內(nèi)存ATE測(cè)試介紹.ppt

1、技術(shù)交流記憶ATE測(cè)試，2007年3月，客戶(hù)服務(wù)，卓越，概述，ATE測(cè)試和ATE測(cè)試設(shè)備特性HP83K/T5592 ATE測(cè)試簡(jiǎn)介，ATE測(cè)試，什么是ATE測(cè)試？自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(automatic test equipment)的縮寫(xiě)，即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，是一種測(cè)試存儲(chǔ)芯片或軟件隨機(jī)存取存儲(chǔ)器芯片質(zhì)量的測(cè)試設(shè)備。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試是使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來(lái)測(cè)試存儲(chǔ)芯片或軟件隨機(jī)存取存儲(chǔ)器芯片的質(zhì)量。ATE測(cè)試，ATE的工作原理：ATE測(cè)試設(shè)備，高級(jí)ATE測(cè)試設(shè)備包括：Verigy的93K系統(tǒng)，Advantest的T5581/T5585/T5592系統(tǒng)，KINGTIGER的K

2、T2A PRO系統(tǒng)特點(diǎn)：高精度，快速，完整的電氣性能，功能和定時(shí)測(cè)試和分析，昂貴的專(zhuān)業(yè)制造商，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，KT-2A PRO系統(tǒng)，ATE測(cè)試設(shè)備，ATE的特點(diǎn)T5592簡(jiǎn)介，T5592測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介，T5592參數(shù)簡(jiǎn)介，可測(cè)試各種存儲(chǔ)器(專(zhuān)用)。 最高測(cè)試頻率可達(dá)1.066千兆赫，定時(shí)精度可達(dá)150微秒。有64個(gè)可測(cè)試芯片，16個(gè)內(nèi)存庫(kù)(2個(gè)工作站)。驅(qū)動(dòng)程序與雙向端口分開(kāi)，以節(jié)省成本(內(nèi)存功能是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的)。T5592簡(jiǎn)介、硬件部分、T5592簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、T5592測(cè)試項(xiàng)目、連通性測(cè)試漏電流測(cè)試電源電流測(cè)試功能測(cè)試重

3、要DC交流參數(shù)測(cè)試SPD讀寫(xiě)測(cè)試、T5592簡(jiǎn)介、連通性測(cè)試原理、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、漏電流測(cè)試原理、ATE測(cè)試簡(jiǎn)介、IDD(動(dòng)態(tài)電源電流)測(cè)試原理、時(shí)間條件電壓條件波形條件邏輯值、驅(qū)動(dòng)器(ATE)比較器、 被測(cè)器件(DUT)、圖形文件、結(jié)果： P/F、芯片電源、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試簡(jiǎn)介、功能測(cè)試模式檢查板、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試簡(jiǎn)介、功能測(cè)試模式3月-6日。 加電壓測(cè)量電流，加電流測(cè)量電壓2。改變DC參數(shù)，執(zhí)行功能測(cè)試，并找到P/F轉(zhuǎn)換點(diǎn)3。運(yùn)行模式程序直接測(cè)量參數(shù)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試介紹，DC測(cè)試，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試介紹，目的：測(cè)試芯片的各種電氣性能，VSIM，ISVM，DC測(cè)試單元，DC參

4、數(shù)測(cè)試，電壓參數(shù)測(cè)試，主電壓參數(shù)，電源電壓VDD，VDDQ，VREF輸入電壓VIL，VIH輸出電壓vol，VOH，測(cè)試目的：評(píng)估被測(cè)設(shè)備能夠正常工作的電壓范圍；評(píng)估輸入引腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力；評(píng)估輸出引腳輸出相應(yīng)邏輯電壓的能力；測(cè)試當(dāng)前參數(shù)；主要電流參數(shù)：電源電流IDD、輸入漏電流IIL、IIH、輸出漏電流IOL、IOH、IOZ；評(píng)估DUT的漏電流，評(píng)估DUT工作所需的電源電流；DC參數(shù)測(cè)試、工程測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試的基本原理：改變待測(cè)參數(shù)，重復(fù)功能測(cè)試，直到測(cè)試結(jié)果從合格變?yōu)椴缓细?。記錄通過(guò)/失敗轉(zhuǎn)換點(diǎn)，執(zhí)行必要的數(shù)學(xué)運(yùn)算，并獲得待測(cè)試參數(shù)的真實(shí)值。本質(zhì)上，進(jìn)行功能測(cè)試是基于

5、時(shí)間條件的。，交流參數(shù)測(cè)試，交流參數(shù)測(cè)試目的：為了保證器件的時(shí)序參數(shù)滿(mǎn)足器件規(guī)格要求，為了保證器件能夠在不同的時(shí)序條件下正常工作，為了分析器件的時(shí)序參數(shù)，為了解決故障問(wèn)題，為了調(diào)試/優(yōu)化測(cè)試程序，為了測(cè)試工程，為了測(cè)試典型交流參數(shù)(CL/TRCD/Trp)的時(shí)序圖，為了測(cè)試交流參數(shù)，Shmoo圖例- Margin Test用于評(píng)估芯片的實(shí)際性能，通常通過(guò)SHMOO PLOT工具進(jìn)行分析。交流參數(shù)測(cè)試，Shmoo圖例，二維Shmoo同時(shí)改變兩個(gè)相關(guān)參數(shù)，執(zhí)行功能測(cè)試，紅色FAIL區(qū)域，綠色PASS區(qū)域，交流參數(shù)測(cè)試，ate測(cè)試，大規(guī)模生產(chǎn)，工程/評(píng)估)，ATE ate測(cè)試介紹，生產(chǎn)測(cè)試流程，基本電氣性能測(cè)試，重要交流參數(shù)測(cè)試，功能測(cè)試，連通性測(cè)試，泄漏電流測(cè)試，IDD測(cè)試，時(shí)間順序?qū)捤?，時(shí)間