標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 19600-2004 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)》。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了使用接觸式探頭(觸針)測量儀器對產(chǎn)品表面結(jié)構(gòu)進行輪廓測量時的校準(zhǔn)方法與要求,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。具體要點包括:
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適用范圍:標(biāo)準(zhǔn)適用于所有利用觸針接觸式探頭來測量和評估工件表面粗糙度、波紋度以及其他表面輪廓特性的儀器。這涵蓋了從簡單的便攜式粗糙度儀到高級的輪廓掃描系統(tǒng)等多種設(shè)備。
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術(shù)語定義:標(biāo)準(zhǔn)首先明確了相關(guān)的專業(yè)術(shù)語和定義,如表面結(jié)構(gòu)、輪廓、算術(shù)平均偏差(Ra)、采樣長度、評價長度等,為后續(xù)內(nèi)容的準(zhǔn)確理解奠定基礎(chǔ)。
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校準(zhǔn)原則:闡述了校準(zhǔn)的基本原則,要求校準(zhǔn)過程需考慮儀器的工作原理、測量范圍、精度等級及使用環(huán)境等因素,確保校準(zhǔn)活動的科學(xué)性和有效性。
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標(biāo)準(zhǔn)參考表面:詳細說明了用于校準(zhǔn)的參考標(biāo)準(zhǔn)表面的選擇、使用和維護要求。這些標(biāo)準(zhǔn)表面具有已知且穩(wěn)定的表面特性,用以檢驗和調(diào)整儀器的測量性能。
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校準(zhǔn)程序:提供了詳細的校準(zhǔn)步驟和方法,包括儀器的預(yù)調(diào)整、測量參數(shù)設(shè)置、實際測量操作、數(shù)據(jù)處理及分析等,確保校準(zhǔn)過程的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化。
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校準(zhǔn)結(jié)果評估:介紹了如何根據(jù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)評估儀器的測量誤差、重復(fù)性和再現(xiàn)性,以及如何根據(jù)評估結(jié)果對儀器進行必要的調(diào)整或校正。
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記錄與報告:強調(diào)了校準(zhǔn)過程中記錄的詳細要求和校準(zhǔn)報告的編制格式,確保校準(zhǔn)活動的可追溯性和透明度。
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校準(zhǔn)周期與維護:提出了關(guān)于校準(zhǔn)頻率的建議,并強調(diào)了儀器日常維護的重要性,以維持其長期的測量精度和穩(wěn)定性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2004-11-11 頒布
- 2005-07-01 實施
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GB/T 19600-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS17.040.30J04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19600—2004/ISO12179:2000產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)GeometricalProductSpecifications(GPS)—Surfacetexture--ProfilemethodCalibrationofcontact(stylus)instruments(ISO12179:2000,IDT)2004-11-11發(fā)布2005-07-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)GB/T19600-2004/ISO12179:2000中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼:100045http://www,電話:63787337、637874472005年6月第一版2005年7月電子版制作書號:155066·1-22523版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話:(010)68533533
GB/T19600—2004/IS012179:2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO12179:2000《產(chǎn)品兒何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了符合GB/T6062定義的接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)原則,提供了用測量標(biāo)準(zhǔn)對儀器進行校準(zhǔn)的校準(zhǔn)方法和程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用輪廊法測量表面結(jié)構(gòu)的觸針式測量儀器的校準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B均為規(guī)范性附錄;附錄C和附錄D為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:機械科學(xué)研究院、哈爾濱量具刃具廠、時代集團公司、中國計量科學(xué)研究院、成都工具研究所、北京市計量科學(xué)研究所、哈爾濱理工大學(xué)。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王欣玲、郎巖梅、王忠濱、高思田、鄧寧、吳迅、陳捷
GB/T19600—2004/IS012179:2000產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廊法接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn)范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輪魔法測量工件表面結(jié)構(gòu)的接觸(觸針)式儀器的計量特性校準(zhǔn)的術(shù)語、原則、方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于GB/T6062—2002中聞述的輪廊法測量表面結(jié)構(gòu)的接觸(觸針)式儀器計量特性的校準(zhǔn)。該校準(zhǔn)是借助于測量標(biāo)準(zhǔn)完成的。附錄A給出了測量圖形法參數(shù)儀器的校準(zhǔn)附錄B適用于簡化運算的接觸(觸針)式儀器的校準(zhǔn),此類儀器不符合GB/T6062—2002的定義規(guī)范性引用文件下列標(biāo)準(zhǔn)中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注明日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)修改版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T3505—2000產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范((GPS)表面結(jié)構(gòu)輪席法表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語、定義及參數(shù)(eqvISO4287:1997)GB/T6062—2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性(eqvISO3274:1996)GB/T18618-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法圖形參數(shù)(eqvISO12085:1996)GB/T18779.1-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測量設(shè)備的測量檢驗第1部分:按規(guī)范檢驗合格或不合格的判定規(guī)則(eqvISO14253-1:1998)GB/T18779.2—2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測量設(shè)備的測量檢驗第2部分:測量設(shè)備的校準(zhǔn)和產(chǎn)品檢驗中GPS測量的不確定度評定指南(ISO/TS14253-2:1999.IDT)GB/T19022.1—1994測量設(shè)備的質(zhì)量保證要求第1部分:測量設(shè)備的計量確認(rèn)體系(idtISO10012-1:1992GB/T19067.1-2003產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法量標(biāo)準(zhǔn)第1部分:實物測址標(biāo)準(zhǔn)(ISO5436-1:2000,IDT)』F1001-1998通用計量術(shù)語及定義(VIM第二版,1993)』F1059—1999測量不確定度評定與表示。(GUM第一版,1995)術(shù)語和定義由GB/T3505、GB/T6062.GB/T18779.1、JJF1001和』F1059確立的以及
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