可靠性實驗報告模版

XXXXXXXXX微電子有限公司XXXXXXXXXXXMicroelectronicsCo.,Ltd.可靠性實驗報告ReliabilityTestReportNO：SDC-D-PJ-22-B(/)申請部門：Applicationdepartment申請編號：ApplicationNo.產(chǎn)品型號：PartNumber封裝形式：PackageType接樣日期：ReceiveDate檢測日期：TestDuration編制：PreparedBy審核：CheckedBy批準(zhǔn)：ApprovedBy日期：Date日期：Date日期：Date品質(zhì)實驗室聲明THEDECLARATIONOFQUALITYLABORATORYNO：SDC-D-PJ-22-B(/)1.為提高產(chǎn)品質(zhì)量，本實驗室遵循科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的原則，為用戶提供有效、迅速的服務(wù)。Conductingscientifically,candidlyandprecisely,testserviceforimprovingproductqualityisprovidedeffectivelyandtimelybythislaboratorytoourcustomers.2.報告無品質(zhì)實驗室專用圖章無效。Thereportisvoidwithoutappropriativestampofqualitytestlaboratory.3.報告涂改、部分復(fù)制無效。Thereportisvoidifitis,inanyway,alteredand/orcopied.4.本次試驗結(jié)果僅適用于試驗樣品。Theresultsonlyapplytothedeviceundertest.5.帶*標(biāo)記項目為非必要試驗項目，若客戶需要，可另外安排試驗。Itemsmarkedwith*areunnecessarytestitems.Ifthecustomerneeds,additionaltests canbearranged.可靠性實驗報告ReliabilityTestReportNO：SDC-D-PJ-22-B(/)1、產(chǎn)品信息ProductInformation產(chǎn)品型號(P/N)封裝形式（Package)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣數(shù)（SampleSize)芯片名稱（DieNO.)芯片尺寸（DieSize)2、原材料型號RawMaterialModel裝片膠（BondingMaterial)焊線（Wire)引線框架(LeadFrame)塑封料（Compound)3、試驗信息TestInformation試驗?zāi)康模≒urpose)確保封裝產(chǎn)品符合信賴性要求，保證產(chǎn)品質(zhì)量，滿足客戶要求。序號NO.試驗項目TestItem試驗標(biāo)準(zhǔn)TestStandard試驗條件TestCondition數(shù)量S.S.判定Acc/Re1預(yù)處理(PRE-CON)PreconditionTestJESD22-A113-DStep1：超聲掃描儀SAM；Step2：高低溫循環(huán)-40℃（orlower）-60℃（orhigher）for5cyclestosimulateshippingconditions；Step3：烘烤；Step4：浸泡Level1：85℃/85%RHfor168H；Level2：85℃/60%RHfor168H；Level3：30℃/60%RHfor192HStep5：回流焊240℃（-5℃）/225℃（-5℃）for3times（Pb-Sn）；245℃（-5℃）/250℃（-5℃）for3times（Lead-free）Step6：超聲掃描儀SAMall0/12可焊性試驗SolderabilityJESD22-B102E245℃±5℃/3~5S，只浸沒管腳5PCS0/13高低溫循環(huán)試驗(TCT)TemperaturecyclestestJESD22-A104-C-65℃~150℃,DWELL=15min200/500/1000Cycles77PCS0/14高壓蒸煮試驗(PCT)PressureCookerTestJESD22-A102-C121℃/100%RH,2Atm,96H77PCS0/15高溫儲存試驗(HTST)HighTemperatureStoragetestJESD22-A103-C150℃,168/500/1000H77PCS0/16恒溫恒濕試驗(THT)Temperature&HumiditytestJESD22-A101-C85℃/85%RH,168/500/1000H77PCS0/17低溫儲存試驗(LTST)LowTemperatureStoragetestGBT2423.1-2001-40℃,168/500/1000H77PCS0/1*8穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓試驗(THB)TemperatureHumidityBiasTestJESD22-A101-D85℃，85%RH，1.1VCC，StaticBias77PCS0/1*9高加速溫濕度應(yīng)力試驗（HAST）HighlyAcceleratedStressTestJESD22-A110130℃，85%RH，1.1VCC，StaticBias，2.3atm77PCS0/1*10高溫工作壽命（HTOL）HighTemperatureOperatingLifeJESD22-A108-A125℃，1.1VCC，動態(tài)測試77PCS0/14、檢驗結(jié)果InspectionResult序號NO.試驗項目TestItem檢驗項目結(jié)論Result試驗日期TestDuration▇外觀Visual▇電性Electrical1PRE-CON2Solderability3TCT4PCT5HTST6THT7LTST*8THB*9HAST*10HTOL5、結(jié)論Conclusion試驗日期TestDuration檢驗結(jié)論TestConclusion備注CommentN/ANO：SDC-D-PJ-22-B(/)附錄一：試驗/檢測設(shè)備AppendixI:Test/InspectionDeviceNO：SDC-D-PJ-22-B(/)型號Type名稱Name編號No.

可焊性實驗分項試驗報告SolderabilitySUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號(LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)5PCS試驗條件（TestCondition)245℃±5℃/3~5S，只浸沒管腳檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTest▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S5失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)ETH-150-40-CP-SD錫爐E-02-007結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A

高低溫循環(huán)試驗分項試驗報告TEMP.CyclesTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)-65℃~150℃,DWELL=15m,200/500/1000Cycles檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTCT200Cycles▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTCT500Cycles▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTCT1000Cycles▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)TPO4300A-8C32-7高低溫試驗箱E-02-001結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A高壓蒸煮試驗分項試驗報告PressureCookerTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)121℃/100%RH,2Atm,96H檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTest▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)EHL-321高壓蒸煮箱E-02-005結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A

高溫儲存試驗分項試驗報告HighTemperatureStorageTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)150℃,168/500/1000H檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterHTST168H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterHTST500H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterHTST1000H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)HMO-1高溫烘箱E-02-006結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A低溫儲存試驗分項試驗報告LOWTemperatureStorageTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)-40℃,168/500/1000H檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterLTST168H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterLTST500H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterLTST1000H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)ETH-150-40-CP-SD低溫儲存箱E-02-004結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A

恒溫恒濕試驗分項試驗報告Temperature&HumidityTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)85℃/85%RH,168/500/1000H檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST168H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST500H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST1000H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)ETH-150-40-CP-SD恒溫恒濕箱E-02-003結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A*穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓試驗分項試驗報告*TemperatureHumidityBiasTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)85℃，85%RH，1.1VCC，StaticBias檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST168H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST500H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST1000H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)名稱（Name)編號（NO.)結(jié)論Conclusion試驗日期（TestDate)試驗結(jié)論（TestConclusion)備注（Comment)N/A*高加速溫濕度應(yīng)力試驗分項試驗報告*HighlyAcceleratedStressTestSUB-ITEMTESTREPORT產(chǎn)品&試驗信息Product&TestInformationNO：SDC-D-PJ-22-B(/)產(chǎn)品型號(P/N)產(chǎn)品印章/批號（LotNO.)抽樣標(biāo)準(zhǔn)（SampleStandard)77PCS試驗條件（TestCondition)130℃，85%RH，1.1VCC，StaticBias，2.3atm檢驗情況InspectionDescription階段Phase檢測項目InspectionItem溫度TEMP.濕度HUMI.結(jié)論Result檢測者Inspector日期DateBefore▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST168H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST500H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.AfterTHST1000H▇外觀檢Visual▇電性測試Elec.試驗數(shù)S.S77失效情況描述FailureDescriptionN/A失效數(shù)REJ0試驗/檢測設(shè)備Test/InspectionDevice型號(P/N)