標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 5170.13-2005 是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法的標(biāo)準(zhǔn)之一,專門(mén)針對(duì)振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用的機(jī)械振動(dòng)臺(tái)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于進(jìn)行正弦振動(dòng)測(cè)試的機(jī)械振動(dòng)臺(tái)的基本參數(shù)及其檢定方法,確保這些設(shè)備能夠滿足特定的性能要求和精度等級(jí)。

標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)描述了振動(dòng)臺(tái)應(yīng)具備的技術(shù)指標(biāo),包括但不限于頻率范圍、最大加速度、位移幅度等關(guān)鍵參數(shù)。此外,還明確了不同參數(shù)下振動(dòng)臺(tái)需達(dá)到的具體數(shù)值,以及如何通過(guò)一系列標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試程序來(lái)驗(yàn)證這些參數(shù)是否符合要求。

對(duì)于振動(dòng)臺(tái)的檢定過(guò)程,標(biāo)準(zhǔn)提供了詳細(xì)的指導(dǎo)步驟,涵蓋從初步檢查到最終報(bào)告編寫(xiě)的所有階段。這包括對(duì)振動(dòng)臺(tái)工作狀態(tài)的確認(rèn)、使用校準(zhǔn)過(guò)的傳感器和其他測(cè)量工具來(lái)進(jìn)行準(zhǔn)確度驗(yàn)證、記錄所有相關(guān)數(shù)據(jù),并根據(jù)測(cè)試結(jié)果評(píng)估振動(dòng)臺(tái)是否符合預(yù)定規(guī)格。

在整個(gè)檢定過(guò)程中,特別強(qiáng)調(diào)了環(huán)境條件控制的重要性,如溫度、濕度等因素都可能影響到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此,在執(zhí)行任何檢定之前都需要確保實(shí)驗(yàn)室環(huán)境處于受控狀態(tài),以減少外部因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

標(biāo)準(zhǔn)還提到了一些特殊情況下需要注意的問(wèn)題,比如當(dāng)振動(dòng)臺(tái)需要在極端條件下運(yùn)行時(shí)(如高溫或低溫),則應(yīng)該采取額外措施保證其正常工作并獲得可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。同時(shí),對(duì)于不同類型或規(guī)模的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試時(shí),也需要調(diào)整相應(yīng)的設(shè)置以適應(yīng)不同的測(cè)試需求。


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  • 2005-03-03 頒布
  • 2005-08-01 實(shí)施
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GB/T 5170.13-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)_第1頁(yè)
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ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.13-2005代替GB/T5170.13-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Mechanicalvibratingtypemachinesforvibration(sinusoidaltest2005-03-03發(fā)布2005-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T5170.13-2005三次前言范圍規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)和定義4檢定項(xiàng)目5檢定用主要儀器及要求6檢定條件7一般規(guī)定8檢定方法9檢定周期附錄A(規(guī)范性附錄)檢定項(xiàng)目的選擇附錄B(規(guī)范性附錄)基本參數(shù)允許誤差

GB/T5170.13—2005GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》是系列標(biāo)準(zhǔn),分為若干部分GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2-1996)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法:濕熱試驗(yàn)設(shè)備電電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.8-1996:鹽霧試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐飩氣體試驗(yàn)設(shè)備電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.13-2005振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.14-1985振振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)GB/T5170.15-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.16-1985穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)GB/T5170.17-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.18-1987溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.19-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備GB/T5170.20—1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備本部分是GB/T5170的第13部分,自實(shí)施之日起代替GB/T5170.13—1985.本部分與GB/T5170.13—1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:增加了“規(guī)范性引用文件”一章;增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章;在“檢定用主要儀器及要求”一章中,給出了檢定用儀器的擴(kuò)展不確定度(人=2)的要求;增加了“檢定條件”一章;-在"一般規(guī)定"一章,要求檢定用負(fù)載"表面光潔度不低于5級(jí)"改為"表面粗糙度尺,優(yōu)于5.0m":檢定橫向振動(dòng)比、加速度波形失真度和臺(tái)面位移幅值均勺度時(shí)的位移幅值和頻率的規(guī)定由"a.最大位移幅值;頻率范圍下限值。b,頻率范圍上限值上的最大加速度幅值所對(duì)應(yīng)的位移幅值;頻率范圍上限值。C.最大位移幅值:最大位移幅值的上限頻率。d最小位移幅值;最小位移幅值與最小加速度幅值對(duì)應(yīng)的頻率值.改為:所選頻率點(diǎn)應(yīng)包括上、下限值以及額定位移與額定加速度的交越點(diǎn);所選位移幅值應(yīng)為該頻率點(diǎn)額定幅值的一半或一半以上";加速度單位由“g”改為"mn/s"";在"檢定方法"一章,橫向振動(dòng)比(位移)的檢定中,三向加速度計(jì)的安裝由“固定在臺(tái)面中心及距工作臺(tái)面中心最遠(yuǎn)的相鄰兩個(gè)安裝點(diǎn)上"改為“固定在臺(tái)面中心";頻率穩(wěn)定度的檢定中,要

GB/T5170.13-2005求“試驗(yàn)時(shí)間2h",位移幅值穩(wěn)定度的檢定中,要求“試驗(yàn)時(shí)間2h";增加了“檢定周期”一章;在附錄B中,臺(tái)面位移幅值均勾度的要求由“臺(tái)面面積>1m2時(shí).由供需方商定"改為“臺(tái)面面積>1m2.<25%”;定振精度的要求由"10Hz以下由供需方商定"改為"5Hz到上限頻率士3dB”本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:肖建紅、鄭術(shù)力.本部分歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T5170.13-1985。

GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)1范圍1.1本部分規(guī)定了振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、檢定時(shí)的一般規(guī)定、檢定方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對(duì)GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)FC:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)(以下簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái))基本參數(shù)的檢定方法。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢定2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。第2部分:試驗(yàn)方法GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)(GB/T2423.10-1995.idtIEC68-2-6:1982)(B/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則3術(shù)語(yǔ)和定義本部分采用GB/T5170.1規(guī)定的術(shù)語(yǔ)和定義檢定項(xiàng)目本部分規(guī)定的檢定項(xiàng)目如下:額定參數(shù)(最大載荷、

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