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參考中文標(biāo)準(zhǔn)絕緣材料系統(tǒng)2019年2月4日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446內(nèi)容2計量單位63參考文獻(xiàn)64詞匯表75絕緣系統(tǒng)105.1一般106電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化126.1一般126.2樣品126.3曝光146.4診斷測試-測試壽命終止的確定166.5分析與評估17標(biāo)記7細(xì)節(jié)21介紹SA2通用SA1SA8絕緣系統(tǒng)-兩個溫度熱老化SA11SA9.1通用SA13介紹介紹SC3清漆-熱老化SC22017年7月18絕緣材料系統(tǒng)-通用-介紹1.1這些要求涵蓋了用于評估等級120(E)或更高電氣絕緣系統(tǒng)(EIS)的測試程序,其中熱因素是主要的老化因素。這些要求還包括調(diào)查在先前評估過的絕緣系統(tǒng)中替代絕緣的非電絕緣材料(NIM)組件的情b)旋轉(zhuǎn)電機(jī)標(biāo)準(zhǔn)-第18-31部分:絕緣系統(tǒng)的功能評估-繞線繞組的測試程序-旋轉(zhuǎn)機(jī)中使2測量單位2.1要求的值不帶括號。括號中的值是說明性或近似信息。3參考文獻(xiàn)3.1本標(biāo)準(zhǔn)要求中出現(xiàn)的凡是不注明日期的法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn),均應(yīng)解釋為是該法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的最新版本。3.2IEC測試方法是首選的測試方法,ASTM方法在技術(shù)上是等效的,除非表3.1中另有說明。如果在[方括號]中使用測試方法的名稱后跟替代或等效的名稱,則可以認(rèn)為后一種方法在技術(shù)上是等效的,盡管不一定相同,并且可能會產(chǎn)生一些不同的數(shù)值測試結(jié)果。表3.1測試方法ASTM標(biāo)準(zhǔn)ASTMD1676,薄膜絕緣電磁線的標(biāo)準(zhǔn)測ASTMD2307,薄膜絕緣圓電磁線熱耐久性的標(biāo)準(zhǔn)測ASTMD2519,通過螺旋線圈測試對電絕緣清漆的粘結(jié)強(qiáng)度進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)測試ASTMD3145,通過螺旋線圈法測定電絕緣清漆的耐熱性的標(biāo)準(zhǔn)測ASTMD3251,涂在薄膜絕緣電磁線上的電絕緣清漆的熱耐久性能的標(biāo)準(zhǔn)測ASTMD5642,密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測ASTME178,處理外圍觀測值的標(biāo)準(zhǔn)IEC標(biāo)準(zhǔn)IEC60455-2,用于電絕緣的樹脂基反應(yīng)性化合物-第2部分:測試方法IEC60455-3,用于電絕緣的樹脂基反應(yīng)性化合物,第3部分:各種材料的規(guī)格(所有樹脂的薄片)[ASTMD3251,涂在薄膜絕緣電磁線上的電絕緣清漆的熱耐久性特征的標(biāo)準(zhǔn)測試方法]IEC60493-1,老化測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析指南-第1部分:基于正態(tài)分布測試結(jié)果平均值的方法IECTR60493-2,老化測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析指南-第2部分:審查經(jīng)審查的正外圍觀測值的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范]IEC60505.電氣絕緣系統(tǒng)的評估和鑒定IEC60851,繞組線-測試方法(所有零件)行標(biāo)準(zhǔn)測試的方法]IEC61857,電絕緣系統(tǒng)-熱評估程序(所有部分)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法]IEEE1.推薦實踐-電氣設(shè)備額定溫度限制和電氣絕緣評估的通用原則NEMA標(biāo)準(zhǔn)2017年7月18絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14466ANEMAMW1000,電磁線此頁面上沒有文字4.2顯熱指數(shù)-絕緣系統(tǒng)未經(jīng)調(diào)整的熱指數(shù),是通過對該系統(tǒng)的熱老化數(shù)據(jù)進(jìn)行回歸分析得出的,通常其4.3催化劑-一種改變(通常增加)反應(yīng)發(fā)生速率而不被消耗的物質(zhì)。4.7EIS-電氣絕緣系統(tǒng)-包含一種或多種電氣絕緣材料(EIM)以及在電工設(shè)備中使用的相關(guān)導(dǎo)電部件的4.8電氣絕緣系統(tǒng)等級-商定的等級:參見6.5.5(c)。4.9通用模型(GPM)-根據(jù)電氣絕緣系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)范構(gòu)造的單元-熱評估程序-第1部分:通用要求-低壓,IEC61857-1,在電絕緣系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)中對GPM進(jìn)行了具體說明-熱量評估程序型的特殊要求-線繞應(yīng)用,IEC61857-21,但以下方面:b)除非沒有可用,否則電磁線應(yīng)為18AWG(0.82平方毫米),在這種情況下,可以使用任何尺寸為18AWG-24AWG(0.20平方毫米)的電線。4.11對數(shù)平均數(shù)-商的對數(shù),定義為對數(shù)的總和(除數(shù))除以作為除數(shù)的值的數(shù)量。計算壽命的首選方法,4.12樣本-實際的電工產(chǎn)品,其組件或代表該產(chǎn)品的非功能性模型,例如通用模型(GPM),用于評估絕緣系統(tǒng)。4.13SYSTEM-絕緣系統(tǒng)。參見4.7。4.14系統(tǒng)組件-分組如下:a)電氣絕緣材料(EIM)(也稱為主要組件)-絕緣系統(tǒng)的組件,可用來防止電擊或火災(zāi)的危b)非電子絕緣材料(NIM)(也稱為次要組件)-絕緣系統(tǒng)的組件,通常用于機(jī)械或熱傳導(dǎo)能力,定義/[評論]平衡化合物(電機(jī)術(shù)語)線軸或芯管(變壓器術(shù)語)蜘蛛俠(電機(jī)術(shù)語)XXXXXX一種應(yīng)用于轉(zhuǎn)子以減少振動的材料。層時,它就是EIM。當(dāng)它總是在隔離繞組與接地或死金屬之間提供輔助EIM絕緣時,它就是NIM。]以是片狀,薄膜狀,薄膜帶狀,也可以是為此目的而設(shè)計的模制線圈形式所包括的材料。導(dǎo)線涂有絕緣的聚合樹脂絕緣層。EIM,通常是一種模制材料,通常圍繞電絕緣系統(tǒng)(且還提供其他安全保護(hù)。例如,將繞組與金的設(shè)備不使用輔助的周圍外殼,因此,封裝劑可以用作電氣外轉(zhuǎn)子疊片和繞組之間的材料從一個槽穿過另一個槽。[當(dāng)導(dǎo)體和地面之間未提供輔助EIM絕緣時,這是EIM。絕緣或?qū)w與端部星形輪之間的最小空氣空間為1毫米)時,它是一種NIM。]由通常用作引線的電線類型構(gòu)成的繞組。管理定義/[評論]全絕緣電線(FIW)(變壓器術(shù)語)術(shù)語)利茲線(變壓器用語)相絕緣(電機(jī)項)固定膠帶(汽車術(shù)語)XXXXXXXXXXXXXXXXXX零高壓連續(xù)性缺陷?;蛩澜饘?。絕緣。通過最小安全間距。]同一繞組中的絕緣導(dǎo)體。[用于絕緣。]確定為燈絲繞組。]電磁線或其他材料(滌綸,玻璃纖維,芳綸電線被認(rèn)為是EIM組件。非電線部分變頻器。]磁場。電磁/繞組線,其絕緣材料為聚合樹脂。將其與接地或死金屬分開的間隙。]功能,例如將組件固定到位,該組件仍可以正常運(yùn)行。系統(tǒng)。被稱為錨帶。要求的EIM絕緣或最小1/32英寸(0在導(dǎo)體和軸之間的空間。]表4.1下頁續(xù)定義/[評論]X槽襯板(電機(jī)術(shù)語)X轉(zhuǎn)子或定子通道中使用的材料,依靠該材料或死金屬部件絕緣。X在設(shè)備內(nèi)以機(jī)械能力使用的材料。XX通常出于美觀目的在絕緣清漆上施加的材料。X材和燈絲繞組的絕緣。]XX貢獻(xiàn)。]窗戶絕緣(變壓器XX術(shù)語)體與接地金屬或死金屬之間的氣隙小于1/32英寸(0.8毫米)時,被標(biāo)識為EIM。]也稱為芯窗隔熱層注意:X表示這種類型的材料符合EIM和/或NIM名稱??冃?biāo)準(zhǔn)5絕緣系統(tǒng)5.1.1電氣絕緣系統(tǒng)應(yīng)按照IEC60505《電氣絕緣系統(tǒng)評估和鑒定標(biāo)準(zhǔn)》中規(guī)定的準(zhǔn)則進(jìn)行評估。為此,在第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”中指定了完整的熱老化程序,以及合格的參考絕緣系統(tǒng),測試協(xié)議和樣品要求。5.1.2應(yīng)研究絕緣系統(tǒng),以確定絕緣系統(tǒng)內(nèi)的組件是否兼容,并確定系統(tǒng)的溫度等級。5.1.3具有不同分配溫度等級的絕緣材料能夠組合形成溫度等級高于或低于任何單個組件的絕緣系統(tǒng)。5.1.4必須研究絕緣材料與同一絕緣系統(tǒng)中其他材料的相容性,以確定此類組件的熱老化是否會使系統(tǒng)易于遭受不可接受的劣化,從而劣化該正常性能在系統(tǒng)指定溫度等級下的預(yù)期性能。2019年2月4日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446115.1.6應(yīng)在最終用途產(chǎn)品中評估結(jié)構(gòu)特征,例如引線絕緣層的機(jī)械和b)EIM組件的厚度(如果適用),包括層壓板每一層的厚度;適當(dāng)?shù)臏囟鹊燃?;每種引線的溫SA7.1.1(e)和SA7.2.1(e)。12絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14462016年11月11日導(dǎo)線溫度額定值C155(樓)180(高)200(牛)220(右)240(實)5.2.7在絕緣系統(tǒng)中使用金屬箔或背襯金屬箔膠帶作為屏蔽材料時,需要在金屬箔和所有繞組之間進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕拥鼗蚶@組間絕緣。5.2.8在絕緣系統(tǒng)中使用金屬箔或背襯金屬箔膠帶制作繞組需要在連續(xù)的匝之間進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑呀^緣。性能測試6電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化6.1.1候選絕緣系統(tǒng)和合格參比絕緣系統(tǒng)的代表性樣品應(yīng)經(jīng)受完全的熱老化,包括至少三個溫度。在每個老化溫度下,應(yīng)對樣品進(jìn)行循環(huán)程序,診斷測試,并對所有溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,以確定其與參考系統(tǒng)的熱等級。6.1.2熱老化樣品中不存在的其他組分應(yīng)通過補(bǔ)充SA中概述的方法添加。6.2樣品6.2.1操作部件或代表性結(jié)構(gòu)的測試樣品應(yīng)包括所有EIM組件和任何其他NIM組件,這些組件應(yīng)組裝成代表預(yù)期的最終用途絕緣系統(tǒng)。開放式(非封裝)系統(tǒng)的測試樣本不能代表封裝系統(tǒng)。應(yīng)對接地,纏繞或封裝能力起作用的材料應(yīng)以最小厚度進(jìn)行測試。當(dāng)需要隨后的厚度減小時,請參見SA6.3。6.2.2代表封裝系統(tǒng)的測試樣品應(yīng)按照第6節(jié)“電絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”的規(guī)定進(jìn)行熱老化程序。6.2.3最終用途絕緣系統(tǒng)的繞組配置應(yīng)在測試樣本中表示。確定對隨機(jī)纏繞結(jié)構(gòu)的測試可以代表其他繞組配置(例如層繞或精密纏繞),而并非相反。導(dǎo)線應(yīng)從繞組伸出的地方進(jìn)行額外保護(hù),以免與樣品架接觸。防護(hù)層應(yīng)為惰性材料,例如未浸漬的玻璃纖維管,它不能與絕緣系統(tǒng)相互作用。6.2.4每個時效溫度的一組樣品數(shù)量不得少于:a)包含絕緣系統(tǒng)的操作部件的六個樣本;b)代表絕緣系統(tǒng)的無功能老化樣品的十個樣品:要么c)繼電器或電磁線圈的十個樣本。6.2.5由于測試結(jié)果取決于測試條件的變化,因此也應(yīng)以與候選絕緣系統(tǒng)相同的方式對參考絕緣系統(tǒng)進(jìn)行測試,以使熱老化測試程序的結(jié)果與預(yù)期的使用條件相關(guān)聯(lián)。6.2.6要成為參考/候選對,必須滿足以下條件:a)參考系統(tǒng)應(yīng)是先前已熱老化的材料的獨(dú)特組合。例外:當(dāng)某些原始材料不再可用時,應(yīng)將它們刪除或替換為所有相關(guān)方都同意類似的其他材料。b)參考系統(tǒng)應(yīng)具有支持特定絕緣系統(tǒng)溫度等級的現(xiàn)場服務(wù)運(yùn)行歷史;c)候選對象的物理構(gòu)造應(yīng)與參考絕緣系統(tǒng)相同(即,通用模型到通用模型(GPM),電磁線圈到電磁線圈,封裝線圈到封裝線圈等);d)候選人的匝間絕緣的電磁線規(guī)尺寸應(yīng)在3AWG尺寸以內(nèi)或?qū)τ趨⒖冀^緣系統(tǒng)的裸露導(dǎo)體為e)候選系統(tǒng)的匝間絕緣構(gòu)造應(yīng)等于或小于參考值。f)參考絕緣系統(tǒng)應(yīng)與任何候選絕緣系統(tǒng)同時測試:和g)參考絕緣系統(tǒng)應(yīng)在與6.3.1.1所述候選絕緣系統(tǒng)相同的烤箱類型中進(jìn)行熱老化。1號例外如果所有相關(guān)方都同意,則參考數(shù)據(jù)可以在參考系統(tǒng)老化之后使用五年,而此時設(shè)備,測試方法和測試條件都沒有改變。2號例外當(dāng)各方均未同意參考文獻(xiàn)時,應(yīng)使用40,000h的固定相關(guān)時間。h)各方應(yīng)在測試開始之前就測試協(xié)議達(dá)成一致。6.2.7為了檢測有缺陷的樣品配置或單個有缺陷的樣品,應(yīng)在熱老化開始之前對所有樣品進(jìn)行篩選,方法是使所有樣品經(jīng)受一個完整的暴露循環(huán)(烤箱老化除外),然后按照6.4進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑\斷測試。不符合6.4診斷測試要求的樣品應(yīng)從測試程序中剔除,并用可用樣品代替,以使樣品數(shù)量保持符合6.2.4的要求。6.3曝光量6.3.1熱老化6.3.1.1老化程序中使用的熱老化烤箱應(yīng)使用“ASTMD5374強(qiáng)制對流實驗室電絕緣評估標(biāo)準(zhǔn)測試方法”中的方法進(jìn)行校準(zhǔn),并符合強(qiáng)制對流實驗室的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范用于評估電絕緣性的烤箱,ASTMD5423適用于型(每小時換氣5-20次)或Il型(每小時換氣100-200次)烤箱,主要涉及通風(fēng)速率,設(shè)定溫度,溫度變化和熱滯后時間。如果參考樣品和候選樣品在同一類型中老化,則可以使用I型或II型。6.3.1.2時效溫度之間的差異應(yīng)不小于10°C(18°F),以最小化測量和控制這些溫度時的小誤差影響。6.3.1.3在規(guī)定老化溫度的前提下,最低測試溫度應(yīng)導(dǎo)致對數(shù)壽命的至少5000小時的對數(shù)平均或幾何平均時間,而最高測試溫度應(yīng)導(dǎo)致對數(shù)平均或幾何平均時間。到至少100小時的使用壽命。過高的老化溫度有時會導(dǎo)致非線性數(shù)據(jù),從而可能使該點(diǎn)無效,因此需要在其他較低溫度下進(jìn)行測試以獲得線性數(shù)據(jù)。6.3.1.4初步篩選測試可以用作指定初始測試溫度的輔助工具。當(dāng)篩選數(shù)據(jù)符合6.3.1.3中指定的標(biāo)準(zhǔn)時,可以將其用于最終數(shù)據(jù)分析中。6.3.1.5對于每個時效溫度,都有一個指定的初始時效周期,例如24-最高溫度72小時;下一個較低的溫度為48-168小時;下一個較低的溫度96-336小時;最低溫度為168-672小時。6.3.1.6參照6.3.1.5,當(dāng)少于一半的樣品在8個循環(huán)后達(dá)到測試壽命結(jié)束時,初始時效循環(huán)周期可以增加(例如,增加一倍),而在8個循環(huán)后達(dá)到測試壽命的終點(diǎn)時,則可以縮短(例如,減少一半)三分之一的樣品在3個周期內(nèi)達(dá)到了使用壽命。6.3.1.7對于連續(xù)通電并因此自加熱的樣品:a)單個樣品或樣品組的溫度與記錄的溫度相差不得超過2°C(3.6°F)。溫度將通過電阻變化方法或位于樣品上的熱電偶進(jìn)行測量。確定老化時間是在獲得溫度穩(wěn)定性且溫度在公差范圍內(nèi)時開始的。在每個熱老化周期中至少要檢查兩次這些溫度,并且每周不少于一次。和b)應(yīng)提供一種在熱老化試驗過程中檢測試驗壽命終止的方法,可以選擇是否使這些樣品自動斷6.3.2機(jī)械應(yīng)力6.3.2.1在循環(huán)的熱老化階段之后,所有相關(guān)方應(yīng)確定并商定振動調(diào)節(jié)的特定程序。建立此程序后,將保持一致性。典型的振動調(diào)節(jié)程序在6.3.2.2中規(guī)定-6.3.2.5.外部施加的振動將由實驗室級振動器引起,該振動器應(yīng)在指定水平上進(jìn)行精確控制的調(diào)節(jié)。6.3.2.3變壓器應(yīng)穩(wěn)定在環(huán)境溫度下,以60Hz的頻率振動60分鐘,并以14.7m/s2(48.3ft/s2)的加速度6.3.2.4要使運(yùn)行正常的電動機(jī)穩(wěn)定在環(huán)境溫度下,然后通過下列方法之一使其承受機(jī)械應(yīng)力:a)每個周期反轉(zhuǎn)或啟動和停止250次;b)與6.3.2.2中的非功能性試樣相同;要么6.3.2.5電磁線圈應(yīng)穩(wěn)定在環(huán)境溫度下,然后通過以下方法之一承受機(jī)械應(yīng)力:a)組裝成一個閥并在環(huán)境溫度下運(yùn)行1000次;b)適當(dāng)?shù)臎_擊試驗;c)與6.3.2.2中的非功能性試樣相同:要么6.3.3冷休克應(yīng)用溫度°C(°F)室內(nèi)使用戶外使用未標(biāo)明未標(biāo)明未標(biāo)明6.3.4暴露于濕氣6.3.4.2對于室內(nèi)應(yīng)用,樣品應(yīng)在不低于室溫的環(huán)境溫度下在92-100%的相對濕度下進(jìn)行48h的處理。對于打算用于戶外的設(shè)備,相對濕度應(yīng)為100%,且每個樣品上均應(yīng)有表面水分,并且6.4診斷測試-確定測試壽命終止一些等效的手段。應(yīng)注意避免在槽,端匝和裸露的邊緣發(fā)生故障,否則在評估數(shù)據(jù)時應(yīng)避免此類結(jié)果。測試電壓應(yīng)施加10分鐘。c)對于工作部件樣品,如電磁閥,變壓器或電動機(jī),其樣品在其預(yù)期電壓下持續(xù)通電并因此自發(fā)熱,則應(yīng)在開始測試之前就確定使用壽命的測試達(dá)成共識。。禁止該測試包括但不限于過電流保護(hù)設(shè)備的打開,設(shè)備的隨意啟動和停止,設(shè)備的絕緣電阻或介電損耗測量值的變化或電動機(jī)旋轉(zhuǎn)方向的變化。當(dāng)檢測到壽命終止時,以該時間為單位的時間(以小時為單位)應(yīng)作為累積的熱老化時間。6.4.2為了進(jìn)行上述6.4.1(a)和6.4.1(b)規(guī)定的介電耐壓測試,應(yīng)使用容量至少為500VA的測試變壓器,以使通過絕緣系統(tǒng)的泄漏電流不會降低絕緣電阻。實際施加的電壓低于初級側(cè)指示的電壓。但是,當(dāng)在測試過程中監(jiān)視測試變壓器的次級電勢以確定所需的測試電壓沒有因泄漏電流而降低時,則不得使用非指定的測試變壓器。6.4.3在對每個樣品進(jìn)行了另外一個完整的循環(huán)后,應(yīng)通過重復(fù)進(jìn)行介電應(yīng)力測試來驗證每個樣品的使用壽命。首次檢測到并確認(rèn)的介電擊穿被認(rèn)為是該樣品測試壽命的終點(diǎn)。6.4.4除通過自熱老化的樣品外,當(dāng)已確認(rèn)測試壽命終止時,應(yīng)將以小時計的時間記錄為首次確定測試壽命終止時的累計熱老化時間減去一半。最后烤箱老化周期的時間。6.5分析與評估6.5.1在評估絕緣系統(tǒng)的性能時,應(yīng)目視檢查達(dá)到使用壽命的每個樣品。如果不是由于測試壽命的終止而導(dǎo)致絕緣不良,而是由于可動部件生銹或鎖定引起的繞組燒毀,或者遠(yuǎn)離系統(tǒng)本身的一點(diǎn)處的引線分解,則樣品應(yīng)為從數(shù)據(jù)集中省略。當(dāng)從數(shù)據(jù)集中刪除這些樣本后,如果該集中的剩余值少于五個,則應(yīng)確定整個數(shù)據(jù)集無效。6.5.2系統(tǒng)測試壽命是溫度的函數(shù)。6.5.3中定義的Arrhenius方程描述了化學(xué)反應(yīng)速度系數(shù)的溫度依賴性,可以用來模擬系統(tǒng)測試壽命與溫度之間的關(guān)系。6.5.3通過采用以下形式的自然對數(shù),可以簡化Arrhenius方程:令Y=logeka=logeA,b.-E其中:M是候選系統(tǒng)回歸方程的斜率B是候選系統(tǒng)回歸方程的縱軸截距tcc在(a)中確定的參考系統(tǒng)的相關(guān)時間c)通過記錄最高系統(tǒng)溫度等級(如表6.2中給出)來分配候選系統(tǒng)的溫度等級,該最高溫度等級不超過候選系統(tǒng)的表觀熱指數(shù)。保溫系統(tǒng)的最高熱點(diǎn)溫度系統(tǒng)類別C155(樓)180(高)200(牛)220(右)240(實)(超過464)6.5.6圖6.1說明了在高溫下老化參考系統(tǒng)和候選系統(tǒng)后獲得的回歸線。在每個溫度下達(dá)到測試壽命終止的時間用于構(gòu)建所示的時間-溫度圖。20絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14462016年11月11日02016年11月11日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL144621然后為該系統(tǒng)分配了155(F)級溫度等級(來自表6.2),該最高等級不超過170°C的表觀熱指數(shù)。標(biāo)記此頁面上沒有文字補(bǔ)充SA-替代或修改電氣絕緣系統(tǒng)簡介SA1范圍SA1.1此補(bǔ)充要求涵蓋了通過熱老化測試建立的電氣絕緣系統(tǒng)的替代和/或修改,如第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”中所述。SA2.1在通過測試確定溫度等級的絕緣系統(tǒng)中:應(yīng)評估EIM和NIM組件的替代或修改,并確定是否需要進(jìn)行其他測試。SA3非電絕緣材料(NIM)組件SA3.1應(yīng)通過對樣品進(jìn)行一項或多項短期測試(例如定性紅外分析,熱重分析,介電強(qiáng)度或其他適當(dāng)?shù)臏y試)來研究是否要替代替代供應(yīng)商的NIM組件,以確定是否可替代材料至少等同于原始材料?;瘜W(xué)性質(zhì)不同的材料應(yīng)按照SA7節(jié),“絕緣系統(tǒng)-一種溫度熱老化”中所述進(jìn)行老化測試,或經(jīng)受SA9節(jié),“密封管組件兼容性測試”中所述的化學(xué)相容性測試。例外:替代或添加熱保護(hù)裝置(例如,熱熔斷路器或熱熔斷器)不需要進(jìn)行其他測試。SA4電磁線和繞組線SA4.1概述SA4.1.1當(dāng)針對電磁線標(biāo)準(zhǔn)NEMAMW1000定義的任何類型的電磁線與原始絕緣中使用的相同時,一根電磁線可以替代另一根電磁線而無需考慮構(gòu)造系統(tǒng)。例外:應(yīng)根據(jù)SA4.3的要求評估可粘結(jié)電磁線的替代。SA4.1.2對于給定的NEMAMW1000型電磁線SA4.1.3對于給定的NEMAMW1000型電磁線,在最初用鋁導(dǎo)體評估的絕緣系統(tǒng)中用銅導(dǎo)體替代,需要創(chuàng)建新的絕緣系統(tǒng),該絕緣系統(tǒng)由老化程序根據(jù)第6節(jié)《電氣》確定。絕緣系統(tǒng)-完全熱老化。例外:可以使用NEMAMW1000型MW35A電磁線在熱老化的EIS中替代NEMAMW1000型MW37C,而SA2絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14462016年11月11日SA4.1.4對于給定的漆包磁漆線類型,圓形和矩形導(dǎo)體被認(rèn)為是可互換的。SA4.1.5有關(guān)可以相互替代的各種NEMAMW1000電磁線類型的規(guī)格,請參見附錄A-電磁線替代信息。由于化學(xué)差異,可焊接的聚酯底漆線通常與不可焊接的聚酯底漆線不相似,因此不適合替換為使用不可焊接的聚酯底漆線進(jìn)行熱老化的EIS。但是,可以用可焊接的聚酯底漆電磁線將不可焊接的聚酯底漆線替換為SA4.2不可粘結(jié)電磁線SA4.2.1無論滿足哪種導(dǎo)體金屬,在滿足以下條件時,一根不可粘結(jié)的電磁線都可以代替另一根不可粘結(jié)的a)通過定性紅外分析或比較化學(xué)分析,確定該電線的底漆大致與原始絕緣系統(tǒng)中使用的底漆相似;b)替代電磁線的溫度等級,根據(jù)確定漆包線和纏帶繞組線溫度指數(shù)的測試程序(IEC60172)或薄膜絕緣圓電磁線的熱耐久性標(biāo)準(zhǔn)測試方法(ASTM)確定D2307,至少等于原始絕緣系統(tǒng)中使用的電磁線的溫度等級;和c)SB4.5中確定的替代電磁線的熱沖擊性能至少等于原始絕緣系統(tǒng)中使用的電磁線的熱沖擊性SA4.2.2滿足以下條件時,可以用不可粘結(jié)的利茲線代替另一根不可粘結(jié)的電磁線:a)與原始絕緣系統(tǒng)中使用的電磁線相比,用于制造Litz束的電磁線符合SA4.1.1或SA4.2.1;并且b)當(dāng)將Litz束與同一根電磁線或電磁線外涂層以外的任何東西(例如細(xì)絲,編織帶或金屬絲)固定在一起時,已研究了捆綁材料與其余絕緣系統(tǒng)的相容性通過SA7節(jié),絕緣系統(tǒng)的老化測試-一個溫度熱老化或SA9節(jié),密封管化學(xué)兼容性測試的化學(xué)相容性測試。SA4.3可粘接電磁線SA4.3.1在滿足以下兩個條件的情況下,根據(jù)第SA9節(jié)“密封管化學(xué)兼容性測試”進(jìn)行評估后,可以用一根可粘結(jié)的電磁線代替另一根可粘結(jié)的電磁線:a)根據(jù)SA4.2.1(a)的規(guī)定,電磁線膜涂層或涂層組合(不包括粘結(jié)涂層)可以代替原始絕緣系統(tǒng)中使用的涂層。和b)可粘接的電磁線的溫度等級,根據(jù)確定漆包線和纏帶繞組線溫度指數(shù)的測試程序,IEC60172或薄膜絕緣圓電磁線的熱耐久性標(biāo)準(zhǔn)測試方法確定,ASTMD2307至少等于原始絕緣系統(tǒng)中使用的可粘結(jié)電磁線的溫度等級。例外:當(dāng)通過定性紅外分析或比較化學(xué)分析確定粘合涂層具有相同的基本組成時,無需按照SA9節(jié)“密封管化學(xué)兼容性測試"進(jìn)行測試,就可以用一根可粘結(jié)的電磁線代替另一根可粘結(jié)的電磁線。原始絕緣系統(tǒng)中使用的絕緣材料。SA4.3.2根據(jù)SA9節(jié)“密封管化學(xué)相容性測試”進(jìn)行測試,并且可將測試結(jié)果評估為SA9.6中針對未涂漆的熱老化絕緣系統(tǒng)的測試結(jié)果,可以將可粘合的電磁線替換為不可粘合的電磁線,同時滿足以下兩個條件:a)除結(jié)合涂層外,電磁線可以代替根據(jù)SA4.2.1(a)和(c)確定的原始絕緣系統(tǒng)中使用的電磁線;和b)可粘接的電磁線的溫度等級,根據(jù)確定漆包線和纏帶繞組線溫度指數(shù)的測試程序,IEC60172或薄膜絕緣圓電磁線的熱耐久性標(biāo)準(zhǔn)測試方法確定,ASTMD2307,僅比原始絕緣系統(tǒng)中使用的不可粘結(jié)磁線的溫度等級低一個溫度等級。SA4.3.3未進(jìn)行涂漆處理的可粘結(jié)漆包線代替涂漆漆包線需要創(chuàng)建新的絕緣系統(tǒng),該絕緣系統(tǒng)由老化程序根據(jù)第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”確定。b)滿足條件(1)或條件(2)和(3):3)按第(2)項要求減薄的絕緣系統(tǒng),在按照SA9節(jié)“密封管化學(xué)兼容性測試”進(jìn)行測和該評估中,雙絞線產(chǎn)生的清漆/電磁線組合的溫度等和SA5.1.8不符合SA5.1.2-SA5.1.7要求的-完全熱老化。SA5.2在最初未使用清漆的情況下將清漆添加到最初評估的系統(tǒng)中SA5.2.1當(dāng)滿足以下所有條件時,允許在絕緣體系中添加原先沒有使用清漆的清漆:a)必須按照SC2.1對清漆/漆包磁線組合進(jìn)行調(diào)查,得出的組合雙絞線溫度等級不超過按照SB3.3進(jìn)行測試的未漆磁線溫度等級以下的一個溫度等級;和b)清漆與整個系統(tǒng)的化學(xué)相容性應(yīng)通過以下方法之一確定:1)第SA7節(jié),絕緣系統(tǒng)-一種溫度熱老化;2)第SA8節(jié),絕緣系統(tǒng)-兩次溫度熱老化:要么SA5.2.2如果不遵守SA5.2.1,則必須創(chuàng)建新的絕緣系統(tǒng),并且應(yīng)根據(jù)第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”的規(guī)定,通過上光絕緣系統(tǒng)的老化來確定可接受性。SA5.3將使用清漆熱老化的EIS修改為不使用清漆熱老化的EISSA5.3.1對于根據(jù)第6節(jié)評估的EIS,應(yīng)使用第SA7節(jié)*絕緣系統(tǒng)-一項溫度熱老化測試以將EIM組件清漆更改為第6節(jié)電氣絕緣系統(tǒng)-包括清漆作為EIM組件的完全熱老化"進(jìn)行評估。因此,NIM組件可將EIS建立為無需光油即可進(jìn)行熱老化。SA5.3.2符合SA5.3.1的EIS應(yīng)被視為最初未使用清漆的EIS,并且進(jìn)一步的清漆替代應(yīng)使用SA5.2中的標(biāo)準(zhǔn)-在最初未使用清漆的體系中添加清漆。2019年2月4日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446SA6SA6密封劑,接地和繞組間絕緣SA6.1應(yīng)要求密封劑,接地或繞組間絕緣的替代或修改符合SA6.2-SA6.7的要求之一。SA6.2使用基礎(chǔ)樹脂的密封膠,接地或中間絕緣,與絕緣系統(tǒng)中指定的密封膠,接地或中間絕緣或不符合SA6.3-SA6.7中所述的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”通過老化程序?qū)⑵湓u估為新的絕緣系統(tǒng)。SA6.3與絕緣系統(tǒng)中指定的密封劑,接地或繞組絕緣相比要薄,相同的密封劑,接地或繞組絕緣,應(yīng)根據(jù)SA7節(jié)“絕緣系統(tǒng)”中的老化測試,評估其在系統(tǒng)中的可接受性-一種溫度熱老化。SA6.4根據(jù)文件發(fā)現(xiàn),其主要成分(基礎(chǔ)樹脂,填料,增強(qiáng)材料,阻燃劑,熱穩(wěn)定劑和抗氧化劑)的密封劑,接地或繞組間絕緣材料的成分和比例與下列各項相同當(dāng)同時滿足以下兩個條件時,應(yīng)接受絕緣系統(tǒng)中當(dāng)前指定的密封劑,接地或繞組內(nèi)絕緣,而無需進(jìn)行附加測試:a)替代材料的相對熱指數(shù)(電氣和機(jī)械)和最小厚度等于或大于當(dāng)前指定材料的相對熱指數(shù);和b)替代材料僅在分子量,潤滑劑,成核劑,抗靜電劑,著色劑,粒度或催化劑(根據(jù)定義是不反應(yīng)的)方面不同于當(dāng)前指定的材料。例外:與最初指定的第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”通過測試研究的當(dāng)前指定的密封劑,接地材料或中間繞組材料有關(guān)的塑料材料,如發(fā)現(xiàn)存在于該材料中,則應(yīng)在未經(jīng)測試的情況下接受該系統(tǒng)基于文檔的同一系列,并符合《高分子材料標(biāo)準(zhǔn)-短期性能評估》UL746A中指定的聚合物變化要求。SA6.5密封劑,接地或繞組絕緣,根據(jù)文獻(xiàn)顯示,其基礎(chǔ)樹脂,填料,增強(qiáng)劑和固化劑的通用類型和比例與目前指定的密封劑,接地或繞組絕緣相似如果滿足以下條件,則應(yīng)根據(jù)SA8節(jié)“絕緣系統(tǒng)-兩次溫度熱老化”,根據(jù)絕緣系統(tǒng)的熱老化測試,評估絕緣系統(tǒng)中與該材料在其他方面不同的材料,以評估其在系統(tǒng)中的可接受性。遇到:a)替代材料的相對熱指數(shù)(電氣和機(jī)械)和最小厚度等于或大于當(dāng)前指定材料的相對熱指數(shù);和b)與通用分配相反,當(dāng)前指定材料的分配相對熱指數(shù)(電氣和機(jī)械)是根據(jù)材料的熱老化來確定的。SA6.6以薄膜形式提供并通過定性紅外分析證明為聚對苯二甲酸乙二酯的接地或中間絕緣,其來源或等級名稱與最初在絕緣系統(tǒng)中研究過的聚對苯二甲酸乙二酯接地或中間絕緣不同,在系統(tǒng)中應(yīng)予以接受在指定的電氣和機(jī)械相對熱指數(shù)和最小厚度與原始材料的相同或更高時進(jìn)行測試。SA6.7當(dāng)滿足以下條件時,在系統(tǒng)中應(yīng)接受由一層或多層由與基材或與絕緣系統(tǒng)中指定的接地或中間繞組絕緣材料相同的背襯材料制成的粘合帶組成的接地或中間繞組絕緣:a)膠帶可多層使用,以使背襯材料(不包括粘合劑)的總厚度不小于該系統(tǒng)中為該材料指定b)適當(dāng)記錄了用于生產(chǎn)膠帶的背襯材料的厚度和特性:和c)根據(jù)SA7節(jié)“絕緣系統(tǒng)-一個溫度熱老化”或“SA9節(jié)密封管化學(xué)相容性測試”進(jìn)行的化學(xué)老化測試,研究了膠粘劑與其余絕緣系統(tǒng)的相容性。SA6.8當(dāng)電氣絕緣系統(tǒng)中當(dāng)前指定的接地絕緣或繞組絕緣與其他材料(例如塑料膜或紙)層壓在一起時,在下列情況下,新的復(fù)合材料應(yīng)被接受到絕緣系統(tǒng)中:(a)和(c)滿足:a)已經(jīng)指定用作地面絕緣或繞組間絕緣的新復(fù)合材料部分的厚度不少于系統(tǒng)中為該材料指定的b)當(dāng)前在電氣絕緣系統(tǒng)中指定了層壓到地面或繞組絕緣材料上的材料以及層壓膠粘劑。c)根據(jù)第SA7節(jié)“絕緣系統(tǒng)-一種溫度熱老化”或根據(jù)第SA9節(jié)“密封管化學(xué)兼容性”進(jìn)行的化學(xué)兼容性測試,研究了包括層壓膠粘劑在內(nèi)的新型復(fù)合材料與其余絕緣系統(tǒng)的兼容性。測試。SA6.9將密封劑材料引入開放型系統(tǒng)(非密封型)后,必須根據(jù)第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”的老化程序來確定新的絕緣系統(tǒng)。性能測試SA7.1.1可以使用一個溫度熱老化程序來代替完全熱老化,以便評估某些系統(tǒng)修改,例如:a)添加NIM組件時,作為化學(xué)兼容性測試的替代方法。b)減少EIS中任何EIM的厚度,包括減小到零水平。(c)將用清漆熱老化的EIS(EIM)修改為不加清漆熱絕緣的EIS(NIM)。d)替代清漆/電磁線組合的合格評定,其熱指數(shù)比最初評估的系統(tǒng)中使用的清漆的熱指數(shù)低不超過一個溫度等級,并且其雙絞線熱指數(shù)小于未清漆的電磁線。參見第SA5節(jié)。e)評估導(dǎo)線的額定溫度低于系統(tǒng)溫度等級額定值5°C(9°F),從而滿足以下一個或兩個條件:1)導(dǎo)線與繞組直接接觸或進(jìn)入外殼。2)導(dǎo)線的額定溫度低于表5.1中引用的溫度。SA7.2樣品,暴露和測試SA7.2.1未經(jīng)修改(原始)和經(jīng)過修改的系統(tǒng)的代表性樣品應(yīng)按照第6節(jié)“電絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”中的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行構(gòu)造,熱老化和測試,但以下情況除外:a)未修改的系統(tǒng)表示參考系統(tǒng),而修改的系統(tǒng)表示候選系統(tǒng)。b)參考系統(tǒng)和候選系統(tǒng)只能在一個溫度下同時測試。兩個系統(tǒng)的溫度應(yīng)相同。c)指定的測試溫度應(yīng)為完全熱老化程序的溫度,該溫度可導(dǎo)致對數(shù)平均壽命最接近1,000小時(通常是第二高的溫度)。d)當(dāng)不再有原始材料時,經(jīng)所有有關(guān)方面的同意,應(yīng)將其刪除或替換為類似材料。e)當(dāng)評估如SA7.1.1(e)(1)所述使用的備用導(dǎo)線時,樣品的構(gòu)造應(yīng)使導(dǎo)線與導(dǎo)體繞組直接接觸,但不得將導(dǎo)線充滿活力。SA8絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14462019年2月4日M是原始(參考)系統(tǒng)回歸方程的斜率在(a)中確定Tm候選(修改的)系統(tǒng)的老化溫度,以C為單位tm候選(已修改)系統(tǒng)達(dá)到測試壽命終點(diǎn)的時間(小時)SA7.3.5為了為評估化學(xué)變化而評估的候選(改良)保溫系統(tǒng)分配與參考(未改良)系統(tǒng)相同的保溫系統(tǒng)溫度等級額定值,為改良保溫系統(tǒng)確定的視在熱指數(shù)應(yīng)不應(yīng)超過為原始隔熱系統(tǒng)確定的表觀熱指數(shù)5°C 應(yīng)被賦予與參考(未改良)系統(tǒng)相同的絕緣系統(tǒng)溫度等級等級,為改良保溫系統(tǒng)確定的視在熱指數(shù)應(yīng)在為原始保溫系統(tǒng)確定的視在熱指數(shù)的5°C(9°F)以內(nèi),或與原始保溫系統(tǒng)的保溫系統(tǒng)溫度等級相同。如果結(jié)果不在5°C(9°F)或同一絕緣溫度等級之內(nèi),則不符合SA8節(jié)“絕緣系統(tǒng)-兩次溫度熱老化”此頁面上沒有文字2016年11月11日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446SA1SA8絕緣系統(tǒng)-兩個溫度熱老化SA8.1概述SA8.1.1可以使用兩溫?zé)崂匣绦虼嫱耆珶崂匣绦?,以評估某些系統(tǒng)修改。這些修改與第SA7節(jié)“隔熱系統(tǒng)-一種溫度熱老化”中引用的修改相同,并且還可以包含SA6.5中指定的密封劑,接地劑或繞組間材料SA8.2樣品,暴露和測試SA8.2.1未經(jīng)修改(原始)和經(jīng)過修改的系統(tǒng)的代表性樣品,應(yīng)按照第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”的完全熱老化標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行構(gòu)造,熱老化和測試,但以下情況除外:a)未修改的系統(tǒng)表示參考系統(tǒng),而修改的系統(tǒng)表示候選系統(tǒng)。b)參考系統(tǒng)和候選系統(tǒng)只能在兩個溫度下同時測試。這兩個系統(tǒng)的溫度應(yīng)相同。c)指定的測試溫度應(yīng)為完全熱老化程序中使用的任何兩個溫度(通常是兩個最高溫度)。d)當(dāng)不再有原始材料時,經(jīng)所有有關(guān)方面的同意,應(yīng)將其刪除或替換為類似材料。SA8.3分析與評估SA8.3.1兩點(diǎn)熱老化的分析和評估與SA7.3中規(guī)定的單點(diǎn)熱老化的分析和評估相同,不同之處在于應(yīng)表示為每個參考和候選系統(tǒng)確定的兩個時間-溫度數(shù)據(jù)點(diǎn)作為單個算術(shù)平均時間-溫度數(shù)據(jù)點(diǎn)。SA8.3.2一旦確定了平均時間溫度數(shù)據(jù)點(diǎn),兩次溫度分析和評估就減少到一次溫度時效。SA8.3.3參考系統(tǒng)和候選系統(tǒng)的算術(shù)平均時間t(ave)(以小時為單位)應(yīng)通過以下方式確定:t1,t2。達(dá)到使壽命的相應(yīng)時間(以小時為單位)a)確定以°開氏度為單位的算術(shù)平均溫度T(ave),公式為:T1,T2相。的時效溫度(K)T(K)為T(T(平均)=T(平均)-273.15SA8.3.5以小時為單位相關(guān)時間tc應(yīng)通過將參考系統(tǒng)的t(ave)和T(ave)代入SA7.3.4(a)中規(guī)定的方SA8.3.6應(yīng)通過將候選系統(tǒng)的t(ave)和T(ave)代入SA7.3.4(b)規(guī)定的方程式中,確定候選系統(tǒng)的表SA8.3.7為了為評估化學(xué)變化而評估的候選(改良)保溫系統(tǒng)被賦予與參考(未改良)系統(tǒng)相同的保溫系統(tǒng)溫度等級額定值,為改良保溫系統(tǒng)確定的視在熱指數(shù)應(yīng)在參考系統(tǒng)確定的原始表觀熱指數(shù)的5°C(9°F)之內(nèi)。當(dāng)該溫度差大于5°C(9°F)時,則應(yīng)按照第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”中的規(guī)定2016年11月11日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446SA1SA8.3.8為了為評估EIM部件厚度減小的目的而評估的候選(改良)保溫系統(tǒng)被賦予與參考(未改良)系統(tǒng)相同的保溫系統(tǒng)溫度等級額定值,為改良保溫體確定了表觀熱指數(shù)系統(tǒng)應(yīng)在為原始絕緣系統(tǒng)確定的視或同一絕緣溫度等級之內(nèi),則應(yīng)進(jìn)行第6節(jié)“電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化”中規(guī)定的老化以確定溫度等級。SA9.2.2擴(kuò)展EIS-經(jīng)受第6節(jié)-電氣絕緣系統(tǒng)-完全熱老化和第SA9節(jié)-密封管化學(xué)相容性測試的材料/組SA9.2.4清漆-溶劑型液體絕緣體。SA9.2.5浸漬樹脂-非溶劑型液體絕緣體。在單獨(dú)的替代成分管中進(jìn)行測試。用于評估新組件的總管應(yīng)代表所有可能的材料組合,因為它們有可能在絕緣系統(tǒng)的構(gòu)造中組合在一起。a)組件,例如絕緣或粘結(jié)清漆,電纜,槽,層或地面絕緣,綁線,膠帶和管子,不得少1)適用于所有板材645平方毫米(1平方英寸);2)25.4毫米(1英寸)長,用于導(dǎo)線,套管和扎線:3)所有密封劑和灌封化合物的最小體積為2048立方毫米(0.125英寸3),即,一個側(cè)面尺寸為12.7毫米(0.5英寸)的立方體;4)將清漆應(yīng)用于導(dǎo)體樣品,并根據(jù)清漆制造商的規(guī)范進(jìn)行固化。SA9.3.3所有系統(tǒng)的轉(zhuǎn)彎絕緣(電磁線漆和薄板材料)均應(yīng)按照ASTMD56427.3標(biāo)準(zhǔn)的“密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法”在所有管中使用。SA9.3.4當(dāng)要評估可焊線時,如果所有有關(guān)方面都同意,則所有可焊線都可以在測試之前進(jìn)行鍵合。SA9.3.5當(dāng)將可焊線與不可焊線進(jìn)行比較時,應(yīng)在接收到的條件下測試附加的絞合電磁線組的介電強(qiáng)度,以將數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化。SA9.4.1密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法,ASTMD5642,8.1.5,應(yīng)解釋為使得不能在105°C(221°F)下充分干燥一小時的材料或需要進(jìn)一步固化或固化的熱固性材料。交聯(lián)能夠在烘箱老化溫度下干燥一小時。按照ASTMD5642的規(guī)定,烤箱的老化溫度應(yīng)為數(shù)字絕緣等級加上25°C(45°F)。2016年11月11日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446SA1SA9.5不可焊線結(jié)果的解釋SA9.5.1密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法ASTMD5642,9.1解釋如下:a)當(dāng)通過T檢驗在ASTME178的標(biāo)準(zhǔn)處理標(biāo)準(zhǔn)(ASTME178)的4.1和4.2的95%顯著性水平下,被確定為低異常值的雙絞線被認(rèn)為已損壞,并且可以忽略。這些結(jié)果不得用于確定該管的那套導(dǎo)體類型的平均介電強(qiáng)度:和b)在管中調(diào)節(jié)的一組給定導(dǎo)體類型的平均介電強(qiáng)度應(yīng)基于至少5次介電擊穿的平均值。因此,當(dāng)丟棄低的離群值后,集合中的剩余值少于五個時,應(yīng)確定整個集合無效。SA9.5.2密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法,ASTMD5642,9.2,應(yīng)解釋為使替代成分管所測試的導(dǎo)體的平均介電強(qiáng)度不少于同類管的50%參比管的導(dǎo)線。SA9.5.3密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法,ASTMD5642,8.3.4應(yīng)解釋為使得可以接受對電極配置的修改,并且可以在單個樣品上進(jìn)行多次介電測試。包裹在直導(dǎo)體上的絕緣材料的介電強(qiáng)度是通過在導(dǎo)體和樣品外表面的電極之間施加電壓來確定的。從零開始,電壓將以100V/s的速率均勻增加,直到包裹的絕緣層擊穿。SA9.6.1當(dāng)將一根可焊線與另一根可焊線進(jìn)行比較時,應(yīng)按照SA9.5進(jìn)行分析。當(dāng)將可焊線與不可焊線進(jìn)行SA9.6.2密封管化學(xué)相容性測試的標(biāo)準(zhǔn)測試方法ASTMD5642,9.1解釋如下:a)如果根據(jù)TSTM在95%顯著性水平(根據(jù)ASTME178的“處理外部觀察的標(biāo)準(zhǔn)操作”)中以95%的顯著性評估得出的雙絞線是低異常值,則認(rèn)為該雙絞線已損壞,并且可以忽略。這些結(jié)果不得用于確定該管的那組導(dǎo)體類型的平均介電強(qiáng)度;和b)在管中調(diào)節(jié)的一組給定導(dǎo)體類型的平均介電強(qiáng)度應(yīng)基于至少五個樣本的平均值。因此,當(dāng)丟棄低的離群值后,集合中的剩余值少于五個時,應(yīng)確定整個集合無效。SA1絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL14462016年11月11日2016年11月11日絕緣材料系統(tǒng)-通用-UL1446SB1附件SB-電磁線和電磁線涂層簡介SB1范圍SB1.1本補(bǔ)充要求涵蓋了電磁線和電磁線涂層的測試標(biāo)準(zhǔn)。SB2電磁線涂料SB2.1應(yīng)根據(jù)SB4.1進(jìn)行由本發(fā)明的電磁線涂層或涂層組合制成的電磁線的完全熱老化(例如,僅底漆,底漆/面漆,底漆/面漆/粘結(jié)漆)。獲得的線性回歸方程應(yīng)在20,000h時進(jìn)行評估。熱指數(shù)應(yīng)根據(jù)《電磁線標(biāo)準(zhǔn)》(NEMAMW1000)中指定的熱等級進(jìn)行分配。圓線的熱老化也被認(rèn)為是矩形線的代表。SB2.2應(yīng)根據(jù)SA10節(jié)“紅外分析測試”,對完全固化的樣品進(jìn)行定性紅外分析。使用此方法獲得的光譜的解釋有助于材料的基本化學(xué)組成的分類和識別。只要熱等級相同且定性紅外光譜分析未表明成分有明顯變化,就可以替代已對此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評估的其他電磁線涂料。如果其紅外光譜滿足以下條件,則應(yīng)認(rèn)為該替代涂層的成分發(fā)生了重大變化:a)具有一個或多個在原始涂層光譜中不明顯的透射帶;b)不顯示原始涂層光譜中的一個或多個透射帶;要么c)展示一個或多個具有形狀或透射率差異的透射帶,與原始涂層光譜中的相應(yīng)透射率帶相比,這些透射率帶指示出質(zhì)的變化。此外,使用替代涂層的電線應(yīng)根據(jù)SB4.5和SB4.6進(jìn)行熱沖擊和介電強(qiáng)度測試,并應(yīng)符合SB3.6和SB3.7中規(guī)定的要求。SB3.1由先前根據(jù)SB2檢查過的由電磁線涂層制成的電磁線應(yīng)進(jìn)行單溫?zé)崂匣绦?,并?yīng)按照SB4.3-SB3.2由先前未按SB2檢查過的由電磁線涂層制成的電磁線,應(yīng)經(jīng)過完整的熱老化程序,并按SB4.1, SB3.8應(yīng)根據(jù)SA10節(jié)“紅外分析測試”進(jìn)行定性紅外分析。使用此方法獲得的光譜的解釋有助于材料的基本化學(xué)組成的分類和識別。性能測試SB4.1為了對電磁線涂層或由未知涂層制成的電磁線進(jìn)行熱評估和評級,應(yīng)根據(jù)確定漆包線和卷帶繞線溫度指數(shù)測試程序的規(guī)定對線樣品進(jìn)行完整的熱老化程序電線,IEC60172或薄膜絕緣圓電磁線的熱耐久性標(biāo)準(zhǔn)測試方法,ASTMD2307。按照規(guī)定,該程序應(yīng)至少包含3個加速老化溫度,并應(yīng)理解,最低測試溫度應(yīng)導(dǎo)致對數(shù)壽命的至少5,000h的對數(shù)平均或幾何平均時間,而最高測試溫度應(yīng)達(dá)到導(dǎo)致測試壽命結(jié)束的對數(shù)平均時間或幾何平均時間至少為100小時。樣品應(yīng)在ASTMD5423I型或I型烤箱中進(jìn)行熱老化。當(dāng)使用銅導(dǎo)體進(jìn)行測試時,結(jié)果代表了銅和鋁,而并非相反。SB4.2符合SB4.1的數(shù)據(jù)應(yīng)具有0.95或更高的線性度,以便用于計算“漆膜耐熱性標(biāo)準(zhǔn)測試方法”中規(guī)定的電磁線涂層或涂層組合的熱指數(shù),絕緣圓電磁線,ASTMD2307。SB4.3由根據(jù)SB4.1進(jìn)行研究

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