第十章 光干涉

工程光學(xué)物理光學(xué)部分1總目錄第十章光的干涉和干涉系統(tǒng)第十一章光的衍射第十二章光的偏振2光的本質(zhì)光是一種電磁波。1865年麥克斯韋總結(jié)和發(fā)展了法拉第、高斯、安培等人在電磁學(xué)方面的研究成果，得出推測(cè)：光的傳播是一種電磁現(xiàn)象，是電磁振動(dòng)在空間中的傳播。赫茲第一次在實(shí)驗(yàn)上證實(shí)了光波就是電磁波，從而肯定了麥克斯韋的預(yù)言，產(chǎn)生了光的電磁理論。3光在電磁波中的位置短高300~0.7μm4光波的復(fù)數(shù)表示一、平面簡(jiǎn)諧電磁波的波動(dòng)公式（平面單色光波的波動(dòng)公式）（9-22）(9-23)5各物理量間的關(guān)系：（9-24）式中，6二、光波的波動(dòng)公式(10-25)(10-26)具有單一頻率、在時(shí)間和空間上無(wú)限延續(xù)的波。7平面波：球面波：(10-27)(10-28)8根據(jù)歐拉公式，復(fù)指數(shù)函數(shù)：平面光波波動(dòng)公式的復(fù)數(shù)形式：三、光波的復(fù)數(shù)表示9平面光波的復(fù)振幅：振幅與空間相位因子的乘積只關(guān)心場(chǎng)振動(dòng)的空間分布，常用復(fù)振幅表示一個(gè)簡(jiǎn)諧光波。球面波的波動(dòng)公式復(fù)數(shù)表示：（10-36）（10-38）10

三、光強(qiáng)的計(jì)算光強(qiáng)等于（實(shí)）振幅A的平方：

復(fù)振幅的模等于（實(shí)）振幅A，所以光強(qiáng)直接等于復(fù)振幅與其共軛復(fù)數(shù)的乘積：11第十章光的干涉和干涉系統(tǒng)干涉儀已成功應(yīng)用于：機(jī)械量測(cè)量（機(jī)床定位、機(jī)械加工的標(biāo)定和測(cè)量）流體測(cè)速儀（也稱激光多普勒測(cè)速儀）測(cè)振儀（旋轉(zhuǎn)機(jī)械診斷和控制）12《光電儀器：激光傳感與測(cè)量》參考書：[意]西爾瓦諾·多納特著趙宏王昭等譯西安交通大學(xué)出版社13第十章光的干涉和干涉系統(tǒng)第一節(jié)光的干涉條件第二節(jié)楊氏干涉實(shí)驗(yàn)第三節(jié)干涉條紋的可見(jiàn)度第四節(jié)平板的雙光束干涉第五節(jié)典型的雙光束干涉系統(tǒng)及其應(yīng)用第六節(jié)平行平板的多光束干涉及其應(yīng)用14

§10－1光波的干涉條件一、干涉現(xiàn)象1、什么是干涉現(xiàn)象2、相干光波和相干光源能夠產(chǎn)生干涉的光波，叫相干光波；其光源稱為相干光源。15干涉現(xiàn)象在兩個(gè)光波疊加的區(qū)域，某些點(diǎn)的振動(dòng)始終加強(qiáng)，另一些點(diǎn)的振動(dòng)始終減弱，形成穩(wěn)定的光強(qiáng)強(qiáng)弱分布的現(xiàn)象，稱為光的干涉現(xiàn)象16二、干涉條件假設(shè)光源發(fā)出的光波是單一頻率的，是單色光波，稱之為理想光源。ɑE1E21718干涉條件（必要條件）：補(bǔ)充條件：疊加光波的光程差不超過(guò)波列的長(zhǎng)度。19分波前法當(dāng)一束光投射到兩種透明媒質(zhì)的分界面上時(shí)，光能一部分反射，一部分透射，把光波的振幅（光強(qiáng)）分為兩部分，這方法叫做分振幅法。最簡(jiǎn)單的分振幅干涉裝置是薄膜；另一種是邁克耳孫干涉儀。由一個(gè)光波獲得兩個(gè)或多個(gè)相干光波的方法:將點(diǎn)光源的波前（橫截面）分割為兩部分，使之分別通過(guò)兩個(gè)光具組，經(jīng)衍射、反射或折射后交迭起來(lái)，在一定區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生干涉場(chǎng)。

楊氏實(shí)驗(yàn)是這類分波前干涉裝置的典型。分振幅法20§10－2楊氏干涉實(shí)驗(yàn)圖10-2楊氏干涉實(shí)驗(yàn)裝置21一、干涉圖樣的計(jì)算1、P點(diǎn)的干涉條紋強(qiáng)度光強(qiáng)I的強(qiáng)弱取決于光程差222、光程差D的計(jì)算光程差：233、干涉條紋的意義x24用光程差表示：結(jié)論：1、干涉條紋代表著光程差的等值線。2、相鄰兩個(gè)干涉條紋之間其光程差變化量為一個(gè)波長(zhǎng)λ，位相差變化2π。在同一條紋上的任意一點(diǎn)到兩個(gè)光源的光程差是恒定的。254、干涉條紋的間隔定義：兩條相干光線的夾角為相干光束的會(huì)聚角，用w表示。m+1265、干涉條紋間隔與波長(zhǎng)x0點(diǎn)光源向下平移，干涉條紋向上移動(dòng)；點(diǎn)光源向上平移時(shí)，干涉條紋向下移動(dòng)。27【例】

在楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置中，雙縫間隔為0.5mm,接收屏距雙縫1m,點(diǎn)光源距離雙縫300mm,發(fā)射出500nm的單色光，試求：（1）屏上干涉條紋的間隔；（2）若點(diǎn)光源由光軸向下平移2mm,屏上干涉條紋向什么方向移動(dòng)？移動(dòng)多少距離？解：28點(diǎn)光源向下平移2mm，則由點(diǎn)光源到達(dá)雙縫S1、S2的光程差為：由雙縫S1、S2到接收屏的光程差為：29[例題10-1]教材P232

當(dāng)一透明塑料薄膜置于楊氏雙縫干涉裝置的某一狹縫后，對(duì)應(yīng)白光條紋的中心亮條紋發(fā)生了4個(gè)條紋的位移。材料的折射率是1.480，光的有效波長(zhǎng)是550nm，求：（1)薄膜增加了多少光程；（2）薄膜的厚度。白光條紋的中心亮紋對(duì)應(yīng)的干涉級(jí)次的m=0,即光程差為0；30二、兩個(gè)點(diǎn)源在空間形成的干涉場(chǎng)31在三維空間中，干涉結(jié)果：等光程差面（雙曲面）局部位置條紋32本節(jié)內(nèi)容回顧6、干涉條紋間隔與波長(zhǎng)：7、兩個(gè)點(diǎn)源在空間形成的干涉場(chǎng)：等光程差面2、P點(diǎn)的干涉條紋強(qiáng)度：3、光程差D的計(jì)算：4、干涉條紋的意義：光程差的等值線。5、干涉條紋的間隔：1、干涉現(xiàn)象和干涉條件33

§10－3干涉條紋的可見(jiàn)度可見(jiàn)度（對(duì)比度）定義：K表征了干涉場(chǎng)中某處干涉條紋亮暗反差的程度。K的取值范圍為[0,1]；當(dāng)Im=0時(shí)，K=1，可見(jiàn)度最好。34（10-19）（10-18）雙光束干涉的強(qiáng)度分布：35一、振幅比對(duì)條紋可見(jiàn)度的影響36xI二、光源寬度

的影響和空間相干性xI371、光源寬度對(duì)條紋可見(jiàn)度的影響Pr1r2OS1S2S'S0x'1r'2r'S''dx'cdbβlDl1l2x38干涉條紋的可見(jiàn)度39討論：1）光源的臨界寬度：條紋可見(jiàn)度K=0時(shí)的光源寬度2）光源的允許寬度：能夠清晰地觀察到干涉條紋時(shí)，允許的光源寬度為bc的1/4，K=0.9：402、空間相干性θS20’x'ebcβlDxS1θω0若通過(guò)光波場(chǎng)橫向兩點(diǎn)的光在空間相遇時(shí)能夠發(fā)生干涉，則稱通過(guò)空間兩點(diǎn)的光具有相干性。垂直與光波的傳播方向的平面上相距為d相干空間可用干涉孔徑角β表示。41三、光源非單色性的影響和時(shí)間相干性1、光源非單色性對(duì)條紋可見(jiàn)度的影響42討論：相干長(zhǎng)度：對(duì)于光譜寬度為（或k）的光源能夠產(chǎn)生干涉的最大光程差。43三、光源非單色性的影響和時(shí)間相干性1、光源非單色性對(duì)條紋可見(jiàn)度的影響光波具有一定的波長(zhǎng)寬度或具有一定的譜線寬度，在范圍里含有一系列波長(zhǎng)，其每一種波長(zhǎng)的光都產(chǎn)生各自的一組干涉條紋；條紋間距與波長(zhǎng)有關(guān)，波長(zhǎng)短的光產(chǎn)生的條紋間距??；因此，干涉條紋中除0級(jí)條紋（是亮紋）外，其他各級(jí)條紋的亮紋不重合而相互間都有位移，這樣一些不同波長(zhǎng)的光波產(chǎn)生的條紋重疊后，會(huì)使整個(gè)干涉場(chǎng)的條紋對(duì)比對(duì)下降且呈現(xiàn)出彩色，對(duì)應(yīng)于高級(jí)次條紋處的條紋將消失而出現(xiàn)一片亮光場(chǎng)。44假定干涉場(chǎng)中某Q點(diǎn)(有光程差Δ’為)出現(xiàn)由波長(zhǎng)為(λ+Δλ）得到的第m級(jí)條紋和另一波長(zhǎng)為λ的第m+1級(jí)條紋發(fā)生重合的現(xiàn)象，既表明此處兩種波長(zhǎng)條紋相對(duì)錯(cuò)位了一個(gè)條紋，該Q點(diǎn)處的條紋對(duì)比度K為0；同時(shí)表明波長(zhǎng)寬度為Δλ的光源，此時(shí)又最大光程差Δ’，我們稱之為光源的相干長(zhǎng)度2L，即有Δ’=2L。由此可的條紋的最大干涉級(jí)次最大的光程差或相干長(zhǎng)度相干長(zhǎng)度：對(duì)于光譜寬度為（或k）的光源能夠產(chǎn)生干涉的最大光程差，也等于光源發(fā)光的波列長(zhǎng)度。452、時(shí)間相干性相干時(shí)間t：光通過(guò)相干長(zhǎng)度所需的時(shí)間。時(shí)間相干性：若同一光源在相干時(shí)間Δt內(nèi)發(fā)出的兩束光經(jīng)過(guò)不同的路徑在空間相遇時(shí)，能夠產(chǎn)生干涉，則稱光具有時(shí)間相干性。公式：46四、光場(chǎng)的相干性小結(jié)1、空間相干性和時(shí)間相干性都有著眼于光波場(chǎng)中各點(diǎn)（次波源）是否相干的問(wèn)題上。從本質(zhì)上，空間相干性問(wèn)題來(lái)源于擴(kuò)展光源不同部分發(fā)光的獨(dú)立性；時(shí)間相干性問(wèn)題來(lái)源于光源發(fā)光過(guò)程在時(shí)間上的斷續(xù)性。從結(jié)果上看，空間相干性問(wèn)題表現(xiàn)在波場(chǎng)的橫方向上，集中于分波前的干涉裝置內(nèi)；時(shí)間相干性問(wèn)題表現(xiàn)在波場(chǎng)的縱方向上，集中于光程差分振幅干涉裝置。472、空間相干性用相干區(qū)域的孔徑角，線度d和相干面積S=d2來(lái)描述，它們與光源寬度b的關(guān)系由空間相干性公式?jīng)Q定：

時(shí)間相干性用相干長(zhǎng)度（波列長(zhǎng)度）△max，相干時(shí)間△t（波列持續(xù)時(shí)間）來(lái)描述，它們與表征光源非單色性的量——譜線寬度成反比關(guān)系：3、無(wú)論衡量時(shí)間相干性的相干時(shí)間，還是衡量空間相干性區(qū)域大小，都不是只要在它們的限度內(nèi)就100%地產(chǎn)生干涉，一超出它們干涉條紋就完全消失。48[例10-3]在楊氏干涉實(shí)驗(yàn)中，兩小孔的距離為1mm，觀察屏離小孔的垂直距離為1m。若用光源發(fā)出波長(zhǎng)λ1=600nm和λ2=546nm的兩種光波，試求：（1）兩光波分別形成的條紋的間距；（2）兩組條紋的第10級(jí)亮紋之間的距離。解：（1）條紋的間距e為（2）第m級(jí)亮紋的位置x為49[例10-4]在楊氏干涉實(shí)驗(yàn)中，準(zhǔn)單色光的波長(zhǎng)寬度為0.05nm，平均波長(zhǎng)為500nm。問(wèn)在小孔S1處貼上多厚的玻璃片可使P0點(diǎn)附近的條紋消失？設(shè)玻璃的折射率為n=1.58。解：在小孔S1除貼上厚度為h的玻璃片后，P0點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光 程差為：這一光程差如果大于準(zhǔn)單色光的相干長(zhǎng)度，P0點(diǎn)出邊觀察不到條紋。因此，P0點(diǎn)附近條紋消失的條件是：50本節(jié)內(nèi)容回顧2、振幅比與可見(jiàn)度的關(guān)系：3、光源寬度與可見(jiàn)度的關(guān)系4、光源單色性與可見(jiàn)度的關(guān)系5、名詞解釋：空間相干性、時(shí)間相干性、相干長(zhǎng)度、相干時(shí)間、干涉孔徑角1、可見(jiàn)度的定義516、相干光的獲得方法分波前（波陣面）法分振幅法楊氏干涉實(shí)驗(yàn)平板干涉實(shí)驗(yàn)52平板分光性質(zhì)：振幅分割

§10－4平板的雙光束干涉

利用平板的上下兩個(gè)表面對(duì)入射光波的反射和透射，把入射光波的振幅分割成兩部分光波再相互干涉。平板分振幅干涉可分為兩種情況：

1、平行平板分振幅干涉，稱為等傾干涉；2、楔形平板分振幅干涉，稱為等厚干涉。53一、干涉條紋的定域

兩個(gè)單色相干點(diǎn)源在空間任意一點(diǎn)相遇，總有一確定的光程差，從而產(chǎn)生一定的強(qiáng)度分布，并能觀察到清晰的干涉條紋，這種干涉稱為非定域干涉。在擴(kuò)展光源情況下，在空間任意一點(diǎn)，由光源上不同點(diǎn)源發(fā)出的到達(dá)該點(diǎn)產(chǎn)生雙光束干涉的兩支相干光的光程差不同：54Sβ非定域干涉55OxyzP(x,y,D)dS1r2r1S2SyxDw在不同的空間，光程差有一確定值，從而產(chǎn)生一定的強(qiáng)度分布，并能觀察到清晰的干涉條紋，非定域干涉56點(diǎn)光源在P點(diǎn)的光強(qiáng)：K57xIO”r1r2OS1S2S'S01r'2r'S''dbβlDxO’當(dāng)點(diǎn)光源S’產(chǎn)生的第一級(jí)暗紋落在S所產(chǎn)生的中央明紋上，干涉條紋可見(jiàn)度降低。582.平板干涉的優(yōu)點(diǎn)：取，用面光源。定域干涉條紋的定域區(qū)的確定：根據(jù)照明場(chǎng)中對(duì)應(yīng)于β=0的光線通過(guò)干涉系統(tǒng)后在干涉場(chǎng)中的交點(diǎn)的軌跡來(lái)確定59二、平行平板干涉（等傾干涉）n’n'1.光程差計(jì)算60在平行平板的干涉中，光程差只取決于折射角，相同折射角的入射光構(gòu)成同一條紋，故稱為等傾條紋。當(dāng)兩束光都從光疏到光密界面反射或從光密到光疏界面反射時(shí)，兩束反射光之間無(wú)附加的相位差；相反當(dāng)一束光從光疏到光密界面反射，另一束光從光密到光疏界面反射時(shí)，兩束反射光之間產(chǎn)生附加的相位差π，有附加光程差，產(chǎn)生半波損失。612.平板干涉裝置

注意：采用擴(kuò)展光源，條紋域在無(wú)窮遠(yuǎn)。條紋成像在透鏡的焦平面上。62產(chǎn)生等傾圓條紋的裝置633、條紋分析m0為圓心的干涉級(jí)，m0為整數(shù)時(shí)，圓心是最亮點(diǎn)； m0為半整數(shù)時(shí)，圓心是最暗點(diǎn)。6465中央條紋寬，邊緣條紋窄。（5）反射光條紋和透射光條紋互補(bǔ)66[例10-3]第8題(教材P244)解：（1）環(huán)條紋中心是亮斑還是暗斑，取決于該點(diǎn)的干涉 級(jí)是整數(shù)還是半整數(shù)，平板的折射率介于上下介質(zhì)的折射率之間，故沒(méi)有半波損失，環(huán)中心對(duì)應(yīng)的光程差：所以環(huán)中心是亮斑。（2）由中心向外計(jì)算，第10個(gè)亮環(huán)的角半徑是：67（3）第10個(gè)亮環(huán)的角間距是：所以間距是：68[例10-4]P240在如圖10-20所示的檢驗(yàn)平行平板厚度均勻性的裝置中，D是用來(lái)限制平板受照面積的光闌。當(dāng)平板相對(duì)于光闌水平移動(dòng)式，通過(guò)望遠(yuǎn)鏡T可觀察平板不同部分產(chǎn)生的條紋。平均波長(zhǎng)為500nm，平板折射率為1.5。（1）平板由A處移到B處，觀察到有10個(gè)暗條紋向中心收縮并一一消逝。試決定A處和B處對(duì)應(yīng)的平板厚度差。（2）所用光源的波長(zhǎng)寬度為0.05nm，問(wèn)只能檢驗(yàn)多厚的平板？69解：(1)(2)70二、楔形平板干涉（等厚干涉）SPb)SPa)圖11-16用擴(kuò)展光源時(shí)楔行平板產(chǎn)生的定域條紋a)定域面在板上方b)定域面在板內(nèi)c)定域面在板下方SPc)兩個(gè)不平行平面的分振幅干涉，稱為楔形平板的干涉。楔形平板干涉條件定域面的位置，也是由的條件確定，由于平板有兩個(gè)表面之間有一夾角，定域面與楔板相對(duì)于擴(kuò)展光源的位置有關(guān)。71圖11-18楔形平板的干涉θ2ACSPBβ=0θ1nn'n'2、光程差計(jì)算h72垂直入射時(shí)，光程差是厚度h的函數(shù)，在同一厚度的位置形成同一級(jí)條紋。ll'73（1）對(duì)于折射率均勻的楔形平板，條紋平行于楔棱；靠近平板楔邊的相應(yīng)條紋的干涉級(jí)次低（m?。?，隨厚度的增加所對(duì)應(yīng)條紋的干涉級(jí)次也增高（m變大）。74Dh(2)兩相鄰亮紋間對(duì)應(yīng)的厚度變化75（3）楔角的大?。?）局部厚度的變化a76[例10-5]在玻璃平板B上方一塊標(biāo)準(zhǔn)平板A，并將一端墊一小片錫箔，使A和B之間形成楔形空氣層。（1）若B表面有一半圓柱形凹槽，凹槽的方向與A、B交線垂直，問(wèn)在單色光垂直照射下看到的條紋形狀如何？（2）若單色光波長(zhǎng)λ=623.8nm(He-Ne激光），條紋最大的彎曲量為條紋間距的2/5，問(wèn)凹槽的深度是多少？h’A、B表面沒(méi)有缺陷的情況AB凹槽位置各點(diǎn)對(duì)應(yīng)的空氣層厚的增加，經(jīng)過(guò)凹槽位置的條紋將向交線一方彎曲。77工作原理：L3GL2PQL1激光平面干涉儀使標(biāo)準(zhǔn)平晶的下表面與待測(cè)平面構(gòu)成空氣平板；去掉標(biāo)準(zhǔn)平晶，可直接利用被測(cè)平板上下表面形成雙光束干涉；將標(biāo)準(zhǔn)平晶換成球面樣板，使球面樣板和待測(cè)曲面間構(gòu)成空氣板，進(jìn)行檢測(cè)1、斐索干涉儀：等厚干涉型的干涉儀§10－5典型的雙光束干涉系統(tǒng)及其應(yīng)用一、典型干涉系統(tǒng)78L3GL2PQL1激光平面干涉儀測(cè)定平板表面的平面度和局部誤差；測(cè)量平行平板的平行度和小角度光楔的楔角；測(cè)量透鏡的曲率半徑。作用：形成等厚干涉條紋；根據(jù)檢測(cè)對(duì)象不同，干涉光束來(lái)自不同的標(biāo)準(zhǔn)反射面和被測(cè)面；干涉光反射面選擇不同，對(duì)應(yīng)定域面位置不同；79激光平面干涉儀和激光球面干涉儀80DhR1R2PQ81小結(jié)：基本特點(diǎn)：（1）屬于等厚干涉（2）干涉光束，一個(gè)來(lái)自標(biāo)準(zhǔn)反射面，一個(gè)來(lái)自被測(cè)面。重點(diǎn)掌握：（1）光程差與厚度的關(guān)系。（2）厚度變化與條紋彎曲方向的關(guān)系。（3）干涉面間距變化與條紋移動(dòng)的關(guān)系。條紋分析：822、邁克爾遜干涉儀特點(diǎn)：M1和M2垂直時(shí)是等傾干涉，否則為等厚干涉。掌握：（1）系統(tǒng)結(jié)構(gòu)；（2）M1或M2垂直于光線移動(dòng)時(shí)對(duì)條紋的影響。2’1’用途：確定零光程差位置；進(jìn)行樣品或長(zhǎng)度測(cè)量；精確測(cè)量單色光波波長(zhǎng)。831、白光照明時(shí)，加上補(bǔ)償板能夠同時(shí)補(bǔ)償各色光的光程差以獲得零級(jí)白光條紋，用于準(zhǔn)確地確定零光程差位置，作為精確測(cè)量基準(zhǔn)；2、因?yàn)楦缮鎯x能夠?qū)⒖脊夂蜏y(cè)量光束分開(kāi)，所以可將樣品放置于測(cè)量光路中，觀察干涉條紋的變化；或?qū)㈤L(zhǎng)度待測(cè)量轉(zhuǎn)化為動(dòng)鏡的移動(dòng)量，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)度測(cè)量。工作原理8485[例10-6]P243-24486【例10-7】解：（1）當(dāng)λ1亮條紋覆蓋在λ2的亮條紋上，條紋的可見(jiàn)度最高；當(dāng)λ1亮條紋與λ2的暗條紋重合時(shí)，條紋可見(jiàn)度最低，此時(shí)的光程差即等于λ1波長(zhǎng)的整數(shù)倍，又等于λ2半波長(zhǎng)的奇數(shù)倍。假設(shè)照明邁克爾遜干涉儀的光源發(fā)出兩種波長(zhǎng)λ1和λ2的單色光，這樣當(dāng)平面鏡M1平移時(shí)，條紋將周期性地消失和再現(xiàn)。87（2）883、泰曼干涉儀特點(diǎn)：在邁克爾遜干涉儀的一個(gè)光路中加入了被測(cè)光學(xué)器件，檢驗(yàn)原理是通過(guò)研究光波波面經(jīng)光學(xué)零件后的變形來(lái)確定零件質(zhì)量。用途：檢驗(yàn)光學(xué)零件的綜合質(zhì)量干涉條紋是等波面差的軌跡，參考波面為平面。光程差89§10－6平行平板的多光束干涉及其應(yīng)用L'P'一、平行平板的多光束干涉1、干涉場(chǎng)的強(qiáng)度分布（1）光程差與相位差（相鄰兩束光之間）9091（3）反射光的合振幅與光強(qiáng)分布92（4）透射光的光強(qiáng)分布932、干涉條紋的特點(diǎn)(2)反射光和透射光的強(qiáng)度互補(bǔ)，對(duì)某一個(gè)反射光，其干涉條紋為亮紋時(shí)，相應(yīng)的透射光的干涉條紋為暗紋。94干涉場(chǎng)強(qiáng)度隨反射率ρ和δ而變，干涉條紋仍是等傾圓條紋。當(dāng)ρ→1時(shí)，得到透射光條紋為全暗背景上的極細(xì)銳的亮紋。95不同反射率下多光束干涉強(qiáng)度分布曲線（透射光）F=0.2ρ=0.046F=2ρ=0.27F=20ρ=0.64F=206ρ=0.87不同反射率下多光束干涉強(qiáng)度分布曲線（反射光）F=0.2ρ=0.046F=2ρ=0.27F=20ρ=0.64F=206ρ=0.8796（4）條紋間隔97（5）干涉條紋的銳度98定義：相鄰兩條紋之間的間隔與一個(gè)條紋半寬度之比99二、法布里－珀羅干涉儀最典型的多光束干涉儀，常用作一種高分辨率的光譜儀器（一）儀器結(jié)構(gòu)光源透鏡觀察屏法-珀干涉儀：兩平板G1和G2之間的光程可調(diào)，可用于觀察和研究光波譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)即分析含有幾種波長(zhǎng)成分。法-珀標(biāo)準(zhǔn)具：兩平板間距固定不變，常用來(lái)測(cè)量某一段波長(zhǎng)范圍內(nèi)兩條光譜線之間相差很小的波長(zhǎng)差。1