(高清版)GBT 18910.102-2021 液晶顯示器件 第10-2部分：環(huán)境、耐久性和機械試驗方法 環(huán)境和耐久性

機械試驗方法環(huán)境和耐久性(IEC61747-10-2:2014,IDT)國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會GB/T18910.102—2021 I 1 13術(shù)語、定義和文字符號 2 2 25.1總則 2 45.4貯存(在高溫下) 5.5貯存(在低溫下) 6 7 7 85.9溫度/濕度組合循環(huán)試驗 8 5.11靜電放電試驗 附錄NA(資料性附錄)規(guī)范性引用的國際文件與我國文件的對應(yīng)關(guān)系 I 1GB/T2423.34—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)IEC60068(所有部分)環(huán)境試驗(Environmentaltesting)IEC60068-2-1環(huán)境試驗第2-1部分：試驗試驗A:低溫(Environmentaltesting—Part2-1:環(huán)境試驗第2-2部分：試驗試驗B:高溫(Environmentaltesting—Part2-2:環(huán)境試驗第2-5部分：試驗試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射(EnvironmentalIEC60068-2-13基本環(huán)境試驗程序第2-13部分：試驗試驗M:低氣壓(Environmentaltes-ting—Part2-13:Tests—TestM:Lowairpressure)IEC60068-2-14:20091)環(huán)境試驗第2-14部分：試驗試驗N:溫度變化(Environmentaltes-ting—Part2-14:Tests—TestN:Changeoftemperature)IEC60068-2-30環(huán)境試驗第2-30部分：試驗試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))[Environ-mentaltesting—Part2-30:Tests—TestDb:Dampheat,cycIEC60068-2-78環(huán)境試驗第2-78部分：試驗試驗Cab:恒定濕熱試驗(Environmentaltesting—Part2-78:Tests—TestCab:Dampheat,steadystatIEC60747(所有部分)半導(dǎo)體器件(Semiconductordevices)2IEC60747-1半導(dǎo)體器件第1部分：總則(Semiconductordevices—Part1:General)IEC60748-1半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則(Semiconductordevices—Integratedcir-IEC61747-1-2液晶顯示器件第1-2部分：總則術(shù)語和文字符號(Liquidcrystaldisplayde-vices—Part1-2:Generic—TerminologyandletProcessedphotographiccolo—-相對濕度：25%～85%,適用時；表1低溫試驗溫度低溫TA/℃3高溫TA/℃十90±2十80±2d)兩個溫度下每個溫度的暴露時間t?取決于器件的熱容量。按相關(guān)規(guī)范的規(guī)定，它應(yīng)為3h、——2min～3min;f)第一個循環(huán)由兩個暴露時間t?和兩個轉(zhuǎn)換時間t?組成(見圖1)。h)初始檢測：-—外觀檢查； “≤t?/10”。4低溫TA/℃高溫Ts/℃5IEC60068-2-2的試驗B是適用的。 (十90±2)℃; ——16h;——48h;——72h6——96h;——120h;——192h;——240h;——500h;c)大氣的絕對濕度不宜超過20g/m3(相當于35℃時50%的相對濕度),當試驗溫度低于35℃時，相對濕度不應(yīng)超過50%。 5.5貯存(在低溫下)IEC60068-2-1的試驗A是適用的?！?—20士3)℃;—2h;——48h; ——192h;——240h; 7測試條件示例(低溫存儲):IEC60068-2-13試驗M是適用的。溫度/℃——2h; ——120h;——240h;——300h;——500h;—1000h。8IEC60068-2-30試驗Db是適用的?！?0℃,10個循環(huán)；——60℃,5個循環(huán)。--—預(yù)處理的相對濕度和溫度條件應(yīng)按圖3控制；——相對濕度和溫度條件應(yīng)按圖4(暴露于低溫)或按圖5(不暴露于低溫)控制；a)試驗箱的溫度在1.5h～2.5h內(nèi)，應(yīng)連續(xù)升至規(guī)定的高溫。在此期間相對濕度應(yīng)保持在(93±3)%范圍內(nèi)；c)試驗箱的溫度在1.5h～2.5h內(nèi)降到(25±2)℃,在此期間相對濕度應(yīng)保持在80%～96%范d)自循環(huán)開始后的8h起，試驗箱溫度在1.5h～2.5h內(nèi)應(yīng)連續(xù)升至規(guī)定的高溫。在此期間相對濕度應(yīng)保持在(93±3)%;e)從循環(huán)開始后直至13.5h,箱內(nèi)的溫度和相對濕度應(yīng)分別保持在規(guī)定的高溫和(93±3)%;f)試驗箱的溫度在1.5h～2.5h內(nèi)應(yīng)降到(25±2)℃,在此期間相對濕度應(yīng)保持在80%～96%范g)試驗箱內(nèi)溫度應(yīng)繼續(xù)穩(wěn)定在(25±2)℃,相對濕度(93±3)%,直至按規(guī)定低溫分循環(huán)開始或24h循環(huán)結(jié)束。9溫度/℃相對濕度/%溫度/℃相對濕度/%圖4相對濕度和溫度條件濕熱后暴露于低溫圖5相對濕度和溫度條件濕熱后未暴露于低溫表NA.1給出了與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件。IEC標準編號國家標準編號及名稱GB/T2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)GB/T2423.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)GB/T2423.24—2013環(huán)境試驗第2GB/T2423.21—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)GB/T2423.2