標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 35010.5-2018 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第5部分:電學(xué)仿真要求》這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了半導(dǎo)體芯片在設(shè)計(jì)階段進(jìn)行電學(xué)仿真的具體要求。該標(biāo)準(zhǔn)旨在通過規(guī)范化的流程與方法,提高半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品的可靠性、性能一致性及開發(fā)效率。
標(biāo)準(zhǔn)首先明確了電學(xué)仿真在整個(gè)芯片設(shè)計(jì)過程中的重要性,指出其作為驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案是否滿足預(yù)期功能和性能指標(biāo)的關(guān)鍵步驟之一。接著,對(duì)電學(xué)仿真所涉及的基本概念進(jìn)行了定義,包括但不限于模型精度、邊界條件設(shè)置等關(guān)鍵術(shù)語,為后續(xù)內(nèi)容的理解奠定基礎(chǔ)。
對(duì)于電學(xué)仿真工具的選擇,《GB/T 35010.5-2018》建議采用經(jīng)過驗(yàn)證的商業(yè)軟件或開源解決方案,并強(qiáng)調(diào)了工具版本控制的重要性,以確保不同團(tuán)隊(duì)成員之間結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。
在仿真流程方面,本標(biāo)準(zhǔn)提供了一套完整的指導(dǎo)原則,涵蓋了從初步設(shè)計(jì)到最終驗(yàn)證的全過程。其中包括輸入?yún)?shù)設(shè)定、網(wǎng)格劃分策略、求解器選擇等多個(gè)環(huán)節(jié)的具體操作指南。此外,還特別強(qiáng)調(diào)了對(duì)于復(fù)雜結(jié)構(gòu)或特殊材料特性的處理方式,如非線性效應(yīng)、溫度依賴性等因素的影響分析。
針對(duì)輸出數(shù)據(jù),《GB/T 35010.5-2018》提出了詳細(xì)的記錄與報(bào)告編寫要求。這不僅有助于內(nèi)部審核與問題追溯,也為外部審查提供了依據(jù)。同時(shí),標(biāo)準(zhǔn)鼓勵(lì)使用可視化技術(shù)來增強(qiáng)結(jié)果展示效果,便于非專業(yè)人員理解。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-03-15 頒布
- 2018-08-01 實(shí)施
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GB/T 35010.5-2018半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第5部分:電學(xué)仿真要求-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
ICS31200
L55.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T350105—2018/IEC62258-52006
.:
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品
第5部分電學(xué)仿真要求
:
Semiconductordieproducts—
Part5Reuirementsforconcerninelectricalsimulation
:qg
(IEC62258-5:2006,Semiconductordieproducts—
Part5:Requirementsforinformationconcerningelectricalsimulation,IDT)
2018-03-15發(fā)布2018-08-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T350105—2018/IEC62258-52006
.:
前言
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品分為以下部分
GB/T35010《》:
第部分采購和使用要求
———1:;
第部分?jǐn)?shù)據(jù)交換格式
———2:;
第部分操作包裝和貯存指南
———3:、;
第部分芯片使用者和供應(yīng)商要求
———4:;
第部分電學(xué)仿真要求
———5:;
第部分熱仿真要求
———6:;
第部分?jǐn)?shù)據(jù)交換的格式
———7:XML;
第部分?jǐn)?shù)據(jù)交換的格式
———8:EXPRESS。
本部分為的第部分
GB/T350105。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分使用翻譯法等同采用半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分電學(xué)仿真信息要求
IEC62258-5:2006《5:》。
與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分采購和使用要求
———GB/T35010.1—20181:(IEC62258-1:2009,
IDT)
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分?jǐn)?shù)據(jù)交換格式
———GB/T35010.2—20182:(IEC62258-2:2011,IDT)
本部分做了下列編輯性修改
:
考慮到與我國標(biāo)準(zhǔn)體系相適應(yīng)將名稱改為半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分電學(xué)仿真要求
———,“5:”。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任
。。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC78)。
本部分起草單位北京大學(xué)中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所北京必創(chuàng)科技股份有限公司
:、、、
哈爾濱工業(yè)大學(xué)
。
本部分主要起草人張威張亞婷馮艷露崔波陳得民劉威
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T350105—2018/IEC62258-52006
.:
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品
第5部分電學(xué)仿真要求
:
1范圍
的本部分用于指導(dǎo)半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品的生產(chǎn)供應(yīng)和使用半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品包括
GB/T35010、,:
●晶圓
;
●單個(gè)裸芯片
;
●帶有互連結(jié)構(gòu)的芯片和晶圓
;
●最小或部分封裝的芯片和晶圓
。
本部分規(guī)定了所需的電仿真信息目的在于促進(jìn)電子數(shù)據(jù)電子系統(tǒng)電學(xué)行為和功能驗(yàn)證仿真模型
,、
的使用電子系統(tǒng)包括帶或不帶互連結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體裸芯片和或最小封裝的半導(dǎo)體芯片本部分是
。,()。
為了使芯片產(chǎn)品供應(yīng)鏈中所有的環(huán)節(jié)都滿足和的要求
IEC62258-1IEC62258-2。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分采購和使用
IEC62258-11:(Semiconductordieproducts—Part1:
Procurementanduse)
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品第部分?jǐn)?shù)據(jù)交換格式
IEC62258-22:(Semiconductordieproducts—Part2:
Exchangedataformats)
3術(shù)語和定義
界定的術(shù)語和定義適用于本文件
IEC62258-1。
4總則
按的規(guī)定芯片產(chǎn)品供應(yīng)商應(yīng)提供一個(gè)完整的數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)包里應(yīng)包含用戶在設(shè)計(jì)
IEC62258-1,,、
采購制造和測(cè)試的各個(gè)階段所需的必要和充分信息
、。
同時(shí)所提供的大部分信息應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)并公開于公共領(lǐng)域且信息源能以制造商數(shù)據(jù)表格的
,,,
形
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