GB/T 2423.36-2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51:1983代替GB/T2423.36-—1986電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Part2TestMethods-TestZ/BFc：Combineddryheat/vibration(sinusoidaltestsforbothheat-dissipatingandnon-heat-dissipatingspecimens(IEC60068-2-51:1983,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2：Tests--TestZ/BFc:Combineddryheat/vibration（sinusoidal)testsforbothheat-dissipatingandnon-heat-dissipatingspecimens,IDT)2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51:1983前言引言0.10.2振動·0.3溫度·0.4規(guī)范性引用文件·2一般說明3試驗設備嚴酷等級溫度監(jiān)測點的選擇和監(jiān)測溫度的確定(僅適用于散熱試驗樣品）6預處理7初始檢測條件試驗9中間檢測3恢復…11最后檢測12失效判據有關標準應具有的內容圖1非散熱試驗樣品試驗曲線圖圖2敢熱試驗樣品試驗曲線圖

GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51:1983本部分等同采用IEC60068-2-51:1983《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗》英文版)為便于使用，本部分刪除了國際標準的前言。本部分代替（B/T2423.36—1986《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法》。本次修訂根據GB/T1.1—2000《標準化工作導則第1部分：標準的結構和編寫規(guī)則》和GB/T20000.2-2001《標準化工作指南第2部分:采用國際標準的規(guī)則》對標準進行格式編排。本部分與GB/T2423.36—1986主要有下列差異：a）本部分的技術內容、編寫格式及表達方法與IEC60068-2-51:1983相一致。而GB/T2423.36-1986的編寫格式與IEC60068-2-51:1983有差異。本部分在規(guī)范性引用文件中.恢復了國際標準IEC60068-2-51:1983中未被GB/T2423.36-1986引用的有關標準和內容，如GB/T2423.43《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb)、振動(Fe和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學試驗中的安裝要求和導則》.刪除了GB/T2423.36—1986增加而國際標準IEC60068-2-51:1983中沒有引用的有關標準和內容，如GB/T2424.22《電工電子產品環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)/振動(正弦)綜合試驗導則》。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由中國電工電子產品環(huán)境技術標準化技術委員會歸口本部分起草單位：信息產業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人：紀春陽、羅志勇。本部分于1986年首次發(fā)布。

GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51:19830.1概述GB/T2423的本部分適用于散熱和非散熱試驗樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗,基本上是試驗Fc:振動(正弦)和試驗B：高溫的綜合本試驗方法只限于試驗樣品暴露在高溫條件下達到溫度穩(wěn)定的情況0.2振動振振動試驗基本上等同于試驗Fc;可以采用試驗F。的一個或多個耐久試驗程序，但此綜合試驗中不包括耐久條件試驗之后的振動響應檢查。0.3溫度測試散熱試驗樣品的溫度條件是以與自由空氣條件相同的方式使試驗樣品經受熱應力。由于在帶振動臺的試驗箱中模擬自由空氣條件的影響困難,所以本試驗通常使用強迫空氣循環(huán),試驗樣品表面最熱點作為溫度的監(jiān)測點，試驗前,在規(guī)定環(huán)境溫度的自由空氣條件下,確定試驗樣品的監(jiān)測點和監(jiān)測溫度0.4規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版不適用于本部分.然而，鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T2421—1999電工電子產品環(huán)境試驗第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2422-1995電工電子產品環(huán)境試驗術語(eqvIEC60068-5-2:1990)電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法GB/T2423.2-2001武驗B：高溫（idtIEC60068-2-2:1974）GB/T2423.10電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導則：振動（正弦)（GB/T2423.10—1995.idtIEC60068-2-6:1982）GB/T2423.22電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002.1EC60068-2-14:1984.IDT)（B/T2423.43電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊（Ea)、碰撞（Eb)、振動（Fe和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學試驗中的安裝要求和導則（GB/T2423.43-1995.idITEC60068-2-47：1982）GB/T2424.1電工電子產品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導則（GB/T2424.1—1989.eqvIEC60068-3-1）

GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51:1983電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗1目的提供一個標準的試驗程序以確定散熱和非散熱元器件、設備或其他產品在高溫與振動綜合條件下使用、貼存和運輸?shù)倪m應性。2一般說明本試驗是試驗B:高溫和試驗Fe:振動(正弦)的綜合試驗注：試驗Bb和Ed妻求在條件試驗的升溫和降溫過程中溫度變化速率不超過1K/mim(5min平均）對于經受熱沖擊的試驗樣品(通常是指能經受試驗Ba的、并能經受試驗Na和Ne快速溫度變化的試驗樣品），不受最大溫度變化速率1K/min的限制,對于這些試驗樣品，可以使用能滿足試驗Ba或Be(溫度突變）條件的試驗箱試驗樣品除非已進行過試驗B和F(并記錄其試驗結果)否則應首先在試驗室溫度條件下進行振動試驗，然后經受高溫試驗，達到溫度穩(wěn)定后，試驗樣品再經受振動和高溫的綜合試驗。試驗部面見圖1和圖2。振動環(huán)境可以是以下一種或幾種：耐久掃頻試驗；振動響應調查，以及振動響應檢查得出頻率上的耐久試驗；預定頻率上的耐久試驗。試驗設備31試驗箱的要求3.1.1非散熱試驗樣品的試驗這這類試驗箱應滿足試驗Ba或Bb中給出的要求(見第2章注)3.1.2散熱試驗樣品的試驗溫度監(jiān)測點的選擇和監(jiān)測溫度的確定，可在滿足下述條件a)或者b)的試驗箱(或室)中進行。在高溫條件下，提供強迫空氣循環(huán)的試驗箱.能模擬“自由空氣“條件的影響，并滿足GB/T2423.2—2001中試驗Bd第10.3的要求。b）試驗箱(或室)能保護試驗樣品不受太陽輻照及通風的干擾(見5.1.2)。這種試驗使用的試驗箱,通常應有強迫空氣循環(huán)。應滿足GB/T2423.2—2001中試驗Bc和試驗Bd所給出的要求(見第2章注）。3.2振動系統(tǒng)的要求3.2.1安裝應滿足試驗Fe中給出的安裝要求。然而，如果振動臺臺面溫