集成門電路功能測試實驗報告

集成門電路功能測試實驗報告實驗預(yù)習(xí)1.邏輯值與電壓值的關(guān)系。2.常用邏輯門電路邏輯功能及其測試方法。3.硬件電路基礎(chǔ)實驗箱的結(jié)構(gòu)、基本功能和使用方法。實驗?zāi)康臏y試集成門電路的功能實驗器件集成電路板、萬用表實驗原理TTL與非門74LS00的邏輯符號及邏輯電路：雙列直插式集成與非門電路CT74LS00：數(shù)字電路的測試：常對組合數(shù)字電路進行靜態(tài)和動態(tài)測試，靜態(tài)測試是在輸入端加固定的電平信號，測試輸出壯態(tài)，驗證輸入輸出的邏輯關(guān)系。動態(tài)測試是在輸入端加周期性信號，測試輸入輸出波形，測量電路的頻率響應(yīng)。常對時序電路進行單拍和連續(xù)工作測試，驗證其狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是正確。本實驗驗證集成門電路輸入輸出的邏輯關(guān)系，實驗在由硬件電路基礎(chǔ)實驗箱和相關(guān)的測試儀器組成的物理平臺上進行。硬件電路基礎(chǔ)實驗箱廣泛地應(yīng)用于以集成電路為主要器件的數(shù)字電路實驗中，它的主要組成部分有：(1)直流電源：提供固定直流電源（+5V,-5V）和可調(diào)電源(+3～15V,-3～15V)。(2)信號源：單脈沖源（正負兩種脈沖）；連續(xù)脈沖。(3)邏輯電平輸出電路：通過改變邏輯電平開關(guān)狀態(tài)輸出兩個電平信號：高電平“1”和低電平“0”。(4)邏輯電平顯示電路：電平顯示電路由發(fā)光二極管及其驅(qū)動電路組成，用來指示測試點的邏輯電平。(5)數(shù)碼顯示電路：動態(tài)數(shù)碼顯示電路和靜態(tài)數(shù)碼顯示電路，靜態(tài)數(shù)碼顯示電路由七段LED數(shù)碼管及其譯碼器組成。(6)元件庫：元件庫裝有電位器、電阻、電容、二極管、按鍵開關(guān)等器件。(7)插座區(qū)與管座區(qū)：可插入集成電路，分立元件。集成門電路功能驗證方法：選定器件型號，查閱該器件手冊或該器件外部引腳排列圖，根據(jù)器件的封裝，連接好實驗電路，以測試74LS00與非門的功能為例：正確連接好器件工作電源：74LS00的14腳和7腳分別接到實驗平臺的5V直流電010100111或門：電路圖：測試結(jié)果：ABY0000111011113.門電路的基本應(yīng)用測試用“異或門”和“與非門”組成的半加器邏輯功能。根據(jù)半加器的邏輯表達式可知，半加器的輸出的和數(shù)S是輸入A、B（二進制數(shù)）的“異或”，而進位數(shù)C是A、B的相“與”，故半加器可用一個集成“異或門”和兩個“與非門”組成，如圖1.3.3所示。（1）在實驗箱上用“異(74LS86)和“與非”門連1.3.3所示邏輯電路。輸入端A、B接“邏輯電平”開關(guān)，輸出端S、C接“電平顯示”發(fā)光二極管。通過電平開關(guān)改變輸入A、B的邏輯狀態(tài)置位，觀測輸出端的邏輯狀態(tài)，列表記錄。（2）通過電平開關(guān)改變輸入A、B的邏輯狀態(tài)置位，觀測輸出端的邏輯狀態(tài)，列表記錄。ABSC0000011010101101實驗心得此次實驗原理不是很復(fù)雜，但是線路比較難連，實驗所用到的關(guān)鍵器件也不太好找。理論知