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文檔簡介

課題:熱電效應引起的器件失效—二次擊穿1、開篇隨著科學技術的發(fā)展，電子設備的功能更加的強大了，我們的生活已經離開不了這些科技產物，然而與之帶來的困擾也就來了，那就是期間的可靠性，我們希望我們的電子產品不但功能強大，而且還要有更高的可靠性，更長的壽命。所以技術人員對器件的失效原因進行研究，當然，失效原因有多種，如:包封失效、導線連接失效、裸芯粘接故障本征硅的缺陷等原因，下面我們說說一種很常見的失效原因——熱效應引起的器件失效，也就是我們所說的二次擊穿。2、器件失效在談這個問題之前，我們先解析下其中的幾個名詞吧，首先我們說說什么是器件失效？從字面上理解來看，器件失效即電子產品喪失它那人們所期望的功能，通俗點說就是該器件不去干它應干的活了。2.1、器件失效的分類、模型、及器件平均壽命計算方法器件的穩(wěn)定性是尤為重要的，我們試想一個龐大的系統(tǒng)，如一個宇宙飛船，所有電子器件都要正常運作，稍有閃失出現(xiàn)某些或某個器件失效，帶來的后果極有可能是毀滅性的!既然器件穩(wěn)定性如此重要，我們舉要對器件失效進行研究，首先我們看看器件失效分為哪幾類？（1）、致命性失效：如過電應力損傷。（2）、緩慢退化：如MESFET的IDSS下降。（3）、間歇失效：如塑封器隨溫度變化間歇失效。失效物理模型分為如下類：（1）、應力-強度模型。（2）、應力-時間模型。當然了，器件的穩(wěn)定性需要一個量化指標，平均壽命，下面有一個預測平均壽命的計算方法：2.2一個元器件失效的解決案例說了那么多理論，有道是“說得好不如做得好！”，我們習主席也說過：“空談誤國,實干興邦！”，那么來個實際例子吧，這是一個開關電源供作溫度過高導致器件失效的案例：2.2.1解決思路（1）從電路結構上減少損耗,如采用更優(yōu)的控制方式和技術,如高頻軟開關技術、移相控制技術、同步整流技術等,另外就是選用低功耗的器件,減少發(fā)熱器件的數(shù)目,加大加粗印制線的寬度,提高電源的效率。

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