SPC統(tǒng)計過程控制(PPT 79頁)

1、什么是什么是SPC？SPC（Statistical Process Control）統(tǒng)計過程控制，簡稱統(tǒng)計過程控制，簡稱SPC，是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。檢驗和預(yù)防n檢驗是對過程結(jié)束后的輸出進行測量通過抽樣檢驗-發(fā)現(xiàn)合格/不合格通過100%檢驗發(fā)現(xiàn)合格/不合格n預(yù)防是在生產(chǎn)中對過程進行測量通過對過程的測量，使質(zhì)量問題在導(dǎo)致報廢、返工和成本增加之前對其進行糾正抽樣和100%檢驗的不足n簡單抽樣可能會誤導(dǎo)n100%檢驗是一種非常昂貴的方法，同時并不比抽樣精確多少n盡管檢驗把關(guān)，但返工/報廢已經(jīng)發(fā)生n通過抽樣和檢驗進行檢驗把關(guān)并不能發(fā)現(xiàn)問題n一些不合

2、格品仍然可能到達客戶手中質(zhì)量是生產(chǎn)出來的，而不是檢驗出來的-100%的人工檢驗，只能發(fā)現(xiàn)85%的缺陷。-穩(wěn)定的、有能力的過程才能保證產(chǎn)品的質(zhì)量。-過程包括：人、機、料、法、環(huán)，5M。- 過程指標：Cp， Cpk；Pp， Ppk。SPC 的目的的目的 對過程作出可靠的評估；對過程作出可靠的評估； 確定過程的統(tǒng)計控制界限，判斷過確定過程的統(tǒng)計控制界限，判斷過 程是否失控和過程是否有能力；程是否失控和過程是否有能力； 為過程提供一個早期報警系統(tǒng)，及時監(jiān)為過程提供一個早期報警系統(tǒng)，及時監(jiān) 控過程的情況以防止廢品的發(fā)生；控過程的情況以防止廢品的發(fā)生； 減少對常規(guī)檢驗的依賴性，定時的觀察減少對常規(guī)檢驗的依

3、賴性，定時的觀察以及系統(tǒng)的測量方法替代了大量的檢測和以及系統(tǒng)的測量方法替代了大量的檢測和驗證工作；驗證工作； 企業(yè)通過應(yīng)用企業(yè)通過應(yīng)用SPC可以實現(xiàn)可以實現(xiàn)降低成本降低成本 降低不良率，減少返工和浪費降低不良率，減少返工和浪費 提高勞動生產(chǎn)率提高勞動生產(chǎn)率 提供核心競爭力提供核心競爭力 贏得廣泛客戶贏得廣泛客戶 更好地理解和實施質(zhì)量體系更好地理解和實施質(zhì)量體系是通過對數(shù)據(jù)的收集、分類、顯示來評價數(shù)據(jù)內(nèi)涵的系統(tǒng)的方法。又稱“數(shù)學(xué)的科學(xué)”。 術(shù)語和定義術(shù)語和定義統(tǒng)計學(xué) 又稱母體，是指所要研究的全體，可以是有限的，也可以是無限的 。術(shù)語和定義術(shù)語和定義總體總體 從總體中隨機抽取出來的，對它進行測量、

4、分析的一部分產(chǎn)品。 術(shù)語和定義術(shù)語和定義樣本樣本 又稱個體。樣本中的每單位產(chǎn)品。 術(shù)語和定義術(shù)語和定義樣品樣品 又稱樣本容量。一個樣本中所包含的樣品數(shù)量。（212） 術(shù)語和定義術(shù)語和定義樣本大小 為研究一個總體，所抽取的樣本數(shù)量。（20） 術(shù)語和定義術(shù)語和定義樣本數(shù) 用個數(shù)為單位來表示的質(zhì)量特性值數(shù)據(jù)。特點：不可以連續(xù)取值，即整數(shù)位后不允許有小數(shù)的數(shù)據(jù)，統(tǒng)計學(xué)上稱高離散型數(shù)據(jù)。測量出現(xiàn)/不出現(xiàn).如：廢品的件數(shù)、陷數(shù)、如：廢品的件數(shù)、陷數(shù)、出勤人數(shù)、通出勤人數(shù)、通/止數(shù)據(jù)、止數(shù)據(jù)、安裝正確安裝正確/錯誤數(shù)據(jù)、孔鉆通錯誤數(shù)據(jù)、孔鉆通/未通、未通、表面劃傷表面劃傷/未劃傷未劃傷數(shù)據(jù)的種類數(shù)據(jù)的種類

5、計數(shù)值數(shù)據(jù)計量值數(shù)據(jù)用計量器具測量出來的質(zhì)量特性值數(shù)據(jù)。特點是可以連續(xù)取值，整數(shù)位后可以有小數(shù)的數(shù)據(jù)。例例: 零件尺寸、材料的強度、零件尺寸、材料的強度、化學(xué)純度、時間、重量、間隙的化學(xué)純度、時間、重量、間隙的大小、缸徑大小、支架厚度大小、缸徑大小、支架厚度波動（變波動（變差）的概差）的概念念 正是波動的存在，工程師才在正是波動的存在，工程師才在技術(shù)上要求給出公差。技術(shù)上要求給出公差。消除波動不是消除波動不是SPC的目的，的目的，但通過但通過SPC可對波動進行測量、可對波動進行測量、預(yù)測和控制預(yù)測和控制 是指現(xiàn)實生活中沒有兩件東西是一樣的。是指現(xiàn)實生活中沒有兩件東西是一樣的。生產(chǎn)實踐證明，無論

6、多么精密的設(shè)備和工具，多生產(chǎn)實踐證明，無論多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由同一工人，在同一臺么高超的操作技術(shù)，甚至由同一工人，在同一臺設(shè)備上，用同樣的工具，加工同樣的材料設(shè)備上，用同樣的工具，加工同樣的材料的同種零件，零件之間的尺寸也或多或少總是有的同種零件，零件之間的尺寸也或多或少總是有差異，這種差異被稱為波動。差異，這種差異被稱為波動。 4045505560651357911131517192123252729313335373941過程數(shù)據(jù)顯示過程是如何隨過程數(shù)據(jù)顯示過程是如何隨時間而變化的時間而變化的 對過程的變差進行量化是改進過程中的關(guān)鍵一步。了解造成變差的原因可幫助

7、我們確定采取什么類型的措施可達到持久的改進。沒有兩件絕對相同的事物。一個過程執(zhí)行的方式每天都不同。對過程輸出收集的測量數(shù)據(jù)或統(tǒng)計數(shù)據(jù)也是隨時間變化的。波動（變波動（變差）的概差）的概念念 波動的種類波動的種類 正常波動正常波動 是由偶然或隨機因素造成的是由偶然或隨機因素造成的。如：操作的方法的微小變。如：操作的方法的微小變動、機床的微小振動、刀具動、機床的微小振動、刀具的正常磨損、夾具的微小松的正常磨損、夾具的微小松動、材質(zhì)上的微量差異等。動、材質(zhì)上的微量差異等。（它不能被操作人控制，只（它不能被操作人控制，只能由技術(shù)、管理人員控制在能由技術(shù)、管理人員控制在公差范圍內(nèi)。即普通原因產(chǎn)公差范圍內(nèi)。

8、即普通原因產(chǎn)生的變差）生的變差）僅存在正常波動的過程僅存在正常波動的過程是是“穩(wěn)定穩(wěn)定”的過程，其的過程，其輸出是可預(yù)測的輸出是可預(yù)測的 異常波動異常波動 是由系統(tǒng)性因素造成的。是由系統(tǒng)性因素造成的。如：原材料不合格、設(shè)如：原材料不合格、設(shè)備裝備出故障、夾具不備裝備出故障、夾具不良、操作者不熟悉等。良、操作者不熟悉等。異常波動造成的波動較異常波動造成的波動較大，容易發(fā)現(xiàn)，應(yīng)由加大，容易發(fā)現(xiàn)，應(yīng)由加工人發(fā)現(xiàn)并糾正。（即工人發(fā)現(xiàn)并糾正。（即特殊原因產(chǎn)生的變差）特殊原因產(chǎn)生的變差）存在異常波動的過程存在異常波動的過程是是“不穩(wěn)定不穩(wěn)定”的，其的，其輸出是不可預(yù)測的輸出是不可預(yù)測的波動的種類波動的種類

9、 特殊原因：特殊原因：在特定時間或地點發(fā)生了不同的事件普通原因普通原因：在過程中總是有某種程度的存在波動的種類波動的種類 人（MEN）：操作者對質(zhì)量的認識、技術(shù)熟練程度、身體。 機器（MACHINE）：機器設(shè)備、工裝夾具的精度和維修保養(yǎng)的狀況等。 材料（MATERIAL）：成份、理化性能等。方法（METHED）：加工工藝、工裝選擇、操作規(guī)程等。 測量（MEASUREMENT）：量具的選擇、精度及維修保養(yǎng)等。 環(huán)境（ENVIROMENT）：工作地點的溫度、濕度、照明及清潔條件等。 波動的原波動的原因因分析波動材料設(shè)備人員環(huán)境方法糾正措施波動金相化學(xué)尺寸團隊精神溝通專業(yè)知識技術(shù)水平濕度照明溫度清潔

10、度調(diào)試指導(dǎo)書測量系統(tǒng)預(yù)防性維修人機工程機器夾具工裝 統(tǒng)計過程控制（統(tǒng)計過程控制（SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。它對生產(chǎn)過程進行分析評價，根據(jù)反饋信息控制工具。它對生產(chǎn)過程進行分析評價，根據(jù)反饋信息及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態(tài)，以響，使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態(tài)，以達到控制質(zhì)量的目的。當過程僅受隨機因素影響時，過達到控制質(zhì)量的目的。當過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）；當過程中存在程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱

11、受控狀態(tài)）；當過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）。由于過程波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，當過程受控時，狀態(tài)）。由于過程波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機分布；而失控時，過程分過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機分布；而失控時，過程分布將發(fā)生改變。布將發(fā)生改變。SPC正是利用過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性對正是利用過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性對過程進行分析控制的。因而，它強調(diào)過程在受控和有能過程進行分析控制的。因而，它強調(diào)過程在受控和有能力的狀態(tài)下運行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客的力的狀態(tài)下運行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客

12、的要求。要求。SPC技術(shù)原理技術(shù)原理 正態(tài)分布3S0+3S+2S+1S2S1S34.13%34.13%34.13%34.13%13.60%13.60%13.60%13.60%2.14%2.14%2.14%2.14%0.13%0.13%0.13%0.13%95.46%99.73%68.26%3S0+3S+2S+1S2S 1S0102030405060708090100J A S O N D J F M A M J J A S O N D J F MUCLLCLSPC技術(shù)原理技術(shù)原理 目標：使波動達到最小一個過程中總是有某些波動但我們可以努力使波動在目標附近達到最小4045505560657011

13、121314151617181目標目標= 減小波動減小波動目標目標控制圖分類控制圖分類 計量型控制圖計量型控制圖計數(shù)型控制圖計數(shù)型控制圖計數(shù)型控制圖計數(shù)型控制圖 不合格品不合格品數(shù)數(shù)(C)控制圖控制圖:計數(shù)檢驗的個數(shù)相對于被計數(shù)檢驗的個數(shù)相對于被檢驗對象的總體很少時適用檢驗對象的總體很少時適用（要求樣本容量恒定或受檢（要求樣本容量恒定或受檢材料的數(shù)量的恒定，如不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上）材料的數(shù)量的恒定，如不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上） 。單位產(chǎn)品不合格品單位產(chǎn)品不合格品數(shù)數(shù)(U)控制圖控制圖:樣本容量不恒定。樣本容量不恒定。不合格品率不合格品率(P)圖圖:適用于計數(shù)的值所占的比例較適用于計數(shù)的

14、值所占的比例較大時大時（一批檢驗項目中不合格品項目的百分比）（一批檢驗項目中不合格品項目的百分比）. 不合格品數(shù)不合格品數(shù)(nP)圖圖:適用于計數(shù)的值所占的比例適用于計數(shù)的值所占的比例較大時（較大時（但關(guān)心一批檢驗項目中不合格品的數(shù)量）但關(guān)心一批檢驗項目中不合格品的數(shù)量）分分類類計量型控制圖計量型控制圖 均值均值-極差極差(X-R)圖圖:適用于長度適用于長度,重量重量,時間時間,強度強度,成分以及某些電參數(shù)的控制成分以及某些電參數(shù)的控制（子組容量小于（子組容量小于9 ，能方便的計，能方便的計算均值）算均值） 。中位數(shù)中位數(shù)-極差極差(X-R)圖圖 （可替代上圖，一般不能方便的計算均值可替代上圖

15、，一般不能方便的計算均值）均值均值-標準差標準差(X-S)圖圖:適用于樣本較大的過程控制適用于樣本較大的過程控制（子組容量大于等于子組容量大于等于9 ，能方便的計算每個組的，能方便的計算每個組的S值值）。）。 單值單值-移動差移動差(X-MR)圖圖:只能獲得一個測量值或測只能獲得一個測量值或測量成本較高或性質(zhì)上均勻的情形量成本較高或性質(zhì)上均勻的情形. 分分類類分析階段分析階段分析用控制圖監(jiān)控階段監(jiān)控階段控制用控制圖spc 的的 兩個階段兩個階段然后就可以用生產(chǎn)過程收集的數(shù)據(jù)計算控制界限然后就可以用生產(chǎn)過程收集的數(shù)據(jù)計算控制界限，作成分析用控制圖、直方圖、或進行過程能力，作成分析用控制圖、直方圖

16、、或進行過程能力力分析，檢驗生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計穩(wěn)態(tài)、以及力分析，檢驗生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計穩(wěn)態(tài)、以及過程能力是否足夠。如果任何一個不能滿足，則過程能力是否足夠。如果任何一個不能滿足，則必須尋找原因，進行改進，并重新準備生產(chǎn)及分必須尋找原因，進行改進，并重新準備生產(chǎn)及分析。直到達到了分析階段的兩個目的，則分析階析。直到達到了分析階段的兩個目的，則分析階段可以宣告結(jié)束，進入段可以宣告結(jié)束，進入SPC監(jiān)控階段監(jiān)控階段 。分析階段首先要進行的工作是生產(chǎn)準備，即把生分析階段首先要進行的工作是生產(chǎn)準備，即把生產(chǎn)過程所需的原料、勞動力、設(shè)備、測量系統(tǒng)等產(chǎn)過程所需的原料、勞動力、設(shè)備、測量系統(tǒng)等按照標準要求進

17、行準備。一定要確保生產(chǎn)是在影按照標準要求進行準備。一定要確保生產(chǎn)是在影響生產(chǎn)的各要素無異常的情況下進行響生產(chǎn)的各要素無異常的情況下進行 分析階段分析階段分析階段的主要目的分析階段的主要目的 使過程處于統(tǒng)計穩(wěn)態(tài)使過程處于統(tǒng)計穩(wěn)態(tài) 使過程能力足夠使過程能力足夠 監(jiān)控階段監(jiān)控階段此時控制圖的控制界限已經(jīng)根據(jù)分析階段的結(jié)果此時控制圖的控制界限已經(jīng)根據(jù)分析階段的結(jié)果而確定，生產(chǎn)過程的數(shù)據(jù)及時繪制到控制圖上，而確定，生產(chǎn)過程的數(shù)據(jù)及時繪制到控制圖上，并密切觀察控制圖，控制圖中點的波動情況可以并密切觀察控制圖，控制圖中點的波動情況可以顯示出過程受控或失控，如果發(fā)現(xiàn)失控，必須尋顯示出過程受控或失控，如果發(fā)現(xiàn)失

18、控，必須尋找原因并盡快消除其影響。監(jiān)控可以充分體現(xiàn)出找原因并盡快消除其影響。監(jiān)控可以充分體現(xiàn)出SPC預(yù)防控制的作用。預(yù)防控制的作用。 控制控制預(yù)防預(yù)防收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)分析和改進分析和改進控制圖控制圖X-R控制圖控制圖 合理選擇子組合理選擇子組A.應(yīng)使得一個子組在該單元中的各樣本之間應(yīng)使得一個子組在該單元中的各樣本之間出現(xiàn)的變差的機會小。出現(xiàn)的變差的機會小。B.單一的過程流單一的過程流.目的目的:每個子組內(nèi)的零件都是在很短的時間間每個子組內(nèi)的零件都是在很短的時間間隔內(nèi)及非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的隔內(nèi)及非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的,相互之間不存在其它的系統(tǒng)的關(guān)系相互之間不存在其它的系統(tǒng)的關(guān)系

19、.(子組內(nèi)子組內(nèi)的變差主要是普通原因造成的的變差主要是普通原因造成的)X-R控制圖控制圖 控制限控制限用于生產(chǎn)現(xiàn)場的控制圖必須有控制限用于生產(chǎn)現(xiàn)場的控制圖必須有控制限!還沒有計算控制限的初期還沒有計算控制限的初期(沒有足夠的數(shù)據(jù)沒有足夠的數(shù)據(jù)),控制圖上應(yīng)清楚的標明控制圖上應(yīng)清楚的標明“初始研究初始研究”字樣字樣.這些清楚的標明這些清楚的標明“初始研究初始研究”字樣的控制圖字樣的控制圖一定是用于能力的初次確定或過程改進一定是用于能力的初次確定或過程改進/改改變后的研究的變后的研究的.X-R控制圖控制圖 注意事項注意事項 收集的數(shù)據(jù)不能混淆，必須是同一臺設(shè)備，收集的數(shù)據(jù)不能混淆，必須是同一臺設(shè)備

20、，同一個工序，同一個過程流（輸入材料批次同一個工序，同一個過程流（輸入材料批次不能混淆）的數(shù)據(jù)。不能混淆）的數(shù)據(jù)。 對重要的過程活動如換班、操作人員更換對重要的過程活動如換班、操作人員更換、更換刀具、材料的批次變化、修理機器等、更換刀具、材料的批次變化、修理機器等要進行標識并記錄。要進行標識并記錄。均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟nA收集數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)記錄原始數(shù)據(jù)及建立控制圖記錄原始數(shù)據(jù)及建立控制圖計算每個子組的均值計算每個子組的均值Xbar和極差和極差RnR=X最大最大-X最小最小nxxxXn.21式中：x1,x2xn為子組內(nèi)測量值，n為子組樣本nA收集數(shù)據(jù)A4選擇控制圖刻度nXbar

21、圖：坐標最大刻度值與最小刻度值之差應(yīng)至少為子組均值Xbar的最大值與最小值的2倍nR圖：最低值0開始到最大值之間的差值為極差的2倍n建議：R圖值的刻度值設(shè)置為均值圖刻度值的2倍A5將均值和極差畫在控制圖上均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟nB計算控制限B1計算平均極差和過程平均值kRRRRk.21kXXXXk.21式中：k為子組數(shù)量-B2 計算控制限RAXLCLRAXUCLRDLCLRDUCLXXRR2234式中：D3,D4,A2為常數(shù)，隨樣本量不同而不同均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟控制圖常數(shù)nA2d2D3D421.8801.128*3.26731.0231.693*2.54

22、740.7292.059*2.28250.5772.326*2.11460.4832.534*2.00470.4192.7040.0761.92480.3732.8470.1361.86490.3372.9700.1841.777Xbar， R 圖特性8101214UCL =13.1LCL = 9.3X = 11.212345678910111213141516171819202122X， R 圖圖數(shù)據(jù)點數(shù)據(jù)點 = Xs中線中線 = Xs 的平均值的平均值024612345678910111213141516171819202122UCL = 5.9R = 2.6數(shù)據(jù)點數(shù)據(jù)點 =子組范圍子組范

23、圍 中線中線 = 子組范圍的平均值子組范圍的平均值 子組平均值子組平均值 (Xs) 圖顯示在上面；圖顯示在上面；子組范圍圖顯示在下面子組范圍圖顯示在下面X, R 圖UCL =13.1LCL = 9.3X = 11.2X, R 圖圖8.09.010.011.012.013.014.012345678910 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 240123456712345678910 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24UCL = 5.9R = 2.6上圖中的每個數(shù)據(jù)點表示一個子組的平均值。下圖中的每個對應(yīng)點

24、表示該子組內(nèi)的范圍。nC4識別和標注特殊原因 過程失控時通常應(yīng)注意的問題是否控制線計算錯誤或描點錯誤？使用的測量系統(tǒng)精度是否有所不同？不同的操作者使用的方法是否相同？過程是否受環(huán)境影響（例如：溫度和濕度？）環(huán)境是否有很大變化？過程是否受工裝磨損的影響？此時過程中是否有沒有經(jīng)過培訓(xùn)的員工？原材料貨源是否有變化？操作者的疲勞是否會影響過程維修保養(yǎng)程序是否有變化？設(shè)備是否定期調(diào)整？樣本來源是否是不同的設(shè)備？班次？操作者？操作者是否愿意匯報“壞消息”？均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟n局部措施用于消除異常波動n通常可以有過程周圍的人員采取n可以糾正15%的過程問題n對系統(tǒng)采取措施通常用于降低正

25、常波動需要采取管理措施進行糾正可以糾正85%的過程問題均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟nC5重新計算控制限nC6延長控制限供繼續(xù)生產(chǎn)使用當首批或以往的數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)時，可延長控制限供將來一段時間生產(chǎn)使用如果過程中心偏離目標值，調(diào)整過程使之對準目標值子組樣本量變化將影響均值/極差和均值/極差的控制限只要過程均值/極差保持受控，可將控制限用于后續(xù)控制如果證據(jù)表明過程的均值或極差已經(jīng)改變（不論哪個方向），應(yīng)查明原因：如果變化是可調(diào)整的如果變化是可調(diào)整的，應(yīng)根據(jù)當前的性能重新計算控制，應(yīng)根據(jù)當前的性能重新計算控制限限均值和極差圖實施步驟均值和極差圖實施步驟單值和移動極差控制圖n應(yīng)用情況

26、測量費用很大任何時刻點的輸出性質(zhì)比較一致時，如化學(xué)溶液的PH值n應(yīng)注意單值控制圖在檢查過程變化時不如Xbar-R圖敏感，Xbar-R圖更能代表過程在抽樣時的特性。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間的重復(fù)性需要100個以上子組計數(shù)型控制圖n所有技術(shù)或行政管理都涉及到n在很多情況下已有計數(shù)值n很快獲得新的數(shù)值且不需要很多的費用n許多用于管理總結(jié)報告的數(shù)據(jù)是計數(shù)值n控制圖分六個區(qū)域311232Center lineABCBAC如何判斷？如何判斷？X-R控制圖控制圖穩(wěn)定狀態(tài)的標志穩(wěn)定狀態(tài)的標志 （2/31/3原則）原則）大多數(shù)點靠近中心線大多數(shù)點靠近中心線 極少數(shù)點接近上、下控制限極少數(shù)點接近上、下控制限

27、沒有點超出控制限沒有點超出控制限 如何判斷？如何判斷？0510012345678910Observation NumberIndividual ValueI Chart for C11Mean=5.016UCL=8.599LCL=1.433點超出控制限點超出控制限n一個點超出控制限如何判斷異常如何判斷異常？n過程偏移過程偏移151050109876543210Observation NumberIndividual ValueI Chart for C1111Mean=4.364UCL=8.170LCL=0.5590051015-101234Observation NumberIndividu

28、al ValueI Chart for C1Mean=1.5UCL=3.692LCL=-0.691805100123Observation NumberIndividual ValueI Chart for C1Mean=1.5UCL=2.836LCL=0.16450510012Observation NumberIndividual ValueI Chart for C1Mean=1UCL=2.239LCL=-0.2391連續(xù)7點在中心線一側(cè)連續(xù)14點中12點在中心線一側(cè)連續(xù)11點中10點在中心線一側(cè)連續(xù)3點中2點在A區(qū)05101.01.11.21.31.41.51.61.71.8Obser

29、vation NumberIndividual ValueI Chart for C1Mean=1.4UCL=1.732LCL=1.068連續(xù)5個點中4個點在B區(qū)內(nèi)或超出B區(qū)如何判斷異常如何判斷異常？ 過程偏移過程偏移過程偏移可能由如下原因引起： 工裝更改 設(shè)置更改 材料更改 操作程序不同 不同的操作者如何判斷異常如何判斷異常？0102078910111213Observation NumberIndividual ValueI Chart for C1Mean=10.08UCL=12.73LCL=7.424n趨勢狀：趨勢狀： 7個點連續(xù)上升或下降個點連續(xù)上升或下降n通常原因刀具磨損材料失效設(shè)

30、備老化如何判斷異常如何判斷異常？051 01 501 02 0O b servation N u m b erIndividual ValueI C h art for C 1M e a n=9 .7 0 3U C L =1 8 .7 0L C L =0 .7 0 3 3連續(xù)連續(xù)15個點全部在個點全部在C區(qū)區(qū)n大多數(shù)點集中在控制圖中心線附近n通常原因為一個子組內(nèi)樣品不是連續(xù)抽取得，造成控制線過寬測量系統(tǒng)精度差，沒有反應(yīng)出數(shù)據(jù)的波動層狀層狀如何判斷異常如何判斷異常？8765432120100-10-20Observation NumberIndividual ValueI Chart for C

31、1Mean=2.691UCL=20.97LCL=-15.59n8個連續(xù)點位于控制圖中心線兩側(cè)， 且沒有一個位于C區(qū)n通常原因為樣本來自兩個具有不同過程均值的過程混合過程混合過程如何判斷異常如何判斷異常？（波動過大）（波動過大）使用控制圖觀察什么使用控制圖觀察什么n好的控制圖是與過程同時使用。圖應(yīng)該張貼出來或方便獲取。圖應(yīng)該是最新版次。圖應(yīng)該看起來應(yīng)使用過（有污跡和磨損痕跡）。應(yīng)該在圖中寫出注解：n過程變化的日期n對以后可能引起問題的事件的注釋n對已驗證的特殊原因的確認n消除特殊原因所采取的措施（此圖應(yīng)很少指出無法確定的原因）n規(guī)格界限與控制界限n規(guī)格界限規(guī)格界限來自工程或客戶要來自工程或客戶要

32、求求表示某人希望過程表示某人希望過程做什么做什么有時可通過更改產(chǎn)有時可通過更改產(chǎn)品或服務(wù)的要求來品或服務(wù)的要求來更改更改控制界限控制界限來自對過程數(shù)據(jù)的來自對過程數(shù)據(jù)的計算計算表示過程可實際做表示過程可實際做什么什么只能通過更改過程只能通過更改過程來更改來更改討論：規(guī)格界限與控制界限討論：規(guī)格界限與控制界限1015202530354045505560012345678910 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21UCL = 50.0LCL = 20.2X = 35.1客戶的規(guī)格上限= 40 客戶的規(guī)格下限 = 30 比較規(guī)格界限和控制界限比較規(guī)格界限和控制界限不穩(wěn)定不

33、穩(wěn)定（不受控制） 穩(wěn)定穩(wěn)定（受控制）在規(guī)格界限內(nèi)在規(guī)格界限內(nèi)規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格下限規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格上限UCLLCLUCLLCL在規(guī)格界限外在規(guī)格界限外規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格下限規(guī)格上限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格下限UCLLCLUCLLCL過程量度的定義過程量度的定義 CP= 能力指數(shù)（能力指數(shù)（不考慮偏移）不考慮偏移）PP= 性能指數(shù)（性能指數(shù)（不考慮偏移）不考慮偏移）PP僅用來于僅用來于CP、CPK對比，或于它們一起去度量和確定一段時間內(nèi)的對比，或于它們一起去度量和確定一段時間內(nèi)的優(yōu)先次序。優(yōu)先次序。USL-LSL6 R/d2USL-LSL 6 S以下這兩個能力指數(shù)定義

34、為公差以下這兩個能力指數(shù)定義為公差寬度除以能力，與過程中心無關(guān)寬度除以能力，與過程中心無關(guān) S：通常通過樣本的標準差通常通過樣本的標準差S計算計算而得。而得。 nS= i=1(Xi-X) n-12其中：其中： USL = 上規(guī)格限上規(guī)格限LSL = 下規(guī)格限下規(guī)格限6s = 6 倍的樣本標準偏差倍的樣本標準偏差LSLUSL如圖所示，過程能力CP 和和Pp是公差寬度除以過程分布。 CP 和和Pp由公差和過程分布決定，并不考慮位置。紅色的（左側(cè)的）和蘭色的（右側(cè)的）分布具有相同的CP 和和Pp 。事實上，在紅色的（左側(cè)的） 部分生產(chǎn)的零件可能在規(guī)格范圍內(nèi)，但事實上，在蘭色的（右側(cè)的） 部分生產(chǎn)的零

35、件可能都在規(guī)格范圍外。能力指數(shù)普通過程能力指數(shù)： CP 和和Pp(USL-LSL)/ 6or 6scap2.mgf(USL-LSL)6s6s過程量度的定義過程量度的定義 CPU= 上限能力指數(shù)上限能力指數(shù) CPL= 下限能力指數(shù)下限能力指數(shù)CPK：這是考慮過程中心的能力指數(shù)，定義為CPU或CPL 的最小值。USL-X3 R/d2X-LSL 3 R/d2過程量度的定義過程量度的定義PPK：考慮過程中心的性能指數(shù)?？紤]過程中心的性能指數(shù)。 Or 的最小值的最小值該系數(shù)用來于CP、CPK對比，并測量和確定隨時間改進的優(yōu)先次序。USL-X3 SX-LSL 3 SLSLUSL能力指數(shù)CPk or Ppk

36、 = min(USL - Xbar)/3 、 s or (Xbar - LSL)/3 、 s(Xbar - LSL)(Xbar - LSL)Red 3s = Blue 3sCPk or Ppk 取決于公差、分布和與規(guī)格限的距離.這兒我們可以發(fā)現(xiàn)CPk or Ppk定義中規(guī)格限的影響。上述兩個過程具有相同的的 CP和和Pp、相同的分布和公差。蘭色的（左側(cè)的） CPk or Ppk由于(Xbar-LSL) 較小而顯得比較低。普通過程能力指數(shù)： CPk 和和Ppk常用過程能力指數(shù)：指數(shù)符號指數(shù)符號指數(shù)名稱指數(shù)名稱Minitab 中的默認公式中的默認公式（正態(tài)分布情況）（正態(tài)分布情況）備注備注Cp能力

37、指數(shù)能力指數(shù)(USL-LSL)/6 sST同時使用上限和下限規(guī)格時才定義此指數(shù)。Pp性能指數(shù)性能指數(shù)(USL-LSL)/ 6 sLT同時使用上限和下限規(guī)格時才定義此指數(shù)。CPU上限能力指數(shù)上限能力指數(shù)(USL-X)/3 sSTPPU上限性能指數(shù)上限性能指數(shù)(USL-X)/3 sLTCPL下限能力指數(shù)下限能力指數(shù)(X-LSL)/3 sSTPPL下限性能指數(shù)下限性能指數(shù)(X-LSL)/3 sLTCpk能力指數(shù)能力指數(shù)CPU，CPL 的最小值Cpk 考慮過程中點，而 Cp 則沒有。Ppk性能指數(shù)性能指數(shù)PPU，PPL 的最小值Ppk 考慮過程中點，而 Pp 則沒有?？偨Y(jié)總結(jié)n 普通過程能力指數(shù)：C和

38、和P指數(shù)之間的區(qū)別僅僅在估計標準偏差指數(shù)之間的區(qū)別僅僅在估計標準偏差的方法的方法；當你發(fā)現(xiàn)帶當你發(fā)現(xiàn)帶“C”的指數(shù)，則采用控制圖中的指數(shù)，則采用控制圖中的平均極差去估計標準偏差的平均極差去估計標準偏差； 當你發(fā)現(xiàn)帶當你發(fā)現(xiàn)帶“P”的指數(shù)，則采用所有的數(shù)的指數(shù)，則采用所有的數(shù)據(jù)去估計標準偏差據(jù)去估計標準偏差；顧客一般要求你遞交初始研究的顧客一般要求你遞交初始研究的Pp或或Ppk ；二者的計算均假設(shè)數(shù)據(jù)是正態(tài)分布二者的計算均假設(shè)數(shù)據(jù)是正態(tài)分布；Cp, Cpk, Pp, Ppk總結(jié)總結(jié) 只要過程的均值和極差只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限保持受控，可將控制限延長用于以后的時期，延長用于以后的時期，但是，如果有證據(jù)表明但是，如果有證據(jù)表明過程的均值或極差已改過程的均值或極差已改變，應(yīng)查明原因，如果變，應(yīng)查明原因，如果變化是可調(diào)整的，根據(jù)變化是可調(diào)整的，根據(jù)當前的性能重新計算。當前的性能重新計算。(接下頁接下頁)實際操作中的幾點誤區(qū)實際操作中的幾點誤區(qū)1.控制限要經(jīng)常重新計算？控制限要經(jīng)常重新計算？一旦經(jīng)過合適的計算，并一旦經(jīng)過合適的計算，并且過程中普通原因變差且過程中普通原因變差不發(fā)生改變，則控制限不發(fā)生改變，則控制限就是合理的，出現(xiàn)偏差就是合理的，出現(xiàn)偏差的特殊原因的信號不需的特殊原因的信號不需要重新計算控制限，用要重新計算控制限，用于長期分析的控制圖最