GB∕T 5170.1-2016 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 第1部分：總則

ICS19040 K 04 . 中 華 人 民 共 和 國 國 家 標 準 GB/T517012016 代替 . GB/T5170.12008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 第1部分 總則 : Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments forelectricandelectronic roductsPart1 General p :2016-12-13發(fā)布 2017-07-01實施 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 發(fā) 布 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會 GB/T517012016 . 目 次 前言 范圍1 1 規(guī)范性引用文件2 1 術語和定義3 1 檢驗條件4 11 檢驗用儀器及要求5 11 檢驗周期6 11 檢驗負載7 11 對受檢設備的外觀和安全要求8 12 檢驗記錄表9 12 檢驗結果的處理10 12 GB/T517012016 . 前 言 分為以下部分 GB/T5170 : 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 第 部分 總則 GB/T5170.12016 1 : 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備 GB/T5170.22008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 第 部分 濕熱試驗設備 GB/T5170.52016 5 : 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備 GB/T5170.82008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備 GB/T5170.92008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備 GB/T5170.102008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備 GB/T5170.112008 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 振動 正弦 試驗 GB/T5170.132005 ( ) 用機械振動臺 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢驗方法 振動 正弦 試驗 GB/T5170.142009 ( ) 用電動振動臺 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 振動 正弦 試驗 GB/T5170.152005 ( ) 用液壓振動臺 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗 GB/T5170.162005 用離心機 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 低溫 低氣壓 濕 GB/T5170.172005 / / 熱綜合順序試驗設備 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循 GB/T5170.182005 / 環(huán)試驗設備 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 振動 正弦 GB/T5170.192005 / ( ) 綜合試驗設備 電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設備 GB/T5170.202005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動 隨機 試驗用 GB/T5170.212008 ( ) 液壓振動臺 本部分是 的第 部分 GB/T5170 1 。 本部分按照 給出的規(guī)則起草 GB/T1.12009 。 本部分代替 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則 與 GB/T5170.12008 , GB/T5170.1 相比 主要技術內容變化如下2008 , : 在規(guī)范性引用文件中增加了 GB/T22982010、GB/T24222012、GB/T237152009; 溫度偏差的定義由原來的 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測最高 “ ( ) , 溫度和最低溫度與標稱溫度的上下偏差 修改為 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點 ”, “ ( ) , 在規(guī)定時間內實測最高溫度和最低溫度與設定溫度的上下偏差 見 ”( 3.2.4); 相對濕度偏差的定義由原來的 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測 “ ( ) , 最高相對濕度和最低相對濕度與標稱相對濕度的上下偏差 修改為 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 ”, “ ( ) , 工作空間各測量點在規(guī)定時間內實測最高相對濕度和最低相對濕度與設定相對濕度的上下偏 差 見 ”( 3.2.5); 術語 每 溫度平均變化速率 修改為 溫度平均變化速率 定義由原來的 試驗箱 “ 5min ” “5min ”, “ GB/T517012016 . 室 工作空間幾何中心點測得的兩個規(guī)定溫度之間每 的平均轉變速率 用 表 ( ) 5 min , /min 示 修改為 試驗箱 室 工作空間幾何中心點測得的兩個規(guī)定溫度之間任意 時間的平 ”, “ ( ) 5 min 均轉變速率 用 表示 見 , /min ”( 3.2.11); 氣壓偏差的定義由原來的 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間測量點在規(guī)定時間內實測最高氣 “ ( ) , 壓和最低氣壓與標稱氣壓的上下偏差 修改為 試驗箱 室 穩(wěn)定狀態(tài)下 工作空間測量點在規(guī) ”, “ ( ) , 定時間內實測最高氣壓和最低氣壓與設定氣壓的上下偏差 見 ”( 3.2.12); 刪除了術語 頻率范圍 頻率穩(wěn)定度 本底噪聲加速度 臺面漏磁 “ ”、“ ”、“ ”、“ ”; 增加了術語 輻照度偏差 二氧化硫濃度偏差 硫化氫濃度偏差 降雨強度 雨 滴 直 “ ”、“ ”、“ ”、“ ”、“ 徑 振動發(fā)生器 振動臺 激振器 振動發(fā)生器系統(tǒng) 電動振動發(fā)生器 電動振動臺 電 ”、“ / / ”、“ ”、“ / ”、“ 磁振動發(fā)生器 電磁振動臺 液壓式振動發(fā)生器 機械式振動發(fā)生器 掃頻速率 線性 / ”、“ ”、“ ”、“ ”、“ 掃頻速率 對數(shù) 頻率 掃頻速率 振幅 掃頻精度 ”、“ ( ) ”、“ ”、“ ”; 檢驗用儀器及要求由原來的 使用的測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度 k 不大于被測 “ ( =2) 參數(shù)允許偏差的三分之一 二次儀表與一次儀表應一同校驗 修改為 由各部分具體規(guī)定 見 , ”, “ ”( 第 章 5 ); 檢驗報告增加了至少應包含的信息 見 ( 10.3)。 本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會 提出并歸口 (SAC/TC8) 。 本部分起草單位 工業(yè)和信息化部電子第五研究所 廣州五所環(huán)境儀器有限公司 中國電器科學研 : 、 、 究院有限公司 中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術研究所 廣東電網有限責任公司電力科學 、 、 研究院 無錫蘇南試驗設備有限公司 、 。 本部分主要起 草 人 伍 偉 雄 謝 晨 浩 黃 開 云 呂 國 義 蘇 偉 倪 一 明 賴 文 光 呂 旺 燕 鄭 術 力 : 、 、 、 、 、 、 、 、 、 謝凱鋒 。 本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為 : GB5170.11985、GB/T5170.11995、GB/T5170.12008。 GB/T517012016 . 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 第1部分 總則 :1 范圍 的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設備 以下簡稱 設備 檢驗所用術語和定義 檢驗條件 檢 GB/T5170 ( “ ”) 、 、 驗用儀器及要求 檢驗周期 檢驗負載 外觀和安全 檢驗記錄表 檢驗結果處理等 、 、 、 、 、 。 本部分適用于電工電子產品進行環(huán)境試驗所用設備的檢驗 其他產品進行環(huán)境試驗所用設備的檢 , 驗亦可參照使用 。2 規(guī)范性引用文件 下列文件對于本文件的應用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 僅注日期的版本適用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改單 適用于本文件 。 , ( ) 。 機械振動 沖擊與狀態(tài)監(jiān)測 詞匯 GB/T2298 、 電工電子產品環(huán)境試驗 概述和指南 GB/T2421.1 環(huán)境試驗 試驗方法編寫導則 術語與定義 GB/T2422 振動與沖擊發(fā)生系統(tǒng) 詞匯 GB/T23715 3 術語和定義 界定的以及下列術語和定義適用于本文件 GB/T2298、GB/T2421.1、GB/T2422、GB/T23715 。31 通用術語 . 311 . 環(huán)境條件 environmentalcondition 產品所經受的周圍物理 化學和生物的條件 、 。312 . 環(huán)境參數(shù) environmentalparameters 表征環(huán)境條件的一個或多個物理 化學和生物的特性參數(shù) 、 。313 . 綜合試驗設備