測量檢驗(yàn)基礎(chǔ)知識培訓(xùn)

測量檢驗(yàn)基礎(chǔ)知識第一章：測量的基本概念

第二章：公差與配合基礎(chǔ)目錄：第三章：測量技術(shù)基礎(chǔ)知識一、專業(yè)術(shù)語1.

測量：為確定量值進(jìn)行的一組操作。2.

測得值：從測量器具直接得出或經(jīng)過必要計(jì)算得出的量值。3.

測量的準(zhǔn)確度：測量結(jié)果與被測量約定真值的一致程度4.

測量的重復(fù)性：在符合下列條件下，對同一被測量進(jìn)行連續(xù)測量，其測量結(jié)果之間的一致程度。相同測量方法；同一觀測者；同一測量儀器；同一位置；相同的使用條件；在短時(shí)間間隔內(nèi)重復(fù)。

第一章：測量的基本概念5.

測量的再現(xiàn)性：改變下列一個(gè)或多個(gè)條件，分別對同一被測量進(jìn)行連續(xù)測量，其測量結(jié)果之間的一致程度。測量方法；觀測者；測量儀器；位置；使用條件；時(shí)間。6.

測量的不確定度：表征被測量真值所處在的量值范圍的評定。7.

測量的絕對誤差：測量結(jié)果與被測量約定真值之差。8.

相對誤差：測量的絕對誤差與被測量真值之比。9.

隨機(jī)誤差：在對同一被測量的多次測量過程中，以不可知方式變化的測量誤差的分量。10.

系統(tǒng)誤差：在對同一被測量的多次測量過程中，保持恒定或以可預(yù)知方式變化的測量誤差分量。

11.人員誤差：測量人員主觀因素和操作技術(shù)所引起的誤差。12.環(huán)境誤差：可隨環(huán)境變化的測量誤差分量13.方法誤差：測量方法不完善所致誤差。14.調(diào)整誤差：未能將測量器具或被測對象調(diào)整到正確位置或狀態(tài)所致誤差。15.讀數(shù)誤差：由于觀測者對測量器具不準(zhǔn)確讀數(shù)所致誤差。16.視差：觀測者偏離正確觀測方向進(jìn)行讀數(shù)或瞄準(zhǔn)時(shí)所致誤差。17.估讀誤差：在分度值范圍內(nèi)估讀時(shí)所致誤差。18.粗大誤差：明顯超出規(guī)定條件下預(yù)期的誤差。19.測量器具：是可單獨(dú)地或與其他裝置一起，用以確定幾何量值的器具。二.

幾何量的誤差與公差誤差：尺寸，形狀，位置，表面粗糙度。公差：研究幾何量的誤差及控制范圍，換言之，公差是允許的最大誤差。區(qū)別：誤差在加工中產(chǎn)生，而公差是在設(shè)計(jì)中給定。枝術(shù)標(biāo)準(zhǔn)：GB國家HB,JB部門QB企業(yè)

三、公差與配合的分類

第一節(jié)公差與配合的基本概念一、有關(guān)尺寸的術(shù)語定義①尺寸——用特定單位表示長度值的數(shù)字。第二章：公差與配合基礎(chǔ)②基本尺寸——實(shí)際給定的尺寸。Dd③實(shí)際尺寸——測得的尺寸。真值④極限尺寸——允許尺寸變化的兩個(gè)界限{Da;da}{Dmax>Da>Dmin；dmax>da>dmin}最大極限尺寸：兩個(gè)界限值中較大的一個(gè)稱為最大極限尺寸最小極限尺寸：兩個(gè)界限值中較小的一個(gè)稱為最小極限尺寸⑤實(shí)體狀態(tài)和實(shí)體尺寸最大實(shí)體尺寸：孔或軸具有允許的材料量為最多狀態(tài)下的極限尺寸最小實(shí)體尺寸：孔或軸具有允許的材料量為最少狀態(tài)下的極限尺寸⑥尺寸偏差：某一尺寸減其基本尺寸所得代數(shù)差⑦上下偏差：最大/最小極限尺寸減基本尺寸所得代數(shù)差⑧極限偏差：上下偏差統(tǒng)稱極限偏差⑨實(shí)際偏差：實(shí)際尺寸減其基本尺寸所得代數(shù)差⑩尺寸公差：允許尺寸的變得量最大極限尺寸與最小極限尺寸之代數(shù)差的絕對值；也等于上下偏差之代數(shù)差的絕對值二、關(guān)于尺寸偏差和公差的術(shù)語及定義A、尺寸偏差——某一尺寸減去基本尺寸的代數(shù)差。①極限偏差{upperdeviation；lowerdeviation}

孔{ES=Dmax-D；EI=Dmin-D}

軸{es=dmin-d；ei=dmin-d}②實(shí)際偏差

{Ea=Da-D；ea=da-d}B、尺寸公差——允許尺寸的變化量T①從極限尺寸入手：

TD=∣Dmax-Dmin∣Td=∣dmax-dmin∣②從極限偏差看：

TD=∣ES-EI∣Td=∣es-ei∣

③三者之間的關(guān)系：

TD=∣Dmax-Dmin∣=∣（D+ES）-（D+EI）

∣=ES-EIC、公差帶圖

舉例說明：④公差與偏差的區(qū)別三、有關(guān)配合的術(shù)語及定義①配合——公差帶之間的關(guān)系（基本尺寸相同）孔——軸{其差值為正是X；其差值為負(fù)是Y}②間隙配合——具有間隙（含Xmin=0）的配合?？自谳S的公差帶之上。最大間隙Xmax=Dmax-dmin=ES-ei

最小間隙Xmin=Dmin-dmax=EI-es平均間隙Xp=1/2（Xmax+Xmin）③過盈配合——具有過盈（含Ymin=0）的配合。孔在軸的公差帶之下。最小過盈Ymin=Dmax-dmin=ES-ei最大過盈Ymax=Dmin-dmax=EI-es平均過盈Yp=1/2（Ymin+Ymax）④過渡配合——可能具有X或Y的配合。此時(shí)孔軸公差帶相互交疊。公式用以上X，Y最大間隙Xmax=Dmax-dmin=ES-ei最大過盈Ymax=Dmin-dmax=EI-es⑤配合公差——允許X或Y的變動量。間隙配合：Tf=∣Xmax-Xmin∣過盈配合：Tf=∣Ymin-Ymax∣過渡配合：Tf=∣Xmax-Ymax∣

結(jié)論：配合精度與零件的加工精度有關(guān)，若要配合精度高，則應(yīng)降低零件的公差，即提高工件本身的加工精度。反之亦然。

第二節(jié)公差與配合標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容簡介一、基準(zhǔn)制①基孔制——是指基本偏差為一定的孔的公差帶，與不同基本偏差的軸的公差帶所形成的各種配合的一種制度。基孔制的孔為基準(zhǔn)，其下偏差為零，基本偏差代號為H②基軸制——是指基本偏差為一定的軸的公差帶，與不同基本偏差的孔的公差帶所形成的各種配合的一種制度?；S制的軸為基準(zhǔn)，其上偏差為零，基本偏差代號為h

二、標(biāo)準(zhǔn)公差系列①公差代號------國家標(biāo)準(zhǔn)（GB/T1800.2-1998)②公差等級------是指確定尺寸精度的等級。在基本尺寸至500mm內(nèi)，國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置了20個(gè)公差等級，在基本尺寸至500至3150mm內(nèi)規(guī)定了IT1至IT18共18個(gè)標(biāo)準(zhǔn)公差等級IT01.IT0.IT1.IT2.IT3.…IT18

等級高低>IT7稱低于IT7級公差值小大<IT7稱高于IT7級

即公差等級相同，尺寸的精確程度相同三、公差帶--兩大系列：標(biāo)準(zhǔn)公差（大小）和基本偏差（位置）四、常用和優(yōu)先的公差帶與配合GB/T1801-1999對孔、軸規(guī)定了一般、常用和優(yōu)先公差帶?？椎囊话愎顜?05種，常用公差帶44種，優(yōu)先公差帶13種。第三章：測量技術(shù)基礎(chǔ)一、概念:技術(shù)測量：主要是研究對零件的幾何參數(shù)進(jìn)行測量和檢驗(yàn)的一門技術(shù)?！皺z驗(yàn)”：具有比測量更廣泛的含義。例如表面疵病的檢驗(yàn)，金屬內(nèi)部缺陷的檢驗(yàn)，在這些情況下，就不能采用測量的概念。

測量：是互換性生產(chǎn)過程中的重要組成部分，是保證標(biāo)準(zhǔn)貫徹實(shí)施的重要手段，是實(shí)現(xiàn)互換性生產(chǎn)的重要前提量。完整的測量過程包括4要素：測量對象測量單位測量方法測量精確度測量定義：測量是以確定量值為目的的一組操作。（該操作可以是自動進(jìn)行的）。測試定義：具有試驗(yàn)研究性質(zhì)的測量稱為測試。檢驗(yàn)定義：在生產(chǎn)中，常用某種方法來判定被測量的是否合格，而不能得出其具體量值，這種方法稱為檢驗(yàn)。如用極限量規(guī)檢驗(yàn)孔和軸的直徑。檢測定義：測量與檢驗(yàn)統(tǒng)稱檢測。完全互換定義：同一規(guī)格工件不需作任何挑選，不需輔助加工，就能裝到所需的部件上，并能滿足其使用要求。二、測量工具的分類測量工具可按其測量原理、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及用途分以下四類：①基準(zhǔn)量具：a.定值基準(zhǔn)量具；b.變值量具。②通用量具和量儀：它可以用來測量一定范圍內(nèi)的任意值。③極限規(guī)：為無刻度的專用量具。④檢驗(yàn)量具：它是量具量儀和其它定位元件等的組合體。

三、測量方法的分類（6類）①直接測量和間接測量直接測量：是指直接從計(jì)量器具獲得被測量的量值的測量方法。間接測量：是指測量與被測量有一定函數(shù)關(guān)系的量，然后通過函數(shù)關(guān)系算出被測量值的測量方法。②絕對測量和相對測量絕對測量：是指被測量的全值從計(jì)量器具的讀數(shù)裝置直接讀出。

相對測量：是指計(jì)量器具的示值僅表示被測量對已知標(biāo)準(zhǔn)量的偏差（是被測量的部分量），而被測量的量值為計(jì)量器具的示值與標(biāo)準(zhǔn)量的代數(shù)和③單項(xiàng)測量和綜合測量

單項(xiàng)測量：是指分別測量工件各個(gè)參數(shù)的測量。綜合測量：是指同時(shí)測量工件上某些相關(guān)的幾何量的綜合結(jié)果，以判斷綜合結(jié)果是否合格。④接觸測量和非接觸測量接觸測量：是指計(jì)量器具在測量時(shí)，其測頭與被測表面直接接觸的測量。非接觸測量：是指計(jì)量器具在測量時(shí)，其測頭與被測表面不接觸的測量。

⑤在線測量和離線測量在線測量：是指在加工過程中對工件的測量，其測量結(jié)果可用來控制工件的加工過程，決定是否要繼續(xù)加工或調(diào)整機(jī)床，可及時(shí)防止廢品的產(chǎn)生。離線測量：是指在加工后對工件進(jìn)行的測量，主要用來發(fā)現(xiàn)并剔除廢品。⑥等精度測量和不等精度測量等精度測量：是指決定測量精度的全部因素或條件都不變的測量。不等精度測量：是指在測量過程中，決定測量精度的全部因素或條件可能完全改變或部分改變的測量。如上述的測量中，當(dāng)改變其中之一或幾個(gè)甚至全部條件或因素的測量。四、計(jì)量器具的基本度量指標(biāo)度量指標(biāo)：指的是測量中應(yīng)考慮的測量工具的主要性能，它是選擇和使用測量工具的依據(jù)。分度值（刻度值）:

指在測量器具的標(biāo)尺或刻度盤上，相鄰兩刻線間所代表被測量的量值?？潭乳g距:指計(jì)量器具的刻度尺或刻度盤上相鄰兩刻度線中心之間的距離。示值范圍:指計(jì)量器具所顯示或指示的最小值到最大值的范圍。測量范圍:指計(jì)量器具所能測量零件的最小值到最大值的范圍。靈敏度:指計(jì)量器具對被測量變化的反應(yīng)能力。

測量力:

指計(jì)量器具的測頭與被測表面之間的接觸力示值誤差:

指計(jì)量器具上的示值與被測量真值的代數(shù)差。示值變動:

指在測量條件不變的情況下，用計(jì)量器具對被測量多次測量（一般5~10次）所得示值的最大差值。回程誤差（滯后誤差):

指在相同條件下，對同一被測量進(jìn)行往返兩個(gè)方向測量時(shí)，計(jì)量器具示值的最大變動量不確定度:

指由于測量誤差的存在而對被測量值不能肯定的程度。五、測量誤差①基本概念：被測量的實(shí)測值與真實(shí)值之間的差異。即δ=X–Q式中：δ—測量誤差；X—實(shí)際測得的被測量；Q—被測值的真實(shí)尺寸。由于X可能大于或小于Q，因此，δ可能是正值、負(fù)值或零。這樣，上式可寫成Q=X±δ

②絕對誤差③相對誤差④測量誤差產(chǎn)生的原因（即測量誤差的組成）測量儀器的誤差基準(zhǔn)件誤差測量力引起的變形誤讀數(shù)誤差溫度變化引起的誤差⑤測量誤差的分類系統(tǒng)誤差：具有一定變化規(guī)律的誤差；在相同測量條件下，多次測量同一被測量，測量誤差的大小和符號保持不變或按一定的函數(shù)規(guī)律變化的誤差。（恒值、變值、線性、周期性以及復(fù)雜規(guī)律）隨機(jī)誤差：變化無規(guī)律的誤差；在相同測量條件下，多次測量同一被測量，具有隨機(jī)分布規(guī)律的誤差。粗大誤差：在一定的測量條件下，測得值明顯偏離其真值，既不具有確定分布規(guī)律，也不具有隨機(jī)分布規(guī)律的誤差；由于測量時(shí)疏忽大意（如讀數(shù)錯(cuò)誤、計(jì)算錯(cuò)誤等）或環(huán)境條件的突變（擊、振動等）造成的某些較大的誤差。⑥測量基準(zhǔn)與定位方式選擇測量基準(zhǔn)選擇

用來測量已加工面尺寸及位置的基準(zhǔn)稱測量基準(zhǔn)。選擇測量基準(zhǔn)應(yīng)遵守基準(zhǔn)統(tǒng)一原則，即設(shè)計(jì)基準(zhǔn)、測量基準(zhǔn)、裝配基準(zhǔn)、定位基準(zhǔn)應(yīng)統(tǒng)一。如不統(tǒng)一，應(yīng)遵守下列原則：

（1）在工序檢驗(yàn)時(shí)，測量基準(zhǔn)應(yīng)與定位基準(zhǔn)一致。

（2）在終結(jié)檢驗(yàn)時(shí)，測量基準(zhǔn)應(yīng)與裝配基準(zhǔn)一致。定位方式選擇

根據(jù)被測件的結(jié)構(gòu)形式