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文檔簡介
1、1,目錄,1、功率因素和效率測試 2、平均效率測試 3、輸入電流測試 4、浪涌電流測試 5、電壓調(diào)整率測試 6、負(fù)載調(diào)整率測試 7、輸入緩慢變動(dòng)測試 8、紋波及噪聲測試 9、上升時(shí)間測試 10、下降時(shí)間測試 11、開機(jī)延遲時(shí)間測試 12、關(guān)機(jī)維持時(shí)間測試 13、輸出過沖幅度測試 14、輸出暫態(tài)響應(yīng)測試 15、過流保護(hù)測試 16、短路保護(hù)測試,開關(guān)電源常規(guī)測試項(xiàng)目,17、過壓保護(hù)測試 18、重輕載變化測試 19、輸入電壓變動(dòng)測試 20、電源開關(guān)循環(huán)測試 21、元件溫升測試/ 22、高溫操作測試 23、高溫高濕儲(chǔ)存測試 24、低溫操作測試 25、低溫儲(chǔ)存測試 26、低溫啟動(dòng)測試 27、溫度循環(huán)測試
2、 28、冷熱沖擊測試 29、絕緣耐壓測試 30、跌落測試 31、絕緣阻抗測試 32、額定電壓輸出電流測試,2,1. POWER FACTOR (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表; (4). AC POWER METER / 功率表; 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負(fù)載. (2). 從 POWER METER 讀取 Pin and PF 值, 并讀取輸出電壓, 計(jì)算 Pout. (3). 功率因素=PIN / (Vin*Iin)
3、, 效率=Pout / Pin*100%; 五. 測試回路圖 :,V,AC SOURCE,ELECTRONIC LOAD,待測品,POWER METER,SWITCH,GND,Vo,3,2. ENERGY EFFICIENCY TEST / 能效測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 能效值是否滿足相應(yīng)的各國能效等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)要求(規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; 三. 測試條件 : (1). 輸入電壓條件為115Vac/
4、60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件. (2). 輸出負(fù)載條件為空載、1/4 max. load、2/4 max. load、3/4 max. load、max. load五種負(fù)載條件. 四、 測試方法 : (1).在測試前將產(chǎn)品在在其標(biāo)稱輸出負(fù)載條件下預(yù)熱30分鐘. (2). 按負(fù)載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時(shí)的輸入功率(Pin),輸入電流(Iin),輸出電壓(Vo), 功率因素(PF), 然后計(jì)算各條件負(fù)載的效率. (3). 在空載時(shí)僅需記錄輸入功率(Pin)與輸入電流(Iin). (4).計(jì)算115Vac/60
5、Hz與230Vac/50Hz時(shí)的四種負(fù)載的平均效率,該值為能效的效率值 五、標(biāo)準(zhǔn)定義 : CEC / 美國EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值標(biāo)準(zhǔn)(IV等級(jí)); (1). IV等級(jí)效率的規(guī)格是: 1).Po51,Average Eff.0.85. (2). 輸入空載功率的規(guī)格是:1).0Po250W, Pin0.5W; (3). Po為銘牌標(biāo)示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積; (4) .實(shí)際測試的平均效率值和輸入空載功率值需同時(shí)滿足規(guī)格要求才可符合標(biāo)準(zhǔn)要求. 六、計(jì)算方法舉例: (1).12V/1A的能效效率=(0.09*ln12+0.5 )*100%= (0.09*2.4849+0.
6、5)*100%=72.36%; (2). 輸入功率 0.5W;,4,3. AC I / P CURRENT TEST / 輸入電流測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 之輸入電流有效值 INPUT CURRENT(規(guī)格依客戶要求設(shè)計(jì)). . 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓, 頻率和輸出負(fù)載; (2). 從功率計(jì)中記錄 AC INPUT 電流值; 五. 測試回路
7、圖 :,AC SOURCE,ELECTRONIC LOAD,待測品,POWER METER,SWITCH,GND,Vo,5,4. INRUSH CURRENT TEST / 浪涌電流測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 輸入浪涌電流 INRUSH CURRENT, 是否符合SPEC.要求. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : (1).依 SPEC. 所要求(通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz). 四、 測試方
8、法 : (1). 依 SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓, 頻率, 將待測品輸出負(fù)載設(shè)定在 MAX. LOAD. (2). SCOPE CH2 接 CURRENT PROBE, 用以量測 INRUSH CURRENT, CH1設(shè)定在 DC Mode, VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定, CH1 作為 SCOPE 之 TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 +, TIME/DIV 以 5mS 為較佳, TRIGGER MODE 設(shè)定為NORMAL. (3). CH1 則接到 AC 輸入電壓. (4). 以上設(shè)定完成后 POWER ON, 找出 TRIGGER 動(dòng)作電流值
9、 (AT 90o 或 270o POWER ON). 五、注意事項(xiàng) : (1). 冷開機(jī) (COLD-START): 需在低(常)溫環(huán)境下且 BULK Cap.電荷須放盡, 以及熱敏電阻亦處于常溫下, 然后僅能第一次開機(jī), 若需第二次開機(jī)須再待電荷放盡才可再開機(jī)測試. (2). OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器. 六、測試回路圖 :,Hz,47 / 63,Ch1,Ch2,待測品,AC SOURCE,OSCILLOSCOPE,ELECTRONIC LOAD,CURRENT PROBE,SWITCH,GND,Vo,6,4. INRUSH CURRENT TEST / 浪涌電流測試,Hz,
10、47 / 63,Fig1 Inrush Current - 240Vac(50Hz) CC=0. 5A,Inrush Current,Input Voltage,7,5. LINE REGULATION TEST / 電壓調(diào)整率測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而 AC LINE 變動(dòng)時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(常規(guī)定義1%). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表; 三. 測試
11、條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測試負(fù)載 LOAD 條件. (2). 調(diào)整輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值. (3). 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi). (4). Line reg.=(輸出電壓的最大值(Vmax.)-輸出電壓的最小值(Vmin.)/Vrate volt.*100%. 五. 注意事項(xiàng) : (1). 測試前先將待測品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試. (2). 電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變,輸入電壓變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值.,8,6. LOAD REGULATION TEST / 負(fù)載調(diào)整率測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 在 AC
12、LINE 一定而 OUTPUT LOAD 變動(dòng)時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(常規(guī)定義5%). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) / 數(shù)字式電壓表; 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測試輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值. (2). 調(diào)整輸出負(fù)載 LOAD 值 (3). 記錄待測品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi). (4). Load reg.=(輸出電壓的最大/小值(Vmax/min.)-輸出
13、電壓的額定值(Vrate)/Vrate volt.*100%. 五. 注意事項(xiàng) : (1). 測試前先將待測品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試; (2). 負(fù)載調(diào)整率值是輸入電壓不變,輸出負(fù)載變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值.,9,7. BROWN OUT 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; 三. 測試條件 : (1). 依 SPEC. 要求: 設(shè)定輸入電壓為 90Vac 或 180Vac 和輸出負(fù)載 Max. load; 四、 測試方法 : (1). 將待測品與
14、輸入電源和電子負(fù)載連接好, 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載; (2). 逐步調(diào)降輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘. (3). 記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓), 直到待測品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止. (4). 設(shè)定好輸入電壓為 0Vac,逐步調(diào)升輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘, 直到待測品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止,記錄電壓啟動(dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值. 五、注意事項(xiàng): (1). 待測品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生, 以及失效情形; (2). 產(chǎn)品當(dāng)機(jī)和啟動(dòng)時(shí)的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值.,10,8. RIPPLE 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源;
15、 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3) OSCILLOSCOPE / 示波器; (4) TEMP. CHAMBER / 溫控室; 三. 測試條件 : 各種 LINE 和 LOAD 條件及溫度條件, 各種輸入電壓 或鉭電容及0.1uF陶瓷 電容) 頻寬限制依 SPEC. 而定(通常為20MHz). (2). 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊.,A,B,C,11,8. RIPPLE (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAG
16、E, FREQUENCY AND LOAD . (2). SCOPE 的 CH1 接 Vo, 并設(shè)為 TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 +, TIME/DIV 和 VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定. (3). 用 CURSOR 中 TIME, 量測待測品各組輸出從電壓 10% 至 90% 之上升時(shí)間. 五. 注意事項(xiàng) : 測試前先將待測品處于冷機(jī)狀態(tài),待 BUCK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測試.,13,9. RISE TIME TEST / 上升時(shí)間測試,Fig.3 Rise time - 90
17、Vac(60Hz) CC=0.5A,14,10. FALL TIME TEST / 下降時(shí)間測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí),各組輸出從 90% 10% POINT 之下降時(shí)間(常規(guī)定義5mS); 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD. (2). SCOPE 的 CH1 接 Vo, 并設(shè)為 TRIGGER
18、 SOURCE, LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 -, TIME/DIV 和 VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定; (3). 用 CURSOR 中 TIME, 量測待測品各組輸出從電壓 90% 至 10% 之下降時(shí)間. 五. 注意事項(xiàng) : 測試前先將待測品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試.,15,10. FALL TIME TEST / 下降時(shí)間測試,Fig.4 Fall time - 90Vac(60Hz) CC=0.5A,16,11. TURN ON DELAY TIME TEST / 開機(jī)延遲時(shí)間測試,一、目的 :
19、測試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸入電壓 AC LINE 與輸出之時(shí)間差(常規(guī)定義為3000mS). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器 三. 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定 AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載 (一般為 LOW LINE (2). 示波器 (OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.,17,11. TURN ON DELAY TIME TEST / 開機(jī)延遲時(shí)間測試,Fig.
20、 5 Turn on delay time - 90Vac(60Hz) CC=0. 5A,Output Voltage,Input Voltage,18,12. HOLD UP TIME TEST / 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. POWER OFF 時(shí), 輸入電壓 AC LINE 與輸出 OUTPUT 之時(shí)間差(常規(guī)定義10mS/115Vac (2). 示波器 (OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.,19,12. HOLD UP TIME TEST / 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測試,Fig. 6 Hold up time - 115Vac(60Hz) CC=0.5A,
21、Input Voltage,Output Voltage,20,13. OUTPUT OVERSHOOT TEST / 輸出過沖幅度測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸出 DC OUTPUT 過沖幅度變化量(常規(guī)定義為10%). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : 依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸出負(fù)載(Min. Max. load). 四、 測試方法 : (1). 測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定 AC LI
22、NE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載 . (2). OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE; (3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “+” 和 “-”, VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視 實(shí)際情況而定. (4). 用 CURSOR 中 VOLT, 量測待測品輸出過沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系. (5). ON / OFF 各做十次, 過沖幅度%=V / Vo *100%; 五、注意事項(xiàng) : 產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿足規(guī)格要求.,21,13. OUTPUT OVE
23、RSHOOT TEST / 輸出過沖幅度測試,Fig. 7 Overshoot - 90Vac(60Hz) CC=0.0A,22,14. OUTPUT TRANSIENT RESPONSE TEST / 輸出暫態(tài)響應(yīng)測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時(shí), 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的10%). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : 依 SPEC.所規(guī)定: 輸入電壓 AC
24、LINE, 變化的負(fù)載 LOAD, 頻率及升降斜率 SR/F 值. 四、 測試方法 : (1). 測試時(shí)設(shè)定好待測品輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY. (2). 測試時(shí)設(shè)定好待測品輸出條件: 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率. (3). OSCILLOSCOPE CH1 接到 OUTPUT 偵測點(diǎn), 量其電壓之變化. (4). CH2 接 CURRENT PROBE 測試輸出電流, 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE. (5). TRIGGER MODE設(shè)定為 AUTO. 五、注意事項(xiàng) : (1). 注意使用 CURRENT PROBE 時(shí),每改變
25、 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO, (2). 須經(jīng)常對(duì) CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO.,23,14. OUTPUT TRANSIENT RESPONSE TEST / 輸出暫態(tài)響應(yīng)測試,Fig. 8 Transient response - 90Vac(60Hz) (20-80%)*0.5A 100Hz (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和電子負(fù)載. 四、 測試方法 : (1). 將待
26、測組輸出負(fù)載設(shè)在 MAX. LOAD. (2). 以一定的斜率 (通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護(hù), 當(dāng)保護(hù)后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會(huì)自動(dòng) RECOVERY. (3). OSCILLOSCOPE CH2 接上 CURRENT PROBE, 以 PROBE 檢測輸出電流. (4). CH1 則接到待測輸出電壓, 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE. (5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 -, TRIGGER MODE 設(shè)定為 AUTO, TIME/DIV 視情況而定. 五、注意事項(xiàng) : (1). 注意使用 CURREN
27、T PROBE 時(shí),每改變 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO, (2). 須經(jīng)常對(duì) CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO. (3). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.,25,15. OVER CURRENT PROTECTION TEST / 過流保護(hù)測試,Fig. 9 OCP - 90Vac(60Hz) CC=0.4A,Output Current,Output Voltage,26,16.SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保護(hù)測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 輸出端在開機(jī)前或在工作中短路時(shí), 產(chǎn)品
28、是否有保護(hù)功能. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; (4). 低阻抗短路夾 三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值和低阻抗短路夾. 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值(一般為 MAX. LOAD). (2). 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪? 偵測輸出特性. (3). 開機(jī)后短路 TURN ON THEN SHORT Vout12V,.過壓保
29、護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; (4). DC SOURCE / 直流電源; 三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值. 四、 測試方法 : (1). 測試方式一: 拿掉待測品回授 FEEDBACK, 找出過壓保護(hù) OVP 點(diǎn), (2). 測試方式二: 外加一可變電壓于操作待測品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過壓保護(hù) OVP 點(diǎn), (3). OSCILLOSCOPE CH
30、1 接到 OVP 偵測點(diǎn), 測量其電壓之變化. (4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE. (5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 -, TRIGGER MODE 設(shè)定為 NORMAL. 五、注意事項(xiàng) : 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.,29,17. OVER VOLTAGE PROTECTION TEST / 過壓保護(hù)測試,Fig. 11 OVP - 90Vac(60Hz) CC=0. 0A,30,18. MAX. AND MIN. LOAD CHANGE TEST / 重輕載變化測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S.
31、的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的10%). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD(MIN. AND MAX.) 值. 四、 測試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和 MIN. LOAD). (2). SCOPE 的 CH1 接 Vo, 并設(shè)
32、為 TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 90% 100% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 +, VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定. (3). TIME/DIV 設(shè)定為 1S/DIV 或 2S/DIV,為滾動(dòng)狀態(tài). (4). 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí),變化輸出負(fù)載(最大/最小). (5). 在設(shè)定電壓下測試輸出電壓的最大和最小值. 五、注意事項(xiàng) : 無,31,18. MAX. AND MIN. LOAD CHANGE TEST / 重輕載變化測試,Fig. 12 Max. and Min. load - 90Vac(60Hz) CC=1/0. 0A,32
33、,19. INPUT VOLTAGE CHANGE TEST / 輸入電壓變動(dòng)測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動(dòng)時(shí),是否會(huì)對(duì) S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; 三. 測試條件 : 依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值. 四、 測試方法 : (1). 將待測輸出負(fù)載設(shè)在 MAX. LOAD 和 MIN. LOAD. (2). TRIGGER S
34、LOPE 設(shè)定為 +, TRIGGER MODE 設(shè)定為 AUTO, TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或 2S/DIV. (3). 變動(dòng)輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac 0-264Vac. (4). 測試輸出電壓在輸入電壓變動(dòng)時(shí)的最大值和最小值. 五、注意事項(xiàng) : 輸出電壓變動(dòng)的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).,33,19. INPUT VOLTAGE CHANGE TEST / 輸入電壓變動(dòng)測試,Fig. 13 Input volt. change - 90-180Vac(50Hz) (2). ELECTRONI
35、C LOAD / 電子負(fù)載; (3). OSCILLOSCOPE / 示波器; (4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測試儀; 三. 測試條件 : (1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載: 滿載. (2). ON/OFF時(shí)間: ON 5秒 / OFF 5秒 ON/OFF CYCLE:AT LEAST 5000 CYCLE. (3). 環(huán)境溫度: 室溫. 四、 測試方法 : (1). 連接待測品到電源開/關(guān)測試儀及電源. (115Vac和230Vac (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). HYBRID RECORDER /
36、混合記錄儀(DR130); (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; 三. 測試條件 : 依 SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓 AC LINE, 頻率 FREQUENCY, 輸出負(fù)載 LOAD 及環(huán)境溫度. 四、 測試方法 : (1). 依線路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件. (2). 依規(guī)格設(shè)定好測試條件 (AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機(jī), 并記錄輸入功率和輸出電壓. (3). 用混合記錄儀 HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線, 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓. 五、注意事項(xiàng) : (1). 溫升線
37、耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測試點(diǎn), 溫升線走勢應(yīng)盡量避免影響 S.M.P.S 元件的散熱. (2). 測試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài). (3). 針對(duì)于無風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動(dòng)對(duì)它的影響.,36,22. HIGH TEMP OPERATION TEST / 高溫操作測試,一、目的 : 測試高溫環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3)
38、. AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀 三. 測試條件 : (1). 依SPEC.要求: 輸入條件 (RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載 (FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40); (2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs. 四、 測試方法 : (1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機(jī); (2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室; (3). 定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有
39、異常; (4). 做完測試后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí). 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.,37,23. HIGH TEMP. (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀 三. 測試條件 : 儲(chǔ)存高溫高濕條件: 通常為溫度 702, 濕度 90-95% 試驗(yàn)時(shí)間 24Hr
40、s(非操作條件). 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況; (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室; (3). 試驗(yàn) 24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少4Hrs,再確認(rèn)待測品外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.,38,24. LOW TEMP. OPERATION TEST / 低溫操作測試,一、目的 : 測試低溫環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 操作過
41、程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀; 三. 測試條件 : (1). 依SPEC.要求: 輸入條件 (RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載 (FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0). (2). 試驗(yàn)時(shí)間
42、: 4Hrs. 四、 測試方法 : (1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機(jī). (2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室. (3). 定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常; (4). 做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常. 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.,39,25. LOW TEMP. STORAGE TEST / 低溫儲(chǔ)存測試,一、目的 : 測試低溫儲(chǔ)存環(huán)
43、境對(duì) S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀; 三. 測試條件 : 儲(chǔ)存低溫條件: 通常為溫度 -30, 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件). 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況. (2).
44、 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室. (3). 試驗(yàn) 24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少4Hrs, 再將待測品做 HI-POT 測試, 記錄測試結(jié)果, 之后確認(rèn)待測品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.,40,26. LOW TEMP. STARTING UP TEST / 低溫啟動(dòng)測試,一、目的 : 測試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響, 用以考量 S.M.P.S. 電氣及零件選用的合
45、理性. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; 三. 測試條件 : 儲(chǔ)存低溫條件: 通常為操作溫度 0 條件下降低到 -10 2, 儲(chǔ)存時(shí)間至少 4Hrs. 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況. (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室. (3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少 4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz
46、(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀; 三. 測試條件 : 操作溫度條件: 通常為低溫度-40 、25、33和高溫度 66 (濕度: 50-90%), 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán). 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HI-POT 狀況. (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 以無包裝,非操作狀態(tài)下. (3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?62 保持1小時(shí), 332 和濕度902%保持1小時(shí),
47、-402 保持1小時(shí), 252 和濕度502%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán). (4). 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī), 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程, (5). 試驗(yàn)完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機(jī)中移出, 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認(rèn)外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.,42,28. THERMAL SHOCK TEST / 冷熱沖擊測試,一、目的 : 測試高, 低溫度沖擊對(duì) S.M.P.S. 的影響,用來揭露各組成
48、元件的弱點(diǎn). 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室; (5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀; 三. 測試條件 : (1). 依 SPEC. 要求: 儲(chǔ)存最高(70), 低溫度(-30), 測試共 10 個(gè)循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 2min; (2). 依客戶所提供的試驗(yàn)條件. 四、 測試方法 : (1). 在溫控室內(nèi)待測品由常溫 25 向低溫通常為 -30 轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤 1Hr. (
49、2). 溫控室由低溫 -30 向高溫通常為 70 轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為 2min., 并高溫烘烤 1Hr. (3). 在高溫 70 和低溫 -30 之間循環(huán) 10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將 S.M.P.S. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí)). (4). 確認(rèn)待測品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異. 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象. (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求. (3). 產(chǎn)品為非操作條件.,43,29. HI - POT TEST / 絕緣耐壓測試,一、目的 : 測試 S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下, 是否產(chǎn)生電弧 ARCING, 其 CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要求, 及是否會(huì)對(duì) S.M.P.S. 造成損傷. 二. 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源; (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載; (3). AC POWER METER / 功率表; (4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀; 三. 測試條件
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