518系列ICT培訓(xùn)教材(簡體)

./各位好,今天我們的課程是：518系列ICT訓(xùn)練課程大家知道嗎？518系列ICT是德律科技的一大系列產(chǎn)品,在業(yè)界素以技術(shù)領(lǐng)先、服務(wù)上佳而深得客戶認(rèn)可。公司簡介公司簡介19891989年成立于XX于1997年在中國大陸成立分公司員工規(guī)模XX-230中國大陸XX-90自1995年起獲ISO9001品質(zhì)認(rèn)證中國廠家中第一家具SMT開路檢測技術(shù)的ICT廠家亞洲第一家獲德國TUVISO9001認(rèn)證的ICT自動(dòng)測試廠家經(jīng)營理念:團(tuán)隊(duì),誠信,務(wù)實(shí)產(chǎn)產(chǎn)品范圍高精密在線測試儀高精密在線測試儀<ICT>全自動(dòng)生產(chǎn)線測試機(jī)全自動(dòng)生產(chǎn)線測試機(jī)<INLINE>數(shù)字回路自動(dòng)測試機(jī)數(shù)字回路自動(dòng)測試機(jī)<ATE>自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)<AOI>集成塊測試機(jī)集成塊測試機(jī)<ICTESTER>測試治具測試治具<TESTFIXTURE>518系列ICT又分以下4款：TR-518<1989年推出,CMOS切換開關(guān),性能穩(wěn)定,德律首創(chuàng)之ICT>TR-518F〔1992年推出,CMOS+ArmatureRelay創(chuàng)新技術(shù),功能大輻提升,速度較518快一倍,精品獎(jiǎng)TR-518FR<1996年推出,ReedRelay開關(guān),方便整合功能量測,功能強(qiáng)大,速度更較518F快一倍,精品獎(jiǎng)TR-518FE〔1996年推出,CMOS+ArmatureRelay的完美應(yīng)用,超強(qiáng)功能,速度較518F快一倍以上,精品獎(jiǎng)ICT的概念何謂ICT？ICT即在線測試儀〔InCircuitTester,是一大堆高級(jí)電表的組合。電表能測到,ICT就能測到,電表測不到,ICT可能也測不到。例如：R//Jumper,則R無法用電表測出,而ICT也測不出。ICT能測些什么？Open/Short,R,L,C及PN結(jié)〔含二極管,三極管,Zener,ICICT與電表有何差異？ICT可對(duì)旁路組件進(jìn)行隔離〔Guarding,而電表不可以。所以電表測不到,ICT可能測得到。例如：R//<R1+R2>,則電表測不出R,只測出R<R1+R2>/<R+R1+R2>,ICT卻可測出R。ICT與ATE有何差異？ICT只做靜態(tài)測試,而ATE可做動(dòng)態(tài)測試。即ICT對(duì)被測機(jī)板不通電〔不加Vcc/GND,而ATE則通電。例如：板上有一顆反向器要測,則ATE可測其反向特性,而ICT不能測。ICT量測原理奧姆定律：R=V/I請(qǐng)各位仔細(xì)透徹的理解奧姆定律,即：R既可認(rèn)為是電阻,也可認(rèn)為是其它阻抗,如：Zc容抗、Zl感抗。而V有交流、直流之分。I也一樣,有交流、直流之分。這樣才可以在學(xué)習(xí)ICT測試原理時(shí),把握其主脈,因?yàn)閵W姆定律貫穿其始終,可稱得上萬能定律！量測R：單個(gè)R<mode0,1>:利用Vx=IsRx〔奧姆定律,則Rx=Vx/Is.信號(hào)源Is取恒流〔0.1uA—5mA,量回Vx即可算出Rx值.信號(hào)源Is與Rx關(guān)系表Rx<標(biāo)準(zhǔn)值>Is<常電流源>Is/10<低檔電流源>0<Rx<300ΩmA5mA0.5300≤Rx<3KΩmA0.5uA503KΩ≤Rx<30KΩuA50uA530KΩ≤Rx<300KΩuA5uA0.5300KΩ≤Rx<3MΩuA0.5uA0.1Rx≥3MΩuA0.1注：大電流應(yīng)用：R//C時(shí),為測R,可以適當(dāng)修改其Std_V〔標(biāo)準(zhǔn)值,以便獲得系統(tǒng)提供更大測試電流,條件是R接近上表的下限值,如330Ω//100uF,則改Std_V為299Ω,可提供5mA大電流,從而使測試更準(zhǔn)確。小電流應(yīng)用：R//D時(shí),為測R,可以將Mode0改為Mode1,從而電流小一檔,R兩端壓降小于D導(dǎo)通電壓,使測試更準(zhǔn)確。R//C<mode2>:信號(hào)源Vs取恒壓〔0.2V、量回Ix,則Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix算出Rx值.信號(hào)源取恒壓0.2V,是因?yàn)椋?電壓越小,則電容充電到飽和的時(shí)間就越短,電容充電飽和后,其相當(dāng)于開路,測Rx就會(huì)準(zhǔn)確。2ICT量測放大器偵測電壓線性區(qū)間為0.15V—1.5V,不宜取低于此圍的電壓。R//L<mode3,4,5>:信號(hào)源取交流電壓源Vs,籍相位法輔助.|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并Y’=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ根據(jù)Zl=2лfL,若R=20Zl,則R無法測試量測C/L：單個(gè)C/L〔Mode0,1,2,3：信號(hào)源取恒定交流壓源VsVs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得：Cx=Ix/2лfVsVs/Ix=Zl=2лfLx,求得：Lx=Vs/2лfIx電容：圍信號(hào)源說明1pF～2.99pF2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz3pF～2.99nF0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測,用以測量與電感并聯(lián)的電容7:100K-相位AC100KHz相位分離量測3nF～299.99nF0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位9:100-ACAC100KHz相位分離量測AC100Hz300nF～2.999SYMBOL109\f"Symbol"F0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位9:100-ACAC10KHz相位分離量測AC100Hz3SYMBOL109\f"Symbol"F～29.99SYMBOL109\f"Symbol"F0:1K-ACAC1KHz4:C-DC固定電流源量測5:1K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC100Hz30SYMBOL109\f"Symbol"F～149.99SYMBOL109\f"Symbol"F4:C-DC8:C-DC<10mA>9:100-AC固定電流源量測固定電流源量測AC100Hz150SYMBOL109\f"Symbol"F～40mF5:1K-相位固定電流源量測8:C-DC<10mA>固定電流源量測電感：圍信號(hào)源說明1SYMBOL109\f"Symbol"H～79.99SYMBOL109\f"Symbol"H2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz80SYMBOL109\f"Symbol"H～799.99SYMBOL109\f"Symbol"H0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz3:1M-ACAC1MHz6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位AC100KHz相位分離量測800SYMBOL109\f"Symbol"H～7.99mH0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位9:100-ACAC100KHz相位分離量測AC100Hz8mH～79.99mH0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz2:100K-ACAC100KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測7:100K-相位AC100KHz相位分離量測80mH～799.99mH0:1K-ACAC1KHz1:10K-ACAC10KHz5:1K-相位AC1KHz相位分離量測6:10K-相位AC10KHz相位分離量測800mH～7.99H0:1K-AC1:10K-ACAC1KhzAC10KHz5:1K-相位6:10K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC10KHz相位分離量測AC100Hz8H～60.0H0:1K-ACAC1KHz5:1K-相位9:100-ACAC1KHz相位分離量測AC100Hz測試C或L時(shí),取信號(hào)頻率<f>的原則：因?yàn)?Zc=1/2лfC,在實(shí)際測試時(shí),我們希望Zc最好是在一定圍,太大或太小,測試精度都會(huì)降低。我們假設(shè)Zc=常數(shù),則得到：fC=常數(shù),也即：f∝1/C,可見f與C互為反比,這樣我們得到一個(gè)重要的結(jié)論：大電容以低頻、小電容以高頻進(jìn)行測試,效果最好。同理,我們也可推出：f∝1/L,f與L互為反比。C//R或L//R：籍相位法輔助|Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx求得：Cx=Cx’Sinθ<Cx’=Ix’/2лfVs>|Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’=1/ωCx求得：Lx=Lx’/Sinθ<Lx’=Vs/2лfIx’>量測PN結(jié)：〔D、Q、IC信號(hào)源0-10V/3mAor25mA可程序電壓源,量PN結(jié)導(dǎo)通電壓量測Open/Short：即以阻抗判定：先對(duì)待測板上所有Pin點(diǎn)進(jìn)行學(xué)習(xí),R<25Ω即歸為ShortGroup,然后Test時(shí)進(jìn)行比較,R<5Ω判定為Short,R>55Ω判為Open.Guarding<隔離>的實(shí)現(xiàn)：當(dāng)Rx有旁路〔R1時(shí),Ix=Is-I1≠Is,故：Vx/Is≠Rx此時(shí)取A點(diǎn)電位Va,送至C點(diǎn),令Vc=Va,則：I1=<Va-Vc>/R1=0,Is=Ix從而：Vx/Is=Rx程序的編寫在T[測試]下,設(shè)定P"測試參數(shù)"測試參數(shù)電路板名稱：DEBUGBOX測試數(shù)據(jù)文件名稱：DEBUGBOX.DAT治具上第一支測試針：1治具上最后一支測試針：64測試順序：開路/短路/零件測試每幾次測試即自動(dòng)儲(chǔ)存數(shù)據(jù)：50開路/短路不良時(shí)中斷測試：不要開路/零件不良時(shí)重測次數(shù)：2雙色打印機(jī)的廠牌：VFIVFI打印機(jī)是接到PC的：COM1測試不良時(shí)自動(dòng)或手動(dòng)打?。菏謩?dòng)打印測試不良時(shí)最多打印行數(shù)：10開/短路不良測試點(diǎn)位置打印：不要不良零件位置圖的橫行數(shù)：2不良零件位置圖的縱列數(shù)：2刪略的針：在E[編輯]下,編寫程序：步驟零件名稱實(shí)際值位置高點(diǎn)低點(diǎn)隔點(diǎn)12345刪略量測值標(biāo)準(zhǔn)值上限%下限%延遲信號(hào)類別重測中停補(bǔ)償值偏差%。1R347KA12110100000047K101000RD0002C22100nD2752000000100n303000C00003L122uB218700000022u303004L00004D50.7VC116190000000.7V202000D00005Q1CE1.8VA2117542000000.2V20-104Q0000...進(jìn)入L[學(xué)習(xí)],做ShortGroup學(xué)習(xí).若有IC,還需做ICClampingDiode學(xué)習(xí)。在主畫面在下測試,檢驗(yàn)程序及開始Debug。程序的Debug編寫好的程序在實(shí)測時(shí),因測試信號(hào)的選擇,或被測組件線路影響,有些Step會(huì)Fail〔即量測值超出±%限,必須經(jīng)過Debug。R：在E[編輯]下,ALT-X查串聯(lián)組件,ALT-P查并聯(lián)組件。據(jù)此選好"信號(hào)"〔Mode和串聯(lián)最少組件的Hi-P/Lo-P,并ALT-F7選擇GuardingPin。R//C：Mode2及Dly加大〔參考：T=5RCR//D〔orIC、Q：Mode1R//R：Std-V取并聯(lián)阻值R//L：Mode3、4、5；根據(jù)Zl=2πfL,故L一定時(shí),若f越高,則Zl越大,則對(duì)R影響越小C：在[編緝]下一般根據(jù)電容值大小,選擇相應(yīng)的Mode。如小電容〔pF級(jí),可選高頻信號(hào)〔Mode2、3,大電容〔nF級(jí)可選低頻信號(hào)〔Mode0、1,然后ALT-F7選擇隔離。3uF以上大電容,可以Mode4、8直流測試。C//C：Std-V取并聯(lián)容值C//R：Mode5、6、7,由Zc=1/2лfC,故C一定時(shí),f越高,Zc越小,則R的影響越小。C//L：Mode5、6、7,并且f越高效果越好。L：F8測試,選擇Mode0、1、2中測試值最接近Std-V,然后Offset修正至準(zhǔn)確。L//R：Mode5、6、7。PN結(jié)：F7自動(dòng)調(diào)整,一般PN正向0.7V〔Si,反向〔2V以上D//C：Mode1及加Delay。D//D〔正向：除正向?qū)y試,還須測反向截止〔2V以上以免D反插時(shí)誤判。Zener：Nat-V選不低于Zener崩潰電壓,若仍無法測出崩潰電壓,可選Mode1〔30mA,另外10-48Vzener管,可以HV模式測試。Q：be、bc之PN結(jié)電壓兩步測試可判斷Q之類型〔PNPorNPN,Hi-P一樣〔NPN,Lo-P一樣〔PNP,并可Debugce飽和電壓<0.2V以下>,注意Nat-V為be偏置電壓,越大Q越易進(jìn)入飽和,但須做ce反向判斷<須為截止0.2V以上>,否則應(yīng)調(diào)小Nat-V。不良報(bào)表的閱讀不良零件位置圖：ABCDE123456R3H1D5L2L1VHC22H2以H0代有上限值〔標(biāo)準(zhǔn)值,L0代表下限值：L1表示：量測值介于L0與L0-〔H0-L010%之間L2表示：量測值介于L1與L0-〔H0-L020%之間VL表示：量測值低于L2H1表示：量測值介于H0與H0+〔H0-L010%之間H2表示：量測值介于H1與H0+〔H0-L020%之間VH表示：量測值高于H2不良記錄：******OpenFail******〔48〔4548表示48點(diǎn)與短路組〔4548斷開,可能是探針未接觸到PCB焊盤,或板上有斷路。******ShortFail******〔20〔23表示20點(diǎn)與23點(diǎn)短路〔R<5Ω,可能是板上有錫渣造成Short,裝錯(cuò)零件造成Short,零件腳過長造成Short等。******ComponentFail******R3M-V：52.06K,Dev：+10.7%Act-V=47KStd-V=47KLoc:A1Hi-P=21L0-P=101+LM：+10%-LM：-10%表示：R3偏差+10.7%,可能為零件變值,或接觸不良。若偏差+999.9%或很大,可能為缺件、錯(cuò)件超出標(biāo)準(zhǔn)值所在量程上限,〔如47K在30K—300K量程；若偏差0.00%或很小,可能為短路,錯(cuò)件超出其標(biāo)準(zhǔn)值所在量程下限。ICT誤判分析1.ICT無法測試部分：⑴．存IC〔EPROM、SRAM、DRAM…⑵．并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容⑶．并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻⑷．單端點(diǎn)之線路斷線⑸．D//L,D無法量測⑹．IC之功能測試2.PCB之測點(diǎn)或過孔綠油未打開,或PCB吃錫不好3.壓床壓入量不足。探針壓入量應(yīng)以1/2-2/3為佳4．經(jīng)過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良5．PCB板定位柱松動(dòng),造成探針觸位偏離焊盤6．治具探針不良損壞7．零件廠牌變化〔可放寬+-%,IC可重新Learning8.治具未Debug好〔再進(jìn)行Debug9.ICT本身故障硬件檢測開關(guān)板：診斷〔D切換電路板〔B系統(tǒng)自我診斷〔S切換電路板診斷〔S若有B*C*表示SWB有Fail,請(qǐng)記錄并通知TRI。C*有可能為治具針點(diǎn)有Short造成。進(jìn)入切換電路板診斷功能時(shí),屏幕上顯示如下的畫面：切換電路板自我檢測<治具上不要放置組裝電路板,維修盒不要接到待測的切換電路板>第幾片插槽1110987654321測試點(diǎn)數(shù)0000000128646464測試結(jié)果N/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AOKOKOKOKOKOK第幾片插槽2221201918171615141312測試點(diǎn)數(shù)DCACOT700000000測試結(jié)果N/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/AN/A系統(tǒng)自我檢測：診斷〔D硬件診斷〔S系統(tǒng)自我檢測〔S有R、D項(xiàng)Fail可能為DC板故障,有C、L項(xiàng)Fail可能AC板Fail,有Power項(xiàng)Fail可能Power板Fail。也請(qǐng)記錄并通知TRI。電阻電容系統(tǒng)電源ValueMeas-VDev%ValueMeas-VDev%ValueMeas-VDev%5050OK100p100pOK5V5VOK100100OK1n1nOK10V10VOK1K1KOK10n10nOK12V12VOK10K10KOK100n100nOK15V15VOK100K100KOK1u1uOK24V24VOK1M1MOK10u10uOK-5V-5VOK10M10MOK1n-G1n-GOK-15V-15VOK1K-G1K-GOK15V15VOK10VFunction電感D0.6D0.6OK100u100uOKZD3VZD3VOK1m1mOKZD6VZD6VOK10m10mOKDAC-5VDAC-5VOK100m100mOK開路/短路測試線路:<0><1><2><3>TheEnd附錄一指令樹狀結(jié)構(gòu)圖<CommandTree>Level0Level1Level2Level3測試開始測試<Testing>順序<Test-Sequence><TEST>中斷<Test-Abortion>測試針<Test-Pin>測試參數(shù)<Test-Par>修改參數(shù)<Update>短/開路設(shè)定<Short/OpenBase>重測<Retry>設(shè)定新參數(shù)<SetUp>打印機(jī)<Printer>拷貝參數(shù)<Copy>位置圖/自動(dòng)打印<Map/Stamp>刪除參數(shù)<Delete>選擇板號(hào)<Board-Sel>壓床型式<Test-Fixture>網(wǎng)絡(luò)設(shè)定<Network>延遲時(shí)間<Delay-Time>系統(tǒng)