(高清版)GBT 40381-2021 激光窗口用藍(lán)寶石晶體板狀材料規(guī)范

ICS71.060.20Specificationofsapphireplateforlaserwindow國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 I 1 24.1材料要求 24.2加工要求 24.3光學(xué)性能 24.4溫度沖擊 35檢驗方法 35.1材料要求 35.2加工要求 35.3光學(xué)性能 35.4溫度沖擊 4 46.1檢驗分類 46.2出廠檢驗 6.3周期檢驗 6.4型式檢驗 5 57.1標(biāo)識 57.2包裝 57.3運輸 6 6參考文獻(xiàn) 7IGB/T40381—2021本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由中國建筑材料聯(lián)合會提出。本文件由全國人工晶體標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC461)歸口。技有限公司。1GB/T40381—2021激光窗口用藍(lán)寶石晶體板狀材料規(guī)范本文件適用于激光窗口用藍(lán)寶石晶體板狀材料。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文本文件。GB/T1185—2006光學(xué)零件表面疵病GB/T1555半導(dǎo)體單晶晶向測定方法GB/T2828.1—2012計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T6040紅外光譜分析方法通則GB/T7660.3—2013反射棱鏡第3部分：光學(xué)平行度及其檢驗方法GB/T7896—2008人造光學(xué)石英晶體試驗方法GB/T11337—2004平面度誤差檢測GB/T31092—2014藍(lán)寶石單晶晶錠GB/T32189—2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法單晶的結(jié)晶學(xué)取向。3.32GB/T40381—20213.4光波經(jīng)過介質(zhì)后與傳輸前的波前相比發(fā)生的改變。4技術(shù)要求(0001)晶面的雙晶衍射半峰寬(FWHM)不大于18"。通光面表面庇病應(yīng)優(yōu)于B/4×0.25(B為表面疵病的代號)。4.2.4粗糙度(Ra)通光面表面粗糙度應(yīng)不大于3nm。通光面口徑不大于100mm,全口徑范圍內(nèi)不大于λ/5;通光面口徑大于100mm,任意100mm口300nm～4000nm范圍內(nèi)光譜透過率平均值應(yīng)不低于83%。3GB/T40381—20214.3.2透射波前畸變透射波前畸變PV值不大于λ/4。4.4溫度沖擊5檢驗方法5.1材料要求按照GB/T1555測量晶向。5.1.2雙晶搖擺曲線的半峰寬值按照GB/T31092—2014中附錄C測量雙晶搖擺曲線的半峰寬值的規(guī)定進(jìn)行。按照GB/T31092—2014中附錄D進(jìn)行晶體中氣泡和散射顆粒的檢測，按照GB/T31092—2014中附錄E進(jìn)行晶體中鑲嵌、孿晶的檢測。5.2加工要求用精度不低于0.01mm的量具測量外形尺寸。用精度不低于0.01mm的工具顯微鏡或類似的顯微鏡測量倒角寬度。按照GB/T1185—2006檢測通光面的表面庇病。5.2.4粗糙度(Ra)按照GB/T32189—2015測量藍(lán)寶石窗口通光面、周邊側(cè)面及倒角面粗糙度。按照GB/T11337—2004中5.4.4干涉法規(guī)定的檢驗方法采用精度不低于λ/20激光干涉儀測量平面度。按照GB/T7660.3—2013中4.2規(guī)定的檢驗方法采用精度不低于2”的測角儀測量平行度。5.3光學(xué)性能每件板材選料時同時在晶體的相同部位選取一個樣品，樣品加工的要求：厚度3mm,雙面拋光，粗4糙度小于3nm,平行度小于5"。按照GB/T7896—2008規(guī)定的方法測量300nm～2500nm范圍內(nèi)光譜透過率曲線，按照GB/T6040規(guī)定的方法測量2500nm～4000nm范圍內(nèi)光譜透過率曲線。3260nm、3630nm和4000nm透過率的平均值。5.3.2透射波前畸變用精度不低于λ/20干涉儀檢測透射波前畸變PV值。5.4溫度沖擊按照GB/T12085.2—2010中4.3.2嚴(yán)酷等級06進(jìn)行測試。6檢驗規(guī)則檢驗分為出廠檢驗、周期檢驗和型式檢驗。6.2出廠檢驗產(chǎn)品出廠時，藍(lán)寶石板材應(yīng)符合表1所列全部檢驗項目的規(guī)定，并剔除不合格品。表1出廠檢驗項目表序號檢驗項目要求的章條號測試方法的章條號1晶向2雙晶搖擺曲線的半峰寬值3內(nèi)部質(zhì)量4外形尺寸5倒角6表面疵病7粗糙度Ra8平面度9平行度光譜透過率透射波前畸變6.3周期檢驗檢驗項目按表2所列項目進(jìn)行檢驗。5GB/T40381—2021表2周期檢驗項目表檢驗項目要求的章條號測試方法的章條號溫度沖擊表2中的檢驗項目，每批進(jìn)行一次抽檢，以每次生產(chǎn)的總數(shù)為一批，抽檢數(shù)量按GB/T2828.1—2012的規(guī)定進(jìn)行，抽檢方案為接收質(zhì)量限AQL不大于1。6.4型式檢驗在下列情況下進(jìn)行型式檢驗：a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品進(jìn)行生產(chǎn)的試制定型鑒定時；b)正式生產(chǎn)前或產(chǎn)品停產(chǎn)三個月后恢復(fù)生產(chǎn)時；c)正式生產(chǎn)后，如原料批次、工藝和設(shè)備的改變可能影響產(chǎn)品性能時；d)出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗結(jié)果相比有明顯差異時；e)出現(xiàn)質(zhì)量事故或重大質(zhì)量波動時；f)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗部門提出進(jìn)行型式檢驗的要求時。型式檢驗項目應(yīng)包括表1和表2的全部項目。從型式檢驗的產(chǎn)品中隨機(jī)抽取板狀材料3件；如果產(chǎn)品數(shù)量不足3件，則全部抽取。若受檢產(chǎn)品通過全部檢驗項目，則檢驗合格；若其中一項或幾項不合格，則型式檢驗不7.1標(biāo)識7.1.1在檢驗合格的產(chǎn)品合格證上應(yīng)注明下列內(nèi)容：a)產(chǎn)品名稱；b)產(chǎn)品型號或標(biāo)記；c)產(chǎn)品編號；d)制造單位名稱；e)其他需要標(biāo)志的內(nèi)容。7.1.2包裝盒內(nèi)應(yīng)有產(chǎn)品合格證及產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)。7.2包裝6GB/T40381—2021產(chǎn)品應(yīng)用