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文檔簡介
1、審核: 曾翔宇 日期:2013/08/08,1177元件脫落分析改善報告,1,PPT學習交流, Discipline 1 : 組建團隊 Discipline 2 : 問題描述 Discipline 3 : 臨時糾正措施 Discipline 4 : 失效模式分析 Discipline 5 : 產(chǎn)生之根本原因 Discipline 6 : 產(chǎn)生之原因總結(jié) Discipline 7 : 改善措施 Discipline 8 :已貼件產(chǎn)品返工方案,TABLE OF CONTENTS,2,PPT學習交流,Team building,Team Leader,PE Manager,PROD Manager,
2、ME Manager,QA Manager,QM,Arron Zeng,Max Yang,G.Y LiU,G.Zhao,Q.J Zeng,Y.R Hang,member,member,member,member,Y.T Gu,M.J Li,B.S Zhou,L.Yang,H.F LE,Q.Lu,Y.C Lan,職責說明: 組長:此次由副總直接領導,組建改善團隊,負責會議的主持工作,以及公司系統(tǒng)資源的調(diào)配。 副組長:由品質(zhì)經(jīng)理擔任,協(xié)助組長進行問題的查找,跟進改善對策的落實和效果的確認。 組員:負責品質(zhì)異常的證據(jù)收集和原因分析以及改善對策的提出和驗證。,3,PPT學習交流,二、問題描述:,客戶信
3、息,掉元件焊盤,4,PPT學習交流,三、臨時糾正措施:,產(chǎn)品處置,5,PPT學習交流,四、失效模式分析:,從掉落元器件產(chǎn)品有以下問題點: 1、通過在40倍放大鏡下觀察已脫落PAD位置,可以清晰的看出鎳層上殘留錫非常少。同時在鎳層上可以看到有發(fā)黑現(xiàn)象。從理論上確認屬于鎳層出現(xiàn)污染所致;,4.1.原因查找,PAD中間部位有發(fā)黑明顯發(fā)黑現(xiàn)象,6,PPT學習交流,鎳表面EDS分析結(jié)果:,將表面金剝離之后,鎳層做EDS分析,確認沉鎳金線鎳缸P含量是否存在異常。 通過EDS結(jié)果確認,鎳層P含量為7.94%屬于正常現(xiàn)象,一般標準管控范圍中P含量為7-10%;,產(chǎn)品PAD位置剝金后鎳層表面-EDS(天邦達退回
4、1332周期產(chǎn)品),7,PPT學習交流,原因分析:,從元器件脫落表面通過SEM/EDS檢測結(jié)果來看,脫落表面通過放大3000倍能夠清晰觀察到鎳層的晶格面貌,由此可以判斷元器件是從鎳層表面脫落(錫膏與鎳層沒有形成良好的IMC層);SEM/EDS結(jié)果詳見附件,8,PPT學習交流,元器件脫落產(chǎn)品EDS分析:,元器件脫落產(chǎn)品通過EDS分析可以看出,C元素含量高達22.12%,由此可見,鎳表層存在氧化現(xiàn)象,從而最終導致錫與鎳層未能形成良好的IMC層,此種因素是造成元器件剝離強度不夠最主要的原因。,C含量超出,P含量正常,9,PPT學習交流,通過以上圖片可以看出,元器件脫落產(chǎn)品鎳層表面形成的IMC層未能達
5、到理想狀態(tài),此部分直接影響鎳層與錫層的結(jié)合力。而正常產(chǎn)品在錫層與鎳層之間形成非常緊密的錫鎳合金層(IMC層),從而更加有效的增強錫、鎳層結(jié)合力。,正常、不良產(chǎn)品IMC層對比,元器件脫落產(chǎn)品,正常焊接產(chǎn)品,IMC層,元器件脫落后無IMC層,10,PPT學習交流,產(chǎn)生之根源查找:,1、根據(jù)與客戶現(xiàn)場對失效模式的外觀檢討,客戶提出,原件脫落PAD出現(xiàn)有發(fā)黑氧化現(xiàn)象,針對于此現(xiàn)象展開進一步分析: 驗證鎳鍍層P含量,根據(jù)供應商提供之P含量標準,判定與實際P含量是否在標準范圍之內(nèi);(供應商提供之P含量為7-10%,最佳標準為8%) 根據(jù)實際鎳鍍層EDS分析P含量為7.5%左右,與供應商給出之標準一致,由此
6、可以判定P含量正常,不是導致鎳層與錫層結(jié)合力不夠的真實原因,但相對偏下限的P含量對于鎳層發(fā)黑氧化的可能性增加。(以下為EDS分析結(jié)果),特別注明:P含量偏低會使鎳鍍層耐腐蝕下降,從而會導致鎳表面更容易氧化或發(fā)黑。,鎳層,11,PPT學習交流,2、金鍍層厚度: a、測試金鍍層厚度 是否在管控范圍之內(nèi),一般金鍍層在0.03um-0.08um之間,鎳層為3-6um之間。通過行業(yè)內(nèi)鍍層管控方式,金鍍層主要起到保護鎳鍍層不受氧化及污染,金鍍層越薄疏孔度越大,對于化金產(chǎn)品存放環(huán)境以及后制程制作要求越高,容易使鎳鍍層表面氧化腐蝕幾率增大。,產(chǎn)生之根源查找:,12,PPT學習交流,特別注明:通過測試數(shù)據(jù)來看,
7、金鎳厚度可以滿足客戶要求。由此可見,金鎳厚度不是造成元器件脫落之真實原因;,13,PPT學習交流,產(chǎn)生之根源查找:,3、沉金線現(xiàn)場以及記錄排查: 通過以上分析我們可以得知,從不良品上EDS分析數(shù)據(jù)可以初步確定,藥水濃度方面產(chǎn)生此次不良的可能性比較小,需要進一步對產(chǎn)線現(xiàn)場當時制作過程進行進一步排查: a、首先排查生產(chǎn)記錄我說我們發(fā)現(xiàn),在制作1331周期產(chǎn)品共計6批產(chǎn)品為8月出生產(chǎn)之產(chǎn)品。在7月30日FPC事業(yè)部月結(jié)盤點,7月31-8月2日FPC事業(yè)部全體放假,主要是產(chǎn)線訂單量不飽和;,14,PPT學習交流,b、鎳缸藥水在長時間沒有使用或者間斷性使用時會出現(xiàn)藥水成份揮發(fā)現(xiàn)象,再經(jīng)過藥水調(diào)試后生產(chǎn)會
8、容易出現(xiàn)活性極不穩(wěn)定狀態(tài),鎳離子在藥水活性不穩(wěn)定狀態(tài)沉積到產(chǎn)品上,大部分的鎳離子排列不緊湊,出現(xiàn)鎳表面粗糙、致密性差等不良,從而經(jīng)過約80金缸沉金過程中,金不能及時、瞬間保護鎳面,從而使鎳面形成輕微的腐蝕面。在客戶端SMT回流焊后,受高溫影響,造成腐蝕面加重形成碳化層,從而最終造成錫層無法及時與鎳層形成較為緊密的鎳錫合金層,導致元器件推力下降甚至脫落。,c、鎳缸標準生產(chǎn)周期為4MTO,在7月30日該鎳缸生產(chǎn)周期已經(jīng)到3.6MTO,且在7月份沉金線整體未能達到飽和,從而使藥水揮發(fā)嚴重,在最終藥水補加之后活性難以維持平衡。本次因為加急趕1177此款產(chǎn)品共計600PNL,為了進度冒風險生產(chǎn),從而造成
9、此次元器件推力不合格。,15,PPT學習交流,六、原因總結(jié):,根據(jù)以上產(chǎn)生的失效模式進行排除,最終可以確定產(chǎn)生此次元器件脫落的主要因素有以下兩個: 1、鎳缸生產(chǎn)周期已到供應商所界定的標準末期,后期的藥水活性偏低且穩(wěn)定性不夠,使鎳面結(jié)晶粗糙且排布致密性降低,致使鎳層腐蝕帶加重,最終SMT 在沒有氮氣保護下鎳層碳化度加重,最終使錫層因碳化層隔離未能與鎳層形成良好的合金層,從而影響元器件推力; 2、另外,鎳缸藥水的P含量偏下限,致使鎳層耐腐蝕性下降,增加鎳表面氧化以及發(fā)黑幾率(鎳表面氧化或發(fā)黑無法在鎳層與錫層之間形成良好的IMC層),16,PPT學習交流,七、應急改善措施:,1、在線產(chǎn)品全部停止制作
10、沉鎳金工藝,待藥水調(diào)整更換穩(wěn)定之后方可首批生產(chǎn),并經(jīng)過SMT確認之后方可批量生產(chǎn); 2、對此藥水留樣外發(fā)分析確認,更換鎳缸藥水,并對鎳缸進行徹底保養(yǎng),采用硝酸浸泡8小時之后方可調(diào)試藥水。 3、更換藥水后進行檢測分析各項藥水濃度,必須要求在標準范圍內(nèi)方可試板,首檢必須使用最小電容測試其焊接推力。 4、品質(zhì)稽查每2小時檢查一次清洗線生產(chǎn)參數(shù)是否在工藝范圍內(nèi)。 5、鎳缸壽命管控在2個月之內(nèi)由原來的4MTO調(diào)整為3.5MTO管控。,17,PPT學習交流,已貼件產(chǎn)品處理建議:,1、已貼元器件產(chǎn)品采用插拔方式進行返檢,與客戶端溝通愛升增派2-4名人員經(jīng)過培訓之后對于產(chǎn)品進行3次插拔測試,如發(fā)現(xiàn)測試無脫落現(xiàn)
11、象經(jīng)客戶判定為良品再分開包裝出貨; 4、臨時應急預案建議采用OSP+沉金表面處理方式處理,從8月8-10日在1177產(chǎn)品上推行此方案,考慮到產(chǎn)品最終滿足客戶交貨,在8月10日制作5K沉鎳金產(chǎn)品給到客戶確認,根據(jù)確認結(jié)果再進行調(diào)整;,18,PPT學習交流,已貼元器件成品返工方案驗證,一、1177器件脫落返工流程驗證 二、拔插試驗驗證 1、已貼件產(chǎn)品拔插3次后再通過SEM微切片分析。 2、已貼件產(chǎn)品拔插6次后再通過SEM微切片分析。 3、已貼件產(chǎn)品拔插9次后再通過SEM微切片分析。 三、實驗驗證總結(jié)(待最終驗證之后匯報) 四、返工方案確定,19,PPT學習交流,一、返工流程驗證,a、取1000PCS封存成品做試驗驗證。 b、將已測試的成品板再次拔插測試3次,測試底座依照貴司更換頻率進行更換。 c、測試過程中將連接器脫落的產(chǎn)品直接報廢處理,可通過3次拔插測試的產(chǎn)品分開標示(標示為貴司自己可識別的標記),再采用40倍放大鏡檢查焊層是否斷裂及裂紋不良,并記錄結(jié)果 d、為了驗證拔插3次后的產(chǎn)品是否存在
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