GB/T 2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

ICS17.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971代替GB/T2424.13—1982電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsGuidanceonchangeoftemperaturetests(IEC60068-2-33:1971,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2：Tests-GuidanceonchangeoftemperaturetestsIDT）2002-06-13發(fā)布2003-01-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T2424.13—2002/IEC60068-2-33:1971次1現(xiàn)場(chǎng)的溫度變化情況3基本原理…3.1溫度變化試驗(yàn)的設(shè)計(jì)3.2試驗(yàn)的目的和試驗(yàn)方法的選擇3.3暴露時(shí)間的選擇·…3.4溫度變化時(shí)間的選擇3.5溫度變化試驗(yàn)的適用范圍4溫度變化試驗(yàn)的重現(xiàn)性4.1條件試驗(yàn)程序的影響4.2受試物品的影響5選擇試驗(yàn)種類的指導(dǎo)6結(jié)論

GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971前GB/T2424的本部分等同采用IEC60068-2-33:1971《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》英文版)及其修正件1:1978。修正件見50B(中央辦公室)197號(hào)文。本部分中標(biāo)有雙豎線的部分是IEC60068-2-33:1971修正件1:1978的修正處。本部分代替GB/T2424.13—1981《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法變化試驗(yàn)導(dǎo)則》。本部分與GB/T2424.13—1981的主要差異如下：為與GB/T2424電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)的名稱協(xié)調(diào)一致，本部分名稱為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》。GB/T2424.13—1981是等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-33:1971《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》及其修正件1:1978。在標(biāo)準(zhǔn)編排、編寫格式與表達(dá)方法上與IEC60068-2-33:1971有較大差異。如GB/T2424.13—1981分為11章，標(biāo)準(zhǔn)篇幅有所擴(kuò)大，而本部分分為6章。根據(jù)GB/T1.1—2000《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則》4.7中采用國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定“對(duì)于等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)文本，其結(jié)構(gòu)應(yīng)與被采用的國際標(biāo)準(zhǔn)一致”原則.本部分在技術(shù)內(nèi)容、文本結(jié)構(gòu)和措辭、編寫方法和順序等方面與IEC60068-2-33：1971等同。本部分在編寫上僅作個(gè)別編輯性修改。本部分是GB/T2424《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第13部分,本部分涉及到與IEC出版物相對(duì)應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2423.23電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q:密封(idtIEC60068-2-17)GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)(正弦)idtIEC60068-2-6)GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ca:恒定濕熱(idtIEC60068-2-3)GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Db:交變濕熱(idtIEC60068-2-30)本標(biāo)準(zhǔn)由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（CSBTS/CT89）歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：廣州電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)起草人：章蓄英本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的版本發(fā)布情況為：GGB2424.13-1981

GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則1引言本導(dǎo)則推薦給有關(guān)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)人員在應(yīng)用溫度變化試驗(yàn)規(guī)范時(shí)提供指導(dǎo)溫度變化試驗(yàn)的目的在于確定溫度變化或連續(xù)溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響本導(dǎo)則不適用于僅僅是考核高溫和低溫的影響作用。對(duì)這些作用，要使用高溫或低溫試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)的作用決定于：一溫變條件試驗(yàn)的高溫和低溫溫度值：試驗(yàn)樣品保持在這些溫度條件中的試驗(yàn)時(shí)間：由高到低（或由低到高)溫度間的變化速率；條件試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)；試驗(yàn)樣品輸入或輸出的總熱量?，F(xiàn)場(chǎng)的溫度變化情況在電子設(shè)備和元件中，通常出現(xiàn)的溫度變化是逐漸的。設(shè)備內(nèi)部的零件，在設(shè)備沒有工作時(shí).其所受的溫度變化比那些設(shè)備外表面的零件慢些，溫度迅速變化可能會(huì)出現(xiàn)的場(chǎng)合：當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境中搬到寒冷的室外環(huán)境或者是相反情況的時(shí)候；當(dāng)設(shè)備由于受雨淋或浸泡在冷水里以致突然冷卻的時(shí)候；安裝在飛機(jī)外部的設(shè)備中：在某些運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件下。當(dāng)設(shè)備啟動(dòng)后，在其內(nèi)部有高的溫度梯度時(shí),元件就會(huì)受到溫度變化的應(yīng)力。例如：在大功率電阻附近，輻射會(huì)使相鄰的元件表面溫度上升，而其他部分還是冷的人工冷卻的元件，當(dāng)冷卻系統(tǒng)接通時(shí)會(huì)受到溫度的迅速變化元件中溫度的迅速變化也會(huì)在制造設(shè)備過程中產(chǎn)生。溫度變化的嚴(yán)酷等級(jí)主要取決于溫度變化的次數(shù)和幅度及它們之間的時(shí)間間隔。當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間為(2～3)min時(shí),試驗(yàn)樣品所受之熱應(yīng)力，小件試驗(yàn)樣品要比大件試驗(yàn)樣品所受的熱應(yīng)力小得多。然而試驗(yàn)樣品所承受的熱應(yīng)力是