GB/T 2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

ICS19.040K04C中華人民共和國國家標準GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984代替GB/T2423.22-1987電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N；溫度變化Environmentaltestingforlectricandelectronicproducts-Part2：TestmethodsTestN:Changeoftemperature（IEC60068-2-14:1984,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2：Tests-TestN:Changeoftemperature.IDT)2002-06-13發(fā)布2003-01-01實施中華：人民共和愛布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T2423.22-2002/1EC60068-2-14:1984前言試驗N：溫度變化試驗的歷史概況試驗Na:規(guī)定轉換時間的快速溫度變化1.1目的1.2試驗的一般說明1.3試驗設備的說明1.4嚴酷等級1.5初始檢測1.6條件試驗1.7恢復1.8最后檢測1.9）相關規(guī)范應給出的信息2試驗Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化2.1目的2.2試驗的一般說明2.3試驗設備的說明2.4嚴酷等級2.5初始檢測2.6條件試驗2.7恢復2.8最后檢測2.9相關規(guī)范應給出的信息3試驗Nc:兩液槽法溫度快速變化3.1目的······*3.2試驗的一般說明3.3試驗設備說明3.4嚴酷等級3.5初始檢測3.6條件試驗3.7恢復3.8最后檢測3.9相關規(guī)范應給出的信息

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984前GB/T2423的本部分等同采用IEC60068-2-14:1984（原IEC68-2-14:1984英文版）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化》及其修正件1:1986。修正件見50B(中央辦公室)259號文本部分中標雙豎線處是IEC60068-2-14:1984修正件1:1986的修正處本部分代替GB/T2423.22—1987《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程！第2部分：試驗方法式驗N：溫度變化》。本部分與GB/T2423.22—1987主要有下列差異：為與GB/T2423電工電子產品環(huán)境試驗方法系列標準的名稱協(xié)調一致，本部分名稱為《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化》。GB/T2423.22—1987試驗方法是等效采用國際標準IEC60068-2-14《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》1984年版)及其修正件1：1986。在編寫格式與表達方式上與IEC60068-2-14:1984有差異根據(jù)GB/T1.1—2000《標準化工作導則第1部分：標準的結構和編寫規(guī)則)4.7中采用國際標準規(guī)定“對于等同采用國際標準的標準文本.其結構應與被采用的國際標準一致”原則,本部分在技術內容、文本結構和措辭、編寫方法和順序等方面與IEC60068-2-14:1984相同。本部分在編寫格式上僅作個別編輯性修改。本部分是GB/T2423電工電子產品環(huán)境試驗方法系列標準之一，本部分涉及到與IEC出版物相對應的國家標準有：GB/T2423.1—2001電工電子產品環(huán)境試驗試驗A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990）電工電子產品環(huán)境試驗GB/T2423.2—2001試驗B：高溫(idtIEC60068-2-2：1974)GB/T2424.13—2002電工電子產品環(huán)境試驗溫度變化試驗導則(idtIEC60068-2-33:1971）本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會（CSBTS/TC89)歸口本部分起草單位：廣州電器科學研究所。本部分起草人：章蓄英。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB2423.22—1981、GB2423.22-1987

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984試驗N:溫度變化試驗的歷史概況第一版1954僅包含一個程序,試驗Na:快速溫度變化.兩箱法。第二版1960等同于上述的試驗Na:但轉換時間為(2～3)min代替最大5min.第三版1969介紹：試驗Na-兩箱法，等同于上述的試驗Na,把30min試驗持續(xù)時間的選擇方案加到3h,且選取較高和較低溫度以代替試驗A和試驗B的強迫限制。試驗Nb-一箱法。試驗NC兩水槽法第四版1974介紹：試驗Na——-兩箱法，等同于以前的試驗Na.但增加了對某些箱子的要求，并包括了散熱試驗樣品的試驗。試驗NC一-兩水槽法·無變化第五版1984介紹：試驗Na一-具有規(guī)定轉換時間的快速溫度變化，等同于以前的試驗Na,但給出的轉換時間規(guī)定得更精確，并有較長的暴露時間：試驗小b—-具有規(guī)定變化速率的溫度變化，等同于以前的試驗Nb.但規(guī)定了溫度變化速率,并給出了較長的暴露時間。試驗Ne——快速溫度變化兩液槽法，等同于以前的試驗Ne.但試驗時不再限制用水量.并更精確地規(guī)定了持續(xù)時間參數(shù)

GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化引高溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對這種影響，應使用高溫或低溫試驗方法影響溫度變化試驗的主要參數(shù)是：-溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值；試驗樣品在高溫和低溫下的保持時間；低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率：條件試驗循環(huán)數(shù)；試驗樣品吸收或放出之總熱量。有關選擇適用的試驗參數(shù)的導則,見GB/T2424.13—2002《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試溫度變化試驗導則》該導則應和本部分一起使用試驗Na:規(guī)定轉換時間的快速溫度變化11目的確定元件、設備和其他產品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。。所需的暴露時間，取決于試驗樣品的性質1.2試驗的一般說明將試驗樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的情性氣體)中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。1.3試驗設備的說明1.3.1試驗箱1.3.1.1備有兩臺試驗箱，一臺低溫箱，一臺高溫箱.兩箱放置位置應能使試驗樣品于規(guī)定時間內從-個箱轉移到另一個箱。轉換方法可以用手動或白動。1.3.1.2試驗箱中放置試驗樣品的任一區(qū)域內應能保持試驗所規(guī)定的空氣溫度。1.3.1.3箱內空氣的絕對濕度不應超過20g/m2水汽。1.3.1.4高溫箱箱壁溫度不應超過試驗規(guī)定溫度(按開爾文溫度計)的3%，低溫箱箱壁溫度不應超過試驗規(guī)定溫度(按開爾文溫度計)的8%。這一要求適用于整個試驗箱內壁.且試驗樣品不應受到不符合上述要求的任何加熱或冷卻元件的直接輻射。1.3.1.5試驗箱