標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量》相比于其前版《GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量》，主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和完善：

  1. 適用范圍與分類：2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)電子顯微鏡的類型和應(yīng)用范圍進(jìn)行了更細(xì)致的劃分，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步帶來的新型電子顯微鏡設(shè)備，確保各類設(shè)備的X射線泄漏劑量測(cè)試更加準(zhǔn)確和有針對(duì)性。

  2. 安全限值更新：隨著對(duì)輻射防護(hù)認(rèn)識(shí)的深入和技術(shù)的發(fā)展，2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)X射線泄漏的安全限值進(jìn)行了修訂，以更好地保護(hù)操作人員和環(huán)境，確保符合最新的國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)踐。

  3. 測(cè)試方法與技術(shù)要求：新版本可能引入了更先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和測(cè)試方法，包括但不限于更精確的劑量測(cè)量?jī)x器、更嚴(yán)格的測(cè)試程序等，旨在提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

  4. 防護(hù)措施與管理要求：考慮到技術(shù)進(jìn)步和操作實(shí)踐的變化，2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)電子顯微鏡的使用、維護(hù)及X射線防護(hù)措施提出了更為具體和嚴(yán)格的要求，包括設(shè)備的定期檢測(cè)、人員培訓(xùn)、警示標(biāo)識(shí)設(shè)置等方面的規(guī)定。

  5. 術(shù)語定義與解釋：為了與國(guó)際接軌并確保標(biāo)準(zhǔn)的清晰度，新版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了更新或補(bǔ)充解釋，便于使用者準(zhǔn)確理解各項(xiàng)要求。

  6. 合規(guī)性評(píng)估與認(rèn)證：2003版標(biāo)準(zhǔn)或許加強(qiáng)了對(duì)電子顯微鏡X射線泄漏控制的合規(guī)性評(píng)估要求，包括產(chǎn)品認(rèn)證、檢測(cè)報(bào)告的要求等，以確保市場(chǎng)上的設(shè)備符合國(guó)家最新的安全與健康標(biāo)準(zhǔn)。


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  • 廢止
  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 2003-11-20 頒布
  • 2004-05-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

667標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)667子顯微鏡修訂。修訂時(shí)增加了前言;在3. 1“試驗(yàn)設(shè)備”條款中增加了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備必須經(jīng)過法定計(jì)量部門計(jì)量并取得合格證書才能使用的要求。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(口。本標(biāo)準(zhǔn)由上海電子光學(xué)技術(shù)研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: 667B 7667B 7667下簡(jiǎn)稱電鏡)驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。2要求電鏡 h,校正射線劑量率儀，其等級(jí)為二級(jí)。最小擋刻度值不能大于1 取得合格證書。有效期內(nèi)的檢測(cè)儀器經(jīng)可能涉及計(jì)量精度的重大維修后，必須重新進(jìn)行計(jì)量檢定。用最大正常工作束流和最大束斑。大倍率調(diào)到最低擋，并將活動(dòng)光闌全部退出。對(duì)掃描電鏡和電子探針等則應(yīng)以鎢為樣品將吸收電流調(diào)到最大值。察室、樣品室、活動(dòng)光闌、電子槍(電鏡加速電壓等于或大于400 真空管道、顯像管、鏡筒及其附屬裝置。在試驗(yàn)樣品室以上的部位時(shí)，則應(yīng)將物鏡活動(dòng)光闌插人電子束通道。出其檢驗(yàn)規(guī)則逐臺(tái)進(jìn)行檢驗(yàn)。

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