光學(xué)元件表面光潔度標(biāo)準(zhǔn)

1、整理課件1表面光潔度標(biāo)準(zhǔn) 講稿2005/8/6整理課件2一.定義：表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20（或40-20）前者限制劃痕大小，后者限制麻點(diǎn)大小。道子、亮路都統(tǒng)稱為劃痕。斑點(diǎn)、坑點(diǎn)、點(diǎn)子 都稱為麻點(diǎn)。規(guī)定長與寬的比大于長與寬的比大于4：1的為劃痕；長與寬的比小于長與寬的比小于4：1的為麻點(diǎn)。點(diǎn)子劃痕整理課件3當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣時(shí)，等效直徑的計(jì)算以區(qū)域進(jìn)行：表面質(zhì)量要求高的內(nèi)區(qū)域其等效直徑以內(nèi)區(qū)域?yàn)闇?zhǔn)（如有效孔徑的區(qū)域），表面質(zhì)量要求低的外區(qū)域計(jì)算的是整體元件的等效直徑。劃痕點(diǎn)子A區(qū)20-10B

2、區(qū)80-50如左圖元件表面質(zhì)量要求不同，則在判定A區(qū)是否符合要求時(shí)，應(yīng)取內(nèi)圓直徑進(jìn)行計(jì)算。而B區(qū)則取整個(gè)元件的圓直徑整理課件4三角的面積為（低高）/2=(a b)/2三角等效直徑DahD2長方形面積=長寬=a b長方形的等效直徑DD面積=(D/2)2ab美軍標(biāo)規(guī)定對于非圓形元件其直徑取相等面積圓的直徑。abD2ahA區(qū)：20-10B區(qū)：80-503mm1mm4mm2mm對于長方形元件（當(dāng)長與寬的比5mm元件最大劃痕的長度和超過超過元件直徑的1/4。所以元件不合格。不合格。60#劃痕長3mm60#劃痕長3mm左圖是大家看的編號2的樣品（圖片是放大的不是實(shí)際尺寸）圖中的劃痕為20#，且長度1/4D

3、。對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。但本次樣品未提出表面質(zhì)量要求，而是要大家自已決定光潔度等級。因此該產(chǎn)品劃痕可判為40#。整理課件73.當(dāng)元件存在最大劃痕，而最大劃痕的長度之和未超過1/4D，要求所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和，不得超過最大劃痕級數(shù)的一半。例：有一長30mm寬10mm的元件，元件的表面質(zhì)量要求為6040，元件上有2條2mm的60#劃痕，3條4mm的40#劃痕。 它的等效直徑直徑為20mm 1/4D為1/420=5mm 最大劃痕的長度和長度和為： 2mm+2mm=4mm 4mm30；因此，元件不合格不合格。60#劃痕長2mm40#劃痕長4mm整理課件

4、8如左圖所示的產(chǎn)品則20#劃痕長度0.7mm。10#劃痕長度2mm對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品最大劃痕長度1mm1/5。所有級數(shù)的劃痕乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：20 0.7/5+10 2/5=2.8+2=4.8606660；因此，元件不合格。不合格。左圖是大家看的編號3的樣品。（圖片是放大的不是實(shí)際尺寸）圖中有20#劃痕長度2.2mm。10#劃痕長度7mm對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級數(shù)乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：202.2/5+107/5=8.8+17=25.825.840。元件符合40-20整理課件105.

5、當(dāng)元件質(zhì)量指標(biāo)要求劃痕等級為20或優(yōu)于此等級時(shí)，元件表面不準(zhǔn)有密集劃痕即在元件中任何一個(gè)6.35mm面積的區(qū)域，不允許有4條或4條以上的大于等于10#劃痕。20mm左圖是大家看的編號3的樣品。（圖片是放大的不是實(shí)際尺寸）圖中有5條劃痕，該元件直徑為6mm；對于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級數(shù)乘以劃痕長度與元件直徑之比所得乘積之和為：202.2/5+107/5=8.8+17=25.825.840元件不合格不合格。SC-QA027表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)麻點(diǎn)的判定標(biāo)準(zhǔn)有6條。其它5條是美軍標(biāo)規(guī)定的。公司內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)一條。2.每20mm直徑上只允許有1個(gè)最大麻點(diǎn)。例：元

6、件為20mm，質(zhì)量指標(biāo)要求為6040，元件有2個(gè)直徑0.4mm的麻點(diǎn)元件不合格不合格0.4mm的點(diǎn)子元件20mm內(nèi)有二個(gè)直徑0.4mm的點(diǎn)子,元件不合格.元件20mm內(nèi)只有一個(gè)直徑0.4mm的點(diǎn)子,符合本條整理課件153.每20mm直徑上所有麻點(diǎn)直徑的總和不得超過最大麻點(diǎn)的2倍例： 40mm40mm的元件，質(zhì)量指標(biāo)要求為60-40，其中一個(gè)20mm的區(qū)域有40#點(diǎn)子一個(gè)，20#點(diǎn)子一個(gè)，10#點(diǎn)子一個(gè)，同時(shí)在另一個(gè)20mm區(qū)域中，20#點(diǎn)子2個(gè)，10#點(diǎn)子4個(gè)，5#點(diǎn)子1個(gè)。 A區(qū)的麻點(diǎn)直徑的和:=40+20+10=70 80， B區(qū)不合格。因此元件不合格不合格。B區(qū)A區(qū)C區(qū)0.2mm左圖元件

7、表面質(zhì)量要求60-40：A區(qū)麻點(diǎn)直徑和為10+10+20=4080.C區(qū)麻點(diǎn)直徑和為20 2+10=5080.B區(qū)不合格該元件不合格。整理課件16左圖是本次樣品的第11號。（圖片是放大的不是實(shí)際尺寸）有1個(gè)5#點(diǎn)子，1個(gè)3#點(diǎn)子。（但然這些點(diǎn)子有可能擦掉就看不到了這里只是作為例子來說明）。這產(chǎn)品如果不考慮兩點(diǎn)間距可以判定點(diǎn)子為級數(shù)5。為什么？因?yàn)楫a(chǎn)品只有1個(gè)最大點(diǎn)子5#，而所有的點(diǎn)子之和為0.05+0.03=0.080.1(5#點(diǎn)子的兩倍），所有點(diǎn)子可判定為級數(shù)5#。整理課件174.當(dāng)麻點(diǎn)質(zhì)量要求為10或更優(yōu)等級時(shí)，任何兩個(gè)麻點(diǎn)的間距必須大于大于1mm1mm。例:元件40mm40mm的元件，質(zhì)

8、量指標(biāo)要求為20-10,有兩個(gè)5#的點(diǎn)子，點(diǎn)子之間的距離為0.8mm.0.8mm1mm元件不合格不合格0.05mm的點(diǎn)子距離0.8mm左圖是本次樣品的第11號。（圖片是放大的不是實(shí)際尺寸）有1個(gè)5#點(diǎn)子，1個(gè)3#點(diǎn)子。是上面的例子，剛才將它判定為5#，但對于5#級數(shù)兩點(diǎn)間距必須大于1mm，因此元件不符合要求，所有本元件的點(diǎn)子只能判為20#。整理課件185.5.小于小于2.5um2.5um的麻點(diǎn)略去不計(jì)的麻點(diǎn)略去不計(jì)。圖為放大圖為放大50倍顯微鏡觀察到倍顯微鏡觀察到2.5um的麻點(diǎn)的麻點(diǎn)(相當(dāng)于相當(dāng)于0.12mm比正常比正常10#麻點(diǎn)大一些麻點(diǎn)大一些)此麻點(diǎn)可略去不計(jì)！此麻點(diǎn)可略去不計(jì)！6. 當(dāng)出現(xiàn)如圖所示密集麻點(diǎn)時(shí)以麻點(diǎn)聚集的外圍圈徑為麻點(diǎn)大小。當(dāng)出現(xiàn)如圖所示密集麻點(diǎn)時(shí)以麻點(diǎn)聚集的外圍圈徑為麻點(diǎn)大小。以圖中外圓為麻點(diǎn)大小，如果超過表面質(zhì)量要求以圖中外圓為麻點(diǎn)大小，如果超過表面質(zhì)量要求則該元件不合格。則該元件不合格。光潔度寫成兩位數(shù)據(jù)形式時(shí)必須按標(biāo)準(zhǔn)寫，如產(chǎn)品點(diǎn)子判為0#，但劃痕判為40#，則產(chǎn)品光潔度為40-20而不是40-0。如果產(chǎn)品點(diǎn)子判為20#而劃痕判為0#，則產(chǎn)品光潔度為40-20而不是0-20。整理課件19編號13樣品光潔度？