掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)

掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)黃銳2007.10.29.ScanningElectronMicroscopeOutline掃描電鏡光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM掃描電鏡的特點—FeaturesofSEM掃描電鏡的原理—MechanismofSEM掃描電鏡的樣品制備—Preparationofsamples掃描電鏡與法庭化學(xué)—SEM&Forensicscience能譜儀HistorythemicroscopeOpticalMicroscopeScanElectronMicroscopeWhatisSEM?SEM——

主要是利用樣品表面產(chǎn)生的二次電子成像來對物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究，是探索微觀世界的有力工具。HistoryofSEM1935：法國的卡諾爾提出掃描電鏡的設(shè)計思想和工作原理。1942：劍橋大學(xué)的馬倫首次制成世界第一臺掃描電鏡。OM&SEMcomparison顯微鏡類型照明源照射方式成像信息OM可見光光束在試樣上以靜止方式投射反射光/投射光SEM電子束電子束在試樣上作光柵狀掃描反射電子●PicturesofSEM注射針頭的掃描電鏡照片PicturesofSEM果蠅：不同倍率的掃描電鏡照片F(xiàn)eaturesofSEM高分辨率FeaturesofSEM強(qiáng)立體感FeaturesofSEM廣泛的放大倍率FeaturesofSEM應(yīng)用范圍廣●Preparationofsamples●SEM&ForensicscienceSEM&ForensicscienceSEM&ForensicscienceSEM&ForensicscienceSEM&Forensicscience掃描電鏡能譜儀在涉槍案件中應(yīng)用的研究,山東公安叢刊,1996,3:57-58微量金屬物證的掃描電鏡X射線能譜檢驗,刑事技術(shù),1997,4:16-17掃描電鏡能譜儀在鎖具檢驗中應(yīng)用的研究,刑事技術(shù),1999,5:25-26導(dǎo)線物證的掃描電鏡及能譜鑒定方法,理化檢驗,2002,38(5):222-223人發(fā)的掃描電鏡觀察及微量元素特征人發(fā)的掃描電鏡觀察及微量元素特征，電子顯微學(xué)報，2003,22(6):480-481火災(zāi)事故鑒定的掃描電鏡研究,電子顯微學(xué)報,2003,22(6):636-636掃描電鏡-能譜儀在毒物檢驗中的應(yīng)用,刑事技術(shù),2007,2:32-33…………●——能譜儀——能譜儀分析處理顯示并轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)X-射線探測器探測X射線信號并轉(zhuǎn)換為電信號脈沖處理器測量電子信號并確定所接收到X射線的能量EDS

-

Energy

DispersiveSpectrometry——原理——example——example

SEM

7kV

Au

Cu

Al

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SiO2

Si

20kV

Au

Cu

Al

C

SiO2

Si

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