GB/T 9149-2008磁粉離合器通用技術條件

犐犆犛２１．１２０．０１

犑１９

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜９１４９—２００８

代替ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８

磁粉離合器通用技術條件

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２００８０９２７發(fā)布２００９０５０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜９１４９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４技術要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６檢驗規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

７標志、包裝、運輸和貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３

Ⅰ

書

犌犅／犜９１４９—２００８

前言

本標準是對ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８《磁粉離合器通用技術條件》的修訂。

本標準與ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８相比在技術內(nèi)容上有如下變化：

———增加了標準的前言、目次；

———規(guī)范性引用文件中刪去了作廢標準ＧＢ／Ｔ９９８，增加了ＧＢ／Ｔ２４２３最新版本的內(nèi)容，其中

ＧＢ／Ｔ２４２３．１、ＧＢ／Ｔ２４２３．２為注日期引用，其他為不注日期引用；

———增加了“３術語和定義”；

———刪除了１９８８版３．９、３．１０、３．１１、３．１２、３．１３．１、３．１３．２、４．１０、４．１１、４．１２等條款的內(nèi)容；

———取消了１９８８版３．１３．１１中“……今后應盡量采用火箭撬試驗法來代替離心機試驗法?！?；

———１９８８版４．１６修改為“溫度氣壓循環(huán)試驗”（見５．１３）；

———取消了１９８８版４．１７、４．１８、４．１９、４．２０、４．２２中有關ＧＢ／Ｔ２４２３．３、ＧＢ／Ｔ２４２３．５、

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０、ＧＢ／Ｔ２４２３．１５、ＧＢ／Ｔ２４２３．２１的具體引用內(nèi)容（見５．１４、５．１５、５．１６、５．１７、

５．１９）。

本標準由全國機器軸與附件標準化技術委員會提出并歸口。

本標準起草單位：機械科學研究院中機生產(chǎn)力促進中心、北京自動化控制設備研究所、中國航天科

技集團公司７１０３廠。

本標準主要起草人：明翠新、馬新明、杜亞文、鄧高見。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ９１４９—１９８８。

Ⅲ

犌犅／犜９１４９—２００８

磁粉離合器通用技術條件

１范圍

本標準規(guī)定了磁粉離合器（以下簡稱離合器）的術語和定義、設計與制造的通用技術要求、試驗方法

和檢驗規(guī)則。

本標準適用于磁粉離合器。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。

ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫（ｉｄｔＩＥＣ６００６８

２１：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｂ：高溫（ｉｄｔＩＥＣ６００６８２

２：１９７６）

ＧＢ／Ｔ２４２３．３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｃａｂ：恒定濕熱試驗

（ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６，ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｅａ和導則：沖擊

（ＧＢ／Ｔ２４２３．５—１９９５，ｉｄｔＩＥＣ６００６８２２７：１９８７）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ：振動（正弦）

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８，ＩＥＣ６００６８２６：１９９５，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｇａ和導則：穩(wěn)態(tài)加速度

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１５—２００８，ＩＥＣ６００６８２７：１９８６，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｊ和導則：長霉

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１６—１９９９，ｉｄｔＩＥＣ６００６８２１０：１９９８）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｋａ：鹽霧（ＧＢ／Ｔ２４２３．１７—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１１：１９８１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ｍ：低氣壓試驗方法（ＧＢ／Ｔ