GB/T 4930-1993電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件

UDC621.317：620.11中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4930-93電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen1993-08-30發(fā)布1994-07-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4930-93電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件代替GB4930-85Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen主題內(nèi)容與適用范圍本技術(shù)條件適用于電子探針、X射線(xiàn)微區(qū)定量分析用的標(biāo)準(zhǔn)樣品（以下簡(jiǎn)稱(chēng)標(biāo)樣）.2標(biāo)樣2.1材料2.1.1標(biāo)樣材料應(yīng)致密，成分均勻而穩(wěn)定，能長(zhǎng)期保存和使用2.1.2標(biāo)樣材料最小粒度應(yīng)大于0.2mm。2.1.3標(biāo)樣材料的母體應(yīng)有足夠量，供批量生產(chǎn)使用。-一般應(yīng)多于2g（粒度不小于0.2mm），除足夠供應(yīng)化學(xué)定值等消耗外，保證能在被確認(rèn)后制成200個(gè)以上的標(biāo)樣成品。2.1.4合成材料應(yīng)提供制作工藝簡(jiǎn)明資料，天然礦物應(yīng)提供來(lái)源及選礦流程資料。2.2尺寸與制作2.2.1單個(gè)標(biāo)樣將標(biāo)樣材料鑲嵌在用外徑3mm或6mm的黃銅管，紫銅管，白銅或不銹鋼管內(nèi)，工作平面拋光，端面要與柱軸垂直。最終產(chǎn)品應(yīng)為3mm×8mm±1mm或6mmX8mm±1mm。2.2.2組合標(biāo)樣將多種標(biāo)樣材料鑲嵌在外徑25.4mm，高10mm的黃銅、白銅、無(wú)磁不銹鋼圓柱體上。工作面磨平拋光并與柱軸垂直。2.2.3特殊標(biāo)樣指滿(mǎn)足電子探針定量分析要求制成的其他尺寸規(guī)格和形狀的標(biāo)樣。2.3外觀(guān)檢查2.3.1用光學(xué)顯微鏡檢查標(biāo)樣表面，每平方毫米不超過(guò)40條劃痕和臺(tái)階。2.3.2凡含有過(guò)量夾雜、偏析、包體或不同化學(xué)相的物質(zhì)不能作探針標(biāo)樣的材料3定值及定值原則標(biāo)樣成分必須定值并標(biāo)明定值準(zhǔn)確度。由于電子探針對(duì)不同物質(zhì)中不同元素的探測(cè)極限不同，因此對(duì)具體標(biāo)樣的定值，應(yīng)從電子探針?lè)治鰧?shí)際出發(fā)，分別規(guī)定。3.1單一元素金屬、合成均勾物及單晶標(biāo)樣，其雜質(zhì)含量對(duì)標(biāo)定元素的影響應(yīng)小于該標(biāo)定元素X射線(xiàn)計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)偏差。單一元素材料，暫不設(shè)國(guó)標(biāo)樣品，有特殊需要或獨(dú)特的制作工藝者除外。3.2對(duì)含兩個(gè)和兩個(gè)以上元素的標(biāo)樣(合金、多品體礦物、多品體融培體、玻璃體等材料)要求用一種或一種以上的可靠分析方法在全國(guó)探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)推薦的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行成分定值，全分析總量偏差應(yīng)小于1%，單項(xiàng)分析精度應(yīng)優(yōu)