DL∕ T 820-2002 管道焊接接頭超聲波檢驗技術(shù)規(guī)程

b)中小徑薄壁管：外徑大于或等于32mm、小于或等于159mm,壁厚大于或等于于4mm小于或等于8mmGB/I12604.1-1990無損檢測術(shù)語超聲檢測20mm,如圖1所示徑的10%。在儀器開始使用時，應(yīng)對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行測定，測定方法按JB/T10%或滿刻度的5%(兩者取較小值),則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整，前次校驗后已經(jīng)檢驗的焊側(cè)ABC(1和2)注：1在檢驗B、C級時，無法進(jìn)行單面雙側(cè)掃查時，可采用兩種以上折射角的探頭在焊縫一側(cè)進(jìn)行探測。5.3.2.1頻率探頭頻率一般在2MHz-5MHz范圍內(nèi)選擇，推薦選用2MHz～2.5MHz探率，MHz率，MHz品片尺寸，(mm×mm)度60%以上。ABC到廢線RL,mmφ3×30.4d田評定線SL,mm波幅(%)對波幅超過評定線(EL線)的反射回波(或波幅雖然未超過評定線(EL線),但有一5.4.5.3.1缺陷當(dāng)量值φ,用當(dāng)量平c)當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū)，如認(rèn)為圖11端點峰值法5.4.6.1對波幅超過評定線(EL線)的反圖11端點峰值法ABC(2/3):最小12mm巴V注：t為坡口加工側(cè)管壁厚度，焊接接頭兩側(cè)管壁厚度不等時，t取薄壁ⅢV滿足4.5規(guī)定外應(yīng)符合下列要求。檢驗面打磨寬度應(yīng)滿足表7所示。6.2.2焊縫的余高修磨所檢管件的焊縫余高過高、過寬或有不清晰回波信號產(chǎn)生的地方應(yīng)進(jìn)行6.2.3儀器用于檢驗的儀器在運行中不得出現(xiàn)任何種類的臨界值和阻塞情況，宜采用數(shù)字式A型6.2.4探頭的選擇選用的探頭直射波掃查時按圖12所示，應(yīng)掃查到焊接接頭1/4以上壁厚范圍6.2.4.1頻率探頭頻率為5MHz?6.2.4.2角度斜探頭的折射角β應(yīng)依據(jù)6.2.4.3探頭晶片尺寸在保證晶片面積不大于64mm2的前提下推薦探頭晶片尺寸選用6mm×6mm、6.2.4.4探頭前沿管壁厚度小于等于6mm時探頭前沿應(yīng)小于等于5mm,壁厚度大于6mm時可適當(dāng)增大。6.2.4.5始脈沖占寬使用的探頭與探傷儀應(yīng)有良好度應(yīng)盡可能小，一般小于或等于2.5mm(相當(dāng)于鋼中6.2.4.6探頭分辨力探頭分辨力應(yīng)大于等于20dB。6.2.4.7探頭與檢驗面應(yīng)緊密接觸，如圖13所示間隙X不應(yīng)大于0.5mm,若不能滿足應(yīng)進(jìn)行修磨，修磨的對管子外徑大于89mm,或有該項檢驗要求的焊接接頭，按照5.3.3.1條規(guī)定。6.2.6耦合劑6.3儀器調(diào)整和校驗在DL-1型專用試塊上測定探頭的前沿，折射角。始脈沖占寬和探頭分辨力，測量方法6.3.2時基線掃描的調(diào)節(jié)在DL-1型專用試塊上調(diào)節(jié)時基線，調(diào)節(jié)方法見附錄IDAC曲線應(yīng)以所用探傷儀和探頭在DL1型6.3.3.1被檢驗管子厚度小于等于6mm時DAC測繪如圖14所示將h=5mm的Φ1mm通孔回波高調(diào)節(jié)到垂直刻度的80%畫一條直線(用于直射波檢驗),然后降4dB再畫一條直線(用于一次6.3.3.2被檢驗管子厚度大于6mm時按附錄D儀器調(diào)整的校驗在DL-1型專用試塊上按4.8.3條規(guī)定進(jìn)行。6.4.1掃查方式6.4.1.1環(huán)向?qū)咏宇^對環(huán)向?qū)咏宇^從焊縫兩側(cè)進(jìn)行，移動范圍如圖15所示。6.4.1.2角接接頭對角接接頭以小徑管為檢驗面進(jìn)行單側(cè)掃查如圖16、圖17所示。6.4.2檢驗6.4.2.1掃查靈敏度為DAC曲線增益10dB。6.4.2.2應(yīng)按6.4.1掃查方式進(jìn)行檢驗。6.4.2.3反射回波的分析對波幅超過DAC-10dB的反射波(或波幅雖然未超過DAC短槽尺寸(6×h)短槽尺寸(b×A)圖18短槽試塊7.2.4.1頻率探頭頻率宜采用4MHz或5MHz。7.2,4.3探頭晶片尺寸在保證晶片面積不大于36mm27.2.4.4探頭前沿探頭前沿應(yīng)小于等于5mm,7.2.4.5始脈沖占寬按照6.2.4.5規(guī)定。7.2.4.6探頭分辨力按照6.2.4.6規(guī)定。附錄L。(規(guī)范性附錄)b)為保證一發(fā)一收探頭相對于串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離移動，應(yīng)配備適宜的探頭夾c)縱波探頭和橫波探頭的頻率必須相同，推薦采用2.5MHz或5MHz。d)橫波探頭折射角56探頭，縱波探頭晶片尺寸采用φ14mm或φ20mm.C.2儀器調(diào)整時基線掃描的調(diào)節(jié)采用折射角56單橫波探頭，按標(biāo)準(zhǔn)正文5.3.4條的方法單聲程調(diào)節(jié)。在如圖C1所示的試塊上，將用于發(fā)射的縱波探頭置于線切割面正上方，然后在線切割波幅值(dB);e)以波幅(dB)為縱坐標(biāo)，以探測距離(聲程、深度或水平距離)為橫12345標(biāo)準(zhǔn)孔加工面的平行度不大于0.05 屏的10%。a)將專用面板置于儀器監(jiān)視屏前(或利用原面板)c)將