GB∕T 43535-2023 高純鍺γ譜儀（正式版）

高純鍺γ譜儀2023-12-28發(fā)布國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)IGB/T43535—2023 l2規(guī)范性引用文件 13術(shù)語(yǔ)和定義 14分類 34.1概述 34.2固定式譜儀 34.3便攜式譜儀 45技術(shù)要求 45.1固定式譜儀要求 45.2便攜式譜儀要求 75.3電氣安全 5.4環(huán)境適應(yīng)性 5.5電磁兼容 6試驗(yàn)方法 6.1試驗(yàn)的一般規(guī)定 6.2固定式譜儀 6.3便攜式譜儀 6.4電氣安全 6.5環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 6.6電磁兼容 7檢驗(yàn)規(guī)則 7.1出廠檢驗(yàn) 7.2型式檢驗(yàn) 7.3檢驗(yàn)項(xiàng)目 8.1標(biāo)志 8.2隨行文件 8.4貯存 參考文獻(xiàn) Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SCA/TC30)提出并歸口。本文件起草單位：同方威視技術(shù)股份有限公司、清華大學(xué)、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、中國(guó)原子能科學(xué)研究院。1高純鍺γ譜儀本文件規(guī)定了高純鍺γ譜儀(以下簡(jiǎn)稱“譜儀”)的分類、技術(shù)要求，描述了試驗(yàn)方法，同時(shí)對(duì)檢驗(yàn)規(guī)本文件適用于具有同軸型半導(dǎo)體探測(cè)器(以下簡(jiǎn)稱“同軸型”)的高純鍺γ譜儀的生產(chǎn)、銷售、管理和檢測(cè)等。用于特殊或定制場(chǎng)景的其他類型高純鍺γ譜儀參考使用。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB/T2423.56環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則GB/T2900.66—2004電工術(shù)語(yǔ)半導(dǎo)體器件和集成電路GB/T2900.97—2016電工術(shù)語(yǔ)核儀器物理現(xiàn)象、基本概念、儀器、系統(tǒng)、GB/T3785.1電聲學(xué)聲級(jí)計(jì)第1部分：規(guī)范GB/T4208外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)GB4793.1測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第1部分：通用要求GB/T4960.6—2008核科學(xué)技術(shù)術(shù)語(yǔ)第6部分：核儀器儀表GB/T7167鍺γ射線探測(cè)器測(cè)試方法GB/T8993—1998核儀器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法GB/T13306標(biāo)牌GB/T17626.2電磁兼容測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.5電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.8電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB17799.4電磁兼容第4部分：通用標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射JJF1850—2020鍺γ射線譜儀校準(zhǔn)規(guī)范3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T2900.66—2004、GB/T2900.97—2016、GB/T4960.6—2008和JJF1850—2020界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。雜質(zhì)impurity單元素半導(dǎo)體中的其他元素的原子；化合物半導(dǎo)體中的其他元素的原子或與化合物半導(dǎo)體晶體理2想配比成分相比多出或缺少的原子。對(duì)材料的電學(xué)性質(zhì)有顯著影響的雜質(zhì)。在室溫下，電活性雜質(zhì)凈濃度穩(wěn)定且典型值小于3×101°cm-3的鍺單晶。N型半導(dǎo)體N-typesemiconductor導(dǎo)電電子密度超過空穴密度的非本征半導(dǎo)體?？昭芏瘸^導(dǎo)電電子密度的非本征半導(dǎo)體。同軸型半導(dǎo)體探測(cè)器coaxialsemiconductordetector其靈敏體積對(duì)稱環(huán)繞中心軸的半導(dǎo)體探測(cè)器。將常規(guī)液氮與電氣制冷相結(jié)合的制冷系統(tǒng)。注：將容器內(nèi)氣態(tài)的氮?dú)饫淠秊橐旱?，很大程度上減少了補(bǔ)充液氮的需求。半高寬fullwidthathalfmaximum;FWHM在單峰構(gòu)成的分布曲線上，峰值一半處曲線上兩點(diǎn)的橫坐標(biāo)間的距離。注：如果曲線包含幾個(gè)峰，則每個(gè)峰都有一個(gè)半高寬。另外，由此術(shù)語(yǔ)還擴(kuò)展定義了1/10高寬(FW0.1M),1/50高寬(FW0.02M)等。[來源：GB/T4960.6—2008,3.2.27,有修改]全吸收峰totalabsorptionpeak全能峰在輻射探測(cè)器中，能譜響應(yīng)曲線對(duì)應(yīng)光子能量全吸收的那部分。注：全吸收峰代表所有相互作用過程所產(chǎn)生的光子能量全被吸收，即：a)光電吸收，b)康普頓效應(yīng)和c)電子對(duì)生成。全能峰效率full-energypeakefficiency對(duì)給定的樣品(放射源)-探測(cè)器距離，測(cè)得的能量為E的γ射線全能峰凈面積計(jì)數(shù)與同一時(shí)間間隔內(nèi)樣品(放射源)發(fā)射該能量γ射線數(shù)的比值。3相對(duì)探測(cè)效率在源-探測(cè)器距離為25cm時(shí)，鍺γ射線探測(cè)器與NaI(Tl)閃爍晶體(直徑7.62cm,高度7.62cm)探測(cè)器對(duì)“Co點(diǎn)源1332.5keV射線的全能峰效率之比。本底源于被測(cè)輻射之外的信號(hào)。a)探測(cè)器內(nèi)、外非測(cè)量所關(guān)注的源輻射產(chǎn)生的對(duì)測(cè)量有影響的信號(hào)。b)由于該測(cè)量系統(tǒng)的電子電路及其電源的缺陷導(dǎo)致的信號(hào)。能量分辨力(輻射譜儀的)energyresolution(ofaradiationspectrometer)輻射譜儀能分辨的兩個(gè)粒子能量之間的最小差值。注1:通常情況下能量分辨率用一個(gè)因子表示，該因子是在單能粒子分布曲線峰的半高寬(能量)除以峰位的能量。注2:對(duì)于高純鍺γ譜儀，能量分辨力一般用半高寬(FWHM)表示。峰康比peak-to-Comptonratio在單能γ輻射的脈沖高度譜上，全能吸收峰的峰位道計(jì)數(shù)與康普頓連續(xù)譜的康普頓端的道計(jì)數(shù)之比。4分類譜儀按照使用場(chǎng)景，可分為固定式譜儀和便攜式譜儀。4.2固定式譜儀固定式譜儀為放射性物質(zhì)分析設(shè)備，一般放置在固定場(chǎng)所使用，可匹配屏蔽裝置，使探測(cè)器在低本底環(huán)境下使用。集能譜采集、能譜分析、活度計(jì)算等功能于一體。固定式譜儀組成主要包括探測(cè)器、多道分析器、制冷系統(tǒng)、屏蔽裝置、計(jì)算機(jī)、能譜采集與分析軟件等。其中，制冷系統(tǒng)根據(jù)不同的制冷方式，可分為液氮制冷、液氮回凝制冷以及電制冷；譜儀探測(cè)器可分為同軸型、平面型、井型等，同軸型又分為P型半導(dǎo)體(以下簡(jiǎn)稱“P型”)和N型半導(dǎo)體(以下簡(jiǎn)稱“N本文件中的內(nèi)容是對(duì)包含P型或N型同軸探測(cè)器、多道分析器、制冷系統(tǒng)、能譜采集與分析軟件的譜儀的要求。其余類型探測(cè)器的譜儀應(yīng)用于特定場(chǎng)景，使用較少；計(jì)算機(jī)為成熟產(chǎn)品；屏蔽裝置為選配件。這些部分以及其他選配件的性能要求，均由用戶和制造商自行約定。44.3便攜式譜儀便攜式譜儀是方便直接攜帶到現(xiàn)場(chǎng)使用的譜儀，主要用于能譜采集、核素識(shí)別和活度測(cè)量等。探測(cè)器、多道分析器、制冷單元、主控單元等部件均集于一體。其中，制冷單元根據(jù)不同的制冷方式，可分為電制冷和液氮制冷。便攜式譜儀可單獨(dú)使用，也可配合小推車、小尺寸屏蔽裝置使用。目前，便攜式譜儀的探測(cè)器一般使用P型同軸探測(cè)器，本文件是對(duì)配置P型同軸探測(cè)器便攜式譜儀的要求，其他類型譜儀和選配件的性能要求由用戶和制造商協(xié)商。5技術(shù)要求5.1固定式譜儀要求外觀應(yīng)完好無損，型號(hào)、編號(hào)等信息清晰可辨。固定式譜儀應(yīng)能夠采集能譜。固定式譜儀應(yīng)能進(jìn)行能量刻度，并顯示能量刻度曲線。固定式譜儀應(yīng)能進(jìn)行效率刻度，并顯示效率刻度曲線。固定式譜儀應(yīng)能測(cè)量樣品所含核素的活度，給出活度、不確定度等信息。5.1.2.5探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)及高壓保護(hù)當(dāng)探測(cè)器晶體溫度高于溫度閾值，固定式譜儀未加載高壓狀態(tài)下，應(yīng)能阻止加高壓；譜儀加載高壓狀態(tài)下，應(yīng)能自動(dòng)緩降探測(cè)器高壓直至關(guān)斷高壓。固定式譜儀宜有探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)功能，并能顯示其狀態(tài)。5.1.2.6液氮回凝制冷系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)及報(bào)警當(dāng)固定式譜儀使用液氮回凝制冷系統(tǒng)時(shí)，系統(tǒng)應(yīng)有狀態(tài)監(jiān)測(cè)功能，應(yīng)能顯示液位、氣壓等信息，并能在發(fā)生液位、氣壓等異常時(shí)觸發(fā)聲音以及光或字符報(bào)警。液氮回凝制冷系統(tǒng)應(yīng)設(shè)有安全泄壓閥，當(dāng)制冷腔內(nèi)氣壓過高時(shí)，應(yīng)能通過安全泄壓閥自動(dòng)泄壓。軟件基本功能包括以下內(nèi)容。a)應(yīng)能顯示能譜采集過程及被測(cè)樣品的γ能譜，且宜可進(jìn)行以下操作并顯示對(duì)應(yīng)信息：52)自動(dòng)尋峰，各能量峰上顯示能量等相關(guān)信息；3)設(shè)置感興趣區(qū)(ROI),顯示ROI范圍及其范圍內(nèi)峰的峰位、半高寬、計(jì)數(shù)率等信息；4)顯示采集起始時(shí)間、實(shí)時(shí)間、活時(shí)間及死時(shí)間等；5)顯示總計(jì)數(shù)率；6)以線性或?qū)?shù)方式顯示能譜；7)設(shè)置采集時(shí)長(zhǎng)；8)設(shè)置自動(dòng)循環(huán)采集能譜。b)應(yīng)能對(duì)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置：1)高壓設(shè)置；2)全譜道數(shù)選擇；3)輸入極性選擇；4)增益調(diào)整；5)成形時(shí)間設(shè)置；6)自動(dòng)/手動(dòng)極零；7)虛擬示波器。c)應(yīng)能查看核素庫(kù)內(nèi)容(包括核素、半衰期、射線能量、分支比等信息),可自定義用戶核素庫(kù)。d)應(yīng)能對(duì)采集的能譜進(jìn)行分析，生成分析報(bào)告，報(bào)告應(yīng)至少包括所用核素庫(kù)名稱、操作員、算法參數(shù)、能量刻度和效率刻度等信息，并給出特征峰分析結(jié)果，包括峰位(道址和能量)、半高寬、面對(duì)于不同相對(duì)探測(cè)效率的P型同軸探測(cè)器固定式譜儀，譜儀的能量分辨力、峰康比、峰形參數(shù)(FW0.1M/FWHM和FW0.02M/FWHM)應(yīng)滿足表1的要求。對(duì)于電制冷固定式譜儀，在122keV的能量分辨力要求可放寬20%。表1P型同軸探測(cè)器固定式譜儀指標(biāo)要求序號(hào)相對(duì)探測(cè)效率%能量分辨力(FWHM)keV峰康比峰形參數(shù)FW0.1M/FWHMFW0.02M/FWHM@122keV@1332.5keV1234567896表1P型同軸探測(cè)器固定式譜儀指標(biāo)要求(續(xù))序號(hào)相對(duì)探測(cè)效率%能量分辨力(FWHM)keV峰康比峰形參數(shù)@122keV@1332.5keV對(duì)于不同相對(duì)探測(cè)效率的N型同軸探測(cè)器固定式譜儀，當(dāng)使用液氮回凝制冷系統(tǒng)或者液氮制冷時(shí)，譜儀的能量分辨力、峰康比、峰形參數(shù)應(yīng)滿足表2的要求。表2N型同軸探測(cè)器固定式譜儀指標(biāo)要求序號(hào)相對(duì)探測(cè)效率%能量分辨力(FWHM)keV峰康比峰形參數(shù)FW0.1M/FWHMFW0.02M/FWHM@5.9keV@1332.5keV12345678975.1.3.2多道分析器總道數(shù)多道分析器的總道數(shù)不應(yīng)少于16384道。P型同軸探測(cè)器固定式譜儀能量范圍：低能不應(yīng)高于40keV;高能不應(yīng)低于3MeV,宜達(dá)到N型同軸探測(cè)器固定式譜儀能量范圍：低能不應(yīng)高于3keV;高能不應(yīng)低于3MeV,宜達(dá)到5.1.3.4能量非線性P型同軸探測(cè)器固定式譜儀在40keV～3MeV能量范圍內(nèi)，將γ射線能量與全能峰峰位進(jìn)行二次項(xiàng)擬合，其非線性不應(yīng)大于0.5%。N型同軸探測(cè)器固定式譜儀在3keV～3MeV能量范圍內(nèi)，將γ射線能量與全能峰峰位進(jìn)行二次項(xiàng)擬合，其非線性不應(yīng)大于0.5%。標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，且整個(gè)測(cè)試過程中溫度變化不超過2℃時(shí)，24h內(nèi)Co的1332.5keV全能峰的峰位漂移不應(yīng)超過多道總道數(shù)的0.025%。固定式譜儀探測(cè)器晶體常溫狀態(tài)下，從開始制冷到固定式譜儀正常工作狀態(tài)的時(shí)間不應(yīng)超過5.1.3.7液氮回凝制冷系統(tǒng)液氮使用時(shí)間持續(xù)供電的情況下，探測(cè)器晶體達(dá)到目標(biāo)溫度并穩(wěn)定后，液氮回凝制冷系統(tǒng)自液氮充滿時(shí)起，應(yīng)能保證固定式譜儀正常工作時(shí)間不低于1年。5.1.3.8液氮回凝制冷系統(tǒng)噪聲距離系統(tǒng)1m位置處最大噪聲不應(yīng)超過60dB。5.2便攜式譜儀要求5.2.1外觀和結(jié)構(gòu)外觀應(yīng)完好無損，型號(hào)、編號(hào)等信息清晰可辨。探測(cè)器、多道分析器、制冷單元等部件應(yīng)集于一體。外殼防護(hù)等級(jí)不應(yīng)低于GB/T4208中IP53的要求。8便攜式譜儀應(yīng)能采集能譜。便攜式譜儀應(yīng)能進(jìn)行能量刻度，并顯示能量擬合曲線。便攜式譜儀應(yīng)能進(jìn)行效率刻度，并顯示效率刻度擬合曲線。便攜式譜儀應(yīng)有核素識(shí)別功能，識(shí)別結(jié)果應(yīng)包含核素名稱、分類、置信度等信息。便攜式譜儀應(yīng)能在放射源效率刻度或者無源效率刻度后，進(jìn)行各類樣品的就地活度測(cè)量。便攜式譜儀應(yīng)包括普通用戶和專家用戶兩種工作模式。普通用戶模式應(yīng)有基本操作功能，專家用戶模式在普通用戶模式權(quán)限基礎(chǔ)上，應(yīng)增加參數(shù)設(shè)置等權(quán)限。便攜式譜儀應(yīng)有數(shù)據(jù)傳輸能力，能實(shí)現(xiàn)與另一個(gè)裝置(如計(jì)算機(jī))的數(shù)據(jù)交互。5.2.2.8探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)及高壓保護(hù)探測(cè)器晶體溫度高于溫度閾值，便攜式譜儀未加載高壓狀態(tài)下，應(yīng)能阻止加高壓；便攜式譜儀加載高壓狀態(tài)下，應(yīng)能自動(dòng)緩降探測(cè)器高壓直至關(guān)斷高壓。便攜式譜儀宜有探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)功能，并能顯示其狀態(tài)。便攜式譜儀宜有尋源功能，可指示因放射源的存在而引起的周圍輻射場(chǎng)的變化。不同相對(duì)探測(cè)效率的探測(cè)器，便攜式譜儀的能量分辨力、峰康比、峰形參數(shù)應(yīng)滿足表3的要求。9表3便攜式譜儀指標(biāo)要求序號(hào)相對(duì)探測(cè)效率%電制冷譜儀能量分辨力(FWHM)keV液氮制冷譜儀能量分辨力(FWHM)keV峰康比峰形參數(shù)@122keV@1332.5keV@122keV@1332.5keVFW0.1M/FWHMFW0.02M/FWHM123456789多道分析器的總道數(shù)不應(yīng)少于16384道。能量范圍低能不應(yīng)高于40keV;高能不應(yīng)低于3MeV,宜達(dá)到10MeV。在40keV～3MeV能量范圍內(nèi)，將γ射線能量與全能峰峰位進(jìn)行二次項(xiàng)擬合，其非線性不應(yīng)大于在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，且整個(gè)測(cè)試過程中溫度變化不超過2℃時(shí)，8h內(nèi)Co的1332.5keV全能峰的峰位漂移不應(yīng)超過多道總道數(shù)的0.025%。5.2.3.6核素識(shí)別和響應(yīng)時(shí)間譜儀應(yīng)能識(shí)別包括但不限于以下所列核素。在受到放射性核素照射后的1min內(nèi)，便攜式譜儀應(yīng)能識(shí)別(包括但不限于)以下所列核素，并按以下分類方式加以分類：探測(cè)器晶體常溫狀態(tài)下，開始制冷到便攜式譜儀達(dá)到可正常工作狀態(tài)的時(shí)間不應(yīng)超過24h。5.2.3.8電池供電連續(xù)工作時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，便攜式譜儀使用電池供電，應(yīng)能保證正常工作時(shí)間不低于3h。用液氮制冷的便攜式譜儀，探測(cè)器晶體達(dá)到目標(biāo)溫度并穩(wěn)定后，自液氮充滿時(shí)起，保證便攜式譜儀正常工作時(shí)間不應(yīng)低于20h。正常工作環(huán)境條件下，譜儀電源輸入端接地端子與譜儀外殼之間的阻抗不應(yīng)大于0.1Ω。電氣間隙和爬電距離的設(shè)計(jì)應(yīng)滿足GB4793.1的要求。譜儀電源輸入端與儀器外殼之間應(yīng)能承受交流有效值為1.5kV介電強(qiáng)度試驗(yàn)，試驗(yàn)時(shí)應(yīng)無擊穿和飛弧現(xiàn)象產(chǎn)生。正常工作狀態(tài)下，譜儀外殼與參考試驗(yàn)地之間的漏電流不應(yīng)大于直流2mA。5.4環(huán)境適應(yīng)性譜儀氣候環(huán)境適應(yīng)性應(yīng)滿足表4的要求。表4氣候環(huán)境適應(yīng)性序號(hào)固定式譜儀便攜式譜儀環(huán)境條件合格判據(jù)環(huán)境條件合格判據(jù)1低溫工作固定式譜儀在試驗(yàn)過程中與試驗(yàn)后的能量分辨力，與試驗(yàn)前相比，變化不應(yīng)便攜式譜儀在試驗(yàn)前、試驗(yàn)過程中與試驗(yàn)后，各進(jìn)行10次核素識(shí)別測(cè)試，均應(yīng)正確識(shí)別至少9次2高溫工作3恒定濕熱4低溫貯存固定式譜儀在試驗(yàn)后的能量不應(yīng)超過+20%便攜式譜儀在試驗(yàn)前與試驗(yàn)后，各進(jìn)行10次核素識(shí)別測(cè)試，均應(yīng)正確識(shí)別至少9次5高溫貯存運(yùn)輸環(huán)境適應(yīng)性應(yīng)滿足表5的要求。表5運(yùn)輸環(huán)境適應(yīng)性序號(hào)環(huán)境條件合格判據(jù)1隨機(jī)振動(dòng)振動(dòng)頻率固定式譜儀在試驗(yàn)后的能量分辨力，與試驗(yàn)前相比，變化不應(yīng)超便攜式譜儀在試驗(yàn)前與試驗(yàn)后，各進(jìn)行10次核素識(shí)別測(cè)試，均應(yīng)正確識(shí)別至少9次。裂等機(jī)械損傷加速度譜密度1.0(m/s2)2/Hz0.3(m/s2)2/振動(dòng)方向3個(gè)軸向振動(dòng)時(shí)間每方向0.5h2沖擊脈沖波形半正弦波峰值加速度脈沖持續(xù)時(shí)間方向及次數(shù)3個(gè)軸向的正負(fù)方向各3次，共18次5.5電磁兼容固定式譜儀除計(jì)算機(jī)外，應(yīng)滿足以下各項(xiàng)外殼端口抗擾度要求；每個(gè)接入市電的交流電源端口均應(yīng)滿足以下各項(xiàng)交流電源端口抗擾度要求。便攜式譜儀應(yīng)滿足以下各項(xiàng)外殼端口抗擾度要求。5.5.2靜電放電抗擾度固定式譜儀和便攜式譜儀在受到±4kV的接觸放電和±8kV的空氣放電干擾后，應(yīng)能正常工作。5.5.3工頻磁場(chǎng)抗擾度固定式譜儀和便攜式譜儀在受50Hz、30A/m的磁場(chǎng)干擾期間，性能宜不受影響；試驗(yàn)后，譜儀應(yīng)能正常工作。5.5.4電快速瞬變脈沖群抗擾度固定式譜儀的交流電源端口在受電壓峰值為±2kV、重復(fù)頻率為5kHz的干擾后，應(yīng)能正常工作。5.5.5浪涌(沖擊)抗擾度固定式譜儀的交流電源端口在受線對(duì)線電壓為±1kV、線對(duì)地電壓為±2kV的開路試驗(yàn)電壓的干5.5.6射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度固定式譜儀和便攜式譜儀在受頻率范圍為80MHz～1000MHz、場(chǎng)強(qiáng)為10V/m的射頻電磁場(chǎng)輻固定式譜儀和便攜式譜儀在10m處的輻射發(fā)射值不應(yīng)超過表6給出的限值。若在3m處測(cè)量，限值應(yīng)增加10dB。表6輻射發(fā)射限值頻率范圍MHz限值準(zhǔn)峰值40230～1000準(zhǔn)峰值47固定式譜儀的交流電源端口的傳導(dǎo)發(fā)射不應(yīng)超過表7給出的限值。表7傳導(dǎo)發(fā)射限值頻率范圍準(zhǔn)峰值平均值6試驗(yàn)方法6.1試驗(yàn)的一般規(guī)定6.1.1標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件除環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)外，其他項(xiàng)目試驗(yàn)時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件見表8。表8參考條件和標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件影響量標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件環(huán)境溫度18℃~30℃相對(duì)濕度大氣壓強(qiáng)86kPa～106kPa交流供電電壓交流供電頻率環(huán)境γ輻射周圍劑量當(dāng)量率小于0.25μSv/h外界電磁場(chǎng)干擾小于引起干擾的最低值外界磁感應(yīng)小于地磁場(chǎng)引起干擾的2倍6.1.2測(cè)試用放射源測(cè)試用放射源包括5238U和3Co,活度范圍宜為3.7×102Bq～3.7×10?Bq。本文件中，點(diǎn)源是指點(diǎn)狀放射源，源斑位于源托中心，直徑不大于2.0mm,偏離中心小于1.5mm。用于相對(duì)探測(cè)效率測(cè)量的點(diǎn)源，活度范圍應(yīng)為3.7×103Bq～3.7×10?Bq,且應(yīng)經(jīng)過校準(zhǔn)或檢定，相對(duì)擴(kuò)展不確定度不大于4.0%(k=2)。6.1.3譜儀運(yùn)行準(zhǔn)備工作除了“工作準(zhǔn)備時(shí)間”測(cè)試項(xiàng)，在各項(xiàng)測(cè)試開始前，譜儀應(yīng)處于探測(cè)器晶體溫度穩(wěn)定且高壓穩(wěn)定的正常工作狀態(tài)。6.2固定式譜儀使用能譜采集與分析軟件采集能譜，查看是否采集成功。一顆)放置在探測(cè)器附近，采集能譜，至每個(gè)用于刻度的全能峰凈計(jì)數(shù)不低于10000。停止采集，進(jìn)行能射源的樣品放置在探測(cè)器軸線方向測(cè)試位置上，采集能譜，至每個(gè)用于刻度的全能峰凈計(jì)數(shù)不低于40000。停止采集，進(jìn)行效率刻度，查看刻度曲線。譜儀完成能量刻度和效率刻度后，將被測(cè)樣品放置到探測(cè)器測(cè)試位置上，采集并分析能譜，查看活度測(cè)量結(jié)果。6.2.2.5探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)及高壓保護(hù)譜儀探測(cè)器加載高壓的狀態(tài)下，將溫度閾值設(shè)置到探測(cè)器工作溫度以下，或使探測(cè)器晶體溫度上升至溫度閾值之上，查看譜儀是否自動(dòng)緩降探測(cè)器高壓直至關(guān)斷。然后給探測(cè)器加載高壓，應(yīng)加載失敗。查看譜儀是否顯示探測(cè)器晶體溫度。6.2.2.6液氮回凝制冷系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)及報(bào)警驗(yàn)證制冷系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)及報(bào)警功能的步驟如下：——查看制冷系統(tǒng)界面是否顯示液位、氣壓等信息；——使液位低于報(bào)警閾值，耳聽是否有聲音報(bào)警，查看譜儀是否發(fā)出光或字符報(bào)警；——打開制冷系統(tǒng)的液氮輸入口，使制冷腔內(nèi)氣壓降低至報(bào)警閾值以下，耳聽是否有聲音報(bào)警，查看譜儀是否發(fā)出光或字符報(bào)警；——密閉制冷系統(tǒng)，關(guān)閉制冷機(jī)，使制冷腔內(nèi)氣壓升高至報(bào)警閾值以上，耳聽是否有聲音報(bào)警，查看譜儀是否發(fā)出光或字符報(bào)警。GB/T43535—20236.2.2.7安全泄壓功能將液氮灌入制冷系統(tǒng)，并密閉制冷系統(tǒng)的制冷腔。觀察制冷腔內(nèi)氣壓值升高至安全氣壓閾值時(shí)，是否能夠自動(dòng)泄壓，使氣壓值維持安全限值。6.2.2.8軟件基本功能按照制造商提供的軟件操作手冊(cè)使用軟件，對(duì)照5.1.2.8檢驗(yàn)各項(xiàng)功能。調(diào)整增益，將Co的1332.5keV全能峰置于多道分析器滿量程的五分之三處[例如，若多道分析器總道數(shù)為16384道，則該峰位應(yīng)在(9830±20)道范圍內(nèi)]。將Co點(diǎn)源置于探測(cè)器軸線距端面25cm處，采集一定時(shí)間能譜，至1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)達(dá)到40000時(shí)，停止采集，按公式(1)計(jì)算相對(duì)探測(cè)效率。式中：………………Ewl——相對(duì)探測(cè)效率；A——1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)；N?——6Co點(diǎn)源在測(cè)量活時(shí)間內(nèi)發(fā)射的能量為1332.5keV的光子數(shù)量；excn——直徑7.62cm、高度7.62cm的Nal(Tl)探測(cè)器對(duì)”Co點(diǎn)源(置于探測(cè)器軸線距端面25cm處)1332.5keV全能峰效率的理論值，即1.2×10-3。調(diào)整增益，保證所測(cè)全能峰的半高寬至少為6道。分別將55Fe和241Am放射源置于探測(cè)器軸線方向上，調(diào)整與探測(cè)器端面的距離，使全譜計(jì)數(shù)率不大于1000s-1,采集能譜，至5.9keV和59.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)均不低于10000時(shí)，停止采集。按照GB/T7167的方法，使用5.9keV和59.5keV全能峰進(jìn)行能量刻度，計(jì)算5.9keV的能量分辨力。分別將241Am和Co發(fā)射源置于探測(cè)器軸線方向上，調(diào)整與探測(cè)器端面的距離，使全譜計(jì)數(shù)率不大于1000s1,采集能譜，至59.5keV和122keV全能峰凈計(jì)數(shù)均不低于10000時(shí)，停止采集。按照GB/T7167的方法，使用59.5keV和122keV全能峰進(jìn)行能量刻度，計(jì)算122keV的能量分辨力。將Co源置于探測(cè)器軸線方向上，調(diào)整與探測(cè)器端面的距離，使全譜計(jì)數(shù)率不大于2000s-1,采集能譜，至1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)達(dá)到10000時(shí)，停止采集。按照GB/T7167的方法，使用1173.2keV和1332.5keV全能峰進(jìn)行能量刻度，計(jì)算1332.5keV的能量分辨力。注：N型同軸探測(cè)器譜儀測(cè)試5.9keV和1332.5keV的能量分辨力；P型同軸探測(cè)器譜儀測(cè)試122keV和1332.5keV的能量分辨力。探測(cè)器置于屏蔽裝置內(nèi)或者本底環(huán)境中。將Co源置于探測(cè)器軸線上，調(diào)整與探測(cè)器端面的距離，使全譜計(jì)數(shù)率不大于2000s-1,采集一定時(shí)間能譜，使1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)不低于10000,停止采集。GB/T43535—2023取走放射源，采集與上述步驟相同時(shí)間的本底能譜。按公式(2)計(jì)算峰康比。式中：p/C——峰康比；Np——Co能譜中1332.5keV全能峰的高度(峰位P處的計(jì)數(shù));Np——本底譜中峰位P處的計(jì)數(shù)；Nc——Co能譜中1040keV～1096keV(康普頓平坦區(qū)域C)的平均計(jì)數(shù)；N(——本底譜中區(qū)域C的平均計(jì)數(shù)。6.2.3.1.4峰形參數(shù)將“Co源置于探測(cè)器軸線上，調(diào)整與探測(cè)器端面的距離，使全譜計(jì)數(shù)率不大于2000s-1,采集至1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)達(dá)到10000時(shí)，停止采集。按照GB/T7167的方法計(jì)算FWHM、FW0.1M和FW0.02M。計(jì)算峰形參數(shù)FW0.1M/FWHM和FW0.02M/FWHM。6.2.3.2多道分析器總道數(shù)在軟件設(shè)置中將多道的總道數(shù)設(shè)置為16384道，采集能譜，核對(duì)能譜的總道數(shù)是否為16384道。6.2.3.3能量范圍放射源，置于譜儀探測(cè)器附近。調(diào)整增益，并進(jìn)行能量刻度，使能量范圍覆蓋40keV～3MeV。采集并查看能譜，能譜中應(yīng)存在典型特征峰5.9keV、39.5keV、121.8keV、344.3keV、778.9keV和1408.0keV,也應(yīng)存在232Th的2614.5keV特征峰。注：僅N型同軸探測(cè)器譜儀的檢測(cè)需包含F(xiàn)e的5.9keV。6.2.3.4能量非線性964.1keV、1112.1keV、1408.0keV和2614.5keV全能峰的峰位道址，能量校準(zhǔn)的函數(shù)關(guān)系可近似由二次多項(xiàng)式表示，見公式(3),能量非線性用二次項(xiàng)擬合常數(shù)b。表示。式中：E——全能峰的能量，單位為千電子伏(keV);H——全能峰峰位道址；Eo——道址H為零道時(shí)對(duì)應(yīng)的能量，單位為千電子伏(keV);b?——擬合常數(shù)，表示擬合直線的增益；b?——擬合常數(shù)，表示系統(tǒng)的非線性。注：僅N型同軸探測(cè)器譜儀的檢測(cè)需包含F(xiàn)e的5.9keV。6.2.3.5峰位穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，保持測(cè)試過程中環(huán)境溫度變化不超過2℃,將Co的1332.5keV全能峰置于多道分析器滿量程的五分之三處[例：若多道分析器總道數(shù)為16384道，則該峰位應(yīng)在(9830±20)道范圍內(nèi)],每4h采集1個(gè)能譜，每個(gè)能譜的1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)不少于10000,每個(gè)能譜采集時(shí)間不應(yīng)大于10min,共采集7個(gè)能譜。試驗(yàn)過程中，可使用自帶的穩(wěn)定峰位措施。宜用GB/T7167的方法計(jì)算各能譜1332.5keV全能峰的道址，也可用譜儀的軟件讀取。分別與首次采集的能譜的1332.5keV全能峰的道址進(jìn)行比較，計(jì)算1332.5keV全能峰的漂移結(jié)果，取最大值。固定式譜儀探測(cè)器晶體溫度在常溫時(shí)開始制冷并計(jì)時(shí)。24h時(shí)晶體溫度應(yīng)達(dá)到制造商標(biāo)稱值。此時(shí)，立即加載高壓，按照6.2.3.1.2的方法測(cè)試5.9keV、122keV以及1332.5keV全能峰的能量分辨力。6.2.3.7液氮回凝制冷系統(tǒng)液氮使用時(shí)間固定式譜儀探測(cè)器晶體已達(dá)穩(wěn)定工作溫度時(shí)灌注液氮，使液位在95%～105%之間，待系統(tǒng)制冷腔內(nèi)部氣壓穩(wěn)定后，讀取初始液位值。使固定式譜儀處于能譜采集狀態(tài)，并開始計(jì)時(shí)。60d后查看液位，液位不低于初始液位的85%。6.2.3.8液氮回凝制冷系統(tǒng)噪聲使用的聲級(jí)計(jì)應(yīng)滿足GB/T3785.1的要求，并經(jīng)過計(jì)量檢定或者校準(zhǔn)，且在有效期內(nèi)。在噪聲不超過45dB的環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，被測(cè)系統(tǒng)周圍1.5m內(nèi)應(yīng)無反射聲音的墻壁或物體。在探測(cè)器已經(jīng)達(dá)到工作溫度并穩(wěn)定時(shí)，回凝制冷系統(tǒng)連續(xù)工作中，將聲級(jí)計(jì)放置在距離液氮回凝制冷系統(tǒng)側(cè)面1m的距離，高度為液氮回凝制冷系統(tǒng)高度的1/2,以液氮回凝制冷系統(tǒng)軸線為中心，每間隔45°設(shè)置1個(gè)測(cè)試點(diǎn)，共8個(gè)測(cè)試點(diǎn)，測(cè)量噪聲，取最大值。6.3便攜式譜儀6.3.1外觀和結(jié)構(gòu)目測(cè)便攜式譜儀外觀，查看型號(hào)、編號(hào)等信息。目測(cè)探測(cè)器、多道分析器、制冷單元等部件是否集于一體。按照GB/T4208的方法進(jìn)行試驗(yàn)。使用軟件采集能譜，查看是否采集成功。將能發(fā)射中能量或高能量γ射線的放射源放置在探測(cè)器附近，進(jìn)行能量刻度，查看刻度結(jié)果。按照6.2.2.3的方法采集能譜，進(jìn)行效率刻度，查看是否生成并顯示效率刻度擬合曲線。分別將24Am、13Cs、Co源放置到便攜式譜儀探測(cè)器附近，進(jìn)行核素識(shí)別，查看識(shí)別結(jié)果。便攜式譜儀進(jìn)行效率刻度后，對(duì)樣品進(jìn)行活度測(cè)量，查看測(cè)量結(jié)果。查看普通用戶模式，是否有基本功能操作的權(quán)限；查看專家用戶模式，是否有基本功能操作和參數(shù)設(shè)置的權(quán)限。使用存儲(chǔ)介質(zhì)將便攜式譜儀上的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，或者使用通信線纜或無線通信方式連接譜儀和計(jì)算機(jī)，將譜儀數(shù)據(jù)傳輸?shù)酱鎯?chǔ)介質(zhì)或計(jì)算機(jī)，查看傳輸結(jié)果；再將存儲(chǔ)介質(zhì)或計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)傳輸至譜儀，查看傳輸結(jié)果。6.3.2.8探測(cè)器晶體溫度監(jiān)測(cè)及高壓保護(hù)測(cè)試方法見6.2.2.5。將便攜式譜儀置于不超過0.2μSv/h的穩(wěn)定周圍劑量當(dāng)量率下。將8Cs放射源放置至譜儀附近，使探測(cè)器位置的周圍劑量當(dāng)量率不低于0.5μSv/h,標(biāo)記該位緩慢移動(dòng)137Cs源至標(biāo)記的位置，再緩慢移動(dòng)遠(yuǎn)離譜儀。查看指示計(jì)數(shù)率是否隨著放射源的靠近而升高，并隨著放射源的遠(yuǎn)離而降低。測(cè)試方法見6.2.3.1.1。測(cè)試方法見6.2.3.1.2。測(cè)試方法見6.2.3.1.3。測(cè)試方法見6.2.3.1.4。測(cè)試方法見6.2.3.2。測(cè)試方法見6.2.3.3。測(cè)試方法見6.2.3.4。標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，保持測(cè)試過程中環(huán)境溫度變化不超過2℃,將Co的1332.5keV全能峰置于多道分析器滿量程的五分之三處[例：若多道分析器總道數(shù)為16384道，則該峰位應(yīng)在(9830±20)道范圍內(nèi)],每2h采集1個(gè)能譜，每個(gè)能譜的1332.5keV全能峰凈計(jì)數(shù)不少于10000,每個(gè)能譜采集時(shí)間不應(yīng)大于10min。共采集5個(gè)能譜。試驗(yàn)過程中，譜儀可使用自帶的穩(wěn)定峰位措施。宜使用GB/T7167的方法計(jì)算各能譜1332.5keV全能峰的道址，也可使用譜儀的軟件讀取，分別與首次采集的能譜的1332.5keV全能峰的道址進(jìn)行比較，計(jì)算1332.5keV全能峰的漂移結(jié)果，取最大值。分別將5.2.3.6列出的放射源置于便攜式譜儀附近，用一個(gè)獨(dú)立的輻射測(cè)量裝置(例如周圍劑量當(dāng)量率儀)測(cè)量，調(diào)整放射源的位置，使放射源在譜儀的探測(cè)器位置處產(chǎn)生的周圍劑量當(dāng)量率比本底水平高0.5μSv/h(±30%)。對(duì)每個(gè)放射源，進(jìn)行10次核素識(shí)別試驗(yàn)，每次識(shí)別時(shí)間不大于1min,應(yīng)至少正確識(shí)別9次。探測(cè)器晶體溫度在常溫時(shí)開始制冷，24h時(shí)查看晶體溫度，應(yīng)達(dá)到制造商的標(biāo)稱值。此時(shí)立即加載高壓，按照6.3.3.1.2的方法測(cè)試122keV和1332.5keV全能峰的能量分辨力，測(cè)量結(jié)果應(yīng)能滿足6.3.3.8電池供電連續(xù)工作時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下，便攜式譜儀就緒，電池滿充。使用“Co源照射譜儀，確保譜儀能正確識(shí)別。切斷譜儀外接電源，取走放射源，并開始計(jì)時(shí)。期間，便攜式譜儀處于正常工作狀態(tài)，聲光報(bào)警可關(guān)閉，持續(xù)工作3h后，再次進(jìn)行“Co源的核素識(shí)別測(cè)試，若能正常識(shí)別，則認(rèn)為電池供電連續(xù)工作時(shí)間滿足要求。探測(cè)器晶體已經(jīng)達(dá)到穩(wěn)定工作溫度時(shí)，灌滿液氮，使用Co源照射便攜式譜儀，確保譜儀能正確識(shí)別。緩降并關(guān)斷高壓，取走放射源，開始計(jì)時(shí)。20h后，加載高壓，再次進(jìn)行“Co源的核素識(shí)別測(cè)試，若能正常識(shí)別，則認(rèn)為液氮使用時(shí)間滿足要求。對(duì)譜儀電源輸入PE端與外殼之間施加直流25A或電源頻率交流25A有效值的電流，施加1min,計(jì)算阻抗。將1.5kV交流有效值試驗(yàn)電壓分別加載在譜儀輸入電源N端與外殼之間、L端與外殼之間，電壓在5s內(nèi)逐漸升高到規(guī)定值，穩(wěn)定電壓，不出現(xiàn)明顯的跳變，然后保持5s,試驗(yàn)期間觀察是否有擊穿和飛弧現(xiàn)象。譜儀在正常工作狀態(tài)下，采用GB4793.1要求的測(cè)量電路，將測(cè)量端分別接譜儀外殼和參考試驗(yàn)6.5環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)6.5.1氣候環(huán)境試驗(yàn)固定式譜儀試驗(yàn)時(shí)，將探測(cè)器、多道分析器、制冷系統(tǒng)布置在試驗(yàn)箱內(nèi)，計(jì)算機(jī)布置在試驗(yàn)箱外；便攜式譜儀試驗(yàn)時(shí)，將譜儀布置在試驗(yàn)箱內(nèi)，電源適配器或充電器引出到試驗(yàn)箱外。便攜式譜儀在條件保持過程中可使用適配器供電；但在檢測(cè)時(shí)，應(yīng)使用電池供電。按照表4的試驗(yàn)條件、表9的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。表9環(huán)境試驗(yàn)方法序號(hào)試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)方法檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)過程中譜儀狀態(tài)持續(xù)時(shí)間h試驗(yàn)程序試驗(yàn)前檢測(cè)試驗(yàn)過程中檢測(cè)試驗(yàn)后檢測(cè)1低溫工作4測(cè)試2測(cè)試1通電2高溫工作4測(cè)試2通電3恒定濕熱測(cè)試2通電4低溫貯存4 測(cè)試1不通電5高溫貯存4測(cè)試1測(cè)試2 測(cè)試1不通電測(cè)試1為固定式譜儀檢測(cè)，按照6.2.3.1.2的方法測(cè)試5.9keV、122keV以及1332.5keV全能峰的能量分辨力。記錄放射源位置和采譜時(shí)長(zhǎng)。每次測(cè)試中，放射源位置不變，采集時(shí)間不變。測(cè)試2為便攜式譜儀檢測(cè)，將33Ba和Co源同時(shí)置于探測(cè)器附近，使每個(gè)放射源對(duì)探測(cè)器產(chǎn)生的劑量率為0.5μSv/h(±30%),進(jìn)行核素識(shí)別測(cè)6.5.2運(yùn)輸環(huán)境試驗(yàn)將譜儀按發(fā)運(yùn)方式包裝，除了計(jì)算機(jī)，每個(gè)包裝件按照表5的試驗(yàn)條件、表10的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。便攜式譜儀在檢測(cè)時(shí)，應(yīng)使用電池供電。表10運(yùn)輸環(huán)境試驗(yàn)方法序號(hào)試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)方法檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)過程中譜儀狀態(tài)初始檢測(cè)中間檢測(cè)最終檢測(cè)1隨機(jī)振動(dòng)GB/T2423.56測(cè)試1測(cè)試2測(cè)試1測(cè)試2測(cè)試3包裝，不通電2沖擊GB/T8993—1998測(cè)試1測(cè)試2 測(cè)試1測(cè)試2測(cè)試3包裝，不通電測(cè)試1為固定式譜儀檢測(cè)，按照6.2.3.1.2的方法測(cè)試5.9keV、122keV以及1332.5keV全能峰的能量分辨力。記錄放射源位置和采譜時(shí)長(zhǎng)。每次測(cè)試中，放射源位置不變，采集時(shí)間不變。測(cè)試2為便攜式譜儀檢測(cè)，將33Ba和Co源同時(shí)置于探測(cè)器附近，使每個(gè)放射源對(duì)探測(cè)器產(chǎn)生的劑量率為0.5μSv/h(±30%),進(jìn)行核素識(shí)別測(cè)試，識(shí)別時(shí)間不超過1min。記錄放射源位置，每次測(cè)試中，放射源位置不變。測(cè)試3為結(jié)構(gòu)檢查。6.6電磁兼容6.6.1靜電放電抗擾度譜儀正常工作狀態(tài)下，進(jìn)行表9的測(cè)試1或測(cè)試2檢測(cè)。按照GB/T17626.2的方法，對(duì)譜儀外殼金屬部位進(jìn)行接觸放電，對(duì)外殼非金屬部位進(jìn)行空氣放電試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)束后，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。6.6.2工頻磁場(chǎng)抗擾度譜儀正常工作狀態(tài)下，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。按照GB/T17626.8的方法，對(duì)譜儀進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)過程中，觀察譜儀的工作狀態(tài)。試驗(yàn)結(jié)束后，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。6.6.3電快速瞬變脈沖群抗擾度將固定式譜儀的交流電源輸入端接入試驗(yàn)設(shè)備，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。按照GB/T17626.4的方法，對(duì)固定式譜儀進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)束后，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。6.6.4浪涌(沖擊)抗擾度將固定式譜儀的交流電源輸入端接入試驗(yàn)設(shè)備，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。按照GB/T17626.5的方法，對(duì)固定式譜儀進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)束后，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。6.6.5射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度將譜儀布置到試驗(yàn)環(huán)境中，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。按照GB/T17626.3的方法，對(duì)譜儀進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)過程中，觀察譜儀的工作狀態(tài)。試驗(yàn)后，按照表9的測(cè)試1或測(cè)試2進(jìn)行檢測(cè)。將譜儀布置在試驗(yàn)環(huán)境中。譜儀正常工作狀態(tài)下，按照GB17799.4規(guī)定的方法進(jìn)行測(cè)量。將固定式譜儀的交流電源端口接入測(cè)試設(shè)備。譜儀正常工作狀態(tài)下，按照GB17799.4規(guī)定的方法進(jìn)行測(cè)量。7檢驗(yàn)規(guī)則7.1出廠檢驗(yàn)產(chǎn)品出廠前應(yīng)逐臺(tái)進(jìn)行出廠檢驗(yàn)。檢驗(yàn)合格出具檢驗(yàn)報(bào)告及合格證后，方可出廠。出廠檢驗(yàn)的項(xiàng)目全部合格，該產(chǎn)品判為合格。有任一項(xiàng)不合格，應(yīng)判為不合