JBT 8232-2024《自準直儀》規(guī)范

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T8232-1999IJB/T8232—XXXX前言 V 2規(guī)范性引用文件 3術語和定義 4類型 5基本參數(shù) 6技術要求 26.2尋像器的尋像性能 36.3電氣安全性能 36.4儀器外觀及各部分相互作用 36.5運輸貯存基本環(huán)境試驗 47試驗方法 錯誤！未定義書簽。7.1試驗條件 47.21級數(shù)字式自準直儀的示值最大誤差 47.32級數(shù)字式自準直儀和光電自準直儀的示值最大誤差 67.4光學自準直儀測微鼓輪一周內的示值最大誤差 87.5光學自準直儀全部測量范圍內的示值最大誤差 7.6含有回程誤差的測微鼓輪示值重復性 7.7數(shù)字式自準直儀示值重復性 7.8數(shù)字式和光電自準直儀工作2h內的示值漂移 7.9光電自準直儀瞄準時由于調節(jié)靈敏度所引起的電表指零變化 7.10在最大工作距離測量條件下的測量范圍 7.11自準直光束的平行性對示值的影響 7.12基座圓形水準器的正確性 7.13讀數(shù)系統(tǒng)測量方向的偏差 7.14視軸對儀器底面的平行度 7.15帶座反射鏡反射面的面形偏差 7.16帶座反射鏡反射面與鏡座的垂直度 7.17五棱鏡光軸偏轉角90°的偏差 167.18尋像器的尋像性能 7.19電氣安全性能試驗 7.20儀器外觀及各部分相互作用 7.21運輸環(huán)境試驗 8檢驗規(guī)則 8.1檢驗分類 8.2出廠檢驗（即交貨檢驗） JB/T8232—XXXX8.3型式檢驗 9標志、包裝、運輸及貯存 9.1標志 9.2包裝 9.3運輸 9.4貯存 附錄A（資料性）專用光欄板 20JB/T8232—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替JB/T8232-1999《自準直儀》。本文件與JB/T8232-1999相比，除編輯性修改外主要技術差異如下：——更改了標準的適用范圍（見第1章）；——增加了“術語和定義”一章（見第3章）；——增加了“類型”一章。其中增加了“數(shù)字式自準直儀”、“雙軸自準直儀”和“以mm/m為示值單位的自準直儀”等類型，并將自準直儀劃分為1、2、3級（見第4章）；并在以后各章中，增加了新增類型儀器的基本參數(shù)、技術要求和試驗方法（見第4、5、6章）；——刪除了基本參數(shù)中的“平面反射鏡反射面的有效孔徑”（見1999年版的表1序4——將“分格值”更改為“分度值”（見表1序1，1999年版的表1序1）；——刪除了“儀器目鏡的視度調節(jié)范圍”要求（見1999年版的表2序4）；——刪除了“視軸對儀器基座底平面的平行度”要求（見1999年版的表2序9——刪除了“光電瞄準和目視瞄準的符合性”要求（見1999年版的表2序12）；——刪除了“光電瞄準時，指示表指針偏轉的對稱度”要求（見1999年版的表2序13——刪除了“光電瞄準的靈敏度”要求（見1999年版的表2序15）；——刪除了直角鐵和正方鐵形狀誤差的要求（見1999年版的表2序21）；——將“儀器的準確度”（見1999年版的表2序1更改為“示值最大允許誤差”（見表2序1其技術指標也做了相應更改；——將“平面反射鏡放在儀器最大工作距離時，儀器的工作范圍”（見1999年版的表2序2更改為“在最大工作距離測量條件下的測量范圍”（見表2序7）；——將“目視瞄準的標準偏差”要求（見1999年版的表2序3），更改為“含有回程誤差的測微鼓輪示值重復性”（見表2序3），其技術指標也做了相應更改；——將“瞄準單刻線（或雙刻線）對儀器底座底平面（或水平面）的平行度”要求（見1999年版的表2序7），更改為“讀數(shù)系統(tǒng)測量方向的允許偏差”（見表2序10），其技術指標也做了相應更改；——將“測微裝置的空回誤差”要求（見1999年版的表2序10），合并到“含有回程誤差的測微鼓輪示值重復性”之中（見表2序3）；——將“當用專用光欄檢驗時，自準直光束的平行性”要求（見1999年版的表2序11），更改為“自準直光束的平行性對示值的影響”（見表2序8）；——將“五棱鏡折轉角90o的正確性”要求（見1999年版的表2序20），更改為“五棱鏡光軸偏轉角90o的公差”（見表2序14），其技術指標也做了相應更改；——更改了附件的名稱和配置（見5.2，1999年版的表3）；——增加了電氣安全性能的技術要求和試驗方法（見6.3和7.19）；——更新了全部技術要求項目的試驗方法（見第7章，1999年版的第5章——將圖1（1999年版）所示的專用光欄移到附錄A。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本文件由全國光學和光子學標準化技術委員會（SAC/TC103）歸口。本文件起草單位：貴陽新天光電科技有限公司、上海理工大學、貴州省光學測量工程技術研究中心、河南省計量科學研究院、蘇州慧利儀器有限責任公司、南京東利來光電實業(yè)有限責任公司、寧波永新光學股份有限公司、寧波湛京光學儀器有限公司、廣州粵顯光學儀器有限責任公司、南京江南永新光學有限公司、寧波舜宇儀器有限公司、寧波市教學儀器有限公司、梧州奧卡光學儀器有限公司、麥克奧迪實業(yè)集團公司、寧波華光精密儀器有限公司、重慶奧特光學儀器有限責任公司。本文件主要起草人：胡清、馮瓊輝、劉煒進、張衛(wèi)東、韓森、洪宜萍、毛磊、鮑金權、徐濤、李晞、JB/T8232—XXXX胡森虎、張琪、張景華、章光偉、徐利明、吳國民。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1985年首次發(fā)布為JB/T8232—1985；——1995年第一次修訂，發(fā)布為JB/T8232—1999；——本次為第二次修訂。VJB/T8232—XXXX自準直儀用于測量光學和機械零部件的角度、直線度和平面度，是機械制造行業(yè)以及其他裝備制造行業(yè)精密檢測，計量檢定，保證產(chǎn)品質量不可缺少的測量儀器。本文件規(guī)定了自準直儀的類型、基本參數(shù)和技術要求，描述了相應的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存，為自準直儀的設計、制造、檢驗提供了依據(jù)，其目的是促使自準直儀產(chǎn)品實現(xiàn)標準化、規(guī)范化，同時為自準直儀量值準確和產(chǎn)品質量提供可靠保證。JB/T8232-1999《自準直儀》發(fā)布實施已二十余年，由于技術的發(fā)展、產(chǎn)品市場的變化和相關標準的更新，已不能適應產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，有必要修訂完善，以不斷適應產(chǎn)業(yè)發(fā)展新需求。本次對JB/T8232的修訂，增加了產(chǎn)品新類型，并重新理順了產(chǎn)品分類、分級、基本參數(shù)和要求，并補充和完善試驗方法。修訂后，對滿足市場需求、指導產(chǎn)品生產(chǎn)、提高產(chǎn)品技術性能和質量水平，促進行業(yè)高質量發(fā)展提供可靠的技術支撐。1JB/T8232—XXXX本文件規(guī)定了自準直儀的類型、基本參數(shù)和技術要求，描述了相應的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存。本文件適用于測量小角度的自準直儀的制造。本文件不適用于激光自準直儀。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T191包裝儲運圖示標志GB/T2828.1計數(shù)抽樣試驗程序第1部分：按接收質量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T2831-2009光學零件的面形偏差GB/T6388運輸包裝收發(fā)標志GB/T9969工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則GB/T11162光學分劃零件通用技術條件GB/T14436工業(yè)產(chǎn)品保證文件總則GB/T15464儀器儀表包裝通用技術條件GB/T25480-2010儀器儀表運輸、貯存基本環(huán)境條件及試驗方法3術語和定義本文件沒有需要界定的術語和定義。4類型4.1依據(jù)瞄準和讀取示值（以下簡稱讀數(shù)）的不同方式，自準直儀具有下列類型：a)鼓輪讀數(shù)式自準直儀。該類型又分為兩種型式，其中，人眼通過目鏡瞄準自準像，在測微鼓輪上讀數(shù)的，被稱為光學自準直儀；采用光電器件，借助電表指零瞄準自準像，在測微鼓輪上讀數(shù)的，被稱為光電自準直儀；b)數(shù)字式自準直儀。其特征是：采用CCD或其它光電器件探測自準像位置，無需進行瞄準，直接在數(shù)顯表或顯示屏上讀數(shù)。4.2依據(jù)讀數(shù)系統(tǒng)的維數(shù)，自準直儀具有下列兩種類型；a)單軸自準直儀。其特征是：具有單一坐標讀數(shù)系統(tǒng)；b)雙軸自準直儀。其特征是：具有方向相互垂直的兩個坐標讀數(shù)系統(tǒng)。4.3依據(jù)示值的單位，光學自準直儀可分為以（"）為單位和以mm/m為單位兩種類型；后者也被稱為平直度檢查儀。光電自準直儀以（"）為示值單位；數(shù)字式自準直儀的示值以（"）單位，并具有切換成以mm/m為單位的功能。4.4依據(jù)技術指標的高低，自準直儀（以下簡稱：儀器）可分為1、2、3級。5基本參數(shù)5.1儀器的基本參數(shù)如表1所示。2JB/T8232—XXXX1—12——3—45以mm/m為示值單位的自準直儀的測量范圍 或6m以上測量范圍條件下,允許的最大工作距離，由5.2下列儀器附件，可由制造商部分或全部提供。帶座反射鏡、五棱鏡、尋像器等。6技術要求6.1主要技術指標儀器的主要技術指標應符合表2的規(guī)定。1數(shù)字式自準直儀和光電自準 2 2光學自準直儀的示值最大允——3 4—5—673JB/T8232—XXXX89 Ne—ΔNf—b6.2尋像器的尋像性能儀器在最大工作距離條件下，調整儀器或反射鏡時，對于合像式尋像器，應能方便地使尋像器的雙像重合；對于激光尋像器，應能方便地使尋像器所發(fā)射的激光束，經(jīng)反射回到發(fā)射小孔中。此時，撤除尋像器，儀器的自準像應位于視場(或顯示屏)中央的2/3范圍內。6.3電氣安全性能6.3.1耐壓耐壓試驗的試驗電壓應符合表3的規(guī)定。對儀器施加電壓，保持5s，應無擊穿和飛弧現(xiàn)象。交流、直流試驗方式可任選其一，能通過二者之一即可。一般情況選擇交流試驗；如果為了避免容性電流，可選擇直流試驗。VVVV6.3.2泄漏電流受試儀器在常溫常濕條件下的泄漏電流不應大于1mA。6.3.3接地電阻帶有電源輸入插座的受試儀器，在插座中的保護接地點與儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.1Ω。帶有不可拆卸電源線的受試儀器，電源線插頭中的保護接地腳與儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.2Ω。6.4儀器外觀及各部分相互作用4JB/T8232—XXXX6.4.1儀器外表電鍍表面不應有脫皮和斑點存在；表面涂覆層不應有磕碰傷和顯著的顏色不均勻；零件表面不應有毛刺；外部零件銳邊應倒棱；零件接合處應齊整。6.4.2裸露金屬面不應有銹蝕、碰傷和顯著的劃痕，以及影響測量的其它缺陷。6.4.3光學零件的表面不應有明顯的擦痕、麻點、水珠、霉點等疵??；光學零件的膠合面不應有氣泡和脫膠現(xiàn)象。6.4.4儀器的光學系統(tǒng)成像應清晰。視場內的自準像相對于指標線不應有可覺察的偏斜和視差。視場內不應有影響觀察的陰影、亮斑和異物。6.4.5測微鼓輪的刻度線寬度應與指標線寬度相等；當0刻度與指標線對齊時，目鏡視場中的讀數(shù)標尺應與指標線對齊6.4.6光學分劃元件和測微鼓輪上的刻度和刻字的技術要求應符合GB/T11162的規(guī)定。6.4.7單軸自準直儀的鏡筒或測微目鏡應能繞其軸線旋轉90°,并能可靠定位；定位后，仍保持視場內的自準像相對于指標線無可覺察的偏斜和視差。如果旋轉前將自準像調整在視場中央，旋轉后，自準像與視場中央的偏離量，應不大于視場半徑的1/3。6.4.8帶座反射鏡反射面的口徑應大于自準直儀物鏡的通光孔徑。6.4.9所有緊固零件應保證緊固可靠。6.4.10儀器上所有刻度、刻字以及銘牌標記應清晰、明顯。6.4.11數(shù)字式自準直儀數(shù)顯面板的功能鍵應靈敏、可靠，標注符號或圖文應清晰且含義準確、易懂。6.4.12各活動部分的移動和轉動應平穩(wěn)舒適，不應有卡住和急跳現(xiàn)象。6.4.13所有附件裝卸和調整應方便、可靠。6.5運輸貯存基本環(huán)境試驗儀器在運輸包裝條件下的環(huán)境模擬試驗應按GB/T25480的規(guī)定。其中選用：高溫+55℃,低溫-40℃,交變濕熱試驗相對濕度95%，自由跌落4次，跌落高度按包裝件質量選定。7試驗方法7.1試驗條件7.1.1儀器檢驗溫度條件應符合表4的規(guī)定。7.1.2檢驗時的供電電源交流電壓應滿足（220±22）V。1℃23h7.21級數(shù)字式自準直儀的示值最大誤差7.2.1測量器具檢驗所用測量器具如下：c)1級激光小角度測量儀（以下簡稱測量儀）；d)轉臺；e)多齒分度臺（以下簡稱齒臺）；f)帶座反射鏡。7.2.2試驗程序±20"示值范圍以內，檢測點的間隔設置為2.5"；±20"示值范圍以外，檢測點的間隔設置為20"。5JB/T8232—XXXXii示值正方向87值負方向如圖1所示，將齒臺放在轉臺上，并使其示值為0，再將測量儀的反射鏡組安裝在轉臺上，校正三者轉動中心同心，其偏心差應不大于5μm。如圖1所示，在轉臺外側安裝測量儀的分光鏡組，必須通過校正，使其兩測量臂的光程相等，以便確定測量儀的示值0點。其方法是先將測量儀示值暫時清0，用齒臺產(chǎn)生+5°和-5°的轉角，讀取測量儀的示值，若二示值之差的絕對值大于0.00002°，則應使齒臺回到0位，試探性微調轉臺，使之略微旋轉角度φ0，將測量儀重新清0后，重復以上程序。若二示值之差的絕對值仍大于0.00002°，則根據(jù)下列幾種情況，做出相應調整：若測得二示值之差的符號與先前相同，絕對值減小，說明先前轉臺轉角φ0的微調方向正確，而量不足；則應繼續(xù)同向微調轉臺，重復上述程序；若測得二示值之差的符號與先前相同，絕對值不減反增，說明先前轉臺轉角φ0的微調方向相反；則應使齒臺回到0位，反向微調轉臺，重復上述程序；若測得二示值之差的符號與先前相反，說明先前轉臺微調角度φ0過量，則應使齒臺回到0位，減小微調量，同向微調轉臺，重復上述程序；如此反復調整，直至測量儀讀取的二示值之差絕對值小于0.00002°，此時的測量儀示值0點被確認，在以下程序中，測量儀不得再進行清0操作。6JB/T8232—XXXX如圖1所示，在轉臺上安裝帶座反射鏡（以下簡稱：反射鏡使其反射面中點法線通過轉臺中心。安裝被檢儀器，使其準直光束對準反射鏡的反射面，工作距離約100mm，且受檢示值的測量方向位于水平方向。調節(jié)被檢儀器方位，使自準像位于儀器垂直和水平方向測量范圍的中點，將其示值清0（對于具有絕對坐標功能的儀器，可直接選擇ABS顯示模式，調節(jié)受檢儀器方位，使示值為0即可，無需清0操作）。微調轉臺，使被檢儀器示值依次為2.5"，5"，7.5"，……，17.5"，20"，讀取測量儀在相應位置處的示值Ci，按公式（1）計算示值正方向各檢測點的示值誤差。Δki=ki?Ci×3600·················································(1)式中：Δki——第i號檢測點儀器的示值誤差，單位為秒（"ki——第i號檢測點儀器的示值，單位為秒（"Ci——第i號檢測點測量儀的示值，單位為度（。）。微調轉臺，使被檢儀器示值依次為-2.5"，-5"，-7.5"，??，-17.5"，-20"，讀取測量儀在相應位置處的示值k-i，按公式（1）計算示值~負方向各檢測點的示值誤差。以正、負示值方向序號i=(-44)范圍內的Δki中最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±10"范圍內的示值最大誤差。以所有Δki中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±20"范圍內的示值最大誤差。仿照以上程序和表5規(guī)定的示值檢測點位置，對儀器±20"范圍以外的示值誤差進行檢驗，以全部測量范圍內所有檢測點示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±300"測量范圍內的示值最大誤差。為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（1）進行計算。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.32級數(shù)字式自準直儀和光電自準直儀的示值最大誤差7.3.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)指示計中心距為（500±0.05）mm的小角度檢查儀；b)兩只光學計（作為小角度檢查儀的指示計）；c)帶座反射鏡；d)1mm和表6所列尺寸的三等量塊。7.3.2試驗程序檢測點的間隔設置為20.6"。對于測量范圍大于200"的儀器，試驗程序應分組進行。例如：檢驗測量范圍為(0~600)"的儀器時，可將全部測量范圍的示值分為三組，分別進行檢驗；每組11個檢測點，利用每組的最后一個檢測點與下一組起始檢測點位置相互重合的設置，將三組示值檢驗數(shù)據(jù)進行銜接。各檢測點儀器示值代號及所使用的預置量塊尺寸如表6所示。7JB/T8232—XXXXij=1j=2j=30k01=0k02=k101k03=k1021k11k12k132k21k22k233k31k32k334k41k42k435k51k52k536k61k62k637k71k72k738k81k82k839k91k92k93k101k102—對于測量范圍小于(0～600)"的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測點終止。如圖2所示，在小角度檢查儀橫梁一端安裝帶座反射鏡（以下簡稱：反射鏡），將被檢儀器安置在小角度檢檢查儀外端，但二者必須位于同一基體上；將被檢儀器適當墊高，使其準直光束對準反射鏡的反射面，工作距離約100mm，且被檢驗的測量方向位于垂直方向。先檢驗第1組示值。在光學計A測量頭下方預置1.0mm量塊，在光學計B測量頭下方預置1.5mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。再調整被檢儀器的調平裝置，使被檢儀器示值位于測量范圍的0點。撤去光學計B測量頭下方的1.5mm量塊，按表6的順序依次換上i=1，2，……，9，10號量塊；調節(jié)量塊升降機構，使光學計A和B的示值為0。讀取示值ki，j。按公式（2）計算第1組各檢測點的示值誤差。8JB/T8232—XXXX在檢驗以后各組示值時，被檢儀器起始檢測點的示值應保持在上一組最后一個示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（3）計算第2、3、4組各檢測點的示值誤差。Δki,1=ki,1-........................................................................Δki,j=ki,j-k0,j-+Δk10.............................................................式中：Δki，j——檢測點的示值誤差（i為檢測點序號，j為組序號單位為秒（"ki，j——檢測點的儀器示值，單位為秒（"）lb0——量塊檢定證書上給定的0號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書上給定的i號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmρ——1弧度所對應的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。所有檢測點中，任意4個相鄰示值誤差為一組，找出組內示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差最大一組，以該組示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差，作為被檢儀器任意60"范圍內的示值最大誤差。以所有檢測點示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差，作為被檢儀器(0~600)"范圍內的示值最大誤為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki，j可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（2）、（3）進行計算。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.4光學自準直儀測微鼓輪一周內的示值最大誤差7.4.1測量器具檢驗所用測量器具如下：b)兩塊1.0mm量塊或表8所列尺寸的三等量塊。7.4.2適用于以（"）為示值單位的光學自準直儀的試驗程序測微鼓輪轉動一周內設置的檢測點數(shù)應不少于6個，具體設置的檢測點數(shù)，視被檢儀器測微鼓輪的分度值和一周的測量范圍而定。例如：檢驗分度值為1"，測微鼓輪一周為60"的儀器時，可將檢測點間隔設為10（格），共7個檢測點，各檢測點光學計A和B所預置的示值如表7所示。i0000102030456按7.3.2和圖2配置測量器具和被檢儀器。9JB/T8232—XXXX在光學計A、B測量頭下方分別預置1.0mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。轉動被檢儀器測微鼓輪，使其示值為0，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。然后，調節(jié)量塊升降機構，使光學計A、B依次達到表7序1~6規(guī)定的預置示值，轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取鼓輪示值ki。按公式（4）計算各檢測點的示值誤差。Δki=ki-..........................................................................式中：Δki——第i號檢測點的示值誤差，單位為秒（"kj——第i號檢測點被檢儀器的示值，單位為秒（"ki——光學計A的預置示值，單位為毫米（mmBi——光學計B的預置示值，單位為毫米（mm）。ρ——1弧度所對應的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按7.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。取測微鼓輪一周內所有檢測點示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（4）進行計算。對儀器測量范圍的首、中、尾，各選測微鼓輪一周，進行檢驗。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.4.3適用于分度值為0.005mm/m的光學自準直儀的試驗程序檢測點間隔設定為20（格），一周共6個檢測點，各檢測點所使用的預置量塊尺寸如表8所示。i0012345按7.3.2和圖2配置測量器具和被檢儀器。在光學計A測量頭下方預置1.0mm量塊，在光學計B測量頭下方預置1.5mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。轉動被檢儀器測微鼓輪，使其示值為0，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。撤去光學計B測量頭下方的量塊，按表8順序，將表中對應的量塊依次預置于光學計B測量頭下方；調節(jié)量塊升降機構，使光學計A和B的示值為0，然后轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取鼓輪示值ki。按公式（5）計算各檢測點的示值誤差。Δki=ki-.......................................................................式中：Δki——第i號檢測點的示值誤差，單位為mm/mm；kj——第i號檢測點被檢儀器的示值，單位為mm/m；lbi——量塊檢定證書上給定的i號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書上給定的0號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。JB/T8232—XXXX取測微鼓輪一周內所有檢測點示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（5）進行計算。對儀器測量范圍的首、中、尾，各選測微鼓輪一周，進行檢驗。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.4.4適用于分度值為0.0025mm/m的光學自準直儀的試驗程序由于儀器的測微鼓輪一周的實有刻度為100格，而鼓輪所標數(shù)字為“50”，為了方便讀數(shù)和計算，本項檢驗所涉及的格數(shù)，以所標數(shù)字為準，短刻線被視為“半格”。檢測點間隔設定為10（格），一周共6個檢測點，各檢測點光學計A和B所預置的示值，如表7序0~5所示。按7.3.2和圖2配置測量器具和被檢儀器。在光學計A、B測量頭下方分別預置1.0mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。轉動被檢儀器測微鼓輪，使其示值為0，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。然后，調節(jié)量塊升降機構，使光學計A、B達到表7序1~5規(guī)定的預置示值，轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取鼓輪示值ki。按公式（6）計算各被檢點的示值誤差。Δki=ki.......................................................................式中：Δki——第i號檢測點的示值誤差，單位為mm/m；kj——第i號檢測點被檢儀器的示值，單位為mm/m；Ai——光學計A的預置示值，單位為毫米（mmBi——光學計B的預置示值，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。取測微鼓輪一周內所有檢測點示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（6）進行計算。對儀器測量范圍的首、中、尾，各選測微鼓輪一周，進行檢驗。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.5光學自準直儀全部測量范圍內的示值最大誤差7.5.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)同第6.3.1條的a)、b)、c)項；b)表9或表10或表11所列尺寸的三等量塊；c)對于沒有調平裝置的被檢儀器，被檢儀器下方應墊入輔助調平裝置。7.5.2適用于以（"）為示值單位的光學自準直儀的試驗程序測微鼓輪每轉動一周，設置一個檢測點。試驗程序的分組和所用量塊，視被檢儀器的測量范圍而定。例如：檢驗測微鼓輪一周為60"，測量范圍為(0~600)"的儀器時，可將全部測量范圍的示值分為四組，分別進行檢驗。利用每組的最后一個檢測點與下一組起始檢測點位置相互重合的設置，將四組示值檢驗數(shù)據(jù)進行銜接。各檢測點儀器示值代號及所使用的預置量塊尺寸如表9所示。ij=1j=2j=3j=40k03=k32k04=k3301k11k12k13JB/T8232—XXXX2k21k22k23—3k31k32k33 對于測量范圍小于（0~600）"的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測點終止。按7.3.2和圖2配置測量器具和被檢儀器。先檢驗第1組示值。在光學計A測量頭下方預置1.0mm量塊，在光學計B測量頭下方預置1.5mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。調整被檢儀器測微鼓輪，使儀器示值位于測量范圍的0點，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。撤去光學計B測量頭下方的量塊，按表9的順序，將表中對應的量塊依次預置于光學計B的測量頭下方；調節(jié)量塊升降機構，使光學計B的示值為表9規(guī)定的示值，光學計A的示值保持為0；然后轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取示值ki，j。按公式（7）計算第1組各檢測點的示值誤差。在檢驗以后各組示值時，被檢儀器測微鼓輪起始檢測點的示值，應保持在上一組最后一個示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（8）計算第2、3、4組各檢測點的示值誤差。Δki,1=ki,1..................................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk3......................................................式中：Δki，j——檢測點的示值誤差（i為檢測點序號，j為組序號單位為秒（"ki，j——檢測點的儀器示值，單位為秒（"）lb0——量塊檢定證書上給定的0號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書上給定的i號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmGi——光學計B的預置示值，單位為毫米（mm）；ρ——1弧度所對應的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。以所有檢測點示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測量范圍內的示值最大誤為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki，j可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（7）、（8）進行計算。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.5.3適用于分度值為0.005mm/m的光學自準直儀的試驗程序對于測量范圍為（0~1600)i的被檢儀器，將全部測量范圍的示值劃分為四組，分別進行檢驗；每組5個檢測點，測微鼓輪每轉動一周，設置一個檢測點。利用每組的最后一個檢測點與下一組起始檢測點位置相互重合的設置，將四組示值檢驗數(shù)據(jù)進行銜接。試驗程序中，各檢測點所使用的預置量塊尺寸，如表10所示。i001234JB/T8232—XXXX對于測量范圍小于（0~1600)i的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測點終止。按7.3.2和圖2配置測量器具和被檢儀器。先檢驗第1組示值。在光學計A測量頭下方預置1.0mm量塊，在光學計B測量頭下方預置2.5mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。調整被檢儀器測微鼓輪，使儀器示值位于測量范圍的0點，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。撤去光學計A和B測量頭下方的量塊，按表10的順序，將表中的量塊依次預置于光學計A和B的測量頭下方；調節(jié)量塊升降機構，使光學計A和B的示值為0，然后轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取示值ki，j。按公式（9）計算第1組各檢測點的示值誤差。在檢驗以后各組示值時，被檢儀器測微鼓輪起始檢測點的示值，應保持在上一組最后一個示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（10）計算每組各檢測點的示值誤差。Δki,1=ki,1.............................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk4,................................................式中：Δki，j——檢測點的示值誤差（i為檢測點序號，j為組序號），單位為mm/m；ki，j——檢測點的儀器示值，單位為mm/m；lai——量塊檢定證書上給定的i號量塊a的中心長度，單位為毫米（mmla0——量塊檢定證書上給定的0號量塊a的中心長度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書上給定的i號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書上給定的0號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。以所有檢測點示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測量范圍內的示值最大誤為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki，j可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（9）和（10）進行計算。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按此程序進行檢驗。7.5.4適用于分度值為0.0025mm/m的光學自準直儀的試驗程序由于儀器的測微鼓輪一周的實有刻度為100格，而鼓輪所標數(shù)字為“50”，為了方便讀數(shù)和計算，本項檢驗所涉及的格數(shù)以所標數(shù)字為準，短刻線被視為“半格”。將全部測量范圍的示值等分為兩組，分別進行檢驗；每組7個檢測點，測微鼓輪每轉動一周，設置一個檢測點。利用每組的最后一個檢測點與下一組起始檢測點位置相互重合的設置，將兩組示值檢驗數(shù)據(jù)進行銜接。試驗程序中，各檢測點所使用的量塊尺寸和光學計B的預置示值，如表11所示。i000120340560JB/T8232—XXXX按7.3.3和圖2配置測量器具和被檢儀器。先檢驗第1組示值。在光學計A量頭下方預置1.0mm量塊，在光學計B測量頭下方預置2.5mm量塊，調整光學計A和B，使其示值為0。轉動被檢儀器測微鼓輪，使其示值為0，再調整被檢儀器調平裝置，使被檢儀器瞄準自準像。撤去光學計A和B測量頭下方的量塊，按表11的順序，將表中的量塊依次預置于光學計A和B測量頭下方；調節(jié)量塊升降機構，使光學計A的示值為0，預置光學計B的示值為表11所規(guī)定的示值，然后轉動被檢儀器測微鼓輪，瞄準自準像并讀取示值ki，j。按公式（11）計算第1組各檢測點的示值誤差。在檢驗第2組示值時，被檢儀器測微鼓輪起始檢測點的示值，應保持在上一組最后一個示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（12）計算每組各檢測點的示值誤差。Δki,1=ki,1......................................................Δki,2=ki,2k0.2+Δk6,1.............................................式中：Δki，j——檢測點的示值誤差（i為檢測點序號，j為組序號），單位為mm/m；ki，j——檢測點的儀器示值，單位為mm/m；Gi——光學計B的預置示值，單位為毫米（mmlai——量塊檢定證書上給定的i號量塊a的中心長度，單位為毫米（mmla0——量塊檢定證書上給定的0號量塊a的中心長度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書上給定的i號量塊b的中心長度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書上給定的0號量塊b的中心長度，單位為毫米（mm）L——小角度檢查儀兩指示計安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測量器具為L=500mm。以所有檢測點示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測量范圍內的示值最大誤為了減小測量誤差，對于每一個檢測點示值ki,j可以進行正測和反測，取其示值的平均值代入公式（11）、（12）進行計算。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.6含有回程誤差的測微鼓輪示值重復性7.6.1測量器具帶座反射鏡和1級平板。7.6.2試驗程序將被檢儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調整儀器方位，使自準像位于視場中央。按示值遞增方向轉動測微鼓輪，瞄準自準像，重復5次；再按示值遞減方向轉動鼓輪，瞄準自準像，重復5次，正、反向10次讀數(shù)（以格數(shù)為單位）的最大與最小值之差，即為含有回程誤差的測微鼓輪的示值重復性。檢驗應在儀器示值范圍的兩端和中間三個位置上進行。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.7數(shù)字式自準直儀示值重復性按7.6.2安置測量器具和被檢儀器，利用一塊遮光板遮擋準直光束，再移開，觀察每次重新顯示的示值；反復5次，取其中示值最大值與最小值之差，作為示值重復性。7.8數(shù)字式和光電自準直儀工作2h內的示值漂移7.8.1測量器具JB/T8232—XXXX7.8.2試驗程序將被檢儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調整儀器方位，使自準像位于視場中央。對于數(shù)字式自準儀，直接讀取示值；對于光電自準儀，轉動測微鼓輪，瞄準自準像，讀取儀器示值。監(jiān)視儀器在2h內的示值變化，以最大變化量作為檢驗結果。對于雙軸自準直儀，每一個測量方向均應按以上程序進行檢驗。7.9光電自準直儀瞄準時由于調節(jié)靈敏度所引起的電表指零變化7.9.1測量器具同6.6.1。7.9.2試驗程序將被檢儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調整儀器方位，使自準像位于視場中央。將靈敏度調整至最高，轉動測微鼓輪瞄準自準像，使電表指零，讀取儀器示值。然后緩慢減低靈敏度，觀察電表指零變化，并找到指針偏轉最大處，轉動測微鼓輪，使電表指零，再次讀取儀器示值，以該示值與先前讀得示值之差作為檢驗結果。7.10在最大工作距離測量條件下的測量范圍7.10.1測量器具帶座反射鏡。1.1.1試驗程序將帶座反射鏡放在被檢儀器最大工作距離處；調整帶座反射鏡方位，使自準像位于視場中央。微調帶座反射鏡，使其偏轉±1ˊ或偏轉到基本參數(shù)規(guī)定的測量范圍的上下限，儀器應能正常讀數(shù)。7.11自準直光束的平行性對示值的影響7.11.1測量器具7.6.1所列測量器具和專用光欄板（參見附錄A）。7.11.2試驗程序將被檢儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約300mm，調整儀器方位，使之自準像位于視場中央；將專用光欄板置于二者之間，并使板上一個通光孔對準儀器光軸（參見圖3a）瞄準自準像，讀取儀器初始示值。移動專用光欄板，使通光孔分別位于偏離儀器光軸的上、下、左、右四個位置，其偏離量為10mm（參見圖3b），讀取各位置上的儀器示值與初始示值之差，其中的最大差值（對于以mm/m為示值單位的儀器，按0.005mm/m相當于1"折算），就是自準直光束的平行性對示值的影響。a)7.12基座圓形水準器的正確性7.12.1測量器具JB/T8232—XXXX帶座反射鏡和水平儀零位檢定器。7.12.2試驗程序被檢儀器和帶座反射鏡放在水平儀零位檢定器平臺上；調整儀器方位，使之自準像位于視場（或顯示器窗口）中央，并使反射鏡左右擺動，使自準像位于視場兩邊緣時的示值之差小于5"。調整水平儀零位檢定器，使儀器基座圓形水準器的氣泡應在分劃圈中央。將儀器在平臺上原地調頭180°,儀器基座圓形水準器的氣泡應仍在分劃圈中央。7.13讀數(shù)系統(tǒng)測量方向的偏差7.13.1測量器具1級平板和角度90°±5"、工作面粗糙度Ra≤0.1μm的直角鐵；7.13.2試驗程序將被檢儀器和直角鐵放在已調整至水平的平板上，工作面距離約100mm；對于具有調平裝置的儀器，應調整儀器至水平；對于不具備調平裝置的儀器，應使儀器基座底面直接與平板工作面接觸。左右擺動直角鐵，使自準像先后位于視場（或顯示器窗口）左邊緣和右邊緣，并分別讀取示值，兩示值之差（對于以μm/mm為示值單位的儀器，按1μm/200mm相當于1"折算）即為讀數(shù)系統(tǒng)測量方向的偏差。7.14視軸對儀器底面的平行度7.14.1測量器具同7.13.1。7.14.2試驗程序將被檢儀器放在平板上，并使其基座底面直接與平板工作面接觸；將直角鐵放在相距被檢儀器約100mm處，并使其工作面朝向被檢儀器物鏡。左右擺動直角鐵，使自準像位于視場中央，讀取當前示值，該示值與測量范圍中點示值之差（對于以μm/mm為示值單位的儀器，按1μm/200mm相當于1"折算即為視軸對儀器底面的平行度。7.15帶座反射鏡反射面的面形偏差7.15.1測量器具平面干涉儀7.15.2試驗程序將被檢反射鏡放在平面干涉儀上，按GB/T2831-2009的附錄B的方法檢驗面形偏差。7.16帶座反射鏡反射面與鏡座的垂直度7.16.1測量器具檢驗所用測量器具如下：b)示值最大誤差不大于1"的自準儀；c)平行度不大于0.005mm的平行墊塊。7.16.2試驗程序將自準直儀和直角鐵放在平板上，調整儀器方位，使經(jīng)直角鐵反射的自準像位于視場中央，瞄準自準像，并讀取示值；撤去直角鐵，換上帶座反射鏡，用儀器瞄準自準像，并讀取示值；與先前讀取的示值之差，即為帶座反射鏡反射面與底面的垂直度。將帶座反射鏡側面朝下，墊上平行墊塊，置于平板上，按以上程序對帶座反射鏡反射面與底面的垂直度進行檢驗。JB/T8232—XXXX7.17五棱鏡光軸偏轉角90°的偏差7.17.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)示值最大誤差不大于0.5"的自準儀；b)1級平板；c)二塊帶座反射鏡。7.17.2試驗程序如圖4所示，將被檢五棱鏡、自準直儀和二塊帶座反射鏡放在平板上，使四者光軸等高。先使自準直儀位于Ⅰ位置，五棱鏡位于a位置，調整反射鏡1的方位，使經(jīng)其反射的自準像位于自準儀視場中央并處于瞄準狀態(tài)，讀取示值α1。然后將五棱鏡翻轉180°,使之位于b位置；調整反射鏡2的方位，使經(jīng)其反射的自準像被自準儀瞄準，且自準直儀示值仍保留在α1。此時，兩反射鏡位置被固定，不得再作任何調整。將自準直儀移到對面的Ⅱ位置，并使五棱鏡位于c位置；調整自準直儀方位，使之瞄準經(jīng)反射鏡1反射的自準像，自準直儀示值仍保留在α1。然后將五棱鏡翻轉180°,使之位于d位置，瞄準經(jīng)反射鏡2反射的自準像，讀取示值α2，按公式（13）計算五棱鏡光軸偏轉角90°的偏差。Δ90=..............................................................................(13)式中：Δ90——五棱鏡光軸偏轉角90°的偏差，單位為秒（"）；α1——五棱鏡位于a位置時，自準直儀的示值，單位為秒（"α2——五棱鏡位于d位置時，自準直儀的示值，單位為秒（"）。7.18尋像器的尋像性能按6.2的要求進行檢驗。7.19電氣安全性能試驗7.19.1耐壓試驗7.19.1.1試驗工具具有耐壓檢測功能的測試儀，其測試電壓AC/DC范圍為(0～3)