整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

外購(gòu)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),,,,,,,,,,,,

類別,序號(hào),測(cè)試項(xiàng)目,測(cè)試方法,檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試數(shù)量,PR1,,PR2,,信太驗(yàn)收測(cè)試,,備注

,,,,,,計(jì)劃,備注,計(jì)劃,備注,測(cè)試項(xiàng)目,數(shù)量,

,2,"低溫運(yùn)行測(cè)試：-30℃,6hrs","☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。分別持續(xù)6個(gè)小時(shí)之后（與環(huán)境溫度平衡），然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項(xiàng)目見(jiàn)附表（1）。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形。,（2臺(tái)）,√,,,,√,,

,3,"高溫運(yùn)行測(cè)試：+60℃,6hrs",,,（2臺(tái)）,√,,,,√,,

,4,"高溫高濕測(cè)試：+50℃/95%RH,48hrs",☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個(gè)小時(shí)之后，然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項(xiàng)目見(jiàn)附表（1）。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,5,"高低溫存儲(chǔ)測(cè)試：+70℃/-30℃,24hrs",☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。在高溫持續(xù)24個(gè)小時(shí)后轉(zhuǎn)至低溫持續(xù)24個(gè)小時(shí)后取出，并放置2小時(shí)恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行功能檢查。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

加速壽命測(cè)試,1,"跌落測(cè)試：

6.5''及6.5''以上LCM跌落0.5m;

4.3''及4.3''~6.5''LCM跌落0.6m;

3.8''及3.8''~4.3''LCM或數(shù)碼手機(jī)跌落0.8m;

3.0''及3.0''~3.8''LCM跌落1.0m;

2.8''及2.4''~2.8''LCM跌落1.2m;

2.4''及2.4''以下LCM跌落1.3m;大理石地面,6個(gè)面,每面跌落1次,共2個(gè)循環(huán);一半數(shù)量插入耳機(jī)測(cè)試

（注：移動(dòng)為1M跌落）","☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，插入SIM卡，存入電話本、短信記錄各5條，一半數(shù)量的機(jī)器需要插入耳機(jī)；進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次，跌落兩個(gè)循環(huán)，跌落之后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開(kāi)到使用位置；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。

手機(jī)跌落順序如下：正面-背面-左側(cè)-右側(cè)-頂部-底部。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，內(nèi)部元件無(wú)脫落；跌落完成后的機(jī)器全部拆機(jī)，檢查是否有掉件，干涉等情況。,2,√,,√,,√,6臺(tái)（復(fù)用靜電機(jī)器）,

,2,振動(dòng)測(cè)試：：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：1H/x，y，z軸,☆測(cè)試方法：將手機(jī)開(kāi)機(jī)放入振動(dòng)箱。X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)之后取出然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，尤其是顯示屏和SPL，外殼無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷（如掉漆），內(nèi)部元件無(wú)脫落。,（6臺(tái)）,√,,,,,,

,3,"靜電測(cè)試：

充電狀態(tài)：+/-6KV接觸放電；+/-10KV空氣放電

不充電狀態(tài)：+/-4KV接觸放電；+/-8KV空氣放電

注移動(dòng)定制產(chǎn)品遵守以下標(biāo)準(zhǔn)：

充電狀態(tài)：+/-6KV，+/-8KV接觸放電；+/-10KV，+/-12KV，+/-15KV空氣放電

不充電狀態(tài)：+/-4KV，+/-6KV接觸放電；+/-10KV，+/-12KV空氣放電（注：12KV不許有軟失效）","☆測(cè)試方法：將樣機(jī)放置靜電測(cè)試臺(tái)的絕緣墊上，（樣機(jī)與絕緣墊邊緣距離至少2英寸；兩個(gè)樣機(jī)之間的距離也是至少2英寸）將手機(jī)設(shè)置為開(kāi)機(jī)插卡狀態(tài)。(充電測(cè)試狀態(tài)：需要用充電器加電使手機(jī)處于充電狀態(tài)；不充電狀態(tài)：手機(jī)不插充電器，加電池手機(jī)開(kāi)機(jī))打開(kāi)靜電槍，空氣放電是先按住開(kāi)關(guān)再讓圓形槍頭靠近測(cè)試位置（經(jīng)常被直接接觸到的有縫隙的地方,如底殼/面殼、大小LCD四周、受話器、主機(jī)按鍵、側(cè)鍵、主機(jī)底殼、耳機(jī)口&尾插口、轉(zhuǎn)軸處等去除充電器耳機(jī)塞子等距離小于3mm，但不能碰觸到。），松開(kāi)放電；接觸放電是先讓尖形槍頭接觸放電位置(金屬部件、金屬裝飾件、金屬材料或有金屬性能的涂層，Lens等)，再按開(kāi)關(guān)放電。對(duì)手機(jī)指定部位放電10次，每測(cè)試一次，同時(shí)手機(jī)對(duì)地放電一次,做完一個(gè)部位的測(cè)試，檢查手機(jī)功能","☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

手機(jī)要求功能正常工作，不允許有屏閃，屏抖，黑線，橫紋，豎紋，屏無(wú)顯示，變暗，變黑，重新啟動(dòng)，關(guān)機(jī)，通訊鏈路斷等以及其它未描述到的現(xiàn)象，如出現(xiàn)以上現(xiàn)象在不重新開(kāi)機(jī)的情況下可很快自我恢復(fù)則判定為通過(guò)，否則視為不通過(guò)；

",3臺(tái),√,,√,,√,3臺(tái),

惡劣氣候性測(cè)試,1,"灰塵測(cè)試：35℃,8hrs,參考國(guó)標(biāo)GB4208-2008",☆測(cè)試方法：將手機(jī)關(guān)機(jī)在能通過(guò)篩孔為75um、金屬絲直徑為50um的方孔篩的干燥滑石粉、試驗(yàn)箱內(nèi)（工作室和管通道）灰塵量為2kg/m3的粉塵中放置8h，然后將手機(jī)從實(shí)驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行檢查。,"☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，所有活動(dòng)元器件運(yùn)轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒(méi)有明顯灰塵。

防塵IP6X產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，所有活動(dòng)元器件運(yùn)轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)不允許粉塵進(jìn)入，手機(jī)內(nèi)部沒(méi)有明顯灰塵。",2臺(tái),√,,,,√,2臺(tái),

,2,"鹽霧測(cè)試：35℃,5%NaCl,48hrs","☆測(cè)試方法：

溶液含量：5%的氯化鈉溶液。水流量：600立方厘米/小時(shí)。噴霧水壓：80Kpa

將手機(jī)安裝電池、電池蓋以及塞子等處于關(guān)機(jī)狀態(tài)放在鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，樣機(jī)用繩子懸掛起來(lái)或斜放，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。一臺(tái)天線朝下，一臺(tái)天線朝上。

樣機(jī)需立即被放入測(cè)試箱。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí)。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中樣機(jī)不得被中途取出，如果急需取出測(cè)試，要嚴(yán)格記錄測(cè)試時(shí)間，該實(shí)驗(yàn)需向后延遲相同時(shí)間。

取出樣機(jī)，將手機(jī)和電池分開(kāi)放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥，對(duì)其進(jìn)行外觀及功能檢查。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，手機(jī)外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象。,（2臺(tái)）,√,,,,,,參考項(xiàng)

,3,"防水測(cè)試：手機(jī)底邊在水面下1m位置,浸泡30分鐘,達(dá)到國(guó)標(biāo)防水IPX7級(jí)",☆測(cè)試方法：應(yīng)使測(cè)試樣機(jī)開(kāi)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)浸水箱，樣機(jī)底部到水面的距離至少不低于1m。樣機(jī)頂部到水面距離至少不低于0.15m水溫與樣機(jī)溫差不大于5℃試驗(yàn)時(shí)間30min。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試結(jié)束后，手機(jī)狀態(tài)正常，外殼打開(kāi)后（拆機(jī)前需用棉布對(duì)其進(jìn)行表面清潔），機(jī)器內(nèi)部無(wú)水進(jìn)入，各功能均可以使用。,2臺(tái),√,,√,,√,2臺(tái),適用于有防水IPX7要求的產(chǎn)品

結(jié)構(gòu)耐久性測(cè)試,1,主按鍵／單獨(dú)開(kāi)機(jī)鍵測(cè)試：10萬(wàn)次,"☆測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)固定在測(cè)試夾具上，用4-10N的力對(duì)導(dǎo)航鍵、功能鍵以及其他數(shù)字鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓測(cè)試，其中，必須測(cè)試的按鍵有：左功能鍵、OK鍵、開(kāi)機(jī)鍵、CPU上部一個(gè)按鍵、數(shù)字鍵最中間的按鍵、單獨(dú)的開(kāi)關(guān)機(jī)鍵按照10萬(wàn)次進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試過(guò)程中分別在3萬(wàn)次，5萬(wàn)次，8萬(wàn)次，10萬(wàn)次檢查手機(jī)按鍵彈性及功能。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常。,2臺(tái),√,,,,√,2臺(tái),適用于翻蓋結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

,3,翻蓋/滑蓋測(cè)試：5萬(wàn)次,☆試驗(yàn)方法：將手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，進(jìn)行5萬(wàn)次開(kāi)合翻蓋測(cè)試。進(jìn)行到2萬(wàn)次、3萬(wàn)次、4萬(wàn)次和5萬(wàn)次時(shí)各檢查手機(jī)一次，完成5萬(wàn)次時(shí)檢查手機(jī)翻蓋彈性及功能。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：5萬(wàn)次后，手機(jī)翻蓋彈性及功能正常。,5臺(tái),√,,√,,√,5臺(tái),適用于翻蓋結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

,4,充電器插拔測(cè)試：2000次,"☆測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)，將充電器接上電源，連接手機(jī)充電接口，等待手機(jī)至充電界面顯示正常后，插拔充電插頭2000次。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)及充電器的功能使用正常。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,5,"電池/電池蓋插拔測(cè)試：2000次

電池蓋插拔后進(jìn)行桌面跌落測(cè)試：高度30cm，6個(gè)面1循環(huán)","☆測(cè)試方法：將電池/電池蓋反復(fù)拆裝2000次，分別在500次、1000次、1500次以及2000次后檢查電池蓋的松緊度；電池蓋插拔后進(jìn)行桌面跌落測(cè)試，高度30cm，6個(gè)面1循環(huán)，電池蓋掉落不超過(guò)3次。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)及電池/電池蓋各項(xiàng)功能正常，電池觸片和電池連接器應(yīng)無(wú)下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無(wú)異常。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,6,耳機(jī)插拔測(cè)試：2000次,☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，耳機(jī)插在手機(jī)耳機(jī)插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)2000次；每100次，對(duì)樣機(jī)及耳機(jī)進(jìn)行結(jié)構(gòu)、功能、外觀檢查。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：實(shí)驗(yàn)前，用手握住耳機(jī)并拉起手機(jī)，耳機(jī)能承受手機(jī)機(jī)身重量；實(shí)驗(yàn)后檢查耳機(jī)插座無(wú)焊接故障，耳機(jī)插頭無(wú)損傷，使用耳機(jī)通話接收與送話無(wú)斷續(xù)、雜音（通話過(guò)程中轉(zhuǎn)動(dòng)耳機(jī)插頭），耳機(jī)插入手機(jī)耳機(jī)插孔時(shí)不會(huì)松動(dòng)（可以承受得住手機(jī)本身的重量）。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,7,SD卡/SIM卡插拔測(cè)試：2000次,☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，SD卡/SIM卡插在手機(jī)SD/SIM卡座內(nèi)，然后拔出，反復(fù)2000次,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：卡座應(yīng)無(wú)變形、無(wú)破損阻塞并能通過(guò)功能測(cè)試。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,9,"觸摸屏點(diǎn)擊測(cè)試：250g力，點(diǎn)擊中心位置25萬(wàn)次

（僅適用于電阻式觸摸屏）","☆測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，使用隨機(jī)附帶手寫(xiě)筆進(jìn)行點(diǎn)擊觸摸屏的中心位置250,000次，點(diǎn)擊力度為250g+/-10%，點(diǎn)擊速度:1次/秒；150,000次之內(nèi)每30,000次檢查一次并對(duì)觸摸屏表面進(jìn)行清潔，150,000至250,000次每20,000次檢查一次并對(duì)觸摸屏表面進(jìn)行清潔。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：觸摸屏使用功能無(wú)異常、顯示屏顯示正常以及無(wú)其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的功能問(wèn)題；觸摸屏、顯示屏無(wú)損傷、破裂；觸摸屏表面無(wú)異常痕跡以及無(wú)其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的外觀問(wèn)題；手寫(xiě)筆頭部無(wú)變形、扭曲、損傷以及無(wú)其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的結(jié)構(gòu)問(wèn)題。,（2臺(tái)）,√,,,,,,適用于電阻式觸摸屏

,10,"觸摸屏劃線測(cè)試：250g力，60mm/s，10萬(wàn)次

（僅適用于電阻式觸摸屏）","☆測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，使用隨機(jī)附帶手寫(xiě)筆沿觸摸屏的對(duì)角線進(jìn)行劃線測(cè)試，劃線壓力為250g+/-10%，劃線速度為60mm/秒，測(cè)試距離為不小于觸摸屏對(duì)角線距離的2/3，測(cè)試次數(shù)為100,000次（反復(fù)一個(gè)來(lái)回記為兩次）；每10,000次對(duì)觸摸屏進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)與外觀檢查，并對(duì)觸摸屏表面進(jìn)行清潔。",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：觸摸屏使用功能無(wú)異常、顯示屏顯示正常；觸摸屏、顯示屏無(wú)損傷、破裂；手寫(xiě)筆頭部無(wú)變形、扭曲、損傷；觸摸屏表面無(wú)劃痕。,（2臺(tái)）,√,,,,,,適用于電阻式觸摸屏

,11,"觸摸屏周邊劃線測(cè)試：250g力，100次

（僅適用于電阻式觸摸屏）",☆測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，使用隨機(jī)附帶手寫(xiě)筆，在觸摸屏的周圈，劃線壓力為250g+/-10%，劃線速度為60mm/秒，測(cè)試次數(shù)為100次（劃一圈記錄一次）；對(duì)觸摸屏進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)與外觀檢查，并對(duì)觸摸屏表面進(jìn)行清潔。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：觸摸屏使用功能無(wú)異常、顯示屏顯示正常；觸摸屏、顯示屏無(wú)損傷、破裂；手寫(xiě)筆頭部無(wú)變形、扭曲、損傷；觸摸屏表面無(wú)劃痕,（2臺(tái)）,√,,,,,,適用于電阻式觸摸屏

,12,"屏表面硬度測(cè)試：6H鉛筆,500gf

（僅適用于電容式觸摸屏）","☆測(cè)試方法：用6H鉛筆，在45度角下，以500g的力在鏡蓋表面劃出5條3~5cm長(zhǎng)的線條。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：劃痕用橡皮擦去鉛筆痕跡后，5條線中3條(包括3條)以上沒(méi)有明顯留下劃痕,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,13,水波紋按壓測(cè)試：1kgf，3S,☆測(cè)試方法：將手機(jī)放在平面上（水泥或者鋼板），用平頭φ10mm施加1kgf的壓力，在開(kāi)機(jī)白色界面下測(cè)試屏的四邊中間以及中心點(diǎn)共9個(gè)點(diǎn)，持續(xù)3S☆測(cè)試環(huán)境：周圍溫度：15°C～35°C，相對(duì)濕度：30％～60％，大氣壓：86K～106KPa,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不允許出現(xiàn)明顯水紴紋，或LCD/TP破,（2臺(tái)）,√,,,,√,2臺(tái),

,14,觸屏拉拔力測(cè)試：2KGF上中下三位置分別5、1、5分鐘（沖擊后測(cè)2臺(tái)，濕熱后測(cè)試2臺(tái)）,"☆測(cè)試方法：采用背膠框貼方式，濕熱、溫度沖擊測(cè)試后機(jī)器各2臺(tái)。用直徑為52mm的真空吸盤(pán)、2kgf的力，對(duì)屏上部（5min）、中部（1min）、下部（5min）進(jìn)行測(cè)試，放置10分鐘后查看屏翹起狀況。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：觸摸屏使用功能無(wú)異常、無(wú)損傷破裂、無(wú)變形起翹,2,√,,,,√,2,

表面裝飾測(cè)試,1,"附著力測(cè)試：百格刀,3M610號(hào)膠帶紙",☆試驗(yàn)方法：對(duì)于金屬表面，用百格刀刻出25個(gè)2平方毫米的方格；對(duì)于塑料表面，用百格刀刻出25個(gè)1平方毫米的方格；劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號(hào)膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫，重復(fù)用膠帶黏貼拉起三次，檢查方格表面油漆。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：有涂層脫落的方格數(shù)應(yīng)不大于總方格數(shù)的3%；單個(gè)方格涂層脫落面積不大于單個(gè)方格總面積的15%,5套,√,,√,,,,

,2,"摩擦測(cè)試：175gf,200次","☆試驗(yàn)方法：將手機(jī)外殼固定在RCA試驗(yàn)機(jī)上，用175g力摩擦200次。

備注：UV漆/電鍍表面及其表面印刷200圈，PU漆/金屬烤漆表面及其表面印刷150圈，橡膠漆表面/素材表面印刷50圈，IMD/IML表面不測(cè)",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地。,,√,,√,,,,

,3,"硬度測(cè)試：2H鉛筆,500gf,3-5cm","☆試驗(yàn)方法：用2H鉛筆，在45度角下，以500g的力度在機(jī)殼表面劃出5條3~5cm長(zhǎng)的線條。

備注：素材/PU漆/金屬漆1H，500gf;IMD/IML2H,500gf，橡膠漆表面不測(cè)",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：劃痕用橡皮擦去鉛筆痕跡后，5條線中3條（包括3條）以上沒(méi)有明顯留下劃痕。,,√,,√,,,,

,4,"汗液測(cè)試：60℃,95%RH,PH=4.7","☆測(cè)試方法：把濾紙放于酸性溶液（Acid2PH=4.7）（酸性溶液可以按如下方式配制，NACL：11.3％，磷酸二氫鈉：2.8％，乳酸：1.1％，水：84.8％；或者按照其他方式進(jìn)行配制）充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在外殼噴漆表面，并且確保試紙與外殼噴漆表面充分接觸，然后放在測(cè)試環(huán)境中，48小時(shí)后將外殼從測(cè)試環(huán)境中取出，并且放置2小時(shí)后，檢查外殼表面。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：表面無(wú)變色、褪色等異常。,,√,,√,,,,

,5,"酒精測(cè)試：98%酒精,1000gf,50次",☆試驗(yàn)方法：用98％的酒精，負(fù)荷1000g，來(lái)回摩擦50次（往返算一次）。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不能變色，褪色，不可露出底材質(zhì)地。,,√,,√,,,,

,6,"鏡片表面硬度測(cè)試：2H，1kgf

備注：電容觸摸屏表面硬度：6H500gf","☆測(cè)試方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力在鏡蓋表面劃出5條3~5cm長(zhǎng)的線條。

備注：電容觸摸屏表面硬度：6H500gf",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：劃痕用橡皮擦去鉛筆痕跡后，5條線中3條（包括3條）以上沒(méi)有明顯留下劃痕。,,√,,√,,,,

特殊條件測(cè)試,1,"循環(huán)跌落測(cè)試：7cm高,正反面各2500次（插SIM卡、T卡）注移動(dòng)定制產(chǎn)品遵守以下標(biāo)準(zhǔn)：開(kāi)機(jī)，10cm高,六個(gè)面依次進(jìn)行微跌落測(cè)試，正面和反面各1000次，其他每個(gè)面跌落200次；",☆測(cè)試方法：手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，插入SIM卡和T卡，播放T卡中的歌曲，播放過(guò)程中做手機(jī)正面及背面的重復(fù)跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為2500次（即1臺(tái)手機(jī)測(cè)試1萬(wàn)次）。每1000次進(jìn)行外觀、機(jī)械和功能檢查。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，每臺(tái)掉電、掉SIM卡、T卡不能超過(guò)10次；外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，內(nèi)部元件無(wú)脫落。,5臺(tái),√,,√,,√,5臺(tái),

,2,扭曲測(cè)試:1Nm/2Nm，1000次,"☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在扭曲試驗(yàn)機(jī)上，兩端各夾15mm；

對(duì)于厚度小于11mm以及半截板的項(xiàng)目，使用1Nm力矩反復(fù)扭曲手機(jī)1000次；

對(duì)于其他項(xiàng)目，使用2Nm力矩反復(fù)扭曲手機(jī)1000次；500次之后每100次進(jìn)行檢查。",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有明顯變形，內(nèi)存無(wú)丟失，外觀無(wú)異常，且各項(xiàng)功能正常。,2臺(tái),,,,,,,

,3,坐壓測(cè)試：25kgf，正反面各1000次,"☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在坐壓試驗(yàn)機(jī)上，用25KG的力反復(fù)擠壓手機(jī)2000次。其中1000次作用于電池面，1000次作用于鍵盤(pán)面；500次之后100次進(jìn)行檢查一次。

",☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有變形，內(nèi)存無(wú)丟失，外觀無(wú)異常，且各項(xiàng)功能正常。,2臺(tái),√,,,,,,

,4,"滾筒測(cè)試：0.5m高,100次

（注：適用于移動(dòng)定制產(chǎn)品）","將樣品設(shè)置成開(kāi)機(jī)、插卡狀態(tài),在手機(jī)中預(yù)存入5個(gè)電話和5條短信息，并將手機(jī)時(shí)鐘設(shè)置為當(dāng)前日期時(shí)間，將樣品放入滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)，滾筒轉(zhuǎn)速為10次/分鐘，進(jìn)行高度為0.5m，100次的隨機(jī)跌落測(cè)試；每50次對(duì)樣品進(jìn)行電性能與結(jié)構(gòu)檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為原始狀態(tài)，一半樣品打開(kāi)到使用位置；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置",電性能及各項(xiàng)功能測(cè)試；結(jié)構(gòu)檢查無(wú)部件脫落、殼體、卡鉤斷裂，顯示屏、鏡片破裂等影響樣品使用功能的問(wèn)題；無(wú)對(duì)樣品使用功能造成影響的外觀問(wèn)題及無(wú)其他對(duì)人體可能造成傷害的安全性問(wèn)題；表面磨損不計(jì)為問(wèn)題；樣品進(jìn)行測(cè)試后，需要進(jìn)行拆機(jī)檢查，殼體內(nèi)部結(jié)構(gòu)件和電子元器件不能有斷裂，脫落等現(xiàn)象。,2臺(tái),√,,,,√,2臺(tái),適用于移動(dòng)定制產(chǎn)品

其他測(cè)試,1,螺釘測(cè)試：10次,☆測(cè)試方法：將樣品平放在試驗(yàn)臺(tái)上，用生產(chǎn)裝配時(shí)使用的打螺釘扭矩，對(duì)同一螺釘在同一位置打進(jìn)打出10次，每打進(jìn)打出一次，對(duì)螺釘，螺釘孔及殼體進(jìn)行檢查；測(cè)試儀的轉(zhuǎn)速設(shè)置為“快速”狀態(tài)，被測(cè)樣品上可拆裝螺釘均需要進(jìn)行測(cè)試（螺釘扭矩由設(shè)計(jì)工程師和生產(chǎn)工程師提供）。,"☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：螺釘頭無(wú)變形、損傷、劃絲等；螺釘柱無(wú)變形、損傷、裂紋、劃絲等；殼體無(wú)變形，損傷，裂紋等；測(cè)試完成后，需要拆機(jī)進(jìn)行檢查，殼體內(nèi)部相關(guān)部分不能出現(xiàn)裂紋、損傷等異常。

備注：此標(biāo)準(zhǔn)適用于機(jī)械型螺釘和自攻型螺釘",（3臺(tái)）,√,,,,,,

,2,I/O接口不正確插入測(cè)試：7kgf,☆測(cè)試方法：在所有可能的方向，以7kgf的力插入插頭。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無(wú)機(jī)械損傷、短路等現(xiàn)象；I/O接口具有防呆設(shè)計(jì)。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,3,I/O插頭拉出強(qiáng)度測(cè)試：5kgf(有防脫);1kgf-2.5kgf(無(wú)防脫）,☆測(cè)試方法：（有防脫設(shè)計(jì)）用5kgf的力拉出插頭；（沒(méi)有防脫設(shè)計(jì)）：用1kgf-2.5kgf的力拉/拔插頭,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：（有防脫設(shè)計(jì)）：插頭不能被拉出。（沒(méi)有防脫設(shè)計(jì)）：插頭可以正常插入和拔出。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,4,耳機(jī)插口強(qiáng)力插入測(cè)試：5kgf,☆測(cè)試方法：用5kgf的力瞬時(shí)插入耳機(jī)插口。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耳機(jī)插口的電氣、結(jié)構(gòu)性能正常；無(wú)插頭斷裂、耳機(jī)插口斷裂、耳機(jī)線損壞等現(xiàn)象發(fā)生,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,5,USB插口測(cè)試：5000次,☆測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，USB卡插在手機(jī)USB插口內(nèi)，然后拔出，反復(fù)5000次。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)后檢查USB插座無(wú)焊接故障，USB插頭無(wú)損傷，插入U(xiǎn)SB后使用功能正常。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,6,耳機(jī)、IO塞保護(hù)蓋插拔測(cè)試：500次,☆測(cè)試方法：耳機(jī)塞、I/O接口塞，進(jìn)行插拔試驗(yàn)500次；RF塞、螺絲塞不做插拔要求。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：對(duì)耳機(jī)塞、I/O接口塞，插拔時(shí)手感良好，不容易拔出；耳機(jī)塞、I/O接口塞以及相應(yīng)位置的殼體無(wú)外觀不良（掉漆，翹起等）,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,7,雙料注塑保護(hù)蓋拉力測(cè)試：1.5Kgf,☆測(cè)試方法：用1.5kg拉力，拉拔雙料注塑的保護(hù)蓋。,☆檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：兩種材質(zhì)不能夠分開(kāi)以及出現(xiàn)斷裂等異常。,（2臺(tái)）,√,,,,,,

,8,IO接口壓力測(cè)試：10kgf，2個(gè)方向,I/O口插入連接線插頭（數(shù)據(jù)線、充電器），在距離機(jī)殼5mm處用10kgf力垂直按壓，兩個(gè)方向。,試驗(yàn)后檢查I/O接口無(wú)焊接故障，I/O接口無(wú)損傷，插入連接線插頭后使用功能正常。,（2臺(tái)）,