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文檔簡介

模擬電子技術基礎試驗

試驗一常用電子儀器的運用試驗二二極管、三極管應用電路試驗三單管放大電路試驗四負反饋放大電路試驗五集成運算放大電路試驗六信號產(chǎn)生與變換電路返回1試驗一常用電子儀器的運用試驗目的1、駕馭示波器、低頻信號發(fā)生器、直流穩(wěn)壓電源、溝通毫伏表和數(shù)字萬用表的運用方法和留意事項。2、學會用示波器觀測波形及測量信號的頻率和幅度。儀器用具1、示波器2、低頻信號發(fā)生器3、直流穩(wěn)壓電源4、溝通毫伏表5、數(shù)字萬用表2試驗內(nèi)容1、直流穩(wěn)壓電源的運用:(1)使穩(wěn)壓電源兩路輸出分別為+12V和+15V。(2)使穩(wěn)壓電源兩路輸出分別為+12V和-15V。2、低頻信號發(fā)生器和溝通毫伏表的運用:將信號發(fā)生器和頻率旋鈕調(diào)到1KHZ,使電壓表指針指示5V,將輸出衰減開關分別置0db,20db,40db,60db,用毫伏表分別測相應的電壓值。列表填寫數(shù)據(jù)。3、示波器的運用:(1)用示波器視察正弦波。先選擇通道,再調(diào)出掃描線,然后視察波形。(2)用示波器觀測波形的周期和幅度。留意幅值校準和時間校準。返回3試驗二二極管、三極管應用電路試驗目的1、熟悉模擬電子技術試驗箱的運用方法。2、熟悉二極管的外形及引腳識別方法,駕馭用萬用表判別二極管好壞的方法。3、熟悉晶體三極管的外形及引腳識別方法,駕馭用萬用表檢測半導體性能的方法。4、熟悉二極管應用電路的工作原理,并駕馭其測試方法。5、駕馭三極管應用電路的測試方法,加深對三極管放大特性、三種工作狀態(tài)的理解。駕馭組合邏輯電路的一般分析、設計和測試方法。儀器用具1、模擬電子技術試驗箱2、示波器3、低頻信號器4、溝通毫伏表5、數(shù)字萬用表

4試驗內(nèi)容1、半波整波電路:輸入1KHZ,3V的正弦信號,用雙蹤示波器視察輸入(Ui)和輸出(Uo)的波形,畫出對應關系。2、箝位電路:調(diào)電位器Rp,使Ui=3V,并按下表分別將Ui接到二極管門電路輸入端A點和B點,用萬用表測出相應的Uo。

半波整流測試電路箝位測試電路

5試驗內(nèi)容3、穩(wěn)壓管應用:

6試驗內(nèi)容4、三極管電路電壓傳輸特性的測試:(1)調(diào)Rp,使Ui由零漸漸增大,如下表所示,用萬用表測相應的Ube、Uo值,并計算ic。(2)分析三極管的工作狀態(tài),找出三組典型值。

返回7試驗三單管放大電路試驗目的1、駕馭晶體管放大電路的靜態(tài)工作點、電壓放大倍數(shù)、輸入電阻、輸出電阻及最大不失真輸出幅度的測試方法。2、視察基本放大電路中各參數(shù)對放大器的靜態(tài)工作點、電壓放大倍數(shù)及輸出波形的影響。駕馭調(diào)整放大電路的基本方法。3、熟悉常用電子儀器及模擬電子試驗箱的運用。儀器用具1、示波器2、低頻信號發(fā)生器3、溝通毫伏表4、數(shù)字萬用表5、模擬電子技術試驗箱8試驗內(nèi)容按試驗電路在試驗板上插線,如圖所示。檢查無誤后,即可接通直流電源。留意:為防止干擾,試驗電路與各儀器的公共端必需連在一起。

9試驗內(nèi)容(1)測量靜態(tài)工作點:將輸入端對路短路。調(diào)整Rb,使UCE=7V,分別測出UBE、UCE及Rb值計算IB、IC,并計入表中。留意:用萬用表“?”檔測量時,必需斷開電源和三極管,否則測量數(shù)值不準或抖動。(2)測量電壓放大倍數(shù):Q點不動,從輸入端送入頻率為1kHz5mV的正弦信號,用溝通毫伏表分別測量Ui及Uo,并用示波器視察波形,記入表中。計算Au,并與理論估算值進行比較。(3)測輸出電阻:在內(nèi)容(2)的基礎上,斷開負載,測出負載開路時的輸出電壓Uoo,記入表中。計算ro,并與理論估算值進行比較。(4)測輸入電阻:仍將負載接入電路。在放大器的輸入端串入一電阻Rs,選取的Rs值應與估算的ri數(shù)量級相同。輸入合適的Us(例如10mV),測Ui,記入表中。計算ri,并與理論估算值進行比較。測試完畢將Rs取掉。(5)測量UCE=7V時的最大不失真輸出電壓:增大Ui,使輸出正弦波形剛剛不失真。用溝通毫伏表測量出此時的Uo值,并與估算值進行比較。

10試驗內(nèi)容(6)視察電路參數(shù)對Q點、Au和波形失真的影響。1)當RC和RL均為5.1K?時,變更Rb:漸漸減小(或加大)Rb,視察輸出波形的變更趨勢。說明Q點怎樣變更,對rbe和Au有何影響。當Rb小到何值時,波形出現(xiàn)什么失真?登記此時的失真波形及UCEQ值。把Rb調(diào)到最小,登記UCEQ值。這時可能波形形態(tài)不失真,為什么?管子工作在什么狀態(tài)?若Rb到最大,Uo會出現(xiàn)什么失真?管子工作在什么狀態(tài)(如未見失真,可加大Ui到30mV)?登記失真波形及UCEQ值。2)調(diào)Rb使UCEQ回到7V,RL不變,變更Rc:Rc由5.1K?電阻與10K?電位器串聯(lián)組成,加大(或減?。㏑c,視察對Q點、Au及輸出波形的影響。3)Rc仍為5.1K?,調(diào)Rb,使UCEQ=7V,變更RL:R由5.1K?電阻與10K?電位器串聯(lián)組成,加大(或減?。㏑L,視察對Q點、Au及輸出波形的影響。留意:記錄變更趨勢,文字要簡潔,可用符號、箭頭表示,也可畫圖說明。(7)用示波器雙蹤顯示視察Ui與Uo的相位關系。

返回11試驗四負反饋放大電路試驗目的1、加深理解放大電路引入負反饋的方法。2、了解引入負反饋后對放大電路主要性能的影響。儀器用具1、示波器2、低頻信號發(fā)生器3、溝通毫伏表4、數(shù)字萬用表5、模擬電子技術試驗箱6、LM32412試驗內(nèi)容電壓串聯(lián)負反饋電路的測試1、按圖連線,檢查無誤后接通電源。

13試驗內(nèi)容

2、測電路的電壓放大倍數(shù):取R1=10KΩ,RL=∞,Ui為1kHZ,0.5V的正弦波,當RF分別為10KΩ及100KΩ時,測各自的UO,求出Auf(其中R2=RF∥R1)。3、當RF=0,R1=∞時,Auf是多少?這種電路叫什么電路?特點是什么?填寫表格。

4、測Rif:取Us為1kHZ,1V的正弦波,Rs=1MΩ,測出此時的輸入電壓Ui’(此時RF=100KΩ)。利用公式Rif=。算出Rif的值。5、測Rof:當R1=10KΩ,Rf=100KΩ,Ui為1kHZ,0.5V的正弦波時,接入RL=200Ω,測出此時的輸出電壓Uo’。利用公式Rof=。算出Rof的值。

返回14試驗五集成運算放大電路試驗目的用集成運放構(gòu)成反相求和電路、加減運算電路、積分電路。通過試驗測試,驗證各電路輸入與輸出之間的函數(shù)關系。駕馭這些電路的主要功能和特點。儀器用具1、示波器2、低頻信號發(fā)生器3、溝通毫伏表4、數(shù)字萬用表5、直流穩(wěn)壓電源6、模擬電子技術試驗箱7、LM32415試驗內(nèi)容1、反相求和電路(1)按圖連線,檢查無誤后接通電源。(2)使Ui1=-2V(直流信號),Ui2=-0.5V(直流信號)。測量Uo,并與理論估算值比較。(3)使Ui2是有效值為500mV,頻率為1KHz的正弦信號。用示波器視察Uo波形(Uo送示波器時用DC輸入方式,預先調(diào)好掃描在熒光屏上的零位置)。記錄輸出波形。標明瞬時最大值和最小值。

16試驗內(nèi)容2、加減運算電路,按圖連線,檢查無誤后接通電源。使Ui1=+1V(直流信號),Ui2=+0.5V(直流信號),測量Uo,與理論估算值比較。3、積分電路,按圖連線,檢查無誤后接通電源。輸入信號為3Vp-p,f=160Hz的正弦波,用示波器雙蹤顯示視察Ui與Uo的波形,測量它們的相位差。用Ui做觸發(fā)信號,說明Uo是超前還是滯后。測量相位差的方法是:在視察雙蹤波形時,將Ui的一個周期調(diào)成八格,即45。/格。讀出Ui與Uo波形的過零點之間相差的水平格數(shù)*45。/格,即得到相位差。

返回17試驗六波形產(chǎn)生與變換電路試驗目的通過正弦波發(fā)生器、反相比較器、方波發(fā)生器、三角波發(fā)生器及壓控振蕩器等電路的測試,了解這些電路的工作原理。進一步駕馭集成運放應用電路的測試方法和分析方法。儀器用具1、示波器2、低頻信號發(fā)生器3、溝通毫伏表4、數(shù)字萬用表5、直流穩(wěn)壓電源6、模擬電子技術試驗箱7、LM32418試驗內(nèi)容1、正弦波發(fā)生器(文氏橋選頻):(1)按圖連線,檢查無誤后,接通電源。

19試驗內(nèi)容(2)調(diào)整電位器Rw,使滑動端從一端到另一端,用示波器視察Uo直到出現(xiàn)正弦波形。并測量Uo的最大不失真的幅度UoM(峰值)及波形周期。然后斷開電源,測量電位器的阻值RAB和RBC。留意:需將示波器的幅度和掃描時間微調(diào)旋鈕順時針調(diào)到頭,即撥到校準位置。用萬用表測量電阻時,必需斷開電源,否則測量數(shù)值不準或抖動。(3)同時變更R,使正弦波f=1kHz,重新測量Uo的周期、峰值、和RAB和RBC值。(4)視察二極管的穩(wěn)幅作用:斷開一個二極管,視察Uo波形能否穩(wěn)定且不失真。

20試驗內(nèi)容2、反相滯回比較器:(1)輸入直流信號,當:Uo=+6V時,將Ui加大到≥U∑`值時,Uo跳變?yōu)?6V,測量這時的Ui。Uo=-6V時,將Ui減小到低于U∑`值時,Uo跳變?yōu)?6V,測量這時的Ui。(2)輸入正弦信號,用示波器雙蹤顯示視察Ui及Uo波形。當Ui從0漸漸加大直到Uo出現(xiàn)的±6V方波。這時將示波器改為“X-Y”方式,將Ui接到CHB,Uo接到CHA端。視察和記錄滯回曲線。留意:正弦信號的頻率最好選到100Hz-1kHz。

21試驗內(nèi)容3、方波發(fā)生器:(1)按圖接線,檢查無誤后,接通電源。(2)用示波器觀測輸出波形Uo及反相輸入端U-的波形。記錄波形,標明周期和幅值。(3)將R改為100k?,再測周期和幅值。留意:假如方波的頻率明顯錯誤,可能是接線錯誤所致。若f過低,可能是正反饋接線有誤,若f過高,可能是負反饋接線有錯,即接到組件輸出端了。

22試驗內(nèi)容4、三角波發(fā)生器:(1)按圖接線,檢查無誤后,接通電源。(2)用示波器觀測Uo1與Uo波形。(3)先調(diào)整Rw1使波形幅度為±6V,再調(diào)整Rw2使Uo波形的周期(4)假如要使三角波的周期T=4ms,幅度不變,則應當調(diào)整哪個電阻?它的阻值為多少?調(diào)好后請測試一下。

返回23數(shù)字電子技術基礎試驗

試驗一數(shù)字試驗箱運用及基本門測試試驗二組合邏輯電路試驗三譯碼器試驗四數(shù)據(jù)選擇器試驗五觸發(fā)器試驗六集成計數(shù)器返回24試驗一數(shù)字試驗箱運用及基本門測試試驗目的1、熟悉數(shù)字電子試驗箱的基本結(jié)構(gòu),學會運用方法。2、駕馭基本門電路的測試方法。3、駕馭各門電路之間的轉(zhuǎn)換方法。儀器用具1、電子課程設計試驗箱2、四2輸入與非門74LS003、四2輸入或門74LS324、四2輸入異或門74LS8625

ELB-2型電子課程設計試驗箱26集成芯片介紹27試驗內(nèi)容1、測試基本門邏輯功能并寫出真值表

(1)與非門(2)或門(3)異或門

2、基本門電路間的轉(zhuǎn)換(1)利用與非門組成非門(2)利用與非門組成與門(3)利用與非門組成或門返回28試驗二組合邏輯電路試驗目的駕馭組合邏輯電路的一般分析、設計和測試方法。儀器用具1、電子課程設計試驗箱2、四2輸入與非門74LS003、六反相器74LS044、四路輸入與或非門74LS545、四2輸入異或門74LS86

29集成芯片介紹30試驗內(nèi)容1、全減器邏輯功能測試:按圖連線,測試并驗證其邏輯功能并填真值表。2、用一片74LS00,一片74LS86設計一個全加器電路并驗證其邏輯功能。

返回31試驗三譯碼器試驗試驗目的1、了解譯碼器的原理,駕馭集成3-8譯碼器的功能測試。2、熟悉駕馭用譯碼器實現(xiàn)邏輯函數(shù)的方法。儀器用具1、電子課程設計試驗箱2、3/8譯碼器74LS1383、二4輸入與非門74LS20

32集成芯片介紹33試驗內(nèi)容1、集成3-8線譯碼器74LS138的功能測試,列出真值表。2、利用74LS138和74LS20構(gòu)成三人多數(shù)表決電路(通過為1,否則為0),設計電路圖,并測試結(jié)果,列真值表。3、利用74LS138和74LS20構(gòu)成一位二進制全加器,設計電路圖,并測試結(jié)果,列真值表。

返回34試驗四數(shù)據(jù)選擇器試驗試驗目的1、了解數(shù)據(jù)選擇器的原理,駕馭八選一74LS151及雙四選一74LS153的功能測試。2、熟悉駕馭用數(shù)據(jù)選擇器實現(xiàn)邏輯函數(shù)的方法。儀器用具1、電子課程設計試驗箱2、八選一74LS1513、雙四選一74LS1384、六反相器74LS04

35集成芯片介紹36試驗內(nèi)容1、測試雙4選1數(shù)據(jù)選擇器74LS153的邏輯功能:地址端、數(shù)據(jù)輸入端、使能端接邏輯開關,輸出端接發(fā)光二極管。按74LS153邏輯功能表進行功能驗證,并記錄結(jié)果。2、用雙4選1數(shù)據(jù)選擇器74LS153實現(xiàn)下述邏輯函數(shù)1)設計“三人表決”電路,測試邏輯功能并記錄結(jié)果。

2)設計一位二進制全加器電路,測試全加器邏輯功能并記錄結(jié)果3、測試8選1數(shù)據(jù)選擇器74LS151的邏輯功能:地址端、數(shù)據(jù)輸入端、使能端接邏輯開關,輸出端接發(fā)光二極管。按74LS151邏輯功能表進行功能驗證,并記錄結(jié)果。4、用8選1數(shù)據(jù)選擇器74LS151實現(xiàn)“三人表決”電路,測試邏輯功能并記錄結(jié)果。

返回37試驗五觸發(fā)器試驗目的1、熟悉觸發(fā)器的工作原理,駕馭其邏輯功能的測試方法,學會典型應用。2、熟悉異步輸入信號RD和SD的限制作用,學會測試方法。3、駕馭觸發(fā)器之間的轉(zhuǎn)換方法。儀器用具1、電子課程設計試驗箱2、雙D觸發(fā)器74LS743、雙JK觸發(fā)器74LS11238集成芯片介紹39試驗內(nèi)容1、集成D觸發(fā)器功能測試:將74LS74的SD、RD和D端接

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