JGJT287-2014 建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)StandardforenergyefficiencytestofsolarheatreflectinginsulationcoatingsofbuildingsJGJ/T287-2014批準(zhǔn)部門(mén)：中華人民共和國(guó)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部施行日期：2 0 15 年6 月 1 日中國(guó)建筑工業(yè)出版社2014北京中華人民共和國(guó)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部公 告619號(hào)住房城鄉(xiāng)建設(shè)部關(guān)于發(fā)布行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)批準(zhǔn)《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)》為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，編號(hào)為JGJT287-2014201561日起實(shí)施。本標(biāo)準(zhǔn)由我部標(biāo)準(zhǔn)定額研究所組織中國(guó)建筑工業(yè)出版社出版發(fā)行。中華人民共和國(guó)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部2014115日3根據(jù)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部《關(guān)于印發(fā)2008年工程建設(shè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范制定、修汀計(jì)劃）的通知》2008102的要求，標(biāo)準(zhǔn)編制組經(jīng)廣泛調(diào)查研究，認(rèn)真總結(jié)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，參考有關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)，并在廣泛征求意見(jiàn)的基礎(chǔ)上，編制本標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)的主要技術(shù)內(nèi)容是：1總則；2術(shù)語(yǔ)；3.基本規(guī)定；4實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)；5現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。本標(biāo)準(zhǔn)由住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部負(fù)責(zé)管理，由華南理工大學(xué)負(fù)責(zé)具體技術(shù)內(nèi)容的解釋。執(zhí)行過(guò)程中如有意見(jiàn)或建議，請(qǐng)寄送華南理工大學(xué)建筑節(jié)能研究中心地址：廣州市天河區(qū)五山路381號(hào)，郵編：510640)。中國(guó)建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司西安建筑科技大學(xué)中國(guó)建筑西南設(shè)計(jì)研究院有限公司廣東省建筑科學(xué)研究院廣州市建筑科學(xué)研究院有限公司江蘇省建筑科學(xué)研究院有限公司上海市建筑科學(xué)研究院集團(tuán))有限公司中國(guó)建筑材料科學(xué)研究總院中國(guó)空間技術(shù)研究院廣州市魯班建筑工程技術(shù)有限公司上海廣毅涂料有限公司北京愛(ài)萬(wàn)提斯科技有限公司4廣州標(biāo)旗電子科技有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人員:孟慶林趙立華張宇峰張晶李寧羅濤楊文頤劉艷峰楊柳馮雅任俊楊仕超許錦峰胡曉珍冀志江沈自才鄧天寧徐耀標(biāo)嚴(yán)志偉蔣二龍宋光均本標(biāo)準(zhǔn)主要審查人員:路賓劉月莉陸津龍冀兆良龍恩深周孝清江剛?cè)纹樟料馁椂×π袆⒖≤S次總則 1術(shù)語(yǔ) 2基本規(guī)定 4實(shí)驗(yàn)室檢測(cè) 5.1一般規(guī)定 54.2太陽(yáng)反射比測(cè)試 54.3半球發(fā)射率測(cè)試 74.4檢測(cè)報(bào)告 9現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè) 105.1 —般規(guī)定 105.2檢測(cè)設(shè)備 105.3采樣要求 105.4檢測(cè)要求 125.5檢測(cè)報(bào)告 12附錄A 絕對(duì)光譜法測(cè)定太陽(yáng)反射比 14附錄B 輻射積分法測(cè)定太陽(yáng)反射比 15附錄C 太陽(yáng)光譜輻照度 17附錄D 293K下熱輻射相對(duì)光譜分布 18本標(biāo)準(zhǔn)用同說(shuō)明 19引用標(biāo)準(zhǔn)名錄 20附：條文說(shuō)明 216ContentsGeneralProvisions 1Terms 2BasicRequirements 4LabTesting 5.1enaralequreents 5.2TestngorlarReflectance 5.3TestngoresphercalEittance 74Testngeport 9In-situTesting 01enaralequreents 0.2TestngEqupments 0.3apleequreents 10.4Testingequreents 2.5Testingeport 2AppendixA TestingforSolarReflectance-AbsoluteSpectrumMethod 4AppendixB TestingforSolarReflectance-RadiationIntegralMethod 5AppendixC ReferenceSpectralSolarIrradianceDistribution .............................................. * 7AppendixD ThermalRadiationRelativeSpectralDistributionat293K 8ExplanationofWordinginThisStandard 9ListofQuotedStandards 0AdditionExplanationofProvisions 171.0.1為在建筑反射隔熱涂料工程應(yīng)用中貫徹執(zhí)行國(guó)家技術(shù)經(jīng)濟(jì)政策，規(guī)范建筑用反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測(cè)，做到技術(shù)先進(jìn)、安全使用、經(jīng)濟(jì)合理、確保質(zhì)量，制定本標(biāo)準(zhǔn)。1.0.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于新建、擴(kuò)建及既有建筑墻面、屋面的建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)的檢測(cè)。0.3 建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測(cè)除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)外，尚應(yīng)符合國(guó)家現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。0.1 建筑反射隔熱涂料 solarheatreflectinginsulationcoat-ingsforbuildings具有較高太陽(yáng)熱反射比和半球發(fā)射率，可以達(dá)到明顯隔熱效果的涂料。2.0.2 太陽(yáng)反射比 solarreflectance反射的與入射的太陽(yáng)輻射能通量之比值。2.0.3 半球發(fā)射率 hemisphericalemissivity熱輻射體在半球方向上的輻射出射度與處于相同溫度的全輻黑體）的輻射出射度之比值。2.0.4 太陽(yáng)光譜輻照度 spectralsolarirradiance在某一給定波長(zhǎng)范圍內(nèi)，單位波長(zhǎng)間隔的太陽(yáng)輻照度。2.0.5 絕對(duì)光譜法 absolutespectralmethod將試樣放置于積分球中心位置，通過(guò)測(cè)試試樣在規(guī)定波長(zhǎng)上的絕對(duì)光譜反射比，計(jì)算試樣太陽(yáng)反射比的方法。.0.6 相對(duì)光譜法 relativespectralmethod通過(guò)測(cè)試試樣在規(guī)定波長(zhǎng)上相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比，計(jì)算試樣太陽(yáng)反射比的方法。2.0.7 光纖光譜儀 fiberspectralmethod采用光纖作為信號(hào)耦合器件，將試樣反射光耦合到光譜儀中進(jìn)行光譜分析測(cè)定試樣反射比的儀器。2.0.8 輻射積分法 radiationintegralmethod漫射光照射被測(cè)表面，利用多個(gè)探測(cè)器探測(cè)一定角度上不同波段的反射輻射能，加權(quán)計(jì)算得到被測(cè)表面太陽(yáng)反射比的方法。2.0.9定位片locatingpece在測(cè)量頭觸接面與被測(cè)面之間設(shè)置的用于采樣孔定位和閉光的墊片。0.10 熱沉 heatsink溫度不隨傳熱量變化的物體。3 0.1建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)可分為實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)和現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。02建筑反射隔熱涂料的節(jié)能設(shè)計(jì)驗(yàn)證、進(jìn)場(chǎng)復(fù)驗(yàn)和抽樣送檢應(yīng)采用實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)；建筑反射隔熱涂料施工完成后的工程節(jié)能性能檢測(cè)應(yīng)采用現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。303建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)應(yīng)按下列流程303)。04檢測(cè)設(shè)備應(yīng)在合格檢定或校準(zhǔn)有效期內(nèi)。自行研制的設(shè)備應(yīng)經(jīng)過(guò)技術(shù)鑒定和校準(zhǔn)合格。圖3.0.3 建筑反射隔熱涂料節(jié)能性能的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)流程44 1 一般規(guī)定11實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)的產(chǎn)品取樣應(yīng)符合現(xiàn)行國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《色漆、清漆和色漆與清漆用原材料取樣》GBT3186的有關(guān)規(guī)定，并應(yīng)滿(mǎn)足檢測(cè)需要。412試樣制備應(yīng)符合下列規(guī)定：涂料應(yīng)在容器中充分?jǐn)嚢杌旌暇鶆?，并用涂布器或刮板分兩道均勻涂覆?mm?2mm厚的鋁合金板表面，涂層干膜厚度應(yīng)為200pm?300pm，且涂層應(yīng)平整，無(wú)氣泡、裂紋等缺陷；水性涂料涂膜，兩道涂布的時(shí)間間隔應(yīng)為6h;溶劑型涂料涂膜，兩道涂布的時(shí)間間隔應(yīng)為24h;涂膜養(yǎng)護(hù)時(shí)間應(yīng)為7d;試樣制備環(huán)境的溫度應(yīng)為23°C±2°C，試樣制備環(huán)境的相對(duì)濕度應(yīng)為505;檢測(cè)試樣尺寸應(yīng)根據(jù)儀器確定，檢測(cè)試樣數(shù)量應(yīng)為3個(gè)。4.1.3實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)環(huán)境的溫度應(yīng)為23°C±5°C，實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)環(huán)境的相對(duì)濕度不得高于60%。42太陽(yáng)反射比測(cè)試.2.1太陽(yáng)反射比的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)應(yīng)采用絕對(duì)光譜法、相對(duì)光譜法或輻射積分法。422采用絕對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)附錄A的有關(guān)規(guī)定，采用輻射積分法檢測(cè)時(shí)應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第.1節(jié)的有關(guān)規(guī)定。423采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，分光光度計(jì)設(shè)備性能應(yīng)符合表4.2.31的規(guī)定，光纖光譜儀設(shè)備性能應(yīng)符合表4.2.32的規(guī)定。表4231設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度波長(zhǎng)范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm;波分光光度計(jì)積分球標(biāo)準(zhǔn)白板

長(zhǎng)精度不應(yīng)低于1.6nm內(nèi)徑不應(yīng)小于30mm,內(nèi)壁應(yīng)為高反射材料壓制的硫酸鋇或聚四氟乙烯板；標(biāo)準(zhǔn)白板應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格并在檢定有效期內(nèi)4.2.3-2光纖光譜儀設(shè)備性能

太陽(yáng)反射比的檢測(cè)范闈應(yīng)為.02?097為.1設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度光纖光譜儀

波長(zhǎng)范圍應(yīng)為350nm?2500nm;在350nm?1lOOnm波長(zhǎng)范圍精度不應(yīng)低于5nm.在1lOOnm?2500nm波長(zhǎng)范圍精度不應(yīng)低于.2nm光源 鹵鎢燈多模光纖芯徑不應(yīng)小于60Vm;數(shù)值孔光纖

徑應(yīng)為0.220.02;光纖長(zhǎng)度不宜超過(guò)3m內(nèi)徑應(yīng)為30mm120mm;在400nm?1500nm波長(zhǎng)范圍的最低反射率不得低于96%,在250nm?2500nm的最低反射率不得低于93%，采樣孔直徑不應(yīng)小于9mm

太陽(yáng)反射比檢測(cè)范_應(yīng)為0.02?0.97;檢測(cè)精度應(yīng)為0.01標(biāo)準(zhǔn)白板

壓制的硫酸鋇或聚四氟乙烯板；標(biāo)準(zhǔn)白板應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格并在檢定冇效期內(nèi)2.4 相對(duì)光譜法檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定:儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài);儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；6將標(biāo)準(zhǔn)白板安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在儀器規(guī)定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)量絕對(duì)光譜反射比的基線；將試樣安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在同一波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)定試樣相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比。2.5 相對(duì)光譜法數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：太陽(yáng)反射比應(yīng)按下列公式計(jì)算：p,= ----------- (4.2.5-1)i=l,=i—ri)/2 (4..5-2)式中p,— 太陽(yáng)反射比；i---波長(zhǎng)350nm?2500nm范圍內(nèi)的計(jì)算點(diǎn)；A,---計(jì)算點(diǎn)i對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)nm)，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)附錄C的規(guī)定選?。籲計(jì)算點(diǎn)的數(shù)目，應(yīng)取96個(gè)；~ 波長(zhǎng)為A的標(biāo)準(zhǔn)白板的絕對(duì)光譜反射比測(cè)定值，應(yīng)采用計(jì)量部門(mén)的檢定值；一一波長(zhǎng)為A,的試樣相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比測(cè)定值；EM~在波長(zhǎng)A處太陽(yáng)光譜輻照度Wm2?nm按本標(biāo)準(zhǔn)附錄C的規(guī)定選取；AA,---計(jì)算點(diǎn)波長(zhǎng)間隔nm)。應(yīng)測(cè)試3個(gè)試樣的太陽(yáng)反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。4.3半球發(fā)射率測(cè)試4.3.1 半球發(fā)射率可采用輻射計(jì)或紅外分光光度計(jì)檢測(cè)。4.3.2輻射計(jì)設(shè)備性能應(yīng)符合表4.321的規(guī)定，紅外分光光度計(jì)設(shè)備性能應(yīng)符合表4322的規(guī)定。7表4321設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度輻射計(jì)探測(cè)器 重復(fù)性±1% 半球發(fā)射率檢測(cè)范圍應(yīng)為毫伏計(jì) 靈敏度.OlmV熱沉 導(dǎo)熱良好；表面高輻射

003?095;檢測(cè)精度應(yīng)為.014.3.2-2紅外分光光度計(jì)設(shè)備性能設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度紅外分光光度計(jì) 波長(zhǎng)范圍不小于.5pm?.O^m積分球 內(nèi)徑不小于60mm.內(nèi)壁為高反射材料聚四氟乙烯板或金鏡；應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)標(biāo)準(zhǔn)板檢定合格并在檢定有效期內(nèi)

半球發(fā)射率檢測(cè)范圍應(yīng)為.05?.9;檢測(cè)精度應(yīng)為0.01433檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：采用輻射計(jì)檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：)將發(fā)射率參比試樣置于熱沉上，再將輻射探測(cè)器放到參比試樣上，通過(guò)微調(diào)應(yīng)使儀表讀數(shù)等于參比試樣值；)將被測(cè)試樣置于熱沉上，再將輻射探測(cè)器放到被檢測(cè)試樣表面上，待讀數(shù)穩(wěn)定后即為被檢測(cè)試樣的發(fā)射率。此過(guò)程應(yīng)至少進(jìn)行3次。采用紅外分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：)儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；)儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；)將標(biāo)準(zhǔn)板安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在儀器規(guī)定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行基線掃描；)將試樣安裝在積分球試樣孔處，應(yīng)在同一波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)板的試樣光譜反射比掃描。34數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：采用輻射計(jì)檢測(cè)時(shí)，應(yīng)取3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該試樣的半球發(fā)射率，應(yīng)測(cè)試3個(gè)試樣的半球發(fā)射率，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。采用紅外分光光度計(jì)檢測(cè)時(shí)，應(yīng)符合下列規(guī)定:1)半球發(fā)射率應(yīng)按下式計(jì)算：(4..4)式中/5(X)

— 半球發(fā)射率；試樣的熱輻射光譜反射比；-293K下熱輻射相對(duì)光譜分布，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)附錄I)的規(guī)定選取。2)應(yīng)測(cè)試3個(gè)試樣的半球發(fā)射率，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。4.4 檢測(cè)報(bào)告4.1 檢測(cè)報(bào)告應(yīng)包括下列信息：報(bào)告的名稱(chēng)、編號(hào)及頁(yè)碼、檢測(cè)單位名稱(chēng)及地址、委托單位名稱(chēng)和地址；樣品的名稱(chēng)、描述、尺寸、送樣或抽樣的地點(diǎn)與日期；檢測(cè)的依據(jù)、設(shè)備和條件；環(huán)境描述；檢測(cè)的結(jié)果；附閽、附表；報(bào)告主檢人、審核人和批準(zhǔn)人的簽名。4.2檢測(cè)報(bào)告宜包括測(cè)點(diǎn)及其周?chē)h(huán)境照片。5 1 一般規(guī)定511 太陽(yáng)反射比的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)應(yīng)采用相對(duì)光譜法或輻射積分法。檢測(cè)點(diǎn)的選擇應(yīng)符合下列規(guī)定：檢測(cè)點(diǎn)的涂層外觀應(yīng)平整、清潔，涂層表面拉毛的凸起局度不宜大于.Omm；檢測(cè)點(diǎn)的涂層表面應(yīng)干燥；檢測(cè)時(shí)檢測(cè)點(diǎn)應(yīng)避免受太陽(yáng)直接照射?，F(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)境應(yīng)符合下列規(guī)定：現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)境的溫度宜為5°C?35C；現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)境的相對(duì)濕度不宜高于80；現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)應(yīng)避免在雨、霧天氣進(jìn)行；環(huán)境風(fēng)速宜小于5ms。2檢測(cè)設(shè)備521采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)設(shè)備性能應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)表.3-2的有關(guān)規(guī)定；當(dāng)采用輻射積分法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)設(shè)備性能應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)表..1的有關(guān)規(guī)定。522檢測(cè)設(shè)備應(yīng)具有抗振動(dòng)、抗干擾和防塵等性能，并應(yīng)滿(mǎn)足能在本標(biāo)準(zhǔn)第..3條規(guī)定的環(huán)境條件下使用。53采樣要求531現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)采樣時(shí)，測(cè)量頭觸接面與檢測(cè)點(diǎn)之間應(yīng)配置定位片。5.3.2定位片圖..2)應(yīng)符合下列規(guī)定：1 定位片應(yīng)帶有采樣孔、采樣孔邊牙和測(cè)量頭定位槽；10定位片應(yīng)采用不銹鋼板制作，測(cè)量頭觸接面范圍的板厚(5)不應(yīng)大于0.3mm,直徑D)不應(yīng)小于測(cè)量頭采樣孔直徑的101.0mm;定位片的定位槽底內(nèi)徑(D')應(yīng)比測(cè)量頭觸接面輪廓直05mm；定位片背面的采樣孔邊緣上應(yīng)帶有邊牙，邊牙的鋒刃程度以左右旋轉(zhuǎn)定位片時(shí)易于切人被測(cè)面為宜，厚度a。不宜大于0.2mm度/;2)應(yīng)等于被測(cè)涂層表面拉毛的凸起高度；定位片的采樣孔內(nèi)壁應(yīng)涂白，其余面應(yīng)涂黑。圖..2 定位片1-定位片；2--采樣孔；3—采樣孔邊牙；4一測(cè)量頭定位槽；5—測(cè)量頭觸接面;D定位片直徑；S—觸探面板厚度；c/一采樣孔直徑；D-定位槽底內(nèi)徑；n邊牙厚度；—邊牙高度1154檢測(cè)要求4.1每個(gè)檢測(cè)區(qū)域應(yīng)確定3個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，3個(gè)檢測(cè)點(diǎn)宜按等邊三角形布置，檢測(cè)點(diǎn)間距不宜小于500mm。542采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器T作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；將標(biāo)準(zhǔn)白板與定位片背面靠緊，將積分球采樣孔對(duì)準(zhǔn)定位片的采樣孔，在儀器規(guī)定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)應(yīng)進(jìn)行光譜反射比的光譜基線測(cè)量；將定位片背面的采樣孔對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)，并應(yīng)使定位片與被測(cè)涂料面靠緊；將測(cè)量頭置于定位片的定位槽內(nèi)，在同一波長(zhǎng)范圍內(nèi)應(yīng)進(jìn)行光譜反射比測(cè)量，測(cè)得相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比曲線。..3 采用輻射積分法檢測(cè)時(shí)，應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)附錄B第..4條的規(guī)定。544 采用相對(duì)光譜法數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：1 太陽(yáng)反射比應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)公式4.2.5-1)和4.2.5-2)計(jì)算；2 應(yīng)取3個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。55 檢測(cè)報(bào)告51 檢測(cè)報(bào)告應(yīng)包括下列信息：報(bào)告的名稱(chēng)、編號(hào)及頁(yè)碼、委托單位名稱(chēng)和地址；工程項(xiàng)目名稱(chēng)和地址；被檢對(duì)象描述；檢測(cè)環(huán)境描述；檢測(cè)方法；檢測(cè)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)文件；檢測(cè)設(shè)備、儀器的型號(hào)、編號(hào)、計(jì)量有效期等信息；12檢測(cè)結(jié)果；附圖、附表；10檢測(cè)單位名稱(chēng)及地址；11報(bào)告主檢人、審核人和批準(zhǔn)人的簽名。5.5.2 檢測(cè)報(bào)告宜包括測(cè)點(diǎn)及其周?chē)h(huán)境照片。13附錄A 絕對(duì)光譜法測(cè)定太陽(yáng)反射比A.0.1采用絕對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，分光光度計(jì)設(shè)備性能應(yīng)符合表A..1的規(guī)定。A.0.1分光光度計(jì)設(shè)備性能設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度波長(zhǎng)范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm;分光光度計(jì)

波長(zhǎng)精度不應(yīng)低于1.6nm 太陽(yáng)反射比檢測(cè)范圍應(yīng)為0.02?.7內(nèi)徑不應(yīng)小于60mm，內(nèi)壁應(yīng)為高反積分球射材料

檢測(cè)精度應(yīng)為.1A.0.2 檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；應(yīng)將試樣安裝在試樣架上放人積分球內(nèi)中間部位；應(yīng)在儀器規(guī)定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)定試樣的絕對(duì)光譜反射比。0.3數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：太陽(yáng)反射比應(yīng)按下式計(jì)算：p ^- (A..)^]Esa)AA,式中a— 波長(zhǎng)為A,時(shí)試樣的光譜反射比。應(yīng)測(cè)試3個(gè)i式樣的太陽(yáng)反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。14附錄B 測(cè)定太陽(yáng)反射比1 實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)11采用輻射計(jì)分法檢測(cè)時(shí)，輻射積分儀設(shè)備性能應(yīng)符合表..1的規(guī)定。B.1.1設(shè)備組件 性能要求 檢測(cè)范圍與精度測(cè)量頭枳分球）

波長(zhǎng)范圍不應(yīng)小于350nm?2500nm，測(cè)量波段不應(yīng)少于4個(gè)；應(yīng)由鹵鎢燈、過(guò)濾器和探測(cè)器組成；測(cè)量頭內(nèi)壁為高反射材料；探測(cè)器應(yīng)能探測(cè)到紫外、藍(lán)光、紅光和近紅外區(qū)的電子感應(yīng)；測(cè)量頭采樣孔孔徑應(yīng)為25mm?26mm.003;偏差應(yīng)為±0.002 太陽(yáng)反射比檢測(cè)范圍應(yīng)為.02?.97；讀數(shù)模塊

應(yīng)具有數(shù)據(jù)采集、處理和顯示功能，數(shù)分辨率應(yīng)為0001數(shù)字顯示器不穩(wěn)定度應(yīng)小于±[(讀數(shù)的1%+.003)/h]

檢測(cè)精度應(yīng)為0.01校準(zhǔn)裝置

包括黑腔體和高反射比的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷白板，標(biāo)準(zhǔn)白板應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格并在檢定有效期內(nèi)B..2 檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；開(kāi)機(jī)預(yù)熱期間應(yīng)蓋罩采樣孔，預(yù)熱30min后進(jìn)行儀器校準(zhǔn)；15應(yīng)采用反射比為零的黑腔體調(diào)零，采用高反射比標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)；應(yīng)將試樣放在測(cè)量頭的采樣孔上靠緊，并應(yīng)在顯示值穩(wěn)定后讀數(shù)。..3 數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：應(yīng)取3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該試樣的太陽(yáng)反射比；應(yīng)測(cè)試3個(gè)試樣的太陽(yáng)反射比，并取算術(shù)平均值作為最終結(jié)果。B2現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè).2.1現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備應(yīng)由讀數(shù)模塊、校準(zhǔn)裝置、測(cè)量頭和定位片等組成。B.2.2 檢測(cè)點(diǎn)的確定應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第.4.1條的規(guī)定。.2.3 檢測(cè)采樣應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)第.3節(jié)的規(guī)定。.2.4 檢測(cè)程序應(yīng)符合下列規(guī)定：儀器應(yīng)正確連接并處于正常工作狀態(tài)；儀器工作參數(shù)設(shè)定應(yīng)正確；開(kāi)機(jī)預(yù)熱期間應(yīng)蓋罩采樣孔，預(yù)熱30min后進(jìn)行儀器校準(zhǔn)；應(yīng)采用反射比為零的黑腔體調(diào)零，采用高反射比標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)；應(yīng)將定位片背面的采樣孔對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)，并應(yīng)使定位片與被測(cè)涂料面靠緊；應(yīng)將測(cè)量頭置于定位片的定位槽內(nèi)靠緊，并應(yīng)在敁示值穩(wěn)定后讀數(shù)。.2.5 數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列規(guī)定：3次讀數(shù)的算術(shù)平均值作為該檢測(cè)點(diǎn)的太陽(yáng)反射比；應(yīng)測(cè)試3個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的太陽(yáng)反射比.并取算術(shù)平均值作為該檢測(cè)區(qū)域的最終結(jié)果。16附錄C 譜輻照度表c 太陽(yáng)光譜輻照度仏U,)表,),Es),ES),)[W/(m2?[W/(m2?[W/(m2?[W/(m2?(nm)nm)](nm)nm)]nm)nm)](nm).0.0092.0.0.6230.0.0290.0.0408.0.5.7197.0.0019.0.1039.01.4315.0.6655.0.0012.0.1744.01.3821.0.6144.0.0204.0.2379.0.0.3976.0.0878.0.3810.03418.0.10582.0.0258.0.3760.0.0.18223.0.0959.0.4195.0.0.12742.0.0582.0.4230718.0.9737.0.32672100.0.0859.0.4662.41.0054.0.44331.0.0792.0.5014.0.0.40821.0.0689.0.6121.51.1506.0.46312.0.0677.0.6867.51.1329.0.39812360.0.0598.0.6946.5.6198.0.24112450.0.0204.0.9764.5.9938.0.03132494.0.0178.01.1162.0.0.00152537.0.0031.0.0.5.05372941.0.0042.0.0.8184.5.10137.0.0073.0.7.75651477.0.10170.0.0063.0.5.88321497.0.175530.0.0031.0.0.9251.0.25313132.0.0052.0.0.9434.0.26435.0.0187.0880.0.8994.0.26503204.0.0013.0.00.7214.0.23574.0.0031.0.0.6433.0.238433.0.0126.0.0.6653.0.22044.0.0031.0.0.3890.0.23563450.0.0128.0.0.2489.0.22633573.0.0115.0.0.3022.0.21257.0.0094.0965.0.5077.0.16534.0.007217附錄D 293K下熱輻射相對(duì)光譜分布I)293K下熱輻射相對(duì)光譜分布Gx表波長(zhǎng)ym)(h波長(zhǎng)(pm)Gx.5.0053.0.0281.0.0094.5.0266.5.0143.0.0252.0.0194.5.0238.5.024417.0.0225.0.0290.5.0212.5.0328.0.0200.0.0358.5.0189.5.0379.0.0179.0.0393.5.0168.5.0401.0.0159.0.0402.5.0150.5.0399.0.0142.0392.5.0134.038222.0.0126.0.0370.50.0119.5.0356.0.0113.0.0342.5.0107.5.0327.0.0101.0.0311.5.0096.5.0296.0.009118為便于在執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)條文時(shí)區(qū)別對(duì)待，對(duì)要求嚴(yán)格程度不同的用詞說(shuō)明如下：)表示很?chē)?yán)格，非這樣做不可的：正面詞采用必須，反面詞采用嚴(yán)禁”；)表示嚴(yán)格，在正常情況下均應(yīng)這樣做的：正面詞采用應(yīng)，反面詞采用不應(yīng)”或不得”；)表示允許稍有選擇，在條件許可時(shí)首先應(yīng)這樣做的：正面詞采用宜，反面詞采用不宜”；)表示允許有選擇，在一定條件下可以這樣做的，采用條文中指明應(yīng)按其他有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行的寫(xiě)法為：應(yīng)符合.......的規(guī)定”或應(yīng)按 執(zhí)行。19《色漆、清漆和色漆與清漆用原材料取樣》GBT3186建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)CJ1287-2014《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)》JGJT2872014，經(jīng)住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部2014年115日以第619號(hào)公告批準(zhǔn)發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)編制過(guò)程中，編制組進(jìn)行了廣泛的調(diào)查研究，總結(jié)了我閏建筑反射隔熱涂料工程應(yīng)用的經(jīng)驗(yàn)，同時(shí)參考了StandardTestMethodforDeterminationofSolarReflectanceNearAmbi-entTemperatureUsingaPortableSolarReflectometer》ASTM1549-2009等國(guó)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)對(duì)光纖光譜儀、分光光度計(jì)及輻射積分儀等關(guān)鍵儀器設(shè)備進(jìn)行比對(duì)試驗(yàn)，確定了太陽(yáng)輻射比等關(guān)鍵參數(shù)的檢測(cè)方法。為便于廣大設(shè)計(jì)、施工、管理和科研院校等單位的有關(guān)人員在使用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)能正確理解和執(zhí)行條文規(guī)定.《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)》編制組按章、節(jié)、條順序編制了本標(biāo)準(zhǔn)的條文說(shuō)明，對(duì)條文規(guī)定的目的、依據(jù)以及執(zhí)行中需要注意的有關(guān)事項(xiàng)進(jìn)行了說(shuō)明。但是，本條文說(shuō)明不具備與標(biāo)準(zhǔn)正文同等的法律效力，僅供使用者作為理解和把握標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參考。22次1 總則 24次2 術(shù)語(yǔ) 25基本規(guī)定 26實(shí)驗(yàn)室檢測(cè) 274.1 一般規(guī)定 74.2太陽(yáng)反射比測(cè)試 274.3半球發(fā)射率測(cè)試 294.4檢測(cè)報(bào)告 29現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè) 305.1 —般規(guī)定 305.2檢測(cè)設(shè)備 305.3采樣要求 315.4檢測(cè)要求 335.5檢測(cè)報(bào)告 33附錄A 絕對(duì)光譜法測(cè)定太陽(yáng)反射比 34附錄P)輻射積分法測(cè)定太陽(yáng)反射比 35附錄C 太陽(yáng)光譜輻照度 36附錄I) 293K下熱輻射相對(duì)光譜分布 3723則1.o.1建筑反射隔熱涂料是建筑圍護(hù)結(jié)構(gòu)節(jié)能的一項(xiàng)有效措施之一，近年來(lái)國(guó)內(nèi)外各類(lèi)具有熱反射性能的建筑外裝涂料不斷出現(xiàn)，特別是在我國(guó)南方地區(qū)的應(yīng)用量在逐年增大，建筑節(jié)能行業(yè)面臨著如何控制此類(lèi)工程的施工質(zhì)量和節(jié)能驗(yàn)收的問(wèn)題。目前我國(guó)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)中，_繞實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)都給出了建筑反射隔熱涂料節(jié)能參數(shù)的測(cè)試方法.一定程度上適應(yīng)了建筑節(jié)能工程施工階段材料進(jìn)場(chǎng)復(fù)驗(yàn)的需要。根據(jù)目前的實(shí)際情況，建筑反射隔熱涂料的新建丁程的施工驗(yàn)收、既有建筑節(jié)能改造等現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)工作還需要提出相關(guān)的檢測(cè)方法和技術(shù)要求，本標(biāo)準(zhǔn)編制是從工程檢測(cè)的需求出發(fā)，提出建筑用反射隔熱涂料節(jié)能性能參數(shù)檢測(cè)的方法和技術(shù)要求，根本目的是為促進(jìn)建筑反射隔熱涂料這一建筑節(jié)能措施發(fā)揮更大應(yīng)用。此外，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢測(cè)內(nèi)容和方法，也為現(xiàn)行國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《建筑節(jié)能工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》GB50411中的相關(guān)內(nèi)容提供依據(jù)。1.0.2本標(biāo)準(zhǔn)適用于新建、擴(kuò)建及既有建筑墻面、屋面的建筑反射隔熱涂料在施工階段的進(jìn)場(chǎng)復(fù)驗(yàn)和節(jié)能專(zhuān)項(xiàng)竣工驗(yàn)收的檢測(cè)，也適用于反射隔熱涂料建筑節(jié)能效果的評(píng)價(jià)性和研究性測(cè)試。目前專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域內(nèi)作為建筑反射隔熱涂料的節(jié)能性能參數(shù)有2個(gè).即太陽(yáng)反射比/)值和半球發(fā)射率e)值，總則中在界定范圍和內(nèi)容時(shí)，對(duì)此做了界定。0.3建筑反射涂料節(jié)能性能檢測(cè)還應(yīng)符合我國(guó)現(xiàn)行的建筑節(jié)能施工、驗(yàn)收、檢測(cè)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。242 術(shù) 語(yǔ)?.1 建筑反射隔熱涂料是通過(guò)較高的太陽(yáng)反射比和對(duì)外較高的熱輻射本領(lǐng)實(shí)現(xiàn)隔熱的基本原理。20.7基于光纖耦合傳輸原理進(jìn)行光譜分析的方法測(cè)試太陽(yáng)反射比。08 是按照美國(guó)建筑材料協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ASTMC1549設(shè)計(jì)的一種便攜式太陽(yáng)反射比測(cè)試方法。209為了防止積分球測(cè)頭采樣孔不易對(duì)正檢測(cè)點(diǎn)并防止觸探面漏光而設(shè)計(jì)的一種專(zhuān)用墊片。253 0.1為建筑反射隔熱涂料節(jié)能設(shè)計(jì)提供依據(jù)的驗(yàn)證檢測(cè)應(yīng)采用實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)，并應(yīng)在設(shè)計(jì)前進(jìn)行。實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)測(cè)得的數(shù)據(jù)較現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)得到的數(shù)據(jù)要更加精確。03給出了建筑反射隔熱涂料節(jié)能現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)流程，其中的現(xiàn)場(chǎng)調(diào)查應(yīng)包括下列內(nèi)容：涂料技術(shù)資料、涂料施工工藝，建筑節(jié)能設(shè)計(jì)文件及施工資料，涂料進(jìn)場(chǎng)復(fù)驗(yàn)報(bào)告，委托方的具體要求，現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)條件。檢測(cè)方案宜包含以下內(nèi)容：工程概況，檢測(cè)方法及其依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)數(shù)量，抽樣方案，所需的儀器設(shè)備和人員，試驗(yàn)時(shí)間要求，必要時(shí)還應(yīng)包括測(cè)試點(diǎn)搭建腳手架、爬梯等要求。264.1 一般規(guī)定4.1.1規(guī)定了實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)時(shí)涂料取樣所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)。4.1.2、4.1.3規(guī)定了試樣制作的要求、試樣制作的環(huán)境條件和實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)環(huán)境，提高檢測(cè)結(jié)果的可靠性。42 太陽(yáng)反射比測(cè)試4.2.1?4.23太陽(yáng)反射比檢測(cè)可采用光譜法或輻射積分法，光譜法又分為相對(duì)光譜法和絕對(duì)光譜法。當(dāng)采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，主要的儀器為分光光度計(jì)和光纖光譜儀，兩者的共同特點(diǎn)是都可以進(jìn)行光譜分析，不同的是分光光度計(jì)的光路固定，測(cè)試精準(zhǔn)度高，但該儀器測(cè)頭是裝配在專(zhuān)用的樣品倉(cāng)內(nèi)，檢測(cè)時(shí)必須制作符合規(guī)定的樣品，故適合用在實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)，而光纖光譜儀是通過(guò)光纖連接測(cè)頭和光譜儀，測(cè)頭采樣靈活，適合用在實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。經(jīng)華南理工大學(xué)建筑節(jié)能研究中心的對(duì)比研究表明，分光光度計(jì)和光纖光譜儀兩者測(cè)試結(jié)果最大相差絕對(duì)值不超過(guò)30%，如表1所示，能夠滿(mǎn)足建筑工程檢測(cè)的要求。11見(jiàn)光反射比) 太陽(yáng)反射比)相差相差相差相差譜儀度計(jì)譜儀LB-2-1粉.28.73.62.44.76.921黃.92.52—.48.92.87.06l藍(lán).92.65-0.42.23.76.72JNJ-1-1淺灰.42.37.35.92.7327

分光光

光纖光續(xù)表1可見(jiàn)光反射比) 太陽(yáng)反射比)相差相差相差相差度計(jì)譜儀度計(jì)譜儀JNJ-2-1粉紅.92.09.20.49.36JNJ-3-1黃.06.43.1.97JNJ-4-1淺綠.62.04—.69.4.53.6JNJ-5-1淺藍(lán).5.26.8.7—.63

光纖光

光纖光國(guó)家現(xiàn)行相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)《建筑用反射隔熱涂料》GBT25261、《建筑反射隔熱涂料》GT235和《建筑外表面用熱反射隔熱涂料》jCT1040都推薦采用了絕對(duì)光譜法，考慮到絕對(duì)光譜法的檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)處理方法與相對(duì)光譜法不同，與我國(guó)建筑工程檢測(cè)行業(yè)現(xiàn)有的玻璃光學(xué)性能檢測(cè)儀器不能通用，所以將絕對(duì)光譜法列于附錄A，供已有相關(guān)設(shè)備的檢測(cè)單位選擇采用。輻射積分法是美國(guó)材料協(xié)會(huì)公布的一種便攜式儀器檢測(cè)太陽(yáng)反射比方法，其測(cè)試與光譜法不同，該儀器是使用漫射鎢鹵素?zé)粽丈錁悠罚ㄟ^(guò)4個(gè)探測(cè)器測(cè)量輻射反射，每個(gè)探測(cè)器配備濾光裝置，使得它能與太陽(yáng)光光譜的特定波段產(chǎn)生電子感應(yīng)，這些電子感應(yīng)經(jīng)過(guò)讀數(shù)模塊處理后得出太陽(yáng)反射比。該方法測(cè)試時(shí)需要采用黑色腔體來(lái)校零，使用已知反射比的標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行校準(zhǔn)。經(jīng)中國(guó)建筑材料檢驗(yàn)認(rèn)證中心的對(duì)比結(jié)果表明，輻射積分法與采用分光光度計(jì)的光譜法測(cè)試結(jié)果相差不足10%，能夠滿(mǎn)足建筑反射涂料節(jié)能性能檢測(cè)要求，檢測(cè)時(shí)應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)附錄B要求。4.2.4采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，應(yīng)先測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)白板的絕對(duì)光譜反射比，記憶在儀器中最為基準(zhǔn)光譜線，再測(cè)定試樣相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比。4.2.5采用相對(duì)光譜法檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按本條文公式4.2.5)計(jì)算太陽(yáng)反射比，公式中”是波長(zhǎng)350nm?2500nm范圍內(nèi)的計(jì)算點(diǎn)數(shù)目，計(jì)算點(diǎn)的波長(zhǎng)A應(yīng)以本標(biāo)準(zhǔn)附錄表C350nm?2494nm28范圍內(nèi)的逐點(diǎn)作為反射比分析用的計(jì)算點(diǎn)，共96個(gè)。之所以規(guī)定具體的計(jì)算點(diǎn)波長(zhǎng)，目的是避免因計(jì)算點(diǎn)選擇的不統(tǒng)一而產(chǎn)生計(jì)算結(jié)果的差異，計(jì)算過(guò)程更為嚴(yán)謹(jǐn)規(guī)范，結(jié)果也便于比較。?為標(biāo)準(zhǔn)白板的絕對(duì)反射比，是由計(jì)量部門(mén)檢定的數(shù)值，對(duì)應(yīng)各計(jì)算點(diǎn)波長(zhǎng)的絕對(duì)反射比值，可根據(jù)檢定值按照相鄰波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的絕對(duì)光譜反射比，采用內(nèi)插法逐個(gè)確定。(ohx在各計(jì)算點(diǎn)的數(shù)值，可根據(jù)測(cè)定值按相鄰波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的光譜反射比，采用內(nèi)插法逐個(gè)確定。43半球發(fā)射率測(cè)試431半球發(fā)射率測(cè)定給出了兩種檢測(cè)方法，是國(guó)內(nèi)目前建設(shè)行業(yè)檢測(cè)中的主要方法。輻射計(jì)法的檢測(cè)原理如下：輻射計(jì)探測(cè)器的輸出信號(hào)應(yīng)與被檢測(cè)樣的發(fā)射率成線性關(guān)系，通過(guò)比較輻射計(jì)配備的高、低發(fā)射率參比試樣和被檢測(cè)樣輸出信號(hào)的大小，直接得到被檢測(cè)樣的發(fā)射率。紅外分光光度計(jì)法檢測(cè)，主要是參考了太陽(yáng)能總透射比、紫外線透射比及有關(guān)窗玻璃參數(shù)的測(cè)定》GBT2680中有關(guān)半球發(fā)射率部分的測(cè)試方法。44 檢測(cè)報(bào)告441樣品描述中應(yīng)包括表面狀態(tài)、顏色等；環(huán)境描述應(yīng)包括試樣制備環(huán)境和檢測(cè)環(huán)境的溫度、濕度等；附圖、附表應(yīng)包括樣品或試樣的照片或測(cè)試圖、表等。295 5.1—般規(guī)定 ?511采用相對(duì)光譜法和輻射積分法檢測(cè)時(shí)，是通過(guò)觸探方式進(jìn)行采樣，檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單易于操作，由于采用絕對(duì)光譜法的檢測(cè)時(shí)樣品必須要放在儀器的積分球內(nèi)，不適合工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。采用輻射積分法檢測(cè)的原理與光譜法的不同，但兩者經(jīng)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下對(duì)比相差僅有1%，可以作為現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的方法之一，采用時(shí)應(yīng)符合附錄B的規(guī)定。512檢測(cè)點(diǎn)應(yīng)符合檢測(cè)要求，特別是對(duì)于涂料外墻面有較大的凸凹時(shí)，當(dāng)在檢測(cè)區(qū)域不能找到大于積分球的采樣孔面積并且表面拉毛凸起高度小于2mm的平面時(shí)，不符合檢測(cè)條件。檢測(cè)點(diǎn)應(yīng)保持干燥并應(yīng)避免日曬，必要時(shí)可采用遮陽(yáng)傘進(jìn)行防護(hù)。5.13檢測(cè)環(huán)境條件的確定是為了確保檢測(cè)人員安全和防護(hù)儀器，確保檢測(cè)精度。儀器應(yīng)避免太陽(yáng)直接照射測(cè)量?jī)x器，測(cè)量?jī)x器受太陽(yáng)直接照射后，儀器外殼會(huì)吸收熱量，從而影響測(cè)量結(jié)果，因此必要時(shí)可采用遮陽(yáng)傘進(jìn)行防護(hù)。52檢測(cè)設(shè)備521采用相對(duì)光譜法現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備的組成，還應(yīng)包括蓄電池電源、便攜式計(jì)算機(jī)等。也可以采用集成化程度較高的便攜式儀器，如將光譜儀和計(jì)算機(jī)整合為一體、積分球和光源整合為一體的便攜式儀器。相對(duì)光譜法現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備的安裝示意，如圖1所示。522用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的光纖光譜儀、輻射積分儀等設(shè)備屬于精密儀器，除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試性能外，還應(yīng)針對(duì)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)301相對(duì)光譜法太陽(yáng)反射比現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備示意圖1光譜儀；2—光源；3-光纖；4一積分球測(cè)量頭；5定位片；6檢測(cè)區(qū)域環(huán)境具備抗振動(dòng)性能，儀器及組件的連接等應(yīng)牢固可靠，確保測(cè)試信號(hào)的傳輸不受現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境振動(dòng)、檢測(cè)中的移動(dòng)等影響，對(duì)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中某些電氣設(shè)備產(chǎn)生的快速脈沖群干擾或其他電磁干擾，檢測(cè)設(shè)備應(yīng)具備抗干擾能力，現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下儀器設(shè)備應(yīng)具備防塵、防潮和防紫外性能。檢測(cè)儀器應(yīng)能滿(mǎn)足本標(biāo)準(zhǔn)要求的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境條件。53531采樣孔與檢測(cè)點(diǎn)之間配置定位片有兩個(gè)重要作用：一是給測(cè)量頭采樣準(zhǔn)確定位，二是封閉測(cè)量頭采樣孔邊緣因被測(cè)面凸凹不平產(chǎn)生的縫隙，避免測(cè)量頭觸接面漏光產(chǎn)生測(cè)試誤差。532規(guī)定了定位片的尺寸和做法。實(shí)際常見(jiàn)的光纖光譜法采用的積分球測(cè)量頭和輻射積分法采用的輻射測(cè)量頭，其測(cè)量的觸接面和采樣孔均為圓形平面，只是尺寸、口徑不同而已，均適合配置定位片。定位片實(shí)質(zhì)上應(yīng)是儀器測(cè)量頭本身配備的專(zhuān)門(mén)用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)的部件。定位片上采樣孔邊緣上的邊牙，對(duì)防止采樣孔和測(cè)量頭觸接面漏光起主要作