GB/T 8993-1998核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法

ICS_19.040F80中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8993-1998核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法EnvironmentalconditionsandtestingProceduresfornuclearinstrumentation1998-07-30發(fā)布1999-05-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T8993-1998次前言12引用標(biāo)準(zhǔn)3定義核儀器環(huán)境條件分級、分類、分組及其嚴(yán)醋等級4.1環(huán)境條件的分級、分類和嚴(yán)醋等級的表示方法…4.2核儀器環(huán)境條件的分組及其環(huán)境參數(shù)·.4.35核儀器環(huán)境試驗(yàn)要求………5.1參考條件和標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件……105.2一般試驗(yàn)程序……5.3試驗(yàn)中斷處理…………·5.4環(huán)境試驗(yàn)順序………6環(huán)境試驗(yàn)方法…………·表1財(cái)存環(huán)境條件………表2運(yùn)輸環(huán)境條件·表3.1有氣候防護(hù)場所固定使用環(huán)境條件（I組）……表3.2有氣候防護(hù)場所固定使用環(huán)境條件（I組選擇項(xiàng)目）…表4.1無氣候防護(hù)場所固定使用環(huán)境條件<組）…表4.2無氣候防護(hù)場所固定使用環(huán)境條件（Ⅱ組選擇項(xiàng)目)……表5.1地面車載環(huán)境條件（W組）……………表5.2地面車載環(huán)境條件（N組選擇項(xiàng)目）表6船用環(huán)境條件(待定）表7.1可攜式及非固定使用環(huán)境條件（組）表7.2可攜式及非固定使用環(huán)境條件（組選擇項(xiàng)目）……附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）低溫(額定低溫、則存低溫)試驗(yàn)方法附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）高溫(額定高溫、財(cái)存高溫)試驗(yàn)方法·16附錄C（標(biāo)準(zhǔn)的附錄）溫度變化試驗(yàn)方法………….附錄D(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）恒定濕熱試驗(yàn)方法20附錄E(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法附錄F(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）沖擊試驗(yàn)方法26附錄G（標(biāo)準(zhǔn)的附錄）自由跌落試驗(yàn)方法29附錄H(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)包裝運(yùn)輸試驗(yàn)方法

GB/T8993-1998本標(biāo)準(zhǔn)是對國家標(biāo)準(zhǔn)GB8993.1～8993.12-88《核儀器環(huán)境試驗(yàn)基本要求與方法》的全面修訂，并將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法》代替原標(biāo)準(zhǔn)GB8993.1～8993.12—88。本標(biāo)準(zhǔn)對原標(biāo)準(zhǔn)做了如下主要修訂：本標(biāo)準(zhǔn)對原標(biāo)準(zhǔn)中的核儀器環(huán)境條件作了必要的補(bǔ)充，增加的主要內(nèi)容包括：氣候條件中的溫度變化與太陽輻射、機(jī)械活性物質(zhì)條件中的砂和塵、化學(xué)活性物質(zhì)條件中的鹽霧和生物條件中的蛋菌和動(dòng)物。并引入環(huán)境條件分級、分類概念.即將環(huán)境條件按應(yīng)用分為七個(gè)級別,它們是:財(cái)存(1）、運(yùn)輸(2)、有氣候防護(hù)場所固定使用(3)、無氣候防護(hù)場所固定使用(4）、地面車載使用(5)、船用(6)、可攜式及非固定使用(7)。按環(huán)境條件的特性分為：氣候條件(K）、機(jī)械條件(M)、機(jī)械活性物質(zhì)條件(S)、化學(xué)活性物質(zhì)條件(C)和生物條件(B)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的核儀器環(huán)境條件剪裁于GB4798.1～4798.7(IEC721）《電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件》系列標(biāo)準(zhǔn)，并結(jié)合核儀器在我國應(yīng)用的具體情況做些修改。本標(biāo)準(zhǔn)對原標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境條件分組進(jìn)行了修改,由原來的」組、I組、Ⅱ組改為四個(gè)組(十個(gè)子組)：1組：有氣候防護(hù)場所固定使用(含Ia、Ib、Ic三個(gè)子組);1組：無氣候防護(hù)場所固定使用(含Ⅱa、Ib兩個(gè)子組);m組：可攜式及非固定使用(含a、Ib、Ⅱe三個(gè)子組);W組：地面車載使用(含Na、Nb兩個(gè)子組)此外單獨(dú)列出存和運(yùn)輸?shù)沫h(huán)境條件。本標(biāo)準(zhǔn)把原標(biāo)準(zhǔn)的11個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目調(diào)整為14個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目：刪除原標(biāo)準(zhǔn)中的"傾斜跌落試驗(yàn)"和“堿撞試驗(yàn)”；把原標(biāo)準(zhǔn)中的“淋雨試驗(yàn)”和“浸水試驗(yàn)”合并為"水試驗(yàn)”把原標(biāo)準(zhǔn)中的“溫度試驗(yàn)”分成兩個(gè)項(xiàng)目："低溫試驗(yàn)”和“高溫試驗(yàn)”；新增加的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目是：“溫度變化試驗(yàn)”"砂塵試驗(yàn)”“低氣壓試驗(yàn)”"太陽輻射試驗(yàn)”和“長霉試驗(yàn)”本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的核儀器環(huán)境試驗(yàn)方法剪裁于GB2423.1～2423.44（IEC68）《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》系列標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)增加了一般試驗(yàn)程序本標(biāo)準(zhǔn)推薦了環(huán)境試驗(yàn)順序供參考。由于目前國際上還沒有《核儀器環(huán)境條件和試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)，因此本標(biāo)準(zhǔn)可作為IEC721(GB4798),IEC68(GB2423)系列標(biāo)準(zhǔn)在我國核儀器領(lǐng)域具體應(yīng)用的指南。本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄均是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、防化研究院二所、西安262廠本標(biāo)準(zhǔn)起草人：李國祥、程景泰、毛用澤、張松壽、盧建東、李全生、梁平。本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布于1988年。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8993-1998核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法代替GB8993.1~8993.12-88Environmentalconditionsandtestingproceduresfornuclearinstrumentation1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了核儀器環(huán)境條件的分級、分類、分組、嚴(yán)醋等級和環(huán)境試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于實(shí)驗(yàn)室核儀器、同位素與輻射應(yīng)用核儀器、放射性探礦與選礦核儀器、醫(yī)用核儀器、核反應(yīng)堆儀器和輻射防護(hù)儀器。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的核儀器環(huán)境條件的分組和試驗(yàn)方法是制定核儀器產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和有關(guān)文件中的環(huán)境試驗(yàn)條件和試驗(yàn)方法的依據(jù)。核儀器在規(guī)定環(huán)境條件下的性能要求不屬本標(biāo)準(zhǔn)范圍，由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定超出本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的應(yīng)用環(huán)境條件和試驗(yàn)方法應(yīng)由用戶和廠家根據(jù)有關(guān)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)協(xié)商解決本標(biāo)準(zhǔn)不適用于核電廠安全級(1E級）核儀器。不能進(jìn)行整機(jī)試驗(yàn)的設(shè)備，可分別進(jìn)行分體試驗(yàn)引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性、GB/T2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語GB2423.16—90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J：長霉試驗(yàn)方法GB/T2423.17—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB/T2423.24一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射GB2423.37—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法GB2423.38—90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法GB4208-93外殼防護(hù)等級（IP代碼）GB4796—84電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)醋程度分級GB4798.1—86電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件貼存GB/T4798.2一1996電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件運(yùn)輸GB4798.3-90電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件有氣候防護(hù)場所固定使用GB4798.4—90電工電子產(chǎn)