可靠性測(cè)試有哪些檢測(cè)項(xiàng)目可靠性測(cè)試項(xiàng)目大全

———可靠性測(cè)試有哪些檢測(cè)項(xiàng)目可靠性測(cè)試項(xiàng)目大全

可靠性測(cè)試是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等環(huán)境下，保持功能正常，進(jìn)而驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性的一種測(cè)試項(xiàng)目。通過使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高濕以及溫濕度變化等情況，加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況，來驗(yàn)證其是否能達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，從而以此為依據(jù)對(duì)產(chǎn)品整體進(jìn)行評(píng)估，以確定產(chǎn)品可靠性使用壽命。

檢測(cè)可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室可各類材料及其制品的可靠性能測(cè)試服務(wù)。作為第三方檢測(cè)中心，機(jī)構(gòu)擁有CMA、CNAS檢測(cè)資質(zhì)，檢測(cè)設(shè)備齊全、數(shù)據(jù)科學(xué)可靠。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試

防護(hù)等級(jí)也稱為IP防護(hù)等級(jí)或防塵防水等級(jí)，是由IEC（國際電工會(huì)）所起草的IEC60529標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)將電子電氣產(chǎn)品依其防塵防水能力加以分級(jí)。

我國現(xiàn)行的IP等級(jí)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為GB/T4208-2023。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：高低溫測(cè)試

高低溫測(cè)試，是將試驗(yàn)樣品暴露在高溫和低溫的連續(xù)交替環(huán)境中，使其在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷溫度急劇變化，考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性。

高低溫測(cè)試是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：恒定濕熱測(cè)試

恒定濕熱測(cè)試可以模擬高溫、低溫、濕熱環(huán)境對(duì)測(cè)試品進(jìn)行特定環(huán)境下溫度和濕度的試驗(yàn)。

恒定濕熱測(cè)試可以保證被測(cè)試產(chǎn)品處于同一溫濕度環(huán)境條件下。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：快速溫變測(cè)試

快速溫變測(cè)試是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。測(cè)試過程一般以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)測(cè)試循環(huán)。

驗(yàn)證樣品經(jīng)溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境后之功能特性變化，或在此環(huán)境中之操作功能性?？焖贉刈儨y(cè)試通常定義為溫變變化率≥3℃/min，在一定的高溫與低溫之間進(jìn)行轉(zhuǎn)變，溫度變化率越快，高/低溫范圍越大，時(shí)間越長(zhǎng)測(cè)試越嚴(yán)格。

溫度沖擊通常對(duì)靠近裝備外表面的部分影響更嚴(yán)重，離外表面越遠(yuǎn)，溫度變化越慢，影響越不明顯。運(yùn)輸箱、包裝等還會(huì)減小溫度沖擊對(duì)封閉裝備的影響。急劇的溫度變化可能會(huì)暫時(shí)或的影響裝備的工作。

快速溫變測(cè)試主要用來評(píng)判產(chǎn)品在溫度變化條件下的存貯或工作適應(yīng)性。鑒定性試驗(yàn)?zāi)康氖菣z查產(chǎn)品是否達(dá)到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求；改進(jìn)試驗(yàn)主要用做評(píng)定產(chǎn)品在溫度變化條件下的耐久性和可靠性適應(yīng)能力。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：三綜合測(cè)試

三綜合測(cè)試是將溫度+濕度+振動(dòng)三種環(huán)境應(yīng)力同時(shí)施加的綜合試驗(yàn)，綜合環(huán)境的作用能更真實(shí)、更實(shí)際的反應(yīng)出產(chǎn)品在現(xiàn)場(chǎng)使用中的性能，更能暴露產(chǎn)品的缺陷。

將單獨(dú)的環(huán)境應(yīng)力施加在產(chǎn)品上可激發(fā)出產(chǎn)品的故障，那么將三種不同的環(huán)境應(yīng)力施加在產(chǎn)品上則可輕易地得到3-5倍的加速效果。

同時(shí)，通過將不同的環(huán)境應(yīng)力綜合還能激發(fā)出單獨(dú)應(yīng)力施加時(shí)所不能出現(xiàn)的故障。在進(jìn)行溫度，濕度，振動(dòng)三種應(yīng)力同時(shí)施加的綜合試驗(yàn)時(shí)，從故障發(fā)生的機(jī)理來說，進(jìn)行溫度循環(huán)的產(chǎn)品內(nèi)部由于材料膨脹系數(shù)的差異發(fā)生伸縮，在結(jié)合部位發(fā)生松動(dòng)，這時(shí)如果施加濕度，潮氣就會(huì)從縫隙間侵入，使結(jié)合部和連接處的摩擦系數(shù)降低。再施加振動(dòng)應(yīng)力，相對(duì)于特定的頻率，產(chǎn)品的共振現(xiàn)象還會(huì)發(fā)生。

像這樣通過運(yùn)動(dòng)，吸濕，凍結(jié)，共振的反復(fù)過程，使新的失效模式（由大幅度加速的單獨(dú)因子失效模式和三種因子綜合的相疊加效果引起的）的出現(xiàn)成為可能。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：振動(dòng)測(cè)試

振動(dòng)測(cè)試是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工模擬產(chǎn)品（一般電工電子產(chǎn)品）在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、安裝和使用過程中遇到的各種振動(dòng)環(huán)境的影響，用來評(píng)估產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力，是否能正常使用，不出現(xiàn)故障。

振動(dòng)測(cè)試可在產(chǎn)品在正式出廠之前，分析和評(píng)估出產(chǎn)品的可靠性，降低后期出現(xiàn)不良品的概率，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：跌落測(cè)試

跌落測(cè)試分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。包裝跌落主要考量運(yùn)輸、儲(chǔ)存情況下產(chǎn)品抗意外跌落沖擊的能力；裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過程中抗意外跌落沖擊的能力。

包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時(shí)候的對(duì)產(chǎn)品的保護(hù)能力。跌落高度、跌落次數(shù)以及跌落方向?qū)υ囼?yàn)反映試驗(yàn)嚴(yán)格程度。

對(duì)于不同的產(chǎn)品國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的跌落方式和跌落高度要求不同。對(duì)于手持型產(chǎn)品（如手機(jī)，MP3等）大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品（如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。

可靠性測(cè)試項(xiàng)目：機(jī)械沖擊測(cè)試

機(jī)械沖擊測(cè)試是實(shí)驗(yàn)室模擬產(chǎn)品在工作環(huán)境中受到一系列沖擊時(shí)候，產(chǎn)品功能是否正常，是否存在性能失效情況。在產(chǎn)品的實(shí)際存儲(chǔ)、運(yùn)輸、使用過程中存在各種各樣的沖擊環(huán)境，如車輛運(yùn)行中制動(dòng)，貨物搬動(dòng)時(shí)候碰撞產(chǎn)生的沖擊等。

沖擊測(cè)試的技術(shù)指標(biāo)包括包括：峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量（半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波）和波形選擇。常規(guī)的機(jī)械沖擊測(cè)試要求每個(gè)面沖擊3次，6個(gè)面總共沖擊次數(shù)為18次。機(jī)械沖擊和碰撞測(cè)試可檢驗(yàn)確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié)，考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性和可靠性。