偏光顯微鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì).ppt

1、第16章 偏光顯微鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第1節(jié) 偏光顯微鏡 第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 第5節(jié) 透明礦物的系統(tǒng)鑒定 第6節(jié) 油浸法測折射率值 第7節(jié) 礦物顆粒大小及含量的測定,第1節(jié) 偏光顯微鏡,1、機(jī)械部分: 鏡座：承受重力 鏡臂：裝鏡筒，可傾斜 載物臺(tái)：承載觀察物，可轉(zhuǎn)動(dòng)，有0360度刻度及游標(biāo)、固定螺絲，中央圓孔，彈簧夾 2、光學(xué)部分: 反光鏡：有平、凹兩面，光線弱或用高倍物鏡時(shí)用凹面 下偏光鏡：將自然光轉(zhuǎn)變?yōu)槠?鎖光圈：調(diào)節(jié)進(jìn)光量的大小 聚光鏡：將平行光線變?yōu)殄F光 鏡筒：可調(diào)節(jié)升降，上接目鏡，下接物鏡，鏡筒光學(xué)長

2、度為物鏡后焦到目鏡前焦 目鏡 上偏光鏡：方向AA，垂直下偏光鏡 勃氏鏡：觀察錐光時(shí)使用的放大系統(tǒng),一、偏光顯微鏡的構(gòu)造,第2頁,首 頁,3、物鏡：,由15片透鏡組成。透鏡孔越小，鏡頭越長，放大倍數(shù)越大 放大倍數(shù)低倍4X，中倍10X-25X，高倍45X以上，油浸100X 光孔角：前透鏡最邊緣的光線與前焦點(diǎn)所構(gòu)成的角度 數(shù)值孔徑：等于半光孔角正弦乘介質(zhì)N值。數(shù)值孔徑越大，放大倍數(shù)越高。同一放大倍數(shù)，數(shù)值孔徑越大，分辨率越高 一組物鏡占一臺(tái)顯微鏡總價(jià)值的五分之一到二分之一。,第3頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,二、偏光顯微鏡的品質(zhì)評價(jià),1放大倍數(shù) 物鏡的放大倍數(shù)決定于光學(xué)鏡筒長度和物鏡的焦距 光學(xué)鏡

3、筒長度：物鏡后焦平面與目鏡前焦平面之間距離 放大倍數(shù)：光學(xué)鏡筒長度()除以焦距(F)即: 物鏡放大倍數(shù)F 品質(zhì)好的最大放大倍數(shù)可達(dá)2000倍。,第4頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,2分辨率 物鏡的分辨率就是顯微鏡的分辨率 分辨率取決于數(shù)值孔徑的大小及所用光波的波長,式中：入射光波長，n介質(zhì)折射率，半光孔角。 若用浸油介質(zhì)，最高分辨率為2000。 數(shù)值孔徑越大，放大倍數(shù)越高 同一放大倍數(shù)，數(shù)值孔徑越大，分辨率越高。,第5頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,三、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與使用,1裝卸鏡頭 裝目鏡：直接插上即可 裝物鏡：物鏡與鏡筒的接合類型有彈簧夾型、銷釘型及轉(zhuǎn)盤型。注意安裝到位 2調(diào)節(jié)視域亮度

4、 鏡頭裝好以后，推出上偏光，勃氏鏡，打開鎖光圈，轉(zhuǎn)動(dòng)反光鏡對準(zhǔn)光源，調(diào)節(jié)視域亮度。光線不要太強(qiáng),第6頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,3調(diào)節(jié)焦距 放上薄片，手摸一下，一定要蓋玻片朝上，用彈簧夾夾好 下降鏡筒。用粗調(diào)旋扭朝前旋轉(zhuǎn)，眼睛從側(cè)面注視鏡頭，將鏡頭下降到鏡頭工作距離以內(nèi)，切匆使鏡頭與薄片接觸，以免損壞鏡頭。 要鍛煉能兩個(gè)眼睛都睜開看,第7頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,4校正中心 在視域內(nèi)選一小點(diǎn)置于十字絲中心 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)360度，注意觀察小點(diǎn)的位置和軌跡 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)180度，小點(diǎn)至距中心最遠(yuǎn)位置 擰校正螺旋，使小點(diǎn)內(nèi)移到中心距離的二分之一 手移薄片，使小點(diǎn)回中心 再旋物臺(tái)，若小點(diǎn)還有偏移，重

5、復(fù)上述操作,第8頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,5校正偏光鏡方向 找一塊黑云母，置于視域中心 旋物臺(tái)，使解理縫為左右方向 旋動(dòng)下偏光鏡使其顏色最深，此時(shí)的下偏光鏡為PP方向 取下薄片，推入上偏光鏡，使視域全黑。則上下偏光鏡正交,第9頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,四、薄片的制備,磨制薄片的磨料一般為金剛砂(SiC)及剛玉粉(Al2O3)等。 疏松的標(biāo)本，需先浸在樹膠中煮過，加以粘結(jié)，再切成薄片,礦物和巖石(包括人造巖石)需要將試樣磨制成薄片進(jìn)行觀察,薄片是由很薄的礦片、載玻璃片和蓋玻璃片組成，礦片的頂部與底部都涂有樹膠,載玻片2575，厚約1.5) 礦物厚度0.03 蓋玻璃1515到2020，

6、厚0.17),第10頁,首 頁,第1節(jié) 偏光顯微鏡,單偏光鏡下觀察晶體光學(xué)性質(zhì)的內(nèi)容 單偏光鏡下觀察，即只使用下偏光鏡 觀察內(nèi)容有 晶體形態(tài)、解理 突起、糙面、貝克線 顏色與多色性 晶體顆粒大小、百分比含量。,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第11頁,首 頁,一、晶體形態(tài),晶體形態(tài)相關(guān)因素： 晶體依一定的結(jié)晶習(xí)性生成一定的形態(tài) 礦物的形態(tài)、大小、晶體的完整程度與形成條件、析晶順序有關(guān) 1晶形 薄片中所見為晶體的某一切面，同一晶體切面方向不同，反映出的平面形態(tài)完全不同。,第12頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2晶體的自形程度 依晶體的邊棱的規(guī)則程度分類 A.自形晶：晶形完整，呈規(guī)

7、則多邊形，邊棱為直線 B.半自形晶：晶形較完整，棱部分直線，部分為曲線 C.他形晶：不規(guī)則粒狀，邊棱為曲線,自形晶角閃石,第13頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),二、解理及解理夾角的測定,1解理 解理是沿著一定結(jié)晶方向開裂成平直的面的能力。解理面、解理的方向、組數(shù)、及完善程度是鑒定礦物的重要依據(jù)。 解理縫的清晰程度與礦物和樹膠的折射率差值的大小有關(guān)，差值大者解理明顯 解理縫的清晰程度及寬度與切片方向密切相關(guān)。當(dāng)解理縫垂直切面時(shí)，縫最窄，最清楚，升降鏡筒時(shí)解理縫不左右移動(dòng)。,第14頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2解理的完善程度分級(jí) 極完全解理：細(xì)密連貫直線縫 完全解理

8、：較粗的平直縫，但不完全連貫 不完全解理：斷續(xù)解理縫，勉強(qiáng)能看清成一個(gè)方向。,角閃石完全解理,黑云母極完全解理,第15頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),3解理角的測定 選擇合適的解理縫：有同時(shí)垂直切面的兩組解理的晶體顆粒，即兩組解理都最清楚，升降鏡筒都不移動(dòng) 使一組解理平行目鏡的十字絲的豎線，記下物臺(tái)的刻度數(shù)a 旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，使另一組解理平行目鏡的十字絲的豎線。記下計(jì)數(shù)b。 兩組計(jì)數(shù)之差(a-b)即測的兩組解理的夾角。,a,b,第16頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),三、顏色與多色性,1顏色 礦物對白光中不同波段選擇性吸收的結(jié)果 光波透過薄片，總要被吸收一部分；若均勻吸收，

9、則僅有強(qiáng)度減弱，薄片為無色礦物 若有選擇性吸收，則顯示被吸收波段的補(bǔ)色 顏色的深淺，取決于礦物對各色光吸收的總強(qiáng)度，強(qiáng)度大顏色深 吸收的總強(qiáng)度取決于薄片中的礦物種類及薄片的厚度,第17頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2吸收性與多色性 吸收性 均質(zhì)體 各向同性，不同振動(dòng)方向光波選擇性吸收都相同 礦物顏色與濃度不因光波的振動(dòng)方向不同而變化。 非均質(zhì)體 顏色及濃度隨方向的變化而變化 隨著物臺(tái)的旋轉(zhuǎn)，顏色及顏色的濃度有規(guī)律地周期性變化。,第18頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),多色性： 由于光波在晶體中的振動(dòng)方向不同，而使礦物的顏色改變的現(xiàn)象稱為多色性。而顏色的濃淡變化稱為吸

10、收性 一軸晶礦物，主要有兩個(gè)顏色，No與Ne。 電氣石（負(fù)光性）平行C軸切面短半徑Ne|PP紫色長半徑No|PP深藍(lán)色。斜交切面為過渡色 No顏色比Ne深，表明No吸收性強(qiáng)，吸收性公式：NoNe 二軸晶的多色性有三個(gè)主要顏色分別與光率體的Ng,Nm,Np相當(dāng),第19頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),多色性： 每一主軸面都顯示兩種顏色 平行光軸面多色性最明顯，垂直光軸面只顯示Nm的顏色 其他切面介于二者之間 測定多色性時(shí)要在定向切面上進(jìn)行,電氣石多色性,第20頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),四、貝克線、糙面、突起及閃突起,這些性質(zhì)主要與薄片中相鄰物質(zhì)間由于折射率不同發(fā)生

11、折射、反射所引起的光學(xué)現(xiàn)象有關(guān) 1貝克線 在兩個(gè)折射率不同的介質(zhì)接觸處的暗邊緣，稱為礦物輪廓 輪廓線附近的一條明亮的細(xì)線，升降鏡筒時(shí)發(fā)生移動(dòng)，稱貝克線,貝克線,第21頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),（1)貝克線規(guī)律： 提升鏡筒，貝克線向折射率高的介質(zhì)方向移動(dòng) 下降鏡筒，貝克線向折射率低的介質(zhì)方向移動(dòng) 貝克線的靈敏度很高 用白光照明，兩介質(zhì)折射率差0.001即可見貝克線 用單色光照明時(shí)，靈敏度可提高到0.0005 用貝克線的移動(dòng)規(guī)律很容易判斷兩相鄰介質(zhì)的折射率的高低 為看清貝克線，要縮小光圈，將界面移到視域中心，移開聚光鏡。,第22頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),（2

12、)貝克線產(chǎn)生的原因 引起貝克線的兩介質(zhì)接觸有四種情況（N折射率大，n折射率?。?A、n蓋于N之上，接觸界面較平緩 光線能透過界面向折射率大的介質(zhì)方向偏折（Nn，入射角小于反射角），光線在N側(cè)加強(qiáng) 提升鏡筒，亮線向N側(cè)移動(dòng),F2,F1,第23頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),（2)貝克線產(chǎn)生的原因 引起貝克線的兩介質(zhì)接觸四種情況（N折射率大，n折射率小） B、n蓋于N之上，接觸界面較陡 因Nn，入射角大于臨界角，光線發(fā)生全反射，向N方向偏折。移動(dòng)情況同A,F2,F1,i,r,光線交匯點(diǎn)即亮線,第24頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),（2)貝克線產(chǎn)生的原因 引起貝克線的兩介

13、質(zhì)接觸四種情況（N折射率大，n折射率?。?C、N蓋于n之上，光線總是能透過界面向N方向偏折（因N大于n，入射角小于反射角）,N,n,F2,F1,第25頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),（2)貝克線產(chǎn)生的原因 引起貝克線的兩介質(zhì)接觸四種情況（N折射率大，n折射率?。?D、接觸界面垂直切面，垂直透射光線無折射 斜射光線N側(cè)發(fā)生全反射 n側(cè)者則能透過界面在N側(cè)加強(qiáng)形成亮線。,F2,F1,第26頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2糙面 單偏光鏡下觀察晶體表面的粗糙呈麻點(diǎn)狀現(xiàn)象，稱糙面 糙面產(chǎn)生的原因 礦物表面的凹凸不平，覆蓋在晶體上的樹膠的折射率與晶體折射率有差異，當(dāng)光線通過二

14、者接觸面時(shí)，發(fā)生折射甚至全反射，至使薄片中晶體表面光線集散不一，而形成明暗程度不同的斑點(diǎn) 糙面產(chǎn)生的必要條件： 礦物本身表面不平 礦物與樹膠間存在折射率差,N=n,Nn,Nn,第27頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),3突起及閃突起 晶體薄片中不同的晶體表面好象高低不一的現(xiàn)象稱為突起 這是一種視覺的錯(cuò)覺，實(shí)際中薄片中的晶體切面是一樣高的。 突起由樹膠與晶體的折射率差引起，折射率大表面看起來高 原因在于折射率大光線偏折度大，使人感覺晶體表面抬高 晶體折射率大于樹膠時(shí)為正突起，小于樹膠時(shí)為負(fù)突起。 雙折射率較大的光性非均質(zhì)體，在單偏光鏡下旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)， 突起情況發(fā)生明顯變化，稱為閃突起，它

15、與晶體的雙折射率有關(guān)。,第28頁,首 頁,第2節(jié) 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),正交偏光鏡即上下偏光鏡一起使用，且使上下偏光鏡的振動(dòng)方向相互垂直。 PP代表下偏光振動(dòng)方向，AA代表上偏振動(dòng)方向。并使上下偏光鏡的振動(dòng)方向與目鏡的十字絲一致 在正交偏光鏡下無薄片時(shí)視域應(yīng)是全黑的 正交偏光鏡下觀察的內(nèi)容有：干涉、干涉色級(jí)序、雙折射率、消光、雙晶、測定消光角、延性符號(hào)等,第29頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),一、正交偏光鏡下的干涉原理,知識(shí)回顧：波的干涉 頻率相同、振動(dòng)方向相同、相位相同或有固定相位差的兩列波相遇，合成后，波在某些部位始終加強(qiáng)，某些部位始終減弱的現(xiàn)象稱為波的干涉 頻率相同、

16、振動(dòng)方向相同、有固定相位差的光波稱為相干光。,第30頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),1正交偏光之間光的傳播 （1）光線的傳播路徑 自然光 下偏光鏡 晶體薄片 上偏光鏡 干涉 目鏡,（振動(dòng)方向PP）,（產(chǎn)生雙折射）,（振動(dòng)方向AA）,第31頁,首 頁,（2）光程差 NgNp在晶體中的不同方向振動(dòng)，其傳播速度也不同。Vp速度大，稱為快光。Vg速度小稱為慢光。 VgVp兩束偏光通過薄片后產(chǎn)生光程差（以R表示），,R= D（NgNp） 決定光程差R的因素有兩點(diǎn)：一是晶體薄片厚度，二是晶體的雙折射率,第32頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)

17、,OB：透過下偏光鏡后的偏光振幅 Ng,Np：晶體切片的光率體橢圓的長短半徑。亦為快光慢光的振動(dòng)方向。 當(dāng)下偏光振動(dòng)方向與光率體半徑有夾角時(shí)，透出薄片的偏光OB按平行四邊形法則分解。沿光率體半徑方向分解為ONg,ONp,2正交偏光下光的干涉作用,（1）雙折射后光的分解,A,A,P,P,B,O,Ng,Ng1,Ng2,Np,Np1,Np2,Ng,Np,第33頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),ONg1及ONp1的特點(diǎn) 為同一偏光透過晶體后經(jīng)兩度分解而成，頻率相同 兩者之間有固定的光程差（由ONg、ONp繼承下來） 兩者在同一平面內(nèi)振動(dòng)（上偏光振動(dòng)面AA） 所以，ONg1、ONp1為相干

18、光。,此光波進(jìn)入上偏光后，又分解為ONp1,ONp2，ONg1,ONg2， ONp2,ONg2垂直上偏光不能通過 ONp1與ONg1的振幅振幅相等，方向相反,（2）上偏光鏡內(nèi)光的分解,第34頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),(3)兩偏光的干涉效果 A、干涉疊加原理干涉光的強(qiáng)度等于振幅A的平方 I：光干涉后的強(qiáng)度； A：干涉光的振幅； ：晶體的光率體半徑與上下偏光振動(dòng)方向的夾角； ：入射光波長； R：兩偏光通過薄片時(shí)形成的光程差。,第35頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),參數(shù)取值不同，上式有極大或極小值。干涉光有亮度變化,（4）影響干涉效果的因素,A、當(dāng)0 當(dāng)0，I0

19、 。視域黑。這現(xiàn)象稱為消光。 0，即晶體光率體半徑與上下偏光振動(dòng)方向一致。旋轉(zhuǎn)物臺(tái)360度。晶體切面有4種此位置，故出現(xiàn)四次消光 四次消光是光性非均質(zhì)體非垂直光軸切面的特征,第36頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),B、當(dāng)R0 R0，I0，消光 R0，即R0，NgNp0或D=0 NgNp0為光性均質(zhì)體及光性非均質(zhì)體垂直光軸切面。視域全黑，稱為永久消光 永久消光是光性均質(zhì)體及光性非均質(zhì)體垂直光軸切面的特征 D=0，無薄片，視域全黑 C、當(dāng)R=n，R為的整數(shù)倍。I0，消光 D、當(dāng)R（21)/2，R為2的奇數(shù)倍。A最大 E、當(dāng)45，Sin1，I為最大 在光性非均質(zhì)體中，當(dāng)光率體Ng,Np

20、與AA或PP成45度時(shí)晶體干涉色最明亮。,第37頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),二、正交偏光鏡下的干涉色,1、干涉色的形成 A、干涉色現(xiàn)象 將石英楔由薄到厚插入，下次偏光下看到明暗帶或色彩即干涉色。 單色光下，隨石英楔推入，現(xiàn)明暗相間干涉帶。光程差與明暗關(guān)系：R處。A0，黑暗帶R（21）2，A最大，亮帶 光程差介于二者之間，亮度居中 暗亮帶的寬度取決于波長，紅光波長最長，條帶間隔最寬。 白光照明，白光中不同波長的光使任何一個(gè)光程差都不會(huì)相當(dāng)于各色波長的整數(shù)倍。也即不可能使七色同時(shí)消光，呈彩色,第38頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),B、干涉色形成 一定的R，可相當(dāng)

21、白光中某色波長的整數(shù)倍而消光，它又可相當(dāng)于某半波長的奇數(shù)倍使這色光加強(qiáng) 綜合干涉結(jié)果，相當(dāng)于從白光中減去某色光，又加強(qiáng)另外某色光，減去的光出現(xiàn)補(bǔ)色，被加強(qiáng)的光又強(qiáng)過補(bǔ)色 抵消后出現(xiàn)的顏色混合色光，便成為該色光干涉形成的混合色。它是由白光干涉形成的，稱為干涉色 干涉色的亮度隨角的變化。0時(shí)，晶體消光，由045度，亮度增強(qiáng)，45度時(shí)最亮 只影響亮度，不影響顏色。,第39頁,首 頁,2干涉色的級(jí)序 A、干涉色變化 正交偏光下白光照明，隨石英楔的推入，R由小變大。干涉色出現(xiàn)有規(guī)律的變化 其特點(diǎn)是：隨R值連續(xù)增加的方向叫色序升高，隨R值由0開始上升，視域干涉色出現(xiàn)黑暗灰灰白淡黃黃橙紅蘭綠黃紅蘭綠黃紅蘭綠

22、黃紅。色序變化固定不變。,第40頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),B干涉色級(jí)序 干涉色有規(guī)律的變化稱為干涉色的級(jí)序 隨R由小到大，干涉色由低到高，一般把干涉色分為四級(jí) 一級(jí)：灰、灰白、黃、紅 二級(jí)：蘭、綠、黃、紅 三級(jí)：蘭、綠、黃、紅 四級(jí)：蘭、綠、黃、紅 相鄰色間無截然界面，呈過渡狀態(tài) 四種干涉色的混合呈稍帶玫瑰色的白色，稱為高級(jí)白。 四級(jí)干涉色收尾（紅）叫頂部色，開始（蘭）叫底部色,第41頁,首 頁,C不同級(jí)序干涉色的差異 各級(jí)干涉色在色調(diào)上有一定的差異，突出的有： 一級(jí)：灰與灰白完全無界面，黃分為淡黃與橙黃，紅帶紫，色帶較窄 二級(jí)：蘭較深，綠較淡，黃帶橙，亮而艷，紅鮮艷 三

23、、四級(jí)：均較淡，界面不清。三級(jí)綠為翠綠，色艷帶寬，四級(jí)蘭淡而窄,第42頁,首 頁,D干涉色高低的影響因素,礦物性質(zhì),礦物的切面方向,礦片厚度,平行光軸或光軸面最大,垂直光軸沒有光程差,其余在兩者之間,R=d(Ng-Np) R光程差, d礦片厚度, Ng-Np雙折率,干涉色高低取決于光程差,第43頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),表示干涉色的級(jí)序、光程差、雙折射率及薄片厚度之間關(guān)系的圖表 橫坐標(biāo)：光程差R及相對應(yīng)的干涉色級(jí)序。單位毫微米 縱坐標(biāo)：薄片厚度。單位毫米 原點(diǎn)放射線：雙折射率 色譜表表示R、D、（NdNp） 三者之間的關(guān)系。只要知道其 中的兩項(xiàng)就能求出第三項(xiàng)。,3干涉色色

24、譜表,第44頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第45頁,三、補(bǔ)色法則及補(bǔ)色器,1補(bǔ)色法則 在正交偏光鏡間，兩非均質(zhì)體除垂直光軸外任意方向切面在45位置重疊，光通過此兩晶體薄片后的光程差增加或減少,設(shè)晶體薄片光率體橢圓半徑為N1N2，光波透入每一塊薄片后雙折射分解為二偏光，透出薄片后光程差為R1。另一薄片的光程差為R2 將兩薄片在正交偏光鏡的45度位置重疊，必產(chǎn)生一總光程差R。R是增還是減，取決于二薄片的重疊方式，即重疊時(shí)光率體橢圓的相對位置,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),B薄片重疊情況 當(dāng)兩薄片光率體同名半徑重疊，光透過后總光程差RR1R2，RR1，RR2。R增大干

25、涉色升高 當(dāng)光率體異名軸重疊，RR1R2或RR2R1可能出現(xiàn)： a：RR1，RR2； b：RR1，RRR2。 無論哪一種，R反映的干涉色比原兩薄片都低或比其中某一塊薄片的干涉色低。所以：異名軸重疊。干涉色色序降低,第46頁,首 頁,小結(jié) 同名軸重疊，總光程差為RR1R2，干涉色升高。 異名軸重疊: R為兩薄片的光程差之差，其干涉色色序降低（總比二薄片中干涉色級(jí)序高的要低； 若兩薄片的光程差相等，總光程差為0，視域消色變黑,第47頁,首 頁,2補(bǔ)色器 補(bǔ)色器就是已知光率體橢圓半徑名稱及光程差的晶體薄片 作用 作為已知光率體橢圓的半徑方向及光程差的晶體薄片，根據(jù)補(bǔ)色法則測定另一晶體的光率體橢圓半徑

26、名稱 常用補(bǔ)色器有： A、石膏板 B、云母板 C、石英楔,第48頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),石膏板 天然石膏或石英片（平行光軸面）鑲嵌于長條形金屬孔中，試板Np（快光）方向平行長邊 光程差550毫微米，正交偏光鏡下為一級(jí)紫紅 晶體薄片加上石膏板，干涉色升高或降低整整一級(jí)色序 石膏板只能應(yīng)用于二級(jí)黃以下的干涉色晶體薄片 應(yīng)特別引起注意：當(dāng)異名軸重疊，且薄片干涉色很低時(shí)，視域的干涉色是升高的，這是因?yàn)楦缮嫔窃谘a(bǔ)色器一級(jí)紫紅的基礎(chǔ)上降低,第49頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),云母板 形狀同石膏板，長邊為快光方向 光程差為147毫微米，約相當(dāng)于四分之一個(gè)黃光波長

27、正交偏光下的干涉色為一級(jí)灰。與晶體薄片疊加，升降一個(gè)色序 云母板適用于干涉色較高的（二級(jí)黃以上）晶體薄片。如 升：蘭綠黃紅蘭 降：蘭紅黃綠蘭,第50頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),石英楔 石英沿光軸方向磨成楔形，鑲嵌于金屬框中 R01680。在正交偏光鏡間由薄到厚端，可以產(chǎn)生一級(jí)到三級(jí)干涉色 隨石英楔推入，與晶體薄片同名軸重疊，干涉色連續(xù)上升 異名軸重疊，干涉色連續(xù)下降，當(dāng)石英楔R與薄片相等時(shí)，晶體出現(xiàn)消色而呈深灰色,第51頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),四、干涉色級(jí)序測定,1邊緣測定法 利用晶體碎屑邊緣斜坡的干涉色環(huán)判斷干涉色級(jí)序 顆粒邊緣斜坡厚度向中心漸增，

28、干涉色亦漸升。難顯示連續(xù)的干涉色。只能顯示紅色,如邊緣一條紅帶，晶體干涉色為綠，則干涉色級(jí)序?yàn)槎?jí)綠。 特別地，顆粒邊緣出現(xiàn)蘭或深蘭（有時(shí)近于黑）色帶，它代表一級(jí)紅帶，應(yīng)視為一紅帶數(shù)目,第52頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2石英楔子確定法 將欲測顆粒從消光位轉(zhuǎn)45度，將石英楔子從試板孔由薄端插入，若晶體顆粒的干涉色升，則應(yīng)旋物臺(tái)90度，重新插入石英楔子 直到消色位置，即 R1R2。 撤去薄片，慢慢抽出石英楔，觀察紅色出現(xiàn)的次數(shù) 晶體干涉色的級(jí)序?yàn)榧t色出現(xiàn)的次數(shù)加1,第53頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),二軸晶選光軸面，一軸晶選平行光軸面 測定薄片厚度和光程差，

29、即能確定雙折射率 測出晶體顆粒最高干涉色，后查表求出雙折射率數(shù)據(jù)： 選擇最高干涉色切面，測出干涉色的級(jí)序 以干涉色色譜表查出光程差 估計(jì)薄片厚度 查表或代入公式計(jì)算出雙折射率 只有最大雙折射率才有意義，測定必須在定向切面上進(jìn)行。,五、雙折射率的測定,第54頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),1消光類型 正交偏光鏡下非晶質(zhì)體薄片處于消光時(shí)的位置叫消光位。消光時(shí)晶體光率體橢圓半徑與上下偏光鏡的振動(dòng)方向一致 可以按光性方位劃分晶體的消光類型。依消光時(shí)晶體的解理縫、雙晶縫、邊棱等與目鏡十字絲的關(guān)系可以將消光類型分為三類： 平行消光 對稱消光 斜消光,六、消光類型及消光角,第55頁,首 頁,

30、第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),A平行消光：晶體消光時(shí)，解理縫、雙晶縫或晶棱與目鏡十字絲平行。如黑云母 B對稱消光：晶體消光時(shí)，目鏡十字絲平分兩組解理交角或兩晶面的跡線。如角閃石 C斜消光：消光時(shí)晶體的解理縫、雙晶縫或晶棱與目鏡十字絲以一定的角度斜交。如輝石,六、消光類型及消光角,第56頁,首 頁,第57頁,2 消光角 1）消光角及其測定方法 晶體斜消光時(shí)，光率體半徑與解理縫、雙晶縫或晶棱間的夾角為消光角 消光角的測定包括三個(gè)方面： 解理縫、雙晶縫或晶面邊棱的方向。它們代表一定的結(jié)晶軸或某個(gè)晶面的方向 光率體橢圓半徑名稱 前二者之間的夾角 記錄消光角應(yīng)包括的內(nèi)容： A、解理縫、雙晶縫或晶面

31、邊棱 B、光率體半徑名稱。 C、夾角大小 如普通角閃石在（010） 面上的消光角NgC30度。,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2）不同晶體的消光類型一般規(guī)律 晶體消光類型及消光角與晶體的光性方位及切面方向有關(guān)： 中級(jí)晶族的高次軸與Ne軸一致，多為平行消光及對稱消光 斜方晶系結(jié)晶軸與光率體主軸一致。平行主軸面的為平行消光及對稱消光，斜交切面多見小角度斜消光 單斜晶系為Y軸與三主軸之一平行，而另者斜交，其夾角為消光角，各種消光類型均有，以斜消光為主，只有平行（010）面消光角才是真正的消光角（此面上有最高干涉色） 三斜晶系之結(jié)晶軸與三個(gè)半徑均斜交，各切面都是斜消光,第58頁,首 頁,

32、第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),七、延性符號(hào),針、柱、板狀晶體稱為有延長方向或有延性的晶體。鏡下延性與切片方向有關(guān)。云母類看不出延性的礦物以解理方向?yàn)樗难娱L方向。 延性只能以鏡下觀察到的晶體形態(tài)為依據(jù)，根據(jù)晶體的延長方向與光率體主軸間的關(guān)系延性分為兩類 正延性：晶體延長方向與慢光（Ng）方向平行或夾角小于45度 負(fù)延性：晶體延長方向與快光（Np）方向平行或夾角小于45度,第59頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),晶體的延性正負(fù)叫延性符號(hào) 延性符號(hào)是某些長條形晶體的鑒定特征，它與晶體所屬晶系、結(jié)晶習(xí)性、切片方位密切相關(guān) 中級(jí)晶族及低級(jí)晶族斜方晶系的礦物多為柱狀晶體，薄片中光率體

33、主軸之一與延長方向一致 單斜、三斜晶系的晶體多數(shù)情況下延長方向與光率體主軸有一定夾角 一軸晶柱狀晶體延性符號(hào)與光性符號(hào)一致,第60頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),測定延性符號(hào) 二軸晶斜消光晶體只要測定了消光角就能測定延性符號(hào) 對于平等消光的晶體薄片延性符號(hào)的測定方法如下： 礦片置視域中心，從消光位轉(zhuǎn)45度 插入試板，確定光率體主軸方向 當(dāng)?shù)V物晶體延長方向與Nm平行時(shí)，延性符號(hào)可正可負(fù)。消光角45度，延性不分正負(fù),第61頁,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第62頁,八、雙晶的觀察,雙晶是兩個(gè)以上的晶體按對稱關(guān)系結(jié)合起來的規(guī)則連生體 雙晶正交鏡下為相鄰單體不同時(shí)消光。因

34、為雙晶的兩個(gè)單體光率體橢圓半徑方向不同 雙晶結(jié)合面與切面的交線稱為雙晶縫。雙晶縫若垂直切面則平直清晰，隨傾斜角度的增大而變得模糊不清 當(dāng)雙晶縫與AA、PP平行或成45度時(shí)，看不到雙晶,首 頁,第3節(jié) 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),雙晶種類 A、簡單雙晶 僅由兩個(gè)單體組成，正交鏡下一個(gè)單體消光則另一個(gè)單體明亮。旋物臺(tái)，明暗交替出現(xiàn) B、復(fù)式雙晶 1、聚片雙晶：一系列單體平行排列，旋物臺(tái)，雙晶奇數(shù)組與偶數(shù)組輪換消光相間成明暗條帶 2、雙晶中多個(gè)單體不平行結(jié)合，正交鏡下相鄰單體輪流消光。,第63頁,首 頁,1裝置 在正交偏光鏡的基礎(chǔ)上，加聚光鏡），換上高倍物鏡，推入勃氏鏡或取下目鏡，便成為錐光顯微鏡裝

35、置 2特點(diǎn) 加入聚光鏡的作用，在于使透過下偏光鏡的平行偏光束變成錐光束。,一、錐光鏡的裝置及特點(diǎn),第64頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),錐形偏光束的屬性: 錐光中中心一條光線垂直入射，其余各條光線都傾斜入射，愈向外傾斜角度愈大，在薄片中穿過的距離愈長 錐形光束中的偏光無論如何傾斜，其振動(dòng)方向仍與下偏光鏡的振動(dòng)方向平行 非均質(zhì)體光學(xué)性質(zhì)隨方向而異，不同方向入射的光波通過薄片后，到達(dá)上偏光鏡所產(chǎn)生的干涉效應(yīng)也不同 在上偏光鏡中所能觀察到的是偏光鏡中各方向入射光波通過礦片后到達(dá)上偏光鏡所發(fā)生的消光與干涉現(xiàn)象的總和。它們構(gòu)成一些特殊圖形，稱為干涉圖。,第65頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶

36、體光學(xué)性質(zhì),高倍物鏡的作用 低倍物鏡工作距離長，只能接納與薄片法線成5度夾角以內(nèi)的光波，干涉圖不清楚，不完整 高倍物鏡工作距離短，能接納與薄片法線成60度的光線，形成的干涉圖清楚、完整 去掉目鏡或加上勃氏鏡的作用 不用目鏡，可以看到小而清楚的干涉圖實(shí)象，目鏡加勃氏鏡所組成的望遠(yuǎn)系統(tǒng)得一放大圖象 非均質(zhì)體光學(xué)性質(zhì)隨方向而異，干涉圖特點(diǎn)隨軸性及切面方向而異。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第66頁,首 頁,二、一軸晶干涉圖,1垂直光軸切面干涉圖 A形象特點(diǎn) 視域由一個(gè)互相垂直的黑十字及干涉色色圈組成 黑十字兩黑臂分別平行于上下偏光鏡的振動(dòng)方向AA、PP 黑十字交點(diǎn)為光軸出露點(diǎn)。位于視域中心 干涉

37、色圈以黑十字交點(diǎn)為中心，成同心環(huán)狀 其干涉色級(jí)序由中心向外逐漸升高 干涉色圈多少，取決于礦物雙折射率大小及薄片厚度 旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，干涉圖不發(fā)生變化。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第67頁,首 頁,B干涉圖成因 中央一條光線垂直入射薄片,平行光軸，光率體為圓 其余各條光線沿不同方向傾斜入射，斜交光軸，而且愈向外斜交角度愈大，光率體均為橢圓切面。橢圓的長短半徑方向和長短各不相同 它們與上下偏光鏡的振動(dòng)方向AA、PP 的關(guān)系也各不相同,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第68頁,首 頁,右圖為一軸晶垂直光軸切面上光率體在錐光下的橢圓半徑分布情況 中心為光軸出露點(diǎn)，光率體橢圓半徑與上下偏光鏡的振動(dòng)方向一

38、致，消光影成十字形,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),黑十字分割四個(gè)象限，橢圓半徑與上下偏光方向斜交而呈現(xiàn)干涉色，干涉圖半徑方向始終為Ne 邊緣雙折射率比中心大，光線透過薄片的厚度也大，光程差增加，干涉色升高。與光軸夾角相等的光線光程差相等，故干涉色成同心環(huán)狀 由于是垂直光軸切面，光率體橢圓半徑分布為放射狀，對稱分布，所以旋物臺(tái)360度，干涉圖不變。,第69頁,首 頁,第70頁,平行上下偏光鏡的振動(dòng)方向入射光，消光，干涉圖成十字形,中央一條光線垂直入射薄片,平行光軸，光率體為圓,其余各方向傾斜入射光，斜交光軸，而且愈向外斜交角度愈大，光率體均為橢圓切面。橢圓的長短半徑方向和長短各不相同,Ne,N

39、o,Ne,No,首 頁,一軸晶晶體的光性正負(fù)是由Ne,No的相對大小來決定的，只要測出Ne,No的方向，就可確定一軸晶光性正負(fù)。光性正負(fù)的測定方法： 若干涉色較低，可用石膏板或云母板.相對兩象限顏色變化一致，相鄰兩象限變化相反。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),C光性正負(fù)的測定,加石膏板,石英垂直光軸干涉圖,1、3象限由灰到蘭,2、4象限由灰到黃,黑十字變一級(jí)紫紅,補(bǔ)色器光率體方向,第71頁,首 頁,當(dāng)晶體薄片的雙折射率較大或較厚時(shí)，圍繞光軸出露點(diǎn)有同心圓形色環(huán)出現(xiàn)，此時(shí)用云母板或石英楔 加入云母板 黑十字成一級(jí)灰 干涉色升高兩象限，色圈內(nèi)移一格 干涉色降低的象限，色圈外移一格 若色圈太密，云

40、母板色圈移動(dòng)看不清，可改用石英楔，隨石英楔插入 干涉色升高的象限內(nèi)，色圈連續(xù)內(nèi)移 干涉色降低的兩象限內(nèi)，干涉色圈連續(xù)外移。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),干涉色圈密時(shí)為什么要用云母板或石英楔?,第72頁,首 頁,加石英楔,加石膏板,石英垂直光軸干涉圖,加云母板,內(nèi)移一個(gè)色序,外移一個(gè)色序,色圈連續(xù)外移,色圈連續(xù)內(nèi)移,方解石垂直光軸干涉圖,三個(gè)干涉圖各是什么光性？,1、3象限由灰到蘭,黑十字變一級(jí)紫紅,2、4象限由灰到黃,補(bǔ)色器光率體方向,第73頁,首 頁,形象特點(diǎn) 黑十字交點(diǎn)不在視域中心，不完整黑十字及干涉色環(huán)圖 薄片法線與光軸夾角小時(shí)，黑十字交點(diǎn)在視域內(nèi)，轉(zhuǎn)物臺(tái)，光軸出露點(diǎn)繞作視域中心轉(zhuǎn)動(dòng)

41、。黑臂平行移動(dòng) 薄片法線與光軸夾角較大時(shí)，只現(xiàn)一條黑臂，旋物臺(tái)，黑臂水平或垂直移動(dòng)，交替出現(xiàn)于視域內(nèi),第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),2斜交光軸干涉圖,成因 斜交光軸干涉圖的成因與垂直光軸干涉圖的成因相同,第74頁,首 頁,干涉圖中光軸出露點(diǎn)在視域內(nèi)，光性測定方法與垂直光軸切面一樣 光軸出露點(diǎn)在視域外，要確定視域?qū)儆谀膫€(gè)象限才能判定光性。確定光軸出露點(diǎn)的位置，可根據(jù)以下特征： 黑臂的細(xì)端近光軸粗端遠(yuǎn)離光軸 等色環(huán)凹向光軸 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，根據(jù)黑臂的移動(dòng)情況判斷,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),C光性的測定,第75頁,首 頁,順時(shí)鐘轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，觀察黑臂的移動(dòng)情況： 黑臂水平向上，光軸在左，視域?yàn)?4象限

42、 黑臂水平向下，光軸在右，視域?yàn)?3象限 黑臂垂直向右，光軸在上，視域?yàn)?4象限 黑臂垂直向左，光軸在下，視域?yàn)?2象限,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，根據(jù)黑臂移動(dòng)判斷視域象限的方法,第76頁,首 頁,干涉圖形象：粗黑十字是瞬變干涉圖（或稱為閃圖） 特點(diǎn)： 少許轉(zhuǎn)物臺(tái)，黑十字分裂沿光軸方向迅速退出 光軸與上下偏光鏡振動(dòng)方向成45度時(shí)視域最亮 若晶體薄片光程差較大，則在出現(xiàn)對稱的雙曲線形干涉色帶。在光軸所在的兩象限內(nèi)，干涉色由中心向兩邊漸降，垂直光軸的象限內(nèi)干涉色由中心向外漸升,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),3平行光軸干涉圖,第77頁,首 頁,平行光軸干涉圖成因 光軸與偏光平行，處

43、于或近于消光位，成模糊黑十字 稍轉(zhuǎn)物臺(tái)，半徑與偏光方向斜交，黑十字迅速分裂，退出視域，出現(xiàn)干涉色,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),光軸與偏光振動(dòng)方向成45度時(shí)， 光軸方向由中心向外各點(diǎn)，垂直光軸半徑不變，平行光軸半徑越來越短，干涉色降低 垂直光軸方向，中心向外，光率體橢圓半徑相等，但隨薄片增厚，光程差增加，干涉色升高,第78頁,首 頁,第79頁,平行光軸干涉圖上光率體半徑的變化 光軸方向：光線垂直NO,斜交Ne入射 中心：NeNo面 向外各點(diǎn)，垂直光軸半徑不變，平行光軸半徑越來越短 垂直光軸方向，中心向外，光率體橢圓半徑相等,首 頁,C平行光軸干涉圖的應(yīng)用 軸性已知時(shí) 可用于確定切片方向 亦可

44、用來測光性正負(fù) 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，黑十字逸出的方向?yàn)楣廨S 干涉色序低的象限亦為光軸 使光軸與偏光振動(dòng)方向成45度，插入試板，觀察視域中心干涉色的升降，測定光軸（Ne）是Ng還是Np，確定光性 光軸方位已知，在正交偏光鏡下也能很容易測定光性,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第80頁,首 頁,三、二軸晶干涉圖,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),1垂直光軸銳角平分線（Bxa）切面的干涉圖 (1)形象特點(diǎn) 光軸與上下偏光之一振動(dòng)方向平行 干涉圖由一個(gè)黑十字及8字形干涉色圈組成 黑十字分別平行于AA、PP 沿光軸方向黑臂較細(xì) 在兩光軸出露點(diǎn)更細(xì) 垂直光軸面方向黑臂較粗 黑十字交點(diǎn)處為Bxa出露點(diǎn)。位于視域中心,第

45、81頁,首 頁,干涉色圈以光軸出露點(diǎn)為中心，向兩邊干涉色漸升 干涉色圈的多少，取決于晶體的雙折射率及薄片的厚度。雙折射率低的薄片，視域中心除黑十字外，干涉圖中無色圈，四個(gè)象限僅見一級(jí)灰干涉色 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)黑十字從中心分裂，形成兩條彎曲黑臂 當(dāng)光軸與AA、PP成45度時(shí)，兩黑臂距離最遠(yuǎn) 二彎曲黑臂的頂點(diǎn)為光軸出露點(diǎn)，彎曲黑臂的頂點(diǎn)連線為光軸面與薄片平面的交線 繼續(xù)轉(zhuǎn)物臺(tái)，黑臂從頂點(diǎn)移向中心，到90度，又合為十字，但黑臂的粗細(xì)位置已經(jīng)更換,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第82頁,首 頁,垂直光軸銳角平分線（Bxa）切面的干涉圖（光程差大）,垂直光軸銳角平分線（Bxa）切面的干涉圖（光程差?。?第4節(jié)

46、 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第83頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),Bxa,OA,OA,（設(shè)右圖為正光性） 垂直Bxa切面，光率體半徑Np、Nm 光軸出露點(diǎn)，光率體半徑Nm，消光 光軸向外，光率體半徑Ng、Nm。厚度與雙折射率俱增，光程差劇增 光軸向內(nèi)，光率體半徑Np、Nm。 雙折射率增，但厚度減，光程差緩增,(2)干涉圖成因,第84頁,首 頁,二軸晶干涉圖上任一點(diǎn)的光率體橢圓半徑必定是此點(diǎn)與二光軸出露點(diǎn)連線夾角的兩條角平分線方向 0位：AA、PP方向，光率體半徑與之平行或接近平行，Nm方向，光率體半徑的分布與AA、PP接近平行范圍較寬，而顯得黑臂較粗 旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，中心部分的光率體首先改

47、變方向，與AA、PP斜交而變亮，黑十字從中間分裂 45位：彎曲黑臂所在范圍的光率體與AA、PP平行或接近平行，故消光為彎曲黑臂，其他部分的橢圓半徑與AA、PP斜交，因而出現(xiàn)干涉色,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),(3)干涉圖上光率體半徑的方向成因(拜弗定律),第85頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),干涉圖上光率體主軸的方向,干涉圖上光率體半徑的方向,由拜弗定律所示干涉圖上光率體半徑的方向,第86頁,首 頁,測定光性，即確定Bxa是Ng還是Np 測定光性，在45位干涉圖上進(jìn)行，二光軸之間叫銳角區(qū)，二光軸之外叫鈍角區(qū) 無論鈍角區(qū)還是銳角區(qū)，垂直光軸面跡線的方向總是Nm 加入適當(dāng)試板，根據(jù)

48、銳角區(qū)或鈍角區(qū)干涉色級(jí)序的變化便能確定光性正負(fù) 如加入補(bǔ)色器銳角區(qū)干涉色升，正光性 若加入補(bǔ)色器后銳角區(qū)干涉色降低，負(fù)光性 干涉色圈密，加入云母板或石英楔，干涉色升高為色圈內(nèi)移，降低為色圈外移,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),(4)光性測定,第87頁,首 頁,第88頁,干涉圖銳角區(qū)為一級(jí)灰白，用石膏板補(bǔ)色器 干涉圖銳角區(qū)有干涉色帶，用云母板補(bǔ)色器 若干涉色帶過多過密，加入石英楔，干涉色升高為色圈內(nèi)移，降低為色圈外移。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),補(bǔ)色器的選用,首 頁,2垂直一個(gè)光軸的切面的干涉圖 相當(dāng)于垂直Bxa干涉圖的一半，光軸出露點(diǎn)位于視域中心 光軸與上下偏光之一平行時(shí)，出現(xiàn)一條黑臂及

49、干涉色 轉(zhuǎn)物臺(tái)，黑臂彎曲。45位，黑臂曲率最大點(diǎn)為光軸出露點(diǎn)，位于視域中心，凸向Bxa，再轉(zhuǎn)45，變?yōu)橐回Q向 成因與垂直Bxa干涉圖相同 光性正負(fù)的測定測光性時(shí)，將物臺(tái)轉(zhuǎn)45度，黑臂凸向Bxa，根據(jù)切面測定方法測之。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),第89頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),在光軸面方向與上、下偏光方向成45時(shí)，黑帶的彎曲程度與光軸角大小成反比。光軸角越大，黑帶越直 2V0時(shí)，黑帶成直角； 2V90時(shí)，黑帶成一直帶,利用垂直光軸的干涉圖估計(jì)光軸角的大小,2V介于090之間，黑帶彎曲度介于90到直帶 對2V粗略估計(jì)，此法簡便，但不很精確 假定折射率平均為1.60,第90頁

50、,首 頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),利用垂直光軸的干涉圖估計(jì)光軸角的近似值,顯微鏡下測的光軸角，稱為視光軸角，往往比2V大，符號(hào)2E 求得2E后可算出2V值。根據(jù)折射定律可得到以下的關(guān)系：,光軸出露點(diǎn)距離2D可用顯微尺量出，2D與2E間的關(guān)系式如下 DKsinE 式中，K為常數(shù)，其大小取決于顯微鏡的透鏡系數(shù),第91頁,斜交切面是極常見的情況，其干涉圖與前兩者類似，僅視域中心有偏移 （1）半斜交(垂直光軸面)切面： 當(dāng)光軸跡線與AA或PP平行，黑臂直，過視域中心； 45位，頂點(diǎn)偏離視域中心，若入射光與光軸夾角不大時(shí)，彎曲黑臂頂點(diǎn)仍在視域內(nèi),第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),3斜交光軸

51、切面的干涉圖,第92頁,首 頁,（2）與光軸面及光軸斜交的切面： 光軸面跡線與AA或PP平行，黑臂直，頂點(diǎn)不在視域中心 45位，若光軸傾角不大，彎曲黑臂頂點(diǎn)仍在視域內(nèi),第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),3斜交光軸切面的干涉圖,第93頁,首 頁,光軸面與AA或PP平行，干涉圖為模糊粗黑十字。四象限一級(jí)灰干涉色。若雙折射率很大，出現(xiàn)稀疏色環(huán) 轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)45度，黑十字迅速分裂成雙曲線沿光軸方向逸出視域。若2V很大，兩光軸間鈍角與銳角相近，垂直Bxa與垂直Bxo的干涉圖不易區(qū)別,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),4垂直鈍角平分線切面干涉圖,第94頁,首 頁,轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，根據(jù)黑臂退出視域的規(guī)律判斷出光軸方向 4

52、5位，視域最亮 視域中心為Bxo。垂直光軸面跡線為Nm,與光軸面一致的是Bxa的投影方向。,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),4垂直鈍角平分線切面干涉圖,插入適當(dāng)試板，根據(jù)干涉色的變化，便可確定Bxa是Ng還是Np，確定出晶體的光性。,第95頁,首 頁,干涉圖與一軸晶平行光軸切面的干涉圖相似，當(dāng)Bxa或Bxo平行AA或PP時(shí)，為模糊粗黑十字。 轉(zhuǎn)物臺(tái)，黑十字分裂,迅速沿Bxa方向退出視域， 45位，視域最亮，若NgNp很大，可出現(xiàn)干涉色，正光性時(shí),在Bxo方向干涉色高，Bxa方向干涉色低 這種干涉圖只能確定切片方向，一般不用于測光性,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),5平行光軸切面干涉圖,第96頁

53、,首 頁,首 頁,第4節(jié) 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì),四、光率體色散,白光照明下，晶體光率體的大小、形狀隨光波不同而變化的現(xiàn)象，稱為光率體色散,等軸晶系：各單色光所構(gòu)成的光率體形狀、光性方位均無變化，僅光率體半徑大小不同。 一軸晶：各單色光所構(gòu)成的光率體都以Z軸旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)橢球，光性方位是一致的，但Ne和No大小各不同，光率體大小和形狀發(fā)生變化。 二軸晶：各色光的主折射率不同，且Ng、Nm、Np的變化大小不等，光率體大小、形狀均發(fā)生變化，而引起了光軸位置、光軸角大小的變化,第97頁,均質(zhì)體：各個(gè)方向切面全消光,非均質(zhì)體：僅垂直光軸切面全消光,均質(zhì)體：觀察晶形、解理、突起等級(jí)、顏色、等,非均質(zhì)體：觀察

54、晶形、解理、突起等級(jí)、閃突起、顏色、多色性、測定解理夾角等,第5節(jié) 透明礦物的系統(tǒng)鑒定, 區(qū)分均質(zhì)體和非均質(zhì)體,一、透明礦物的系統(tǒng)鑒定的內(nèi)容,單偏光,正交偏光,第98頁,首 頁,在正交偏光下觀察消光類型、雙晶、延性符號(hào)等 選擇垂直光軸切面，錐光下確定軸性測定光性符號(hào) 選擇平行光軸或平行光軸面的切面，正交偏光下測定 最高干涉色級(jí)序、最大雙折率和消光角的大小。 有色礦物，觀察No、Ne或Ng、Np等顏色。寫出多色性和吸收性公式 系統(tǒng)測定光學(xué)性質(zhì)后，查閱有關(guān)資料，定出礦物名稱,第5節(jié) 透明礦物的系統(tǒng)鑒定,非均質(zhì)體透明礦物的系統(tǒng)鑒定的內(nèi)容,第99頁,首 頁,垂直光軸切面特征： 有色礦物不顯多色性； 全

55、消光； 錐光下顯一軸晶或二軸晶垂直光軸切面干涉圖 平行光軸或平行光軸面切面特征： 多色性； 最明顯； 干涉級(jí)序最高； 錐光下顯平行光軸或光軸面切面干涉圖,特殊切面特征：,第5節(jié) 透明礦物的系統(tǒng)鑒定,第100頁,首 頁,油浸法測折射率值：將礦物碎屑顆粒浸沒于已知折射率值的浸油中，比較二者的N值，通過浸油更換，直至浸油的折射率值與礦物相等 一、浸油的制備方法 1、浸油的基本要求 配制兩套已知折射率的浸油。相鄰浸油的折射率差通常是0.010.003之間 一套為低N，N1.4001.700，間隔為0.003，100瓶 一套為高N，N1.7002.100，間隔為0.01，40瓶 浸油的配制方法有三種液體

56、互混、固體溶于液體、固體混熔,第6節(jié) 油浸法測折射率值,第101頁,首 頁,配制低折射率油主要用液體混合 配制高折射率油主要用固體溶于液體或固體混融 不同折射率的油按比例混合，混合后的體積不得少于20毫升，否則影響浸油的折射率的準(zhǔn)確性 浸油的要求： 1無色或近于無色 2油不與被研究物起反應(yīng) 3各種液體能以任意比例混合 4揮發(fā)性不強(qiáng)； 5無劇毒。,第6節(jié) 油浸法測折射率值,1浸油的基本要求,第102頁,首 頁,配制浸油公式： VNV1N1V2N2 VV1V2 式中：V需要配制的浸油的體積，N所需浸油的折射率V1、V2所需兩種原料的體積N1、N2所需兩種原料的折射率 配制低折射率油，只需5、6種原料油即可。如水、甘油、液體石蠟、氯化萘、溴代萘、二碘甲烷。,第6節(jié) 油浸法測折射率值,2浸油配制的計(jì)算與配制方法,第103頁,首 頁,配制高折射率油，有下幾種方法： 1硫溶于二碘甲烷，N1.741.78 2各種碘化物溶于二碘甲烷，N1.741.86 3硫、磷溶于二碘甲烷，N1.742.02 配制折射率大于2的浸油只能用低熔點(diǎn)固體，如硫硒（1.922.92） 浸油的折射率值的測定：配制浸油雖然按比例混合，但必須用儀器校準(zhǔn)。測量儀器為阿貝