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文檔簡介

1、統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)講義,SPC(Statistical Process Control),持續(xù)改進及過程控制 企業(yè)目標(biāo)-客戶滿意 實現(xiàn)目標(biāo)-持續(xù)改進,強調(diào)缺陷的預(yù)防 有效方法-統(tǒng)計過程控制 檢驗和預(yù)防 檢驗是對過程結(jié)束后的輸出進行測量 通過抽樣檢驗-發(fā)現(xiàn)合格/不合格 通過100%檢驗-發(fā)現(xiàn)合格/不合格 預(yù)防是在生產(chǎn)中對過程進行測量 通過對過程的測量,使質(zhì)量問題在導(dǎo)致報廢、返工和成本增加之前對其進行糾正,抽樣和100%檢驗的不足 簡單抽樣可能會誤導(dǎo) 100%檢驗是一種非常昂貴的方法,同時并不比抽樣精確多少 盡管檢驗把關(guān),但返工/報廢已經(jīng)發(fā)生 通過抽樣和檢驗進行檢驗把關(guān)并不能發(fā)現(xiàn)問題 一些不合格品仍

2、然可能到達(dá)客戶手中,統(tǒng)計過程控制定義 用于了解、改進、預(yù)防和控制過程狀態(tài)的一組分析工具和方法 于專業(yè)技術(shù)結(jié)合,才能很好地控制過程 持續(xù)質(zhì)量改進的一個組成部分,是一種預(yù)防型的質(zhì)量管理方法,SPC的作用 對設(shè)計和過程能力進行可靠性的評估 統(tǒng)計有助于區(qū)分正常波動和異常波動 可以依據(jù)以往過程的運行情況預(yù)測將來過程如何運行 降低發(fā)現(xiàn)質(zhì)量問題對檢驗的依賴性 驗證問題是否已經(jīng)永久地糾正了還是需要進一步糾正 有助于了解當(dāng)前過程是否有能力形成100%滿足要求的輸出 提高質(zhì)量和生產(chǎn)率,降低成本,統(tǒng)計的基本概念 數(shù)據(jù)類型 計量值數(shù)據(jù):測量某物是“多少” 例 間隙的大小;缸徑大??;支架厚度;抗拉強度。 數(shù)據(jù)類型 記數(shù)

3、值數(shù)據(jù):測量出現(xiàn)/不出現(xiàn) 例: 通/止數(shù)據(jù) 安裝正確/錯誤數(shù)據(jù) 孔鉆通/未通 表面劃傷/未劃傷,計數(shù)型數(shù)值和計量型數(shù)值,特殊原因 一種間斷性的,不可預(yù)計的,不穩(wěn)定的變差來源。有時被稱為可查明原因,存在它的信號是:存在超過控制線的點或存在在控制線之內(nèi)的鏈或其他非隨機性的情形。,普通原因 造成變差的一個原因,它影響被研究過程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。,局部措施和對系統(tǒng)采取措施,局部措施 通常用來消除變差的特殊原因 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 通常可糾正大約15%的過程問題 對系統(tǒng)采取措施 通常用來消除變差的普通原因 幾乎總是要求管理措施,以便糾正 大約可糾正

4、85%的過程問題,統(tǒng)計的核心概念 波動 自然界中沒有完全相同的東西 波動是指過程中的件與件之間的區(qū)別 正是波動的存在,工程師才在技術(shù)上要求給出公差 質(zhì)量控制根本無法完全消除波動,僅測量波動,預(yù)測發(fā)生的可能性,并不斷地降低存在的波動 產(chǎn)品/特性間的波動可分為正常波動(短期的、零件間的差異)和異常波動(發(fā)生規(guī)則和不規(guī)則的變化,正常波動 由偶然的或隨機因素造成的,并且不能控制 設(shè)備震動 原材料批與批之間的區(qū)別 僅存在正常波動的過程是“受控”的過程,其輸出是可預(yù)測的 異常波動 不是由偶然的或隨機因素造成的,而是由特殊原因引起,并且可以控制 材料不合格 不同供應(yīng)商提供的原材料 不正確的設(shè)備調(diào)試 存在異常

5、波動的過程是“不穩(wěn)定”的,其輸出是不可預(yù)測的,統(tǒng)計方法提供波動的信息 兩個度量參數(shù) 集中趨勢 集中趨勢用于度量分布中心 集中趨勢的一個主要度量參數(shù)是平均值 分散程度 分散程度用于度量分布范圍 分散程度的一個重要度量參數(shù)是標(biāo)準(zhǔn)偏差,正態(tài)分布 產(chǎn)品/特性的波動分布符合正態(tài)分布 正態(tài)分布的特征值 平均值:鐘型曲線最高點對應(yīng)的數(shù)值 極差:最大測量值和最小測量值之間的差值 標(biāo)準(zhǔn)偏差S :數(shù)據(jù)散布程度的度量 正態(tài)分布 平均值 中位數(shù) 眾數(shù) 正態(tài)分布曲線 標(biāo)準(zhǔn)偏差S 正態(tài)分布 圖,為什么要應(yīng)用SPC,SPC技術(shù)原理,SPC的概念,使用諸如控制圖等統(tǒng)計技術(shù)來分析過程或其輸出以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到并保持統(tǒng)計控

6、制狀態(tài)從而提高過程能力。,一組重要的統(tǒng)計概念,平均值、中位數(shù) 極差、標(biāo)準(zhǔn)差 計量型數(shù)值與計數(shù)型數(shù)值,平均值(Xbar或X),中位數(shù)( ),極差(R),組距,作用: 表明數(shù)據(jù)之間的離散程度,標(biāo)準(zhǔn)差 (Sigma),標(biāo)準(zhǔn)差 = 標(biāo)準(zhǔn)差的意義:一組數(shù)中各單個值與總體平均數(shù)之間的平均離差,說明該組數(shù)的離散程度,標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系(對于給定的樣本容量,平均極差-R越大,標(biāo)準(zhǔn)偏差- 越大),X,范圍,范圍,X,X,范圍,R,R,R,過程控制,目標(biāo):對影響過程的措施做出合理經(jīng)濟的決定 過程在統(tǒng)計控制下運行(過程受控):僅存在造成變差的特殊原因 過程控制的作用:當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時報警;反之,不報警,過程

7、控制 受控 (消除了特殊原因) 時間 范圍 不受控 (存在特殊原因),過程能力,過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下(不存在變差的特殊原因)的實際加工能力 一個穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍 過程能力是由造成變差的普通原因造成 工序能力高時:產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小 工序能力低時:產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大,過程能力指數(shù)(Cp),過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化,Cpk=(T-2)/6 其中, =|Xbar-(T/2)|,Cp=T/6 T=(USL-LSL) USL:公差上限 LSL:公差下限,無偏情況下:,存在偏移時:,Cpk值的判定原則,過程控制的工具-控制圖,上控制限 中心限 下控制限,控制圖是

8、1924年休哈特博士在貝爾實驗室發(fā)明的。 基于可控制和不可控制的變差的區(qū)分。 二戰(zhàn)后的日本工業(yè)企業(yè)將控制圖應(yīng)用到極致,為戰(zhàn)后日本的經(jīng)濟復(fù)蘇做出了很大的貢獻(xiàn),控制圖原理-3Sigma原則,當(dāng)質(zhì)量特性的隨機變量x服從正態(tài)分布時,則x落在3 的概率是99.73%。 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則:如果出現(xiàn)超出3 范圍的x值,則認(rèn)為過程存在異常。,所以,在過程正常情況下約有99.73%的點落在在此控制線內(nèi)。 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置,可以了解過程情況有無改變。,控制圖的控制線,中心線(CL): X 上控制線/限(UCL): X+ 3 下控制線/限(LCL): X- 3 右轉(zhuǎn)90度,3 ,3 ,x+ 3

9、,x- 3 ,x,x,公差界限與控制界限的區(qū)別,公差界限: 區(qū)分合格品與不合格品 控制界限: 區(qū)分偶波與異波,合理使用控制圖的益處,供正在進行過程控制的操作者使用 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)的、可預(yù)測的保持下去 使過程達(dá)到: 更高的質(zhì)量 更低的單件成本 更高的有效能力 為討論過程的性能提供共同的語言 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南,使用控制圖的基本步驟,1、收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 2、控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 3、分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個階段從而不斷改進過程,使用控制圖的

10、兩個階段,過程分析階段(初始能力研究) 過程監(jiān)控階段,分析用控制圖與控制用控制圖,分析用控制圖 應(yīng)用控制圖時,首先將非穩(wěn)態(tài)的過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài),用分析控制圖判斷是否達(dá)到穩(wěn)態(tài)。確定過程參數(shù) 特點: 1、分析過程是否為統(tǒng)計控制狀態(tài) 2、過程能力指數(shù)是否滿足要求? 控制用控制圖 等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后,延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。應(yīng)用過程參數(shù)判斷,控制圖類型,控制圖的選擇方法,確定要制定控制圖的特性,是計量型數(shù)據(jù)嗎?,否,關(guān)心的是不合格品率?,否,關(guān)心的是不合格數(shù)嗎?,是,樣本容量是否恒定?,是,使用np或p圖,否,使用p圖,樣本容量是否桓定?,否,使用u圖,是,是,使用c或u圖,是,性質(zhì)上是否是均

11、勻或不能按子組取樣例如:化學(xué)槽液、批量油漆等?,否,子組均值是 否能很方便 地計算?,否,使用中 位數(shù)圖,是,使用單值圖X-MR,是,接上頁,子組容量是否大于或等于9?,是,否,是否能方便地計算每個子組的S值?,使用 XR圖,是,否,使用 XR圖,使用 X s圖,注:本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。,使用控制圖的準(zhǔn)備,1、建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 2、定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個階段的影響 因素。 3、確定待控制的特性 應(yīng)考慮到: 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系,接上頁,4、確定測

12、量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 5、使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注:應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件,如:刀具更新,新的材料批 次等,有利于下一步的過程分析。,均值和極差圖(X-R),1、收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告,子組通常包括2-5件連續(xù)的產(chǎn)品,并周性期的抽取子組。 注:應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃,將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 1-1 選擇子組大小,頻率和數(shù)據(jù) 1-1-1 子組大?。阂话銥?件連續(xù)的產(chǎn)品,僅代表單一刀具/沖頭/過程 流等。

13、(注:數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件,即一個單一的生產(chǎn)流。) 1-1-2 子組頻率:在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù),這樣子組才能 反映潛在的變化,這些變化原因可能是換班/操作人 員更換/材料批次不同等原因引起。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班2次,或一小時一 次等。,接上頁,1-1-3 子組數(shù):子組越多,變差越有機會出現(xiàn)。一般為25組,首次使 用管制圖選用35 組數(shù)據(jù),以便調(diào)整。 1-2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) (見下圖),1-3、計算每個子組的均值(X)和極差R 對每個子組計算: X=(X1+X2+Xn)/ n R=Xmax-Xmin 式中: X1 , X2

14、為子組內(nèi)的每個測量值。n 表示子組 的樣本容量 1-4、選擇控制圖的刻度 4-1 兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。 4-2 刻度選擇 :,接上頁,對于X 圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值(X)的最大值與最小值的差的2倍,對于R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差(R)的2倍。 注:一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的2倍。 ( 例如:平均值圖上1個刻度代表0.01英寸,則在極差圖上 1個刻度代表0.02英寸) 1-5、將均值和極差畫到控制圖上 5-1 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接,瀏覽各點是否

15、 合理,有無很高或很低的點,并檢查計算及畫圖是否正確。 5-2 確保所畫的X 和R點在縱向是對應(yīng)的。 注:對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。,計算控制限 首先計算極差的控制限,再計算均值的控制限 。 2-1 計算平均極差(R)及過程均值(X) R=(R1+R2+Rk)/ k(K表示子組數(shù)量) X =(X1+X2+Xk)/ k 2-2 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍??刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 計算公式: UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X -

16、 A2R LCLR=D3R,接上頁 注:式中A2,D3,D4為常系數(shù),決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 :,注: 對于樣本容量小于7的情況,LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限,這意味著對于一個樣本數(shù)為6的子組,6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。,2-3 在控制圖上作出均值和極差的控制限,平均極差和過程均值畫成實線。 各控制限畫成虛線。 對各條線標(biāo)上記號(UCLR ,LCLR ,UCLX ,LCLX) 注:在初始研究階段,應(yīng)注明試驗控制限。 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 (即其中之一或兩者均不受控)進而采取適當(dāng)?shù)拇胧?注1:R

17、 圖和 X 圖應(yīng)分別分析,但可進行比較,了解影響過程 的特殊原因。 注2:因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差, 因此,首先應(yīng)分析R圖。,3-1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點,3-1-1 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù),應(yīng)分析。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種: b.1 控制限計算錯誤或描點時描錯 b.2 零件間的變化性或分布的寬度已增大(即變壞) b.3 測量系統(tǒng)變化(如:不同的檢驗員或量具) c 有一點位于控制限之下,說明存在下列情況的一種或多種 c.1 控制限或描點時描錯 c.2 分布的寬度變?。ㄗ兒茫?c

18、.3 測量系統(tǒng)已改變(包括數(shù)據(jù)編輯或變換),不受控制的過程的極差(有超過控制限的點),UCL,LCL,UCL,LCL,R,R,受控制的過程的極差,3-1-2 鏈- 有下列之現(xiàn)象表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢: 連續(xù) 7點在平均值一側(cè); 連續(xù)7點連續(xù)上升或下降; a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部: a-1 輸出值的分布寬度增加,原因可能是無規(guī)律的(例如:設(shè)備工作不正?;蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某要素變化(如使用新 的不一致的原材料),這些問題都是常見的問題,需要糾正。 a-2 測量系統(tǒng)的改變(如新的檢驗人或新的量具)。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部

19、: b-1 輸出值的分布寬度減小,好狀態(tài) 。 b-2 測量系統(tǒng)的改好。 注1:當(dāng)子組數(shù)(n)變得更?。?或更小)時,出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加,則8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。,注2:標(biāo)注這些使人們作出決定的點,并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點,分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。,UCL,LCL,R,UCL,R,LCL,不受控制的過程的極差 (存在高于和低于極差均值的兩種鏈),不受控制的過程的極差(存在長的上升鏈),3-1-3 明顯的非隨機圖形,a 非隨機圖形例子:明顯的趨勢;周期性;數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi),或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況,各點

20、與R 的距離:大約2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi),大約1/3的點落在其外的2/3的區(qū)域。 C 如果顯著多余2/3以上的描點落在離 R 很近之處(對于25子組,如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域),則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查: c-1 控制限計算錯或描點已描錯 。 c-2 過程或取樣方法被分層,每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值(如:從幾組 軸中,每組抽一根來測取數(shù)據(jù))。 c-3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯(極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除)。,d 如果顯著少于2/3以上的描點落在離R很近之處 (對于 25子組,如果有40%的點落在控制限

21、的1/3區(qū)域),則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查: d-1 控制限計算錯或描點或描錯。 d-2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值(如:輸入材料批次混 淆)。 注:如果存在幾個過程流,應(yīng)分別識別和追蹤。 3-2 識別并標(biāo)注所有特殊原因(極差圖) a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標(biāo)注,作一個過程操作 分析,從而確定該原因并改進,防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時分析問題,例如:出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。,3-3 重新計算控制限(極差圖),a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時,失控的原因已 被識別和消除或制度化,然后應(yīng)重新

22、計算控制限,以排除失控 時期的影響,排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組,然后重新計算新的平均極差R和控制限,并畫下來, 使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從R 圖中去掉的子組,也應(yīng)從X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限,X A2R 。 注:排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點。并且一定要改變過程,以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。,3-4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點,3-4-1 超出控制限的點: a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多: a-1 控制限計算錯或描點時描錯 a-

23、2 過程已更改,或是在當(dāng)時的那一點(可能是一件獨立的 事件)或是一種趨勢的一部分。 a-3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化(例如:不同的量具或QC),不受控制的過程的均值(有一點超過控制限),受控制的過程的均值,UCL,LCL,X,LCL,UCL,X,3-4-2 鏈- 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢: 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或7點連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a-1 過程均值已改變 a-2 測量系統(tǒng)已改變(漂移,偏差,靈敏度) 注:標(biāo)注這些使人們作出決定的點,并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點,分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。,不受控制的過程

24、的均值(長的上升鏈),不受控制的過程的均值(出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈),UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,3-4-3 明顯的非隨機圖形,a 非隨機圖形例子:明顯的趨勢;周期性;數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi),或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況,各點與 X的距離:大約2/3的描點應(yīng)落在控制限的 中間1/3的區(qū)域內(nèi),大約1/3的點落在其外的2/3的區(qū)域;1/20的 點應(yīng)落在控制限較近之處。 c 如果顯著多余2/3以上的描點落在離R很近之處(對于25子組, 如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域),則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進行調(diào)查: c-1 控制限計算錯或描點描錯 c-2 過程或取樣方法被分層,每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值(如:從 幾組軸中,每組抽一根來測取數(shù)據(jù)。,c-3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯(極差和均值相差太遠(yuǎn)的

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