射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)ppt課件_第1頁
射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)ppt課件_第2頁
射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)ppt課件_第3頁
射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)ppt課件_第4頁
射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)ppt課件_第5頁
已閱讀5頁,還剩84頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)射線檢測培訓(xùn)總復(fù)習(xí)王寶軍一、射線檢測物理根底一、射線檢測物理根底 1、元素和同位素: 元素:具有一樣核電荷數(shù)的同一類原子叫做元素。 同位素:具有一樣質(zhì)子數(shù)和不同中子數(shù)的同一種元素的原子互稱同位素。2、射線探傷用的射線: X射線、射線電磁波;中子射線粒子輻射(容易被氫等輕物質(zhì)俘獲,而易穿透鉛等重金屬)。3、X射線、射線的性質(zhì):P5 a、不可見,沿直線傳播,傳播速度等于光速;b、不帶電,不受電磁場的影響;c、能穿透可見光不能穿透的物質(zhì);d、穿透物質(zhì)過程中,會被物質(zhì)吸收和散射而發(fā)生衰減;e、有反射、折射、干涉和衍射景象;f、有光化學(xué)作用,能使膠片感光;g、有熒光效應(yīng),能使某些物質(zhì)發(fā)

2、熒光;h、有生物效應(yīng),能殺傷生物細(xì)胞。 4、產(chǎn)生X射線的條件:習(xí)題P20372 a、發(fā)射電子;b、使電子聚焦;c、加速電子;d、接受電子轟擊的靶;e、有高真空度。 5、延續(xù)X射線和標(biāo)識X射線的不同之處:習(xí)題P20374 a、延續(xù)X射線是由高速電子與原子核的庫侖場作用而產(chǎn)生的;標(biāo)識X射線是由高速電子與原子核外殼層電子作用而產(chǎn)生的。 b、延續(xù)X射線是延續(xù)譜,其波長呈延續(xù)分布;標(biāo)識X射線是線狀譜,由一個(gè)或幾個(gè)特定的波長組成。 c、延續(xù)X射線的能量波長取決于管電壓;標(biāo)識X射線的能量波長取決于靶材,與管電壓無關(guān)。6 6、延續(xù)、延續(xù)X X射線的最短波長:射線的最短波長: 7 7、X X射線的產(chǎn)生效率:射線

3、的產(chǎn)生效率:P6P6 式中:式中:01.101.11.41.410-610-6, VV管電壓管電壓KVKV 由上式可知,高速電子撞擊靶時(shí),只需由上式可知,高速電子撞擊靶時(shí),只需很少的能量轉(zhuǎn)變?yōu)楹苌俚哪芰哭D(zhuǎn)變?yōu)閄 X射線,絕大部分能量都轉(zhuǎn)射線,絕大部分能量都轉(zhuǎn)變?yōu)闊崃?。變?yōu)闊崃?。例題:求管電壓例題:求管電壓250KV250KV的的X X射線機(jī)輻射延續(xù)射線機(jī)輻射延續(xù)X X射線射線的效率。知:鎢靶的效率。知:鎢靶Z=74Z=74,比例系數(shù),比例系數(shù)0=1.20=1.210-6).10-6).解:解:)()(4 .120minAKVVZV0%22. 225074102 . 160ZV8 8、X X射線

4、和射線和射線的一樣和不同之處:習(xí)題射線的一樣和不同之處:習(xí)題P20371P20371 a a、一樣之處:、一樣之處:X X射線和射線和射線都是電磁波,射線都是電磁波,它們具有一樣的性質(zhì),如不可見、依直線傳播、它們具有一樣的性質(zhì),如不可見、依直線傳播、不帶電、能穿透物質(zhì)、能使物質(zhì)電離、使膠片感不帶電、能穿透物質(zhì)、能使物質(zhì)電離、使膠片感光、能發(fā)生生物效應(yīng)等。光、能發(fā)生生物效應(yīng)等。 b b、不同之處:、不同之處: 、產(chǎn)活力理不同,、產(chǎn)活力理不同,X X射線是高速電子與物射線是高速電子與物質(zhì)碰撞產(chǎn)生的;而質(zhì)碰撞產(chǎn)生的;而射線是放射性物質(zhì)原子核衰射線是放射性物質(zhì)原子核衰變時(shí)放射出來的。變時(shí)放射出來的。

5、、X X射線是延續(xù)譜,射線是延續(xù)譜,射線是線狀譜;射線是線狀譜; 、X X射線的能量取決于管電壓,射線的能量取決于管電壓,射線的射線的能量取決于放射性同位素的種類;能量取決于放射性同位素的種類; 、X X射線的強(qiáng)度隨管電壓和管電流而變化,射線的強(qiáng)度隨管電壓和管電流而變化,射線的強(qiáng)度取決于源的大小,且隨時(shí)間而不斷射線的強(qiáng)度取決于源的大小,且隨時(shí)間而不斷減弱。減弱。 9、射線的衰變律和半衰期:P8 、衰變律: 、半衰期: 利用半衰期計(jì)算任一時(shí)辰的源活度: 例題:知Ir192源的半衰期為75天。求活度為100Ci的Ir192源兩個(gè)月后活度為多少? 解:teNN0693. 02/1T2/12.0TTn

6、NnN)(4 .572100210028 . 075600CiNNn1010、常用、常用射線源的能量和半衰期:射線源的能量和半衰期: 1111、射線與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生三種效應(yīng)及其特征:、射線與物質(zhì)的相互作用產(chǎn)生三種效應(yīng)及其特征:P1316P1316 a a、光電效應(yīng)、光電效應(yīng)光子與原子的束縛電子作用時(shí)光子與原子的束縛電子作用時(shí), ,光光子把全部能量轉(zhuǎn)移某個(gè)束縛電子,使之發(fā)射出去子把全部能量轉(zhuǎn)移某個(gè)束縛電子,使之發(fā)射出去, ,而光而光子本身那么消逝掉,這一過程稱為光電效應(yīng)子本身那么消逝掉,這一過程稱為光電效應(yīng). . 光電效應(yīng)產(chǎn)生光電子、俄歇電子和標(biāo)識光電效應(yīng)產(chǎn)生光電子、俄歇電子和標(biāo)識X X射線

7、。射線。 b b、康普頓效應(yīng)、康普頓效應(yīng)光子將部分能量給予外層電子,變光子將部分能量給予外層電子,變?yōu)槟芰枯^低的方向改動(dòng)了的散射光子,產(chǎn)生反沖電子。為能量較低的方向改動(dòng)了的散射光子,產(chǎn)生反沖電子。 60CoCs192Ir170Tm75Se平均能量MeV)1.250.660.3650.0720.204半衰期5.3年33年74天130天120天 c c、電子對效應(yīng):當(dāng)入射光子的能量大于、電子對效應(yīng):當(dāng)入射光子的能量大于1.02MeV1.02MeV時(shí),受原子核庫侖場的作用,光子消時(shí),受原子核庫侖場的作用,光子消逝,產(chǎn)生一個(gè)正電子和一個(gè)負(fù)電子。逝,產(chǎn)生一個(gè)正電子和一個(gè)負(fù)電子。 1212、“窄束與窄束與

8、“寬束,寬束,“單色與單色與“多色多色:習(xí)題:習(xí)題P37380P37380: 窄束射線窄束射線是指透過物體的射線中只包含是指透過物體的射線中只包含一次透射線,不包含散射線。一次透射線,不包含散射線。 寬束射線寬束射線是指透過物體的射線中既包含是指透過物體的射線中既包含一次透射線,也包含散射線。一次透射線,也包含散射線。 單色射線單色射線由單一波長組成的射線。由單一波長組成的射線。 多色射線多色射線由多個(gè)波長組成的射線,由延由多個(gè)波長組成的射線,由延續(xù)波長組成的射線稱為續(xù)波長組成的射線稱為“白色射線。白色射線。 13、單色窄束射線的衰減律和半價(jià)層:P19-21 衰減律 : 半價(jià)層 : 利用半價(jià)層

9、計(jì)算射線強(qiáng)度: 例題:知某射線源,鉛的半價(jià)層為3mm。求鉛的1/10和1/20價(jià)層分別是多少? TOeII693. 02/1T2/10.2TTnIIn)(133322. 4322. 421201:)(103331. 3321. 321101:212:12/120/12/110/100mmTnTnmmTnTnIIIInnnn二十分之一價(jià)層十分之一價(jià)層由解法)(13231. 0320.)(10231. 03 . 210231. 03693. 0693. 020/110/100mmLnTmmLnTIILnTeIITTh得由解法得0.693由T2:h例題:假設(shè)散射線忽略不計(jì),當(dāng)透照厚度的增例題:假設(shè)散

10、射線忽略不計(jì),當(dāng)透照厚度的增厚量相當(dāng)于厚量相當(dāng)于1/21/2半價(jià)層時(shí),那么膠片接受的照半價(jià)層時(shí),那么膠片接受的照射線量將減小百分之幾?射線量將減小百分之幾?30%0.30211211II1III21II2II,則射量為I增厚之后膠片接受的照,的照射量為I解:設(shè)增厚前膠片接受0.5n12121n12n1221 14、線衰減系數(shù)和半價(jià)層: 其中 a、能量越高,波長越短,越小,Th越大; b、物質(zhì)原子序數(shù)越大,密度越大, 越大,T1/2越小。 c、對于延續(xù)X射線來說,由于在穿透物質(zhì)過程中,平均能量越來越高波長越來越短,所以平均衰減系數(shù)越來越小,半價(jià)層越來越大。33ZKK1515、射線照相法根本原理:

11、、射線照相法根本原理:P24P24 射線穿透物體過程中會與物質(zhì)發(fā)生相互射線穿透物體過程中會與物質(zhì)發(fā)生相互作用,因吸收和散射而發(fā)生強(qiáng)度減弱。作用,因吸收和散射而發(fā)生強(qiáng)度減弱。 強(qiáng)度減弱程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和強(qiáng)度減弱程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和穿透厚度。當(dāng)試件中存在缺陷時(shí),由于缺陷使穿透厚度。當(dāng)試件中存在缺陷時(shí),由于缺陷使試件厚度發(fā)生變化,且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減試件厚度發(fā)生變化,且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)與試件不同,因此透過缺陷部位和完好部系數(shù)與試件不同,因此透過缺陷部位和完好部位的射線強(qiáng)度就產(chǎn)生了差別。位的射線強(qiáng)度就產(chǎn)生了差別。 將射線膠片放于試件下曝光,由于透過將射線膠片放于試件下曝光,由于

12、透過缺陷部位和完好部位的射線強(qiáng)度不同,因此使缺陷部位和完好部位的射線強(qiáng)度不同,因此使膠片的感光程度不同,膠片經(jīng)處置后,缺陷部膠片的感光程度不同,膠片經(jīng)處置后,缺陷部位和完好部位就構(gòu)成了黑度不同的影象,根據(jù)位和完好部位就構(gòu)成了黑度不同的影象,根據(jù)底片上的黑度變化就可以對試件中缺陷進(jìn)展判底片上的黑度變化就可以對試件中缺陷進(jìn)展判別。別。 16、射線照相法的優(yōu)缺陷:P25 優(yōu)點(diǎn):、可檢測出資料內(nèi)部缺陷;、適用適用資料廣泛,可用于各種金屬和非金屬資料,且不受工件外形、外表形狀和組織的限制;、缺陷影象直觀,定性、定量比較準(zhǔn)確;、底片可長期保管。 缺陷:、可檢出的最小缺陷絕對靈敏度與工件厚度有關(guān),厚度越大,

13、絕對靈敏度越低;、缺陷檢出率與缺陷方向有關(guān),對于面狀 缺陷和細(xì)微裂紋之類的缺陷容易漏檢; 、檢驗(yàn)速度慢,檢測本錢高;、對人體有害,需求進(jìn)展平安防護(hù)。二、射線檢測設(shè)備和器材二、射線檢測設(shè)備和器材1 1、X X射線管的組成和各部分的作用:射線管的組成和各部分的作用:P29P29 、陰極、陰極射線管的負(fù)電極,由燈絲和陰射線管的負(fù)電極,由燈絲和陰極頭組成。極頭組成。 燈絲燈絲發(fā)射電子;陰極頭發(fā)射電子;陰極頭聚焦電子。聚焦電子。 、陽極、陽極射線管的正電極,由陽極靶、射線管的正電極,由陽極靶、陽極體和陽極罩組成。陽極靶陽極體和陽極罩組成。陽極靶接受電子轟擊,接受電子轟擊,產(chǎn)生產(chǎn)生X X射線;陽極體射線;

14、陽極體支撐靶和傳熱;陽極支撐靶和傳熱;陽極罩罩吸收二次電子和部分散射線。吸收二次電子和部分散射線。 、玻殼、玻殼支撐電極和堅(jiān)持射線管的真空支撐電極和堅(jiān)持射線管的真空度。度。 2 2、金屬陶瓷管的優(yōu)點(diǎn):、金屬陶瓷管的優(yōu)點(diǎn):P39P39 a a、機(jī)械強(qiáng)度高,抗震性能好,不易破碎;、機(jī)械強(qiáng)度高,抗震性能好,不易破碎; b b、真空度高,電性能好,壽命長;、真空度高,電性能好,壽命長; c c、體積小,分量輕;、體積小,分量輕; d d、易于焊接鈹窗,透過的軟、易于焊接鈹窗,透過的軟X X射線較多。射線較多。3 3、X X射線管的冷卻方式:射線管的冷卻方式:P3132P3132 a a、輻射散熱式油浸

15、自冷、氣體冷卻、輻射散熱式油浸自冷、氣體冷卻 b b、強(qiáng)的制循環(huán)冷卻循環(huán)油外冷、循環(huán)、強(qiáng)的制循環(huán)冷卻循環(huán)油外冷、循環(huán)水外冷水外冷 c c、旋轉(zhuǎn)陽極冷卻醫(yī)用、旋轉(zhuǎn)陽極冷卻醫(yī)用X X射線機(jī)射線機(jī)4 4、X X射線管的焦點(diǎn):射線管的焦點(diǎn):P34P34 a a、實(shí)踐焦點(diǎn)、實(shí)踐焦點(diǎn)陽極靶上受電子轟擊的陽極靶上受電子轟擊的部分。部分。 b b、有效焦點(diǎn)、有效焦點(diǎn)實(shí)踐焦點(diǎn)在垂直于管軸實(shí)踐焦點(diǎn)在垂直于管軸線方向上的投影。線方向上的投影。 c c、焦點(diǎn)大,利于散熱,管電流可以較、焦點(diǎn)大,利于散熱,管電流可以較大;焦點(diǎn)小,散熱條件差,管電流不能太大。大;焦點(diǎn)小,散熱條件差,管電流不能太大。 d d、焦點(diǎn)外形和尺寸

16、取決于燈絲外形和、焦點(diǎn)外形和尺寸取決于燈絲外形和尺寸,圓形和正方形焦點(diǎn)尺寸為尺寸,圓形和正方形焦點(diǎn)尺寸為 a(aa(a為直徑為直徑或邊長或邊長) );長方形和橢圓形焦點(diǎn)尺寸為;長方形和橢圓形焦點(diǎn)尺寸為 a a和和b b為邊長或軸長。為邊長或軸長。5 5、X X射線管的真空度:射線管的真空度:P36P36 X X射線管必需在的射線管必需在的10-6mmHg10-6mmHg的真空度下才的真空度下才干任務(wù)。干任務(wù)。 高真空度的作用一是防止電極資料氧化,高真空度的作用一是防止電極資料氧化,二是防止氣體電離而響電子發(fā)射。二是防止氣體電離而響電子發(fā)射。 6 6、X X射線機(jī)訓(xùn)機(jī)的目的:習(xí)題射線機(jī)訓(xùn)機(jī)的目的

17、:習(xí)題P38-390P38-390 主要目的是為了提高主要目的是為了提高X X射線管的真空度。射線管的真空度。7 7、X X射線機(jī)的高壓整流電路:習(xí)題射線機(jī)的高壓整流電路:習(xí)題P39391P39391 半波整流電路、全波整流電路、全波倍壓半波整流電路、全波整流電路、全波倍壓恒直流電路。恒直流電路。8 8、軟、軟X X射線機(jī):射線機(jī): X X射線管裝有鈹窗,額定管電壓約射線管裝有鈹窗,額定管電壓約50KVP50KVP左左右的右的X X射線機(jī)。射線機(jī)。 9 9、X X射線機(jī)管電壓和管電流:射線機(jī)管電壓和管電流:P4344P4344 、管電壓調(diào)理是經(jīng)過調(diào)理高壓變壓器初級線圈、管電壓調(diào)理是經(jīng)過調(diào)理高壓

18、變壓器初級線圈并聯(lián)的自耦變壓器的電壓來實(shí)現(xiàn)的。并聯(lián)的自耦變壓器的電壓來實(shí)現(xiàn)的。 管電壓越高,電子運(yùn)動(dòng)速度越快,產(chǎn)生的管電壓越高,電子運(yùn)動(dòng)速度越快,產(chǎn)生的X X射線能射線能量越高,穿透力越大。量越高,穿透力越大。 、管電流是經(jīng)過調(diào)理燈絲變壓器電壓從而調(diào)理、管電流是經(jīng)過調(diào)理燈絲變壓器電壓從而調(diào)理燈絲加熱電流來實(shí)現(xiàn)的。燈絲加熱電流來實(shí)現(xiàn)的。 管電流越大,產(chǎn)生的管電流越大,產(chǎn)生的X X射線強(qiáng)度就越大。射線強(qiáng)度就越大。1010、底片黑度:、底片黑度:P59P59: D=1 L/L0 =1/10D=1 L/L0 =1/10 D=2 L/L0 =1/100D=2 L/L0 =1/100 D=3 L/L0 =

19、1/1000 D=3 L/L0 =1/1000 LLLgD0例題:按照例題:按照GB3323-87GB3323-87規(guī)范規(guī)定:規(guī)范規(guī)定:ABAB級射線照級射線照相底片黑度范圍為相底片黑度范圍為D=1.2D=1.23.5.3.5.假設(shè)要求透過假設(shè)要求透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m230cd/m2。為。為滿足底片察看要求,觀片燈亮度至少應(yīng)為多少?滿足底片察看要求,觀片燈亮度至少應(yīng)為多少? 解:解: 255 . 300/10103010mcdLLLLLgDDtt由1111、射線膠片的襯度梯度、對比度、反差、射線膠片的襯度梯度、對比度、反差P61P61: 膠片

20、特性曲線上某一點(diǎn)切線的斜率稱為膠膠片特性曲線上某一點(diǎn)切線的斜率稱為膠片的梯度襯度或反差。片的梯度襯度或反差。1212、鉛增感屏的作用:、鉛增感屏的作用:P67P67 a a、增感效應(yīng)、增感效應(yīng)添加對膠片的感光作用,添加對膠片的感光作用,縮短曝光時(shí)間;縮短曝光時(shí)間; b b、吸收效應(yīng)、吸收效應(yīng)吸收波長較長的散射線,吸收波長較長的散射線,提高射線照相對比度。提高射線照相對比度。1313、鉛增屏的增感原理:、鉛增屏的增感原理:P67P67 鉛箔屏受射線激發(fā)產(chǎn)生二次電子和二次鉛箔屏受射線激發(fā)產(chǎn)生二次電子和二次射線,二次電子和二次射線能量很低,極易被射線,二次電子和二次射線能量很低,極易被膠片吸收,從而

21、添加了對膠片的感光作用。膠片吸收,從而添加了對膠片的感光作用。1414、增感屏上的劃傷引起的偽缺陷:、增感屏上的劃傷引起的偽缺陷:P70P70 鉛屏外表有劃傷時(shí),由于發(fā)射二次電子的鉛屏外表有劃傷時(shí),由于發(fā)射二次電子的外表積增大,會使底片上出現(xiàn)細(xì)黑線。熒光屏外表積增大,會使底片上出現(xiàn)細(xì)黑線。熒光屏上有劃傷時(shí),由于增感面積減小,底片上相應(yīng)上有劃傷時(shí),由于增感面積減小,底片上相應(yīng)部位出現(xiàn)亮線。部位出現(xiàn)亮線。1515、 R10R10系列絲型象質(zhì)計(jì)的公比為系列絲型象質(zhì)計(jì)的公比為1.251.25或或0.80.8,即相鄰兩根金屬絲,粗的編號小的直徑為即相鄰兩根金屬絲,粗的編號小的直徑為細(xì)編號大的的細(xì)編號大的

22、的1.251.25倍,細(xì)的絲徑為粗的倍,細(xì)的絲徑為粗的0.80.8倍。倍。 R10R10系列絲型象質(zhì)計(jì)絲徑和線號之間的關(guān)系列絲型象質(zhì)計(jì)絲徑和線號之間的關(guān)系是:系是: Z=6-10LgdZ=6-10LgdP71P7110610Zd16、象質(zhì)計(jì)是用來評價(jià)底片影像質(zhì)量的,并不代表射線照相可檢出的最小缺陷尺寸。 例如2%靈敏度并不意味著工件中尺寸為工件厚度2%的缺陷一定能檢測出來。特別是對裂紋之類方向性很強(qiáng)的缺陷,由于其取向和密閉程度的不同,即使底片上顯示的象質(zhì)計(jì)靈敏度很高,有時(shí)也有難于檢出甚至完全不能檢出的情況三、射線檢測工藝三、射線檢測工藝1 1、射線照相對比度、射線照相對比度 ,它取決于:,它取

23、決于: 、主因?qū)Ρ榷?、主因?qū)Ρ榷?由于不同區(qū)域射線強(qiáng)度由于不同區(qū)域射線強(qiáng)度差別所產(chǎn)生的對比度叫主因?qū)Ρ榷?。差別所產(chǎn)生的對比度叫主因?qū)Ρ榷取?公式為:公式為: ,影響要素有:,影響要素有: a a、由缺陷引起的透照厚度差、由缺陷引起的透照厚度差TT;b b、射、射線衰減系數(shù)線衰減系數(shù) 取決于射線能量、工件資料取決于射線能量、工件資料密度和原子序數(shù);密度和原子序數(shù);c c、散射比、散射比n n。 、膠片對比度、膠片對比度 ,影響要素有:,影響要素有: a a、膠片類型、膠片類型;b b、顯影條件配方、顯影條件配方、時(shí)間、溫度、活度和攪動(dòng);時(shí)間、溫度、活度和攪動(dòng); c c、底片黑度、底片黑度D D。

24、nD1/434. 0n1LgED2 2、射線照相不明晰度、射線照相不明晰度 ,它取決于:,它取決于: 、幾何不明晰度、幾何不明晰度由于射線源都有一由于射線源都有一定的尺寸,所以照相時(shí)工件輪廓和缺陷邊緣會定的尺寸,所以照相時(shí)工件輪廓和缺陷邊緣會在底片上產(chǎn)生半影,這個(gè)半影寬度叫做幾何不在底片上產(chǎn)生半影,這個(gè)半影寬度叫做幾何不明晰度。公式為明晰度。公式為 ,影響要素有:,影響要素有: a a、焦點(diǎn)尺寸、焦點(diǎn)尺寸dfdf; b b、焦點(diǎn)至工件外表間隔、焦點(diǎn)至工件外表間隔L1L1; c c、工件外表至膠片間隔、工件外表至膠片間隔L2L2。 固有不明晰度,影響要素有:固有不明晰度,影響要素有: a a、射

25、線能量;、射線能量;b b、增感屏類型;、增感屏類型;c c、屏、屏- -片片貼緊程度;貼緊程度;d d、膠片銀膠比。、膠片銀膠比。22igUUU12LLdUfg3 3、射線照相顆粒度取決于:、射線照相顆粒度取決于: a a、膠片類型;、膠片類型;b b、射線能量;、射線能量;c c、顯影條、顯影條件配方、時(shí)間、溫度。件配方、時(shí)間、溫度。4 4、幾何不明晰度計(jì)算:、幾何不明晰度計(jì)算: 例題:用焦點(diǎn)例題:用焦點(diǎn)3mm3mm的的X X射線機(jī)透照厚度為射線機(jī)透照厚度為30 30 mmmm的平板對接焊縫,焦距的平板對接焊縫,焦距600mm , 600mm , 求幾何不明求幾何不明晰度。晰度。 解:知解

26、:知 d=3mm,b=30mm,F=600mmd=3mm,b=30mm,F=600mm 代入公式代入公式 :UgUg.15(mm).15(mm)12gLLdUbFdbUg或bFdbUg5 5、射線曝光條件包括的內(nèi)容:、射線曝光條件包括的內(nèi)容: X X射線機(jī)型號、規(guī)格;射線機(jī)型號、規(guī)格; 射線膠片型號;射線膠片型號; 增感屏類型、厚增感屏類型、厚度;度; 焦距或源到工件外表間隔;焦距或源到工件外表間隔; 管電壓;管電壓; 管電流;曝光時(shí)間。管電流;曝光時(shí)間。6 6、曝光曲線是表示工件厚度、管電壓和曝光量、曝光曲線是表示工件厚度、管電壓和曝光量管電流曝光時(shí)間之間的關(guān)系的曲線。管電流曝光時(shí)間之間的關(guān)

27、系的曲線。7 7、散射線及其控制、散射線及其控制P142P142: 、散射線成因、散射線成因散射線是射線與物質(zhì)相散射線是射線與物質(zhì)相互作用時(shí)發(fā)生康普頓效應(yīng)而產(chǎn)生的能量較低方互作用時(shí)發(fā)生康普頓效應(yīng)而產(chǎn)生的能量較低方向改動(dòng)了的射線。向改動(dòng)了的射線。 、散射源、散射源- -射線透照相時(shí),一切遭到射線射線透照相時(shí),一切遭到射線照相射的物體都是散射源,如工件、暗盒、墻壁、照相射的物體都是散射源,如工件、暗盒、墻壁、地板及空氣等都是散射源,其中工件本身是最大地板及空氣等都是散射源,其中工件本身是最大的散射源。的散射源。 、散射線的分類、散射線的分類- -按散射線的方向可分為:按散射線的方向可分為: a a

28、、前散射、前散射來自暗盒前方的散射;來自暗盒前方的散射; b b、背散射、背散射來自暗盒反面的散射;來自暗盒反面的散射; c c、側(cè)散射邊蝕散射、側(cè)散射邊蝕散射-來自工件周圍的來自工件周圍的散射。散射。 、散射線的危害、散射線的危害散射線會使底片灰霧度散射線會使底片灰霧度增大,影象對比度降低,使影象模糊,底片質(zhì)量增大,影象對比度降低,使影象模糊,底片質(zhì)量變差。變差。 、控制散射線的措施:散射線無法消、控制散射線的措施:散射線無法消除,只能采取適當(dāng)措施減小其影響,主要措施除,只能采取適當(dāng)措施減小其影響,主要措施有:有: a a、選擇較高的射線能量小管透照;、選擇較高的射線能量小管透照; b b、

29、運(yùn)用鉛增感屏,在暗盒反面墊鉛板、運(yùn)用鉛增感屏,在暗盒反面墊鉛板吸收背散射;吸收背散射; c c、在射線管窗口加鉛罩或光闌,減小受、在射線管窗口加鉛罩或光闌,減小受照射面積;照射面積; d d、在射線管窗口加濾板,吸收波長較長、在射線管窗口加濾板,吸收波長較長的射線;的射線; e e、在工件周圍的暗盒上加擋板減少邊、在工件周圍的暗盒上加擋板減少邊蝕影響;蝕影響; f f、采用厚度補(bǔ)償物厚度差大的工件。、采用厚度補(bǔ)償物厚度差大的工件。 8、曝光量的修正和計(jì)算:P120-122 、毫安時(shí)間修正互易律: 互易律 例題:管電流毫安,曝光時(shí)間分鐘可得到稱心的射線照片,假設(shè)其它條件不變,管電流添加到1毫安,

30、曝光時(shí)間應(yīng)變?yōu)槎嗌伲?解:知 代入公式: 2211titimAitmAi10min,8,5211)iitt分鐘(410852112 、間隔曝光量時(shí)間、管電流修正平方反比律: 例題:透照某工件焊縫,用鉛增感,當(dāng)管電壓為200KVP、管電流5 mA、焦距600mm、曝光時(shí)間5分鐘,底片黑度為2.0?,F(xiàn)將管電流改為10mA 、焦距改為800mm、其它條件不變,要得到黑度一樣的射線照片,曝光時(shí)間應(yīng)變?yōu)槎嗌伲?tiEFFII.2122212221221121FFtitiEE22222111222211FtiFtiFEFE或 解:)分鐘由已知(4 . 46008001055.800.10600.5.5:2

31、2212221122222211122111FFiittFtiFt iFiFti 、利用膠片特性曲線修正曝光量: 公式: 例題:透照某工件,曝光量度10mAm時(shí)得到的底片黑度為 1.0,為使底片黑度到達(dá)2.5,問曝光量應(yīng)變?yōu)槎嗌??知膠片特性曲線上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62 解: 121012LgELgEEEmin5 .2445. 210101010101039. 023. 262. 21212mAmEELgELgE 、綜合計(jì)算: 例題1:焦間隔500mm、管電壓力200KV、管電流通渠道5mA、曝光4分鐘得到的底片黑度為 1.0?,F(xiàn)改用焦間隔750 mm、管電流通渠道15mA、

32、管電壓不變,欲使底片黑度提高到 1.5,那么曝光時(shí)間應(yīng)變?yōu)槎嗌??知膠片特性曲線上LgE1.0=1.8, LgE1.5=2.1 解:設(shè)黑度不變,焦距和管電流變化時(shí): 由 黑度由1.0 變?yōu)?.5時(shí),曝光時(shí)間應(yīng)變?yōu)椋?22222111FtiFti(min)350015750452221222112FiFtit(min)62332102103 . 08 . 11 . 22212LgELgEtt例題例題2 2、用、用型膠片透照某工件,曝光量型膠片透照某工件,曝光量10mAmin10mAmin時(shí)得到的底片黑度為時(shí)得到的底片黑度為1.01.0。為使底片。為使底片黑度到達(dá)黑度到達(dá)2.5, 2.5, 曝光量應(yīng)

33、變?yōu)槎嗌??知膠曝光量應(yīng)變?yōu)槎嗌伲恐z片特性曲線上片特性曲線上Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62Lg1.0=2.23,Lg2.5=2.62。 解:解: min(5 .2445. 210101010101039. 023. 2lg62. 2lglglg1212mAEEEE 9、射線照相等效系數(shù):P140 所謂射線照相等效系數(shù),是指在一定的管電壓下,到達(dá)一樣的射線吸收效果的鋼的厚度T0與被檢資料厚度Tm之比,即: 例題:知鋁的射線照相等效系數(shù)為0.08,那么50mm厚的鋁相當(dāng)于多厚的鋼? 解: mTT0)(45008. 00mmTTm四、暗室處置四、暗室處置1 1、顯影劑的作用和成份:、顯影

34、劑的作用和成份: 顯影的作用是將已曝光的溴化銀復(fù)原為顯影的作用是將已曝光的溴化銀復(fù)原為金屬銀,常用的顯影劑是米吐爾和對苯二酚。金屬銀,常用的顯影劑是米吐爾和對苯二酚。 2 2、定影的作用和成份:、定影的作用和成份: 定影的作用是將未顯影的溴化銀溶解掉,定影的作用是將未顯影的溴化銀溶解掉,而對已復(fù)原的金屬銀不發(fā)生作用,常用的定影而對已復(fù)原的金屬銀不發(fā)生作用,常用的定影劑是海波。劑是海波。3 3、停顯液的作用和成份:、停顯液的作用和成份: 停顯液的作用是中和膠片上的顯影劑停顯液的作用是中和膠片上的顯影劑 ,停頓顯影作用,常用的停顯液是冰醋酸溶液。停頓顯影作用,常用的停顯液是冰醋酸溶液。五、輻射防護(hù)

35、五、輻射防護(hù) 1 1、放射防護(hù)三大要素:、放射防護(hù)三大要素: 1 1、時(shí)間防護(hù)、時(shí)間防護(hù)照射量與時(shí)間成正比,照射量與時(shí)間成正比,控制受照射的時(shí)間??刂剖苷丈涞臅r(shí)間。 2 2、間隔防護(hù)、間隔防護(hù)射線強(qiáng)度與間隔的平方射線強(qiáng)度與間隔的平方成反比,平大人與射源之間的間隔。成反比,平大人與射源之間的間隔。 3 3、屏蔽防護(hù)、屏蔽防護(hù)利用物質(zhì)對射線的吸收利用物質(zhì)對射線的吸收作用,在人和源之間放置吸收資料。作用,在人和源之間放置吸收資料。 2 2、防護(hù)計(jì)算:、防護(hù)計(jì)算: 1 1. .時(shí)間防護(hù)計(jì)算:時(shí)間防護(hù)計(jì)算: 例例1 1:知任務(wù)地點(diǎn)的劑量率為:知任務(wù)地點(diǎn)的劑量率為50Sv50Sv,問任務(wù)人員可在此處任務(wù)多

36、少時(shí)間?問任務(wù)人員可在此處任務(wù)多少時(shí)間? 解:每年按50周計(jì)算,每周劑量限值為: 50mSv/50=1mSv=103Sv 時(shí)間=劑量/劑量率=1000/50=20小時(shí) 2.間隔防護(hù)計(jì)算: 例2:間隔一源2米處的漏泄空氣比釋動(dòng)能率為0.4mGy/h,散射線空氣比釋動(dòng)能率為漏泄比釋動(dòng)能率的9倍.問距源多遠(yuǎn)處的空氣比釋動(dòng)能率可降低到25Gy/h? ? 解:距源2米處空氣比釋動(dòng)能率I1=0.41+9=4mGy/h=4000Gy/h; mIIFF6 .12254000221123 3. .屏蔽防護(hù)計(jì)算:屏蔽防護(hù)計(jì)算: 例例3 3:為將:為將Co60Co60產(chǎn)生的劑量減弱產(chǎn)生的劑量減弱20002000倍,

37、倍,所需鉛厚度為多少?知所需鉛厚度為多少?知Co60Co60在鉛中的半價(jià)層在鉛中的半價(jià)層Th=1.06cmTh=1.06cm。 解:解: )(7 .1106. 1111196.102200020002/0cmThntLgLgnIIn六、六、JB/T4730-2005JB/T4730-2005規(guī)范規(guī)范、通用要求、通用要求1 1、適用范圍:、適用范圍: 、方法:射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、方法:射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、浸透檢測和渦流檢測等五種無損檢測方法浸透檢測和渦流檢測等五種無損檢測方法 、對象:在制和在用金屬資料制承壓設(shè)備、對象:在制和在用金屬資料制承壓設(shè)備2 2、術(shù)語和定義:、術(shù)語和

38、定義: 、透照厚度、透照厚度W W 射線照射方向上資料的公稱厚度。多層透照時(shí),射線照射方向上資料的公稱厚度。多層透照時(shí),透照厚度為經(jīng)過的各層資料公稱厚度之和。透照厚度為經(jīng)過的各層資料公稱厚度之和。 、圓形缺陷、圓形缺陷 長寬比不大于長寬比不大于3 3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。 、條形缺陷、條形缺陷 長寬比大于長寬比大于3 3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。 、小徑管、小徑管 外直徑外直徑DoDo小于或等于小于或等于100mm100mm的管子。的管子。3 3、運(yùn)用原那么、運(yùn)用原那么 、射線和超聲檢測主要用于承壓設(shè)備的、射線和超聲檢測主要用于承壓設(shè)備的

39、內(nèi)部缺陷的檢測;磁粉檢測主要用于鐵磁性資內(nèi)部缺陷的檢測;磁粉檢測主要用于鐵磁性資料制承壓設(shè)備的外表和近外表缺陷的檢測;浸料制承壓設(shè)備的外表和近外表缺陷的檢測;浸透檢測主要用于金屬資料制承壓設(shè)備的外表開透檢測主要用于金屬資料制承壓設(shè)備的外表開口缺陷的檢測;渦流檢測主要適用于金屬資料口缺陷的檢測;渦流檢測主要適用于金屬資料制承壓設(shè)備外表和近外表缺陷的檢測。制承壓設(shè)備外表和近外表缺陷的檢測。 、鐵磁性資料外表檢測時(shí),宜采用磁粉檢測。 、當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)展檢測時(shí),應(yīng)按各自的方法評定級別。 、采用同種檢測方法按不同檢測工藝進(jìn)展檢測時(shí),假設(shè)檢測結(jié)果不一致,應(yīng)以危險(xiǎn)度大的

40、評定級別為準(zhǔn)。、射線檢測1、適用范圍 適用于承壓設(shè)備制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。 用于制造焊接接頭的金屬資料包括碳素鋼、用于制造焊接接頭的金屬資料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。 有關(guān)支承件和構(gòu)造件的對接焊接接頭的射線有關(guān)支承件和構(gòu)造件的對接焊接接頭的射線檢測,也可參照運(yùn)用。檢測,也可參照運(yùn)用。2 2、射線檢測技術(shù)、射線檢測技術(shù) 分為三級:分為三級:A A級級低靈敏度技術(shù);低靈敏度技術(shù);ABAB級級中靈敏度技術(shù);中靈敏度技術(shù); B B級級高靈敏度技術(shù)。高靈敏度技術(shù)。

41、3 3、膠片系統(tǒng)、膠片系統(tǒng) 、分為四類,即、分為四類,即T1T1、T2T2、T3T3和和T4T4類。類。T1T1為為最高類別,最高類別,T4T4為最低類別。為最低類別。 、A級和AB級技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片,B級技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。 、采用射線對裂紋敏感性大的資料進(jìn)展射線檢測,應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。 4、黑度計(jì) 、黑度計(jì)可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5,丈量值的誤差應(yīng)不超越0.05。 、黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。黑度片每2年檢定一次。 5 5、增感屏、增感屏 射線檢測普通應(yīng)運(yùn)用金屬增感屏或不用增射線檢測普通應(yīng)運(yùn)用金屬增感屏或不用增感屏。感屏。6 6、像質(zhì)計(jì)、像質(zhì)計(jì)

42、 底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)測定。線型底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)測定。線型像質(zhì)計(jì)的型號和規(guī)格應(yīng)符合像質(zhì)計(jì)的型號和規(guī)格應(yīng)符合JB/T 7902JB/T 7902的規(guī)定,的規(guī)定,JB/T 7902JB/T 7902中未包含的絲徑、線號及構(gòu)成等內(nèi)中未包含的絲徑、線號及構(gòu)成等內(nèi)容,應(yīng)符合容,應(yīng)符合HB 7684HB 7684的有關(guān)規(guī)定。的有關(guān)規(guī)定。7 7、外表要求和射線檢測時(shí)機(jī)、外表要求和射線檢測時(shí)機(jī) 、射線檢測前,焊接接頭的外表應(yīng)經(jīng)外、射線檢測前,焊接接頭的外表應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。外表的不規(guī)那么形狀在底片上觀檢測并合格。外表的不規(guī)那么形狀在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像,否那么應(yīng)對的影像不得掩蓋

43、或干擾缺陷影像,否那么應(yīng)對外表作適當(dāng)修整。外表作適當(dāng)修整。 、射線檢測應(yīng)在焊接完工后進(jìn)展。對有、射線檢測應(yīng)在焊接完工后進(jìn)展。對有延遲裂紋傾向的資料,至少應(yīng)在焊接完成延遲裂紋傾向的資料,至少應(yīng)在焊接完成24h24h后進(jìn)展射線檢測。后進(jìn)展射線檢測。8 8、射線檢測技術(shù)等級選擇、射線檢測技術(shù)等級選擇 、射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。安裝、在用等有關(guān)規(guī)范及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時(shí)的射線檢測,普通應(yīng)采用用時(shí)的射線檢測,普通應(yīng)采用ABAB級技術(shù)進(jìn)展檢級技術(shù)進(jìn)展檢測。測。

44、 對重要設(shè)備、構(gòu)造、特殊資料和特殊焊接對重要設(shè)備、構(gòu)造、特殊資料和特殊焊接工藝制造的焊接接頭,可采用工藝制造的焊接接頭,可采用B B級技術(shù)進(jìn)展檢級技術(shù)進(jìn)展檢測。測。 、由于構(gòu)造、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方、由于構(gòu)造、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足面限制,檢測的某些條件不能滿足ABAB級或級或B B級技術(shù)的要求時(shí)級技術(shù)的要求時(shí), , 經(jīng)合同各方商定,在采取經(jīng)合同各方商定,在采取有效補(bǔ)償措施例如選用更高類別的膠片的有效補(bǔ)償措施例如選用更高類別的膠片的前提下,受限制條件可按前提下,受限制條件可按A A級或級或ABAB級要?jiǎng)?wù)級要?jiǎng)?wù)虛施,假設(shè)底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度到達(dá)了虛施,假設(shè)底片的像質(zhì)

45、計(jì)靈敏度到達(dá)了ABAB級級或或B B級的規(guī)定級的規(guī)定, ,那么可以為按那么可以為按ABAB級或級或B B級級進(jìn)展了檢測。進(jìn)展了檢測。 、承壓設(shè)備在用檢測中,由于構(gòu)造、環(huán)、承壓設(shè)備在用檢測中,由于構(gòu)造、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制境、射線設(shè)備等方面限制, ,檢測的某些條件不檢測的某些條件不能滿足能滿足ABAB級技術(shù)的要求時(shí)級技術(shù)的要求時(shí), , 經(jīng)合同各方商定經(jīng)合同各方商定, ,在采取有效補(bǔ)償措施例如選用更高類別的膠在采取有效補(bǔ)償措施例如選用更高類別的膠片后可采用片后可采用A A級技術(shù)進(jìn)展射線檢測,但還應(yīng)級技術(shù)進(jìn)展射線檢測,但還應(yīng)同時(shí)采用其他無損檢測方法進(jìn)展補(bǔ)充檢測。同時(shí)采用其他無損檢測方法進(jìn)展補(bǔ)充檢

46、測。9 9、 輻射防護(hù)輻射防護(hù) 、現(xiàn)場進(jìn)展射線檢測時(shí),應(yīng)劃定控制、現(xiàn)場進(jìn)展射線檢測時(shí),應(yīng)劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測任務(wù)人員應(yīng)區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測任務(wù)人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì),并攜帶劑量報(bào)警儀佩帶個(gè)人劑量計(jì),并攜帶劑量報(bào)警儀 、現(xiàn)場進(jìn)展、現(xiàn)場進(jìn)展射線檢測時(shí),劃定控制區(qū)射線檢測時(shí),劃定控制區(qū)和監(jiān)視區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志,檢測作業(yè)時(shí),應(yīng)圍和監(jiān)視區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志,檢測作業(yè)時(shí),應(yīng)圍繞控制區(qū)邊境測定輻射程度。檢測任務(wù)人員應(yīng)繞控制區(qū)邊境測定輻射程度。檢測任務(wù)人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì),并攜帶劑量報(bào)警儀。佩帶個(gè)人劑量計(jì),并攜帶劑量報(bào)警儀。1010、透照方式選擇原那么、透照方式選擇原那么 在可以實(shí)施的情況

47、下應(yīng)選用單壁透照方式在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式, ,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式有八種。式。典型的透照方式有八種。11、一次透照長度 、一次透照長度以透照厚度比K控制。 、縱向焊接接頭: A級、AB級:K 1.03 B級:K 1.01 環(huán)向焊接接頭: A級、AB級:K 1.1 B級:K 1.06 、對100mmDo400mm的環(huán)向焊接接頭包括曲率一樣的曲面焊接接頭, A級、AB級允許采用K1.2。 1212、小徑管對接接頭的透照布置、小徑管對接接頭的透照布置 、小徑管采用雙壁雙影透照布置。當(dāng)同、小徑管采用雙壁雙影透

48、照布置。當(dāng)同時(shí)滿足以下兩條件時(shí)采用傾斜透照橢圓成像:時(shí)滿足以下兩條件時(shí)采用傾斜透照橢圓成像: T T壁厚壁厚8mm8mm; g /4 g /4 焊縫寬度焊縫寬度DoDo 橢圓成像時(shí),應(yīng)控制影像的開口寬度上橢圓成像時(shí),應(yīng)控制影像的開口寬度上下焊縫投影最大間距在下焊縫投影最大間距在1 1倍焊縫寬度左右。倍焊縫寬度左右。 、不滿足上述條件或橢圓成像困難時(shí)可、不滿足上述條件或橢圓成像困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。采用垂直透照方式重疊成像。1313、小徑管對接接頭的透照次數(shù)、小徑管對接接頭的透照次數(shù) 、傾斜透照橢圓成像:當(dāng)T/ Do0.12,相隔90透照2次。當(dāng)T/ Do0.12,相隔120或60透

49、照3次。 、垂直透照重疊成像時(shí),普通應(yīng)相隔120或60透照3次。 、由于構(gòu)造緣由不能進(jìn)展多次透照時(shí),經(jīng)合同各方贊同,可不按100%檢測的透照次數(shù)要求,允許采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次,此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)展缺陷可檢出范圍,并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。 : :平移間隔計(jì)算平移間隔計(jì)算: :例題:用例題:用2005X2005X射線機(jī)透照射線機(jī)透照51513.53.5的管子環(huán)的管子環(huán)焊縫,知焦距焊縫,知焦距F=600mm, F=600mm, 焊縫寬度焊縫寬度b=10mmb=10mm。求。求橢圓間距橢圓間距g=5mmg=5mm時(shí)的透照偏移間隔時(shí)的透照偏移間隔S(S(不思索焊不思索焊

50、縫余高縫余高) )。 )()(210000gbLLSgbDDFS)(161)510(5151600)(00mmgbDDF:S解1414、射線能量選擇、射線能量選擇 、X X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)膲骸T诓捎幂^高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。曝光量?、對截面厚度變化大的工件,在保、對截面厚度變化大的工件,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超越規(guī)證靈敏度要求的前提下,允許采用超越規(guī)定的射線管電壓。定的射線管電壓。 鋼、銅及銅合金管電壓增量不應(yīng)超越鋼、銅及銅合金管電壓增量不應(yīng)超越50kV50kV; 鈦及鈦合金管電壓增量不應(yīng)超越鈦及

51、鈦合金管電壓增量不應(yīng)超越40kV40kV; 鋁及鋁合金管電壓增量不應(yīng)超越鋁及鋁合金管電壓增量不應(yīng)超越30kV30kV。1515、射線允許的透照厚度范圍射線允許的透照厚度范圍 、采用源在內(nèi)中心透照方式,在保證、采用源在內(nèi)中心透照方式,在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度到達(dá)要求的前提下,允許像質(zhì)計(jì)靈敏度到達(dá)要求的前提下,允許射射線最小透照厚度取規(guī)定下限值的二分之一。線最小透照厚度取規(guī)定下限值的二分之一。 、采用其他透照方式,在采取有效、采用其他透照方式,在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度到達(dá)要求的前補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度到達(dá)要求的前提下,經(jīng)合同各方贊同,提下,經(jīng)合同各方贊同,Ir-192Ir-192源的最小

52、透源的最小透照厚度可降至照厚度可降至10mm10mm小徑管壁厚為小徑管壁厚為5mm5mm, Se-75Se-75源的最小透照厚度可降至源的最小透照厚度可降至5mm 5mm 小徑小徑管壁厚為管壁厚為2.5mm2.5mm 。1616、射線源至工件外表的最小間隔、射線源至工件外表的最小間隔 、所選用的射線源至工件外表的間隔、所選用的射線源至工件外表的間隔f f應(yīng)滿足應(yīng)滿足下式的要求:下式的要求: A A 級:級: f 7.5db 2/3 f 7.5db 2/3 AB AB級:級: f 10db 2/3f 10db 2/3 B B 級:級: f 15db 2/3f 15db 2/3 、采用源在內(nèi)中心透

53、照方式周向曝光時(shí),只、采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí),只需得到的底片質(zhì)量符合需得到的底片質(zhì)量符合4.11.24.11.2和和4.11.34.11.3的要求,的要求,f f值可值可以減小,但減小值最多不應(yīng)超越規(guī)定值的以減小,但減小值最多不應(yīng)超越規(guī)定值的50%50%。 、采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí),只需得到的底、采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí),只需得到的底片質(zhì)量符合片質(zhì)量符合4.11.24.11.2和和4.11.34.11.3的要求,的要求,f f值可以減小,但值可以減小,但減小值最多不應(yīng)超越規(guī)定值的減小值最多不應(yīng)超越規(guī)定值的20%20%。1717、曝光量、曝光量 、射線照相,當(dāng)焦距為、射線照相,當(dāng)焦距

54、為700mm700mm時(shí),曝光時(shí),曝光量的引薦值為:量的引薦值為: A A級和級和ABAB級不小于級不小于15mAmin15mAmin; B B級不小于級不小于20mAmin20mAmin。 當(dāng)焦距改動(dòng)時(shí)可按平方反比定律對曝光量當(dāng)焦距改動(dòng)時(shí)可按平方反比定律對曝光量進(jìn)展換算。進(jìn)展換算。 、采用、采用射線源透照時(shí)射線源透照時(shí), , 總的曝光時(shí)間總的曝光時(shí)間至少應(yīng)不小于保送源往返所需時(shí)間的至少應(yīng)不小于保送源往返所需時(shí)間的1010倍。倍。1818、曝光曲線、曝光曲線 、對每臺在用的射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測資料的曝光曲線,根據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。 、對運(yùn)用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次。射線設(shè)備改換

55、重要部件或經(jīng)較大修繕后應(yīng)及時(shí)對曝光曲線進(jìn)展校驗(yàn)或重新制造。 19、無用射線和散射線屏蔽 、對初次制定的檢測工藝或檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改動(dòng)時(shí),該檢測工藝在運(yùn)用于正式檢測時(shí)應(yīng)進(jìn)展背散射防護(hù)檢查。 、檢查背散射防護(hù)的方法是:在暗盒反面貼附“B鉛字標(biāo)志,按檢測工藝的規(guī)定進(jìn)展透照和暗室處置。 假設(shè)在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B字影像,那么闡明背散射防護(hù)不夠,應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。 假設(shè)底片上不出現(xiàn) “B字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B字影像,那么闡明背散射防護(hù)符合要求。20、像質(zhì)計(jì)的運(yùn)用 、放置原那么 像質(zhì)計(jì)普通應(yīng)放置在工件源側(cè)外表焊縫的一端在被檢區(qū)長度的1/4左右位置,金屬絲橫

56、跨焊縫,細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。 單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè)。 單壁透照中,假設(shè)像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè),允許放置在膠片側(cè),但應(yīng)進(jìn)展對比實(shí)驗(yàn)。 當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F作為標(biāo)志,F(xiàn)標(biāo)志的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)志同時(shí)出如今底片上,且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明。 、象質(zhì)計(jì)數(shù)量 原那么上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí),允許減少運(yùn)用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量。 環(huán)形焊接接頭源置于中心周向曝光,至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)

57、計(jì); 球罐焊接接頭采用源置于球心全景曝光時(shí),至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個(gè)像質(zhì)計(jì),在南、北極的極板拼縫上各放置1個(gè)像質(zhì)計(jì); 一次曝光延續(xù)陳列的多張膠片時(shí),至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。 、小徑管象質(zhì)計(jì)的運(yùn)用 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或公用等徑金屬絲像質(zhì)計(jì),金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。像質(zhì)計(jì)應(yīng)置于源側(cè),當(dāng)無法放置在源側(cè)時(shí),可將像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)。 、象質(zhì)計(jì)的識別 底片上,在黑度均勻區(qū)普通是臨近焊縫的母材金屬區(qū)能明晰地看到長度不小于10mm的延續(xù)的金屬絲影像時(shí),那么該絲以為是可識別的。公用像質(zhì)計(jì)應(yīng)能識別不少于二根金屬絲。2121、透照部位標(biāo)志、

58、透照部位標(biāo)志 、透照部位的標(biāo)志由識別標(biāo)志和定位標(biāo)、透照部位的標(biāo)志由識別標(biāo)志和定位標(biāo)志組成。志組成。 識別標(biāo)志普通包括:產(chǎn)品編號、焊接接識別標(biāo)志普通包括:產(chǎn)品編號、焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)志還應(yīng)有返修標(biāo)志, ,擴(kuò)展檢測比例的透照還應(yīng)有擴(kuò)展檢測比例的透照還應(yīng)有擴(kuò)展檢測標(biāo)志。擴(kuò)展檢測標(biāo)志。 定位標(biāo)志普通包括中心標(biāo)志和搭接標(biāo)定位標(biāo)志普通包括中心標(biāo)志和搭接標(biāo)志。中心標(biāo)志指示透照部位區(qū)段的中心位置和志。中心標(biāo)志指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向分段編號的方向, ,普通用十字箭頭普通用十字箭頭“ 表示。表示。搭接標(biāo)志是延續(xù)檢測

59、時(shí)的透照分段標(biāo)志,可用搭接標(biāo)志是延續(xù)檢測時(shí)的透照分段標(biāo)志,可用符號符號“或其他能顯示搭接情況的方法表示?;蚱渌茱@示搭接情況的方法表示。 、標(biāo)志普通應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位,標(biāo)志的影像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。22、評片要求 、評片人員在評片前應(yīng)閱歷一定的暗順應(yīng)時(shí)間。從陽光下進(jìn)入評片的暗順應(yīng)時(shí)間普通為5 min10min;從普通的室內(nèi)進(jìn)入評片的暗順應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。 、評片時(shí),底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合以下規(guī)定: 當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D2.5時(shí),透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2; 當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D D2.52.

60、5時(shí)時(shí), ,透過底片透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m210cd/m2。 、底片評定范圍的寬度普通為焊縫本身及、底片評定范圍的寬度普通為焊縫本身及焊縫兩側(cè)焊縫兩側(cè)5mm5mm寬的區(qū)域。寬的區(qū)域。2323、底片質(zhì)量底片質(zhì)量 、底片上標(biāo)志影像顯示完好、位置正確。、底片上標(biāo)志影像顯示完好、位置正確。 、底片評定范圍內(nèi)的黑度、底片評定范圍內(nèi)的黑度D D符合以下規(guī)定符合以下規(guī)定: : A A 級:級:1.5D4.01.5D4.0; ABAB級:級:2.0D4.0 2.0D4.0 B B 級:級:2.3D4.02.3D4.0。 X X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論