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文檔簡介
第一章光的干涉第二章光的衍射第三章光的偏振波動光學(xué)1.光學(xué)的發(fā)展幾何光學(xué)波動光學(xué)量子光學(xué)引言線性光學(xué)非線性光學(xué)2.波動光學(xué)對光的描述光是電磁波單色光:頻率恒定的一列無限長E矢量的簡諧光波。與物質(zhì)相互作用(感光、生理作用)的主要是E矢量-光矢量。E矢量的振動稱為光振動。1.普通光源:自發(fā)輻射互相獨(dú)立互相獨(dú)立同一原子先后發(fā)的光不同原子發(fā)的光互相獨(dú)立:前后發(fā)光間隔,頻率,位相,振動方向,傳播方向2.激光光源:受激輻射頻率,位相,振動方向,傳播方向完全一樣!=(E2-E1)/hE2E1
二.光的相干性
1.兩列光波的疊加(只討論電振動)P:12E0E10E20p12r1r2完全相干光源(如激光光源)
▲相長干涉(明)
(k=0,1,2,3…)▲相消干涉(暗)
(k=0,1,2,3…)決定于P點(diǎn)的位置恒定Io2-24-44I1襯比度差(V<1)襯比度好(V=1)振幅比決定襯比度的因素:光源的寬度光源的單色性IImaxImino2-24-42.條紋襯比度(對比度,反襯度)3.普通光源獲得相干光的途徑pS
*分波面法分振幅法·p薄膜S*條紋間距(1)一系列平行的明暗相間的條紋;
(3)中間級次低;明紋:k,k=1,2,3…(整數(shù)級)暗紋:(2k+1)/2(半整數(shù)級)(4)條紋特點(diǎn):(2)不太大時條紋等間距;某條紋級次=該條紋相應(yīng)的(r2-r1)/二.光強(qiáng)公式若I1=I2
=I0
,則光強(qiáng)曲線I02-24-4k012-1-24I0x0x1x2x
-2x-1sin0/d-/d-2/d2/d§3其他分波面干涉實(shí)驗(yàn)(自學(xué))§4空間相干性一.空間相干性的概念光源寬度對干涉條紋襯比度的影響設(shè)光源寬度為bBDI非相干疊加+1L0N0M0Lb/2d/2LMNS1S2xI合成光強(qiáng)0Nx+1L0M0L-1N=Dλ/d(B>>b0,d)—光源的極限寬度時,才能觀察到干涉條紋。doDB+1L·r2r1r1r2單色光源b0/2·xL△x/2
三.相干間隔和相干孔徑角1.相干間隔若b和B一定,則要得到干涉條紋,必須—相干間隔d0越大,光場的空間相干性越好。2.相干孔徑角S1S2b0d0B━相干孔徑角0越大空間相干性越好。激光光源可以不受以上限制在θ0范圍內(nèi)的光場中,正對光源的平面上的任意兩點(diǎn)的光振動是相干的。四.應(yīng)用舉例1.測遙遠(yuǎn)星體的角直徑:bdB星體一.光的非單色性1.理想的單色光、2.準(zhǔn)單色光、譜線寬度準(zhǔn)單色光:在某個中心波長(頻率)附近有一定波長(頻率)范圍的光。譜線寬度:0oII0I0/2譜線寬度(1)自然寬度·Ei+1Ei+1EiEi§5時間相干性造成譜線寬度的原因(2)多普勒增寬(3)碰撞增寬二.非單色性對干涉條紋的影響0123456012345Ix-(/2)+(/2)合成光強(qiáng)干涉的最大級次三.相干長度與相干時間1.相干長度
兩列波能發(fā)生干涉的最大波程差:中心波長SS1S2c1c2b1b2a1a2·pS1S2Sc1c2b1b2a1a2p·注:等代表波列只有同一波列分成的兩部分經(jīng)不同的光程再相遇時才能發(fā)生干涉。波列長度就是相干長度§6光程一.光程、光程差真空中··dabλ媒質(zhì)中··abndλn媒質(zhì)n─媒質(zhì)中波長光程:
L=nd─真空中波長…………n1n2nmd1d2dm光程差:
=L2-L1[例]·S1S2r1r2dnpP:
二.使用透鏡不會產(chǎn)生附加光程差Sacb··S物點(diǎn)到象點(diǎn)各光線之間的光程差為零相位差和光程差的關(guān)系:光程L
=
(nidi
)§7薄膜干涉
(一)——等厚條紋一.劈尖(劈形膜)夾角很小的兩個平面所構(gòu)成的薄膜ennn·A反射光2反射光1單色平行光(設(shè)n>
n
)·S121、2兩束反射光來自同一束入射光,它們可以產(chǎn)生干涉。Leekek+1明紋暗紋條紋間距又
二.牛頓環(huán)
.S分束鏡M顯微鏡oerR·平晶平凸透鏡暗環(huán)o
牛頓環(huán)裝置簡圖平凸透鏡平晶光程差:(1)(k=0,1,2,…)(2)第k個暗環(huán)半徑暗環(huán):三.等厚條紋的應(yīng)用1.劈尖的應(yīng)用測波長:已知θ、n,測L可得λ測折射率:已知θ、λ,測L可得n測細(xì)小直徑、厚度、微小變化Δh待測塊規(guī)λ標(biāo)準(zhǔn)塊規(guī)平晶測表面不平度等厚條紋待測工件平晶2.牛頓環(huán)的應(yīng)用測透鏡球面的半徑R:已知,測
m、rk+m、rk,可得R。測波長λ:
已知R,測出m
、
rk+m、rk,
可得λ。
檢驗(yàn)透鏡球表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)規(guī)待測透鏡暗紋§8薄膜干涉(二)——等傾條紋一.點(diǎn)光源照明時的干涉條紋分析L
fPo
r環(huán)B
ennn>nirA
CD··21Siii光束1、2的光程差:得·
··或明紋暗紋傾角i相同的光線對應(yīng)同一條干涉條紋—等傾條紋。形狀:條紋特點(diǎn):一系列同心圓環(huán)r環(huán)=ftgi條紋間隔分布:內(nèi)疏外密條紋級次分布:e一定時,波長對條紋的影響:膜厚變化時,條紋的移動:二.面光源照明時,干涉條紋的分析iPifor環(huán)ennn>n面光源···只要入射角i相同,都將匯聚在同一個干涉環(huán)上(非相干疊加)三.應(yīng)用:增透(射)膜和增反射膜(自學(xué)書P130例2)§9邁克耳遜干涉儀一.儀器結(jié)構(gòu)、光路二.工作原理
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