾個方面的差異和更新：

  1. 適用范圍擴(kuò)展：2013版標(biāo)準(zhǔn)不僅限于一般玻璃的分析，而是特別針對硅酸鹽玻璃，明確了分析對象的特定類型，提高了針對性和專業(yè)性。

  2. 分析方法的增加：2002版標(biāo)準(zhǔn)主要聚焦于電子探針（EPMA）這一種分析技術(shù)，而2013版則擴(kuò)展到了波譜法（可能是X射線熒光光譜法等）及能譜法（SEM-EDS），為硅酸鹽玻璃的定量分析提供了更多樣化的技術(shù)手段，提高了分析的靈活性和準(zhǔn)確性。

  3. 技術(shù)細(xì)節(jié)的更新：新版標(biāo)準(zhǔn)在測量原理、儀器校準(zhǔn)、樣品制備、數(shù)據(jù)處理等方面可能包含了更先進(jìn)的技術(shù)和更詳細(xì)的操作指導(dǎo)，以適應(yīng)科技進(jìn)步和分析技術(shù)的發(fā)展，確保分析結(jié)果的可靠性和可比性。

  4. 質(zhì)量控制要求提升：2013版標(biāo)準(zhǔn)可能對分析過程中的質(zhì)量控制措施提出了更嚴(yán)格的要求，包括但不限于空白試驗(yàn)、重復(fù)性測試、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對照等，以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)化語言和格式的優(yōu)化：隨著標(biāo)準(zhǔn)化工作的發(fā)展，2013版標(biāo)準(zhǔn)在表述、術(shù)語定義、符號使用等方面可能更加規(guī)范和清晰，便于使用者理解和執(zhí)行。

  6. 參考標(biāo)準(zhǔn)的更新：新版標(biāo)準(zhǔn)引用了最新的國家標(biāo)準(zhǔn)、國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)文獻(xiàn)，反映了該領(lǐng)域最新研究成果和技術(shù)進(jìn)展，提高了標(biāo)準(zhǔn)的時效性和科學(xué)性。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2013-07-19 頒布
  • 2014-03-01 實(shí)施
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GB/T 15244-2013微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析波譜法及能譜法_第1頁
GB/T 15244-2013微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析波譜法及能譜法_第2頁
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文檔簡介

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T15244—2013

代替

GB/T15244—2002

微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析

波譜法及能譜法

Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisofsilicateglassbywavelength

dispersiveX-rayspectrometryandenergydispersiveX-rayspectrometry

2013-07-19發(fā)布2014-03-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T15244—2013

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替玻璃的電子探針定量分析方法

GB/T15244—2002《》

本標(biāo)準(zhǔn)與相比主要內(nèi)容變化如下

GB/T15244—2002:

增加了標(biāo)準(zhǔn)樣品的選擇原則見和

———(5.15.2);

刪除中和

———5.3(K-44)(K-45);

增加了試樣制備后的要求見

———(6.1);

修改了試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品蒸鍍導(dǎo)電膜的具體要求見

———(6.3);

修改了儀器定量分析前開機(jī)時間的要求見

———(7.1.1);

增加了分析區(qū)域較大時也可以用電子探針的同軸光學(xué)顯微鏡確定分析部位見

———“,”(7.14);

加速電壓選擇中增加了過壓比的要求修改了不同原子序數(shù)的加速電壓選擇方法見

———,(7.2.1);

增加了硅漂移能譜儀的束流選擇方法見

———(SDD)(7.2.2);

增加了用電子束掃描的方法分析不穩(wěn)定玻璃見

———(7.2.3);

修改了射線線系的原子序數(shù)選擇范圍見

———X(7.2.4);

增加了能譜儀的測量條件見

———SDD(7.3.3);

增加了射線強(qiáng)度在測量時間內(nèi)變化量小于的要求見

———X1%(7.3.5);

增加了輕元素的差值法測量見

———(8.2);

增加了無標(biāo)樣定量分析方法見

———EDS(8.4)。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人李香庭曾毅吳偉

:、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T15244—2002。

Ⅰ

GB/T15244—2013

微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析

波譜法及能譜法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針儀和掃描電子顯微鏡的射線波譜儀和能譜儀

(EPMA)(SEM)X(WDS)

對硅酸鹽玻璃的定量分析方法

(EDS)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅酸鹽玻璃試樣包括堿金屬的硅酸鹽玻璃的波譜法和能譜法的定

()(WDX)(EDX)

量分析

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T4930—2008

微束分析能譜法定量分析

GB/T17359—2012

礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法

GB/T17366

微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析

GB/T28634—2012

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

場致遷移field-inducedmigration

在絕緣體中由電子或離子轟擊造成的內(nèi)部電場使原子發(fā)生遷移的效應(yīng)

。

32

.

硅酸鹽玻璃silicateglass

以二氧化硅為主要成分的玻璃最常用的有鈉鈣硅酸鹽玻璃鈉鋁硅酸鹽玻璃鈉硼硅酸鹽玻璃

。、、、

建筑玻璃日用玻璃大部分光學(xué)玻璃玻璃纖維等

、、、。

33

.

離子遷移ionmigration

在電子束照射下試樣中某些元素的離子向電子束轟擊點(diǎn)移動的現(xiàn)象

,。

34

.

遷移組分migrationcomposition

在電子束照射下試樣中發(fā)生離子遷移的元素

,。

3

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