《超大規(guī)模集成電路測(cè)試》課程作業(yè)

/《超大規(guī)模集成電路測(cè)試》課程作業(yè)作業(yè)要求:上課做過(guò)報(bào)告的同學(xué)不再安排作業(yè)任務(wù).未做報(bào)告的同學(xué)每人一題,組內(nèi)不能重復(fù)（比如黃希雷選擇習(xí)題４，張一棟選擇習(xí)題５，楊鑫選擇習(xí)題6）。提交打印版,截止時(shí)間:20１2.１2．１3。分組分組作業(yè)成員第1組習(xí)題4—6黃希雷、張一棟、楊鑫第２組習(xí)題１－3陶志勇第3組習(xí)題7—9何敏、余成林第4組習(xí)題4—6韓健、邢璐、彭小飛第５組習(xí)題１1—1３方文慶、吳悠然、李軍第6組習(xí)題7-９張麗娜、申思遠(yuǎn)、胡靜云第７組習(xí)題1０-12劉坤、韓博宇、李潤(rùn)豐第8組習(xí)題10—1２陳義軍、王悄、韓倩倩第9組習(xí)題1０、12、13王鏡淞、謝云磊、余天送第10組習(xí)題11-１3楊國(guó)兵、錢慶慶、鄭瀏旸第11組習(xí)題１３-１5張曦、張桂茂第12組習(xí)題１—4尹婉、郭小輝、陳實(shí)、杜龍杰第１3組習(xí)題５－8饒東升、趙炎鑫、吳亦、劉方方第１4組習(xí)題９—11吳思諭、張啟鳳、余海東第15組習(xí)題12—15孫越、江明、李沛騁、陶星辰《超大規(guī)模集成電路測(cè)試》課程習(xí)題對(duì)于圖1的電路,計(jì)算組合SCOAＰ可測(cè)試性度量(可控制性和可觀測(cè)性)圖1對(duì)于圖2的電路,計(jì)算組合SCOAP可測(cè)試性度量(可控制性和可觀測(cè)性）圖2對(duì)于圖３的電路，計(jì)算組合SCOAP可測(cè)試性度量(可控制性和可觀測(cè)性)圖3采用Roｔh的D＿ALG，對(duì)修改的Schnｅider電路中扇出分支hｓ—a—1故障進(jìn)行ＡTPG，如圖4所示。圖４對(duì)于圖５電路中的h１s－ａ—１故障,采用Ｄ算法進(jìn)行ATＰＧ。圖５對(duì)于圖6中的rs—a—0故障，采用ＦANＡTPＧ算法生成測(cè)試矢量.圖6對(duì)于圖7中的ＮOT門輸出的s－a—1故障導(dǎo)出一個(gè)測(cè)試碼。圖7對(duì)于圖8中的NＡＮD門的C輸入上的ｓ－a—1故障的測(cè)試碼，并說(shuō)明這是一個(gè)振蕩故障。將無(wú)故障的功能重新設(shè)計(jì)成組合電路。圖8導(dǎo)出圖9電路中As—a－1故障的一個(gè)測(cè)試碼,并對(duì)該故障設(shè)計(jì)一個(gè)多重觀察測(cè)試.圖9考慮圖１0電路中的路徑C－F-Ｇ:1)導(dǎo)出C處上升轉(zhuǎn)變的測(cè)試矢量；2)如果在B出施加下降轉(zhuǎn)變，上述測(cè)試矢量可以工作嗎?3）當(dāng)所有門具有一個(gè)延遲單元時(shí),畫出2)情況的所有信號(hào)波形。4）如何診斷有故障路徑。圖1０假定芯片有１00000個(gè)門和2000個(gè)觸發(fā)器。一個(gè)組合ＡTPG程序?yàn)橥耆珳y(cè)試這個(gè)邏輯生成了50０個(gè)矢量。單個(gè)掃描鏈設(shè)計(jì)將需要大約106個(gè)時(shí)鐘周期進(jìn)行測(cè)試。如果實(shí)現(xiàn)20條掃描鏈，計(jì)算掃描測(cè)試的長(zhǎng)度。假定電路有20個(gè)原始輸入數(shù)據(jù)管腳和20個(gè)原始輸出數(shù)據(jù)管腳，而且對(duì)測(cè)試只能增加一個(gè)額外的管腳,對(duì)新設(shè)計(jì)需要多少額外的門開銷？計(jì)算有特征多項(xiàng)式為的標(biāo)準(zhǔn)LＦSR生成的前8個(gè)測(cè)試矢量，其初始值是“",其中1在最低位。計(jì)算有特征多項(xiàng)式為的取模LFSR生成的前8個(gè)測(cè)試矢量，假定該LFＳR初始化為“001”，其中1在最低位.圖16.8（此圖在教材中)中的印刷電路板有4個(gè)芯片，期特性如下：不適用JTAGBYPＡＳS指令，使用外部測(cè)試儀通過(guò)邊界掃描鏈?zhǔn)┘訙y(cè)試矢量,只測(cè)試芯片1－４（不包含互連),計(jì)算一次測(cè)試中4個(gè)測(cè)試階段的測(cè)試時(shí)間，其中電路板上時(shí)鐘速率是51２ＭHz.再重新計(jì)算使用JTAＧBYPＡSS指令測(cè)試芯片1—4的測(cè)試時(shí)間。使用與習(xí)題1４同樣的系統(tǒng),現(xiàn)在要求計(jì)算實(shí)現(xiàn)互連延遲故障測(cè)試的測(cè)試模式和測(cè)試時(shí)間。對(duì)每個(gè)被測(cè)試的互連,對(duì)上升變化，這需要有兩個(gè)測(cè)試矢量的一