GB/T 29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則

ICS19040

K04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T29309—2012

電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程

高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則

Acceleratedstresstestingproceduresforelectricandelectronicproducts—

Guidanceforhighlyacceleratedlifetest

2012-12-31發(fā)布2013-06-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T29309—2012

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語(yǔ)和定義………………

31

一般要求…………………

43

試驗(yàn)準(zhǔn)備…………………

54

試驗(yàn)方法…………………

65

相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息…………………

710

試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)給出的信息…………………

810

附錄資料性附錄高加速壽命試驗(yàn)裝置……………

A()12

附錄資料性附錄試驗(yàn)流程圖………………………

B()15

附錄資料性附錄應(yīng)力隔離…………

C()16

附錄規(guī)范性附錄應(yīng)力極限確認(rèn)……………………

D()17

GB/T29309—2012

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)質(zhì)量監(jiān)管重點(diǎn)產(chǎn)品檢驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC374)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院中檢華納北京質(zhì)量技術(shù)中心有限公司

:、()。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人楊彥彰朱建華張華李巖張燦文陳顯顧

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T29309—2012

電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程

高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高加速壽命試驗(yàn)的一般要求試驗(yàn)準(zhǔn)備和試

(HighlyAcceleratedLifeTest,HALT)、

驗(yàn)方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高加速壽命試驗(yàn)施加的試驗(yàn)應(yīng)力包括高溫步進(jìn)低溫步進(jìn)快速溫度變化循環(huán)六自

,、、、

由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等應(yīng)力

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件印制電路板組件等對(duì)于大型整機(jī)宜優(yōu)先考慮在前端

、。,

的裝配級(jí)別如印制電路板組件子模塊上進(jìn)行試驗(yàn)

(、)。

本標(biāo)準(zhǔn)還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)和或試產(chǎn)階段也可用于批量生產(chǎn)階段

、(),。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)

GB/T2422—1995(eqvIEC60068-5-2:1990)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度變化

GB/T2423.22—20022:N:

(IEC60068-2-14:1984,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法振動(dòng)沖擊和類似動(dòng)力學(xué)

GB/T2423.43—20082:、

試驗(yàn)樣品的安裝

(IEC60068-2-47:2005,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)寬帶隨機(jī)振動(dòng)

GB/T2423.56—20062:Fh:

數(shù)字控制和導(dǎo)則

()(IEC60068-2-64:1993,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T2424.5—2006(IEC60068-3-5:2001,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T2424.13—2002