2023學(xué)年完整公開(kāi)課版RFID測(cè)試技術(shù)

RFID測(cè)試技術(shù)RFID測(cè)試與部署RFID系統(tǒng)測(cè)試的目的RFID系統(tǒng)測(cè)試的主要內(nèi)容RFID系統(tǒng)測(cè)試的流程目錄123RFID系統(tǒng)構(gòu)架的仿真4

RFID系統(tǒng)測(cè)試的目的：

①為企業(yè)實(shí)施RFID技術(shù)提供參考依據(jù)②為RFID產(chǎn)品和方案的設(shè)計(jì)提供指導(dǎo)③方便RFID生產(chǎn)和科研單位加速RFID科技成果的轉(zhuǎn)化進(jìn)程④完善我國(guó)已初步形成的RFID產(chǎn)業(yè)鏈，推動(dòng)RFID技術(shù)、產(chǎn)業(yè)和應(yīng)用的發(fā)展。

RFID系統(tǒng)測(cè)試的目的在測(cè)試中需要對(duì)標(biāo)簽的測(cè)試、閱讀器的測(cè)試、空中接口一致性的測(cè)試、協(xié)議一致性的測(cè)試、中間件的測(cè)試等進(jìn)行規(guī)范。（1）標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試①讀寫器功能測(cè)試②標(biāo)簽功能測(cè)試（2）可互操作性測(cè)試（3）性能測(cè)試①RFID標(biāo)簽測(cè)試②RFID讀寫器測(cè)試③RFID系統(tǒng)測(cè)試RFID系統(tǒng)測(cè)試的主要內(nèi)容1.RFID系統(tǒng)測(cè)試規(guī)范2.RFID系統(tǒng)測(cè)試的步驟

針對(duì)RFID系統(tǒng)的測(cè)試應(yīng)首先從應(yīng)用出發(fā)，根據(jù)影響讀取率的因素逐一進(jìn)行測(cè)試，如速度、介質(zhì)、環(huán)境、標(biāo)簽方向、干擾等。通過(guò)這樣的測(cè)試，才能了解產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中的表現(xiàn)，從中得出有用的結(jié)論，指導(dǎo)產(chǎn)品的使用。舉例來(lái)說(shuō)，針對(duì)RFID標(biāo)簽讀取率的靜態(tài)測(cè)試流程如下：（1）布置測(cè)試環(huán)境（2）記錄環(huán)境數(shù)據(jù)（3）測(cè)試不同位置的讀取率（4）分析測(cè)試數(shù)據(jù)注：每次測(cè)試只改變一個(gè)參數(shù)RFID系統(tǒng)測(cè)試的主要內(nèi)容RFID測(cè)試總體結(jié)構(gòu)圖RFID系統(tǒng)測(cè)試的流程1.托盤級(jí)識(shí)別（palletlevel）（b）旋轉(zhuǎn)臺(tái)閱讀模式（c）人工閱讀模式（a）端口閱讀模式RFID系統(tǒng)測(cè)試的流程（a）標(biāo)簽同向排列（b）標(biāo)簽兩向排列（c）標(biāo)簽相鄰RFID系統(tǒng)測(cè)試的流程2.包裝箱級(jí)識(shí)別（caselevel）3.單品級(jí)識(shí)別（itemlevel）在單品級(jí)識(shí)別情況下，托盤上有三種貨品排列形式，即均勻的貨品排列、復(fù)合的貨品排列、異質(zhì)的貨品排列。這三種貨品排列形式互補(bǔ)而又呈現(xiàn)復(fù)雜度上的遞增。RFID系統(tǒng)測(cè)試的流程RFID系統(tǒng)構(gòu)架的仿真天線、閱讀器建模建立應(yīng)用環(huán)境部署設(shè)備完成仿真分析評(píng)價(jià)①標(biāo)簽建模②③④⑤⑥仿真測(cè)試平臺(tái)的基本單元:門禁測(cè)