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文檔簡(jiǎn)介
1、技術(shù)交流記憶ATE測(cè)試,2007年3月,客戶服務(wù),卓越,概述,ATE測(cè)試和ATE測(cè)試設(shè)備特性HP83K/T5592 ATE測(cè)試簡(jiǎn)介,ATE測(cè)試,什么是ATE測(cè)試?自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(automatic test equipment)的縮寫,即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,是一種測(cè)試存儲(chǔ)芯片或軟件隨機(jī)存取存儲(chǔ)器芯片質(zhì)量的測(cè)試設(shè)備。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試是使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來(lái)測(cè)試存儲(chǔ)芯片或軟件隨機(jī)存取存儲(chǔ)器芯片的質(zhì)量。ATE測(cè)試,ATE的工作原理:ATE測(cè)試設(shè)備,高級(jí)ATE測(cè)試設(shè)備包括:Verigy的93K系統(tǒng),Advantest的T5581/T5585/T5592系統(tǒng),KINGTIGER的K
2、T2A PRO系統(tǒng)特點(diǎn):高精度,快速,完整的電氣性能,功能和定時(shí)測(cè)試和分析,昂貴的專業(yè)制造商,T5592系統(tǒng),T5592系統(tǒng),T5592系統(tǒng),T5592系統(tǒng),KT-2A PRO系統(tǒng),ATE測(cè)試設(shè)備,ATE的特點(diǎn)T5592簡(jiǎn)介,T5592測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介,T5592參數(shù)簡(jiǎn)介,可測(cè)試各種存儲(chǔ)器(專用)。 最高測(cè)試頻率可達(dá)1.066千兆赫,定時(shí)精度可達(dá)150微秒。有64個(gè)可測(cè)試芯片,16個(gè)內(nèi)存庫(kù)(2個(gè)工作站)。驅(qū)動(dòng)程序與雙向端口分開,以節(jié)省成本(內(nèi)存功能是專門設(shè)計(jì)的)。T5592簡(jiǎn)介、硬件部分、T5592簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、T5592測(cè)試項(xiàng)目、連通性測(cè)試漏電流測(cè)試電源電流測(cè)試功能測(cè)試重
3、要DC交流參數(shù)測(cè)試SPD讀寫測(cè)試、T5592簡(jiǎn)介、連通性測(cè)試原理、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、漏電流測(cè)試原理、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、IDD(動(dòng)態(tài)電源電流)測(cè)試原理、時(shí)間條件電壓條件波形條件邏輯值、驅(qū)動(dòng)器(ATE)比較器、 被測(cè)器件(DUT)、圖形文件、結(jié)果: P/F、芯片電源、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試簡(jiǎn)介、功能測(cè)試模式檢查板、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試簡(jiǎn)介、功能測(cè)試模式3月-6日。 加電壓測(cè)量電流,加電流測(cè)量電壓2。改變DC參數(shù),執(zhí)行功能測(cè)試,并找到P/F轉(zhuǎn)換點(diǎn)3。運(yùn)行模式程序直接測(cè)量參數(shù),自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試介紹,DC測(cè)試,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試介紹,目的:測(cè)試芯片的各種電氣性能,VSIM,ISVM,DC測(cè)試單元,DC參
4、數(shù)測(cè)試,電壓參數(shù)測(cè)試,主電壓參數(shù),電源電壓VDD,VDDQ,VREF輸入電壓VIL,VIH輸出電壓vol,VOH,測(cè)試目的:評(píng)估被測(cè)設(shè)備能夠正常工作的電壓范圍;評(píng)估輸入引腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力;評(píng)估輸出引腳輸出相應(yīng)邏輯電壓的能力;測(cè)試當(dāng)前參數(shù);主要電流參數(shù):電源電流IDD、輸入漏電流IIL、IIH、輸出漏電流IOL、IOH、IOZ;評(píng)估DUT的漏電流,評(píng)估DUT工作所需的電源電流;DC參數(shù)測(cè)試、工程測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試的基本原理:改變待測(cè)參數(shù),重復(fù)功能測(cè)試,直到測(cè)試結(jié)果從合格變?yōu)椴缓细瘛S涗浲ㄟ^(guò)/失敗轉(zhuǎn)換點(diǎn),執(zhí)行必要的數(shù)學(xué)運(yùn)算,并獲得待測(cè)試參數(shù)的真實(shí)值。本質(zhì)上,進(jìn)行功能測(cè)試是基于
5、時(shí)間條件的。,交流參數(shù)測(cè)試,交流參數(shù)測(cè)試目的:為了保證器件的時(shí)序參數(shù)滿足器件規(guī)格要求,為了保證器件能夠在不同的時(shí)序條件下正常工作,為了分析器件的時(shí)序參數(shù),為了解決故障問(wèn)題,為了調(diào)試/優(yōu)化測(cè)試程序,為了測(cè)試工程,為了測(cè)試典型交流參數(shù)(CL/TRCD/Trp)的時(shí)序圖,為了測(cè)試交流參數(shù),Shmoo圖例- Margin Test用于評(píng)估芯片的實(shí)際性能,通常通過(guò)SHMOO PLOT工具進(jìn)行分析。交流參數(shù)測(cè)試,Shmoo圖例,二維Shmoo同時(shí)改變兩個(gè)相關(guān)參數(shù),執(zhí)行功能測(cè)試,紅色FAIL區(qū)域,綠色PASS區(qū)域,交流參數(shù)測(cè)試,ate測(cè)試,大規(guī)模生產(chǎn),工程/評(píng)估),ATE ate測(cè)試介紹,生產(chǎn)測(cè)試流程,基本電氣性能測(cè)試,重要交流參數(shù)測(cè)試,功能測(cè)試,連通性測(cè)試,泄漏電流測(cè)試,IDD測(cè)試,時(shí)間順序?qū)捤桑瑫r(shí)間
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