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文檔簡(jiǎn)介
第三章晶體缺陷
(一)
——點(diǎn)缺陷、位錯(cuò)的概念環(huán)境與材料工程學(xué)院
秦連杰教授Tel.690223913853579409ljqin@
華麗的表面背后是一顆顆孤獨(dú)、寂寞、躁動(dòng)不安的缺少愛與被愛的心!悲催呀!概
述前面章節(jié)都是就理想狀態(tài)的完整晶體而言,即晶體中所有的原子都在各自的平衡位置,處于能量最低狀態(tài)。然而在實(shí)際晶體中原子的排列不可能這樣規(guī)則和完整,而是或多或少地存在離開理想的區(qū)域,出現(xiàn)不完整性。正如我們?nèi)粘I钪幸姷接衩装羯嫌衩琢5姆植?。通常把這種偏離完整性的區(qū)域稱為晶體缺陷(crystaldefect;crystallineimperfection)。IntroductionDefect:deviationsfromtheidealarecalledimperfectionordefects
Notethatevenifwewereabletobuildaperfectcrystal,unlesswecouldkeepitatabsolutezero(T=0K),defectswouldappear
晶體缺陷對(duì)于晶體結(jié)構(gòu)來說規(guī)則完整排列是主要的,而非完整性是次要的;對(duì)一些對(duì)結(jié)構(gòu)敏感的性能來說,起主要作用的是晶體的不完整性,而完整性是次要的;一些相變、擴(kuò)散變形等都與晶體缺陷有關(guān)。晶體缺陷(Crystaldefect)IntroductionInsomecases,itisdesirabletohavecrystalsasperfectaspossible(e.g.,crystalsforoptoelectronics)Inothercases,imperfectionsaredeliberate(e.g.,alloysoftworandomlymixedmetalsforgreaterstrength;dopingofsemiconductorstoachievespecificelectricalproperties)
Defectcontrolisveryimportant……本章要求掌握的主要內(nèi)容一、需掌握的概念和術(shù)語1、點(diǎn)缺陷、Schottky、Frankel空位、間隙原子、置換原子2、線缺陷、刃型位錯(cuò)、螺型位錯(cuò)、混合型位錯(cuò)、伯氏矢量、位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)、滑移、(雙)交滑移、多滑移、攀移、交割、割價(jià)、扭折、塞積;3、作用在位錯(cuò)上的力、位錯(cuò)密度、位錯(cuò)生成、位錯(cuò)增殖、位錯(cuò)分解與合成、位錯(cuò)反應(yīng)、全位錯(cuò)、不全位錯(cuò)、堆垛層錯(cuò)4、面缺陷、表面、界面、界面能、晶界、孿晶界、相界5、位錯(cuò)的應(yīng)力場(chǎng)、位錯(cuò)的應(yīng)變能、線張力等作一般了解1、點(diǎn)缺陷的平衡濃度公式2、位錯(cuò)類型的判斷及其特征、伯氏矢量的特征,位錯(cuò)分解與合成、位錯(cuò)反應(yīng)3、位錯(cuò)源、位錯(cuò)的增殖(F-R源、雙交滑移機(jī)制等)和運(yùn)動(dòng)、交割4、關(guān)于位錯(cuò)的應(yīng)力場(chǎng)、位錯(cuò)的應(yīng)變能、線張力等可作為一般了解5、晶界的特性(大、小角度晶界)、孿晶界、相界的類型本章重點(diǎn)及難點(diǎn)DefectClassification
Canbedividedaccordingtotheirgeometryandshape0-Dorpointdefects1-Dorlinedefects(dislocations)2-D(externalsurface)3-D(grainboundaries,crystaltwins,twists,stackingfaults,voidsandprecipitates)晶體缺陷分類0-Dorpointdefects:三維空間的各個(gè)方面上尺寸都很小,尺寸范圍約為一個(gè)或幾個(gè)原子尺度,包括空位、空位團(tuán)、間隙原子、雜質(zhì)和溶質(zhì)原子等1-Dorlinedefects(dislocations):各類位錯(cuò)。在兩個(gè)方向上尺寸很小,另外一個(gè)方面上很大2-D(externalsurface)
:在一個(gè)方面上尺寸很小,另外兩個(gè)方面很大,又稱面缺陷,包括表面、亞晶界、相界、孿晶界等。3-Dbodyefects,macro-scale.Includingofgrainboundaries,crystaltwins,twists,stackingfaults,voidsandprecipitates.(孿晶、晶界、空洞、位錯(cuò)塞集、包裹體等)點(diǎn)缺陷線缺陷之刃位錯(cuò)面缺陷之晶界體缺陷之包裹物1、點(diǎn)缺陷的類型A根據(jù)對(duì)理想晶體偏離的幾何位置來分,有:(1)同類:vacancy(空位)andself-interstitalatom(自間隙原子)(2)異類:interstitalimpurityatom(間隙質(zhì)原子)andsubstitutionimpurityatom(置換雜質(zhì)原子)(3)空位對(duì)、空位團(tuán)、空位-溶質(zhì)原子對(duì)3.1點(diǎn)缺陷3.1.1點(diǎn)缺陷的形成及類型結(jié)點(diǎn)上或鄰近微觀區(qū)域內(nèi)偏離晶體結(jié)構(gòu)正常排列的一種缺陷?;兛瘴恍纬蓵r(shí),除引起點(diǎn)陣畸變外,還會(huì)隔斷鍵力,改變周圍電子能量(勢(shì)能和動(dòng)能)。
所以,空位生成能(Ev)可定義為:在晶體中取出一個(gè)原子放到晶體表面上(不改變晶體的表面積和表面能)所需要的能量。B根據(jù)產(chǎn)生缺陷的原因分熱缺陷:當(dāng)晶體的溫度高于絕對(duì)0K時(shí),由于晶格內(nèi)原子熱運(yùn)動(dòng),使一部分能量較大的原子離開平衡位置造成的缺陷。
a、Frankel(弗侖克爾)缺陷
特點(diǎn)—空位和間隙成對(duì)產(chǎn)生;晶體密度不變。能量角度分析圖示間隙位置平衡位置
例:纖鋅礦結(jié)構(gòu)ZnO晶體,Zn2+可以離開原位進(jìn)入間隙Frankel缺陷的產(chǎn)生
b、Schottky
缺陷
特點(diǎn)—對(duì)于離子晶體,為保持電中性,正離子空位和負(fù)離子空位成對(duì)產(chǎn)生,晶體體積增大。形成原因:正常格點(diǎn)的原子由于熱運(yùn)動(dòng)躍遷到晶體表面,在晶體內(nèi)正常格點(diǎn)留下空位。形成缺陷的能量分析—Schottky缺陷形成的能量小于Frankel缺陷形成的能量。因此對(duì)于大多數(shù)晶體來說,Schttky
缺陷是主要的。熱缺陷濃度表示:Schottky缺陷的產(chǎn)生雜質(zhì)缺陷
概念—雜質(zhì)原子進(jìn)入晶體而產(chǎn)生的缺陷。原子進(jìn)入晶體的數(shù)量一般小于0.1%。
種類—間隙雜質(zhì)
置換雜質(zhì)
特點(diǎn)—雜質(zhì)缺陷的濃度與溫度無關(guān),只決定于溶解度。
存在的原因—本身存在:雜質(zhì)在晶體存在的普遍性有目的加入(改善晶體的某種性能,如摻雜稀土離子獲得特殊光、電、磁等性能)非化學(xué)計(jì)量缺陷電荷缺陷價(jià)帶產(chǎn)生空穴導(dǎo)帶存在電子附加電場(chǎng)周期排列不變周期勢(shì)場(chǎng)畸變產(chǎn)生電荷缺陷
非化學(xué)計(jì)量結(jié)構(gòu)缺陷(電荷缺陷)存在于非化學(xué)計(jì)量化合物中的結(jié)構(gòu)缺陷,化合物化學(xué)組成與周圍環(huán)境氣氛有關(guān);不同種類的離子或原子數(shù)之比不能用簡(jiǎn)單整數(shù)表示。如:電荷缺陷
缺陷的產(chǎn)生:有些化合物,電子得到能量而被激發(fā)到高能量狀態(tài),此時(shí)在電子原來所處的能量狀態(tài)相當(dāng)于留下了一個(gè)電子空穴,帶正電荷。因此在它們附近形成了一個(gè)附加電場(chǎng),引起周期勢(shì)場(chǎng)的畸變,造成了缺陷。
Vch色心:電子空穴被束縛在正離子空位上形成的缺陷(呈正電性,用P表示);
Fch色心:自由電子被束縛在負(fù)離子空位上而形成的缺陷(呈負(fù)電性,可用N表示)。V-色心2、高分子晶體點(diǎn)缺陷高分子晶體中特有的點(diǎn)缺陷3、點(diǎn)缺陷的產(chǎn)生平衡點(diǎn)缺陷:熱振動(dòng)中的能量起伏。過飽和點(diǎn)缺陷:晶體中含點(diǎn)缺陷的數(shù)目明顯超過平衡值。外來作用,如高溫淬火、輻照、冷加工等。例如:過飽和空位—高溫下停留平衡時(shí)晶體中存在一平衡空位,快速冷卻到一較低的溫度,晶體中的空位來不及移出晶體,就會(huì)造成晶體中的空位濃度超過這時(shí)的平衡值。過飽和空位的存在是一非平衡狀態(tài),有恢復(fù)到平衡態(tài)的熱力學(xué)趨勢(shì),但在動(dòng)力學(xué)上達(dá)到平衡態(tài)需要一時(shí)間過程。3.1.2點(diǎn)缺陷的平衡濃度晶體中點(diǎn)缺陷的存在:一方面造成點(diǎn)陣畸變,使晶體的內(nèi)能升高,降低了晶體的熱力學(xué)穩(wěn)定性,另一方面由于增大了原于排列的混亂程度,并改變了其周圍原子的振動(dòng)頻率,引起組態(tài)熵和振動(dòng)熵的改變,使晶體熵值增大,增加了晶體的熱力學(xué)穩(wěn)定性。這兩個(gè)相互矛盾的因素使得晶體中的點(diǎn)缺陷在一定的溫度下有一定的平衡濃度。點(diǎn)缺陷的平衡濃度推導(dǎo)過程由熱力學(xué)原理可知,在恒溫下,系統(tǒng)的自由能F為S
組態(tài)熵或混合熵Sc:由于晶體中產(chǎn)生缺陷所引起的微觀狀態(tài)數(shù)目增加而造成的熱振動(dòng)熵Sf:由于缺陷產(chǎn)生后周圍原子振動(dòng)狀態(tài)改變而造成的,它與空位相鄰的晶格原子振動(dòng)狀態(tài)有關(guān)
假設(shè)某一完整單質(zhì)晶體,質(zhì)點(diǎn)數(shù)N,在T(K)時(shí)形成
n個(gè)孤立空位,每個(gè)空位形成能Ev,其內(nèi)能將增加U=nEv,而幾個(gè)空位造成晶體組態(tài)熵的改變?yōu)镾c,振動(dòng)熵的改變?yōu)閚Sf
,故自由能的改變?yōu)椋?/p>
K—波爾茲曼常數(shù),W—在n+N個(gè)晶格位置上產(chǎn)生n個(gè)空位作不同分布時(shí)排列總數(shù)目
根據(jù)統(tǒng)計(jì)熱力學(xué),Sc與產(chǎn)生缺陷后微觀狀態(tài)熱力學(xué)幾率W成正比于是,晶體組態(tài)熵的增值為:當(dāng)x>>1時(shí),斯特令公式:由于N>>n,所以:當(dāng)N>>n時(shí),故空位在T溫度時(shí)的平衡濃度為:于是在平衡時(shí).自由能為最小,即:
只要把上式的形成焓和形成熵?fù)Q成間隙原子的就可以了。
間隙原子的形成焓比空位的約大一個(gè)數(shù)量級(jí),所以它的平衡濃度更是非常低,一般在接近熔點(diǎn)時(shí)也只有10-15。如果將上式中指數(shù)的分子分母同乘以阿伏加德羅常數(shù)NA,于是有*按照類似的計(jì)算,也可求得間隙原子的平衡濃度C/為△Ev對(duì)C的影響:金屬種類
Pb
Al
Mg
Au
Pt
W△Ev×10-8J0.050.240.56C9.2×10-62.8×10-81.5×10-93.6×10-107.8×10-165.7×10-36金屬中的空位平衡濃度是很低的,即使在接近熔點(diǎn)溫度也只有約10-4。
例如鋁的ΔHf
=73.3×103J/mol,ΔSf
=20J/mol.K,計(jì)算所得在靠近熔點(diǎn)的溫度(933K)時(shí)的平衡空位濃度Nv
=8.7×10-4。例題:在Fe中形成1mol空位的能量為104.675kJ,試計(jì)算從20℃升溫至850℃時(shí)空位數(shù)目增加多少倍?解:取A=1或常數(shù)例題:Cu晶體得空位形成能為0.9ev/atom=1.44×10-19J/atom,在500℃時(shí)計(jì)算可得出平衡空位的濃度為1.410-6(很低),而在每立方米的銅晶體存在1.21023個(gè)空位(數(shù)量很多)。3.1.3點(diǎn)缺陷的運(yùn)動(dòng)
點(diǎn)缺陷的運(yùn)動(dòng)方式:
(1)空位運(yùn)動(dòng)。
(2)間隙原子遷移。
(3)空位和間隙原子相遇,兩缺陷同時(shí)消失。
(4)逸出晶體到表面,或移到晶界,點(diǎn)缺陷消失。
(5)空位聚集遷移復(fù)合-濃度降低聚集-濃度升高-塌陷(位錯(cuò))3.1.3點(diǎn)缺陷的運(yùn)動(dòng)
3.1.3點(diǎn)缺陷的運(yùn)動(dòng)
點(diǎn)缺陷從一個(gè)平衡位置到另一平衡位置,必需獲得足夠大能量來克服周圍
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