GB/T 5095.2505-2021電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第25-5部分：試驗(yàn)25e：回波損耗

ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

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電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-5Test25eReturnloss

::

(IEC60512-25-5:2004,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-5:Test25e:Returnloss,IDT)

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

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目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

術(shù)語和定義

2………………1

試驗(yàn)設(shè)施

3…………………1

設(shè)備

3.1…………………1

裝置

3.2…………………1

試驗(yàn)樣品

4…………………2

說明

4.1…………………2

試驗(yàn)程序

5…………………2

總則

5.1…………………2

裝置回波損耗

5.2………………………3

樣品回波損耗測量

5.3…………………3

時(shí)域法

5.4………………3

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

6…………………3

試驗(yàn)記錄文件

7……………4

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備示意圖

A()………………5

附錄資料性附錄實(shí)用指南

B()…………9

Ⅰ

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

.:

前言

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗(yàn)串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗(yàn)衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延

———25-4:25d:;

第部分試驗(yàn)回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗(yàn)眼圖和抖動

———25-6:25f:;

第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-5。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第部

IEC60512-25-5:2004《25-5

分試驗(yàn)回波損耗

:25e:》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第部分試驗(yàn)回波損耗修改為電

———《25-5:25e:》《

子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第部分試驗(yàn)回波損耗

25-5:25e:》;

圖中原文標(biāo)準(zhǔn)裝置有樣品樣品裝置無樣品為明顯筆誤修改為標(biāo)準(zhǔn)裝置無

———A.1b)“()、()”,“(

樣品樣品裝置有樣品

)、()”。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952505—2021/IEC60512-25-52004

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電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-5部分試驗(yàn)25e回波損耗

::

1范圍

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了用于測量作為頻率函數(shù)的回波損耗的頻域法和時(shí)域法

。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

21

.

回波損耗returnloss

樣品測量的反射信號與輸入信號之比

。

注可用分貝表示

:(dB)。

22

.

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號導(dǎo)線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號源

。、、,

以及裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的

。

3試驗(yàn)設(shè)施

31設(shè)備

.

311頻域

..

采用具有適用于受試器件動態(tài)范圍的網(wǎng)絡(luò)分析儀差分測量時(shí)可采用具有多端口試驗(yàn)位

(DUT)。,

置或平衡不平衡轉(zhuǎn)換器的網(wǎng)絡(luò)分析儀