LED光源的光衰測試方法

1、(19)中華人民共和國國家知識產權局1111111111111111111(12)發(fā)明專利申請(10)申請公布號 CN 101694401 A(43)申請公布日2010. 04. 14權利要求書1頁 說明書4頁 附圖1頁(21) 申請?zhí)?200910181020.2(22) 申請日 2009. 10. 28(71) 申請人東莞勤上光電股份有限公司地址523565 r東省東莞市常平鎮(zhèn)橫江廈村(72) 發(fā)明人張進發(fā)林志永(74)專利代理機構 北京科億丸I識產權代理爭務 所(普通合伙)11350 代理人湯東鳳(51) Int.CI.GO1J 力0(2006. 01)GO1J 必“ (2006. 01

2、)(54)發(fā)明名稱LED光源的光哀測試方法(57)摘要本發(fā)明公開了 一種I E D光源的光衰測試方 法,其步驟是：將LED光源固定在一內層表面為黑 色的中空筒體內的一端，在筒體內對應位置安裝 一個照度計探頭,照度計探頭與LED光源對應，讀 取照度值丄ED光源不動，隔固定時間讀取-個照 度值，多次讀取，記錄每個照度值：根據上述多次 讀取的數據計算光衰。優(yōu)點是：照度讓可直接讀 數，避免了測試儀器造成的測試結果不準確：照 度汁有光就有讀數，解決了測光距離的問題，內層 農1佰為黑色的筒體避免了雜光彫晌；一次安裝完 畢后，直到測量出結果無需移動LED光源,降低光 源位置和角度的影響以及人為讀數差異，因此

3、提 高了測試的準確性。><CN 101694401 A權利要求書1/1頁1. 一種LED光源的光衰測試方法，其特征在于，其步驟是：將LED光源固定在一內層表面為黑色的中空筒體內的一端，在筒體內對應位置安裝一 個照度訃探頭，照度計探頭與LED光源對應，讀取照度值；LED光源不動,隔固定時間讀取一個照度值，多次讀取，記錄每個照度值；根據上述多次讀取的數據計算光衰。2. 根據權利要求1所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，所述筒體置于恒溫房 內。3. 根據權利要求1所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，有一固定架，所述固 定架上有多個安裝孔，筒體置于所述安裝孔內。4. 根狷權

4、利要求1所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，所述LED光源底部安 裝一個散熱器。5. 根據權利要求1-4屮任一項所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，所述筒體 內LED光源和照度計Z間設有隔柵,隔柵上開孔。6. 根據權利要求5所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，所述LED光源的中軸 線與隔柵孔的中軸線以及照度計探頭中軸線重合。7根據權利要求5所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在丁，所述隔柵孔的直徑大 于照度計探頭直徑。8. 根據權利要求5所述的I.EI）光源的光衰測試方法，其特征在丁，所述筒體內設有3-5 層隔棚O9. 根據權利要求8所述的LED光源的光衰測試方法，其

5、特征在于，所述隔柵等間距設 置。根據權利要求8所述的LED光源的光衰測試方法，其特征在于，所述筒體的氏度為 300-350mrr ,外徑為 50-100mmo3CN 101694401 A說明書1/4頁LED光源的光衰測試方法技術領域0001 本發(fā)明涉及一種測試方法,特別是指一種LED光源的光衰測試方法。背景技術0002 在LED光源工作的過程中，由于熱量及其它因素影響，熒光粉及芯片會逐漸老化， 芯片的電光轉換效率會變低，而熒光粉受激發(fā)出光也會減少，導致LED光源整體發(fā)光效率 變低,此現象稱之為LED光源的光衰。0003 當光衰達到一定程度時，I.ED光源發(fā)光就不能滿足使用需要，此時I.ED光

6、源的壽命 即完結。由于LED光源光衰極其緩慢,通常達到兒萬小時才會達到其壽命，因此測量LED光 源壽命的方法，都是通過測量其在一定時間內的岀光減少量，以此總結得出壽命值。0004 現階段行業(yè)內最為常用的方法是通過積分球，定期多次測量再積分得出LED光源 光通量，然后計算出一定時間內光通屋的變化，再估算出LED光源的壽命，該測試方法為： 首先將LED光源通過積分球測試總光通量，然后將光源放到恒流板老化儀中測試,到一定 時間，再從恒流板將光源拆卜放入積分球測試總光通量，測試完成后再放回恒流板中進行 老化（此過程中LED光源一直處于點亮狀態(tài)）。0005在這種反反復復的老化光衰過程屮，存在太多的誤差，

7、所以造成測試的結果誤差 很大,原因主要有：0006 1、人為因素：每次測試都需將光源從老化板上拆下，在拆裝的過程中，有沾導熱膠 厚薄的誤差造成散熱問題；有手動挑動LED光源的不良問題；有反復拆卸電路與夾具接觸 不良問題；有手動將LED光源放入積分球的距離、位置以及角度微差所造成的誤差以及讀 取測試結果產生的誤差：00072、測試儀器因素：特別是積分球光學儀器,無論它多先進，每次測試的總光通量都會偏差，因為這是靠軟件進行積分計算而得到的數值，不是直接測試的數值，并幾不穩(wěn)定， 巫復性差；而幾距離過遠時枳分球測量到的光線過少，結果不準確，太近又有雜光影響。00083、測試儀器：其粘確度直接影響到測試

8、結果；00094、探光距離：即測試儀器與LED光源Z間的距離，光傳播過程中會有損耗,因此距離太遠測試結果偏差大丄ED光源發(fā)出光線是朝向各個方向的，因此距離太近則測試儀器 接收到的光線不純,也會影響到測試結果；00105、位置和角度:LED光源與測試儀器的相對位置和角度，影響到測試儀器接收到的光線，也會影響到測試結果；00117、夾具：夾具夾緊的程度及夾緊位置，影響到安裝的位置和角度。0012上述這些因索都很容易使原來的光發(fā)生漂移，使測量得到的單顆LED光源的照度 或光通量出現大幅度偏差，從而嚴垂影響光衰測試的準確性，因此影響光衰測試的準確性。0013 而J1,多次拆裝，導致測試效率低。積分球的

9、價格是比較昂貴的，而11需要使用軟 件,因此一臺計算機也是必需的，這樣總體設備的成本就比較高。發(fā)明內容0014本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種可以主要可以提高測試準確性的LED光 源的光衰測試方法。00為了解決上述問題，本發(fā)明采収以下技術方案：0016一種LED光源的光衰測試方法，其步驟是：0017將LED光源固定在一內層表而為黑色的中空筒體內的一端,在筒體內對應位宜安 裝一個照度計探頭,照度計探頭與LED光源對應，讀取照度值；00 LED光源不動，隔固定時間讀取一個照度值，多次讀取，記錄每個照度值；0019 根據上述多次讀取的數據計算光衰。0020優(yōu)選的，所述筒體置于恒溫房內。0021優(yōu)選

10、的，有一固定架，所述固定架上有多個安裝彳L,筒體置于:所述安裝孔內。0022優(yōu)選的，所述LED光源底部安裝一個散熱器。0023優(yōu)選的，所述筒體內LED光源和照度計之間設有隔柵，隔柵上開孔。0024優(yōu)選的，所述LED光源的中軸線與隔柵孔的中軸線以及照度訃探頭中軸線巫合。0025優(yōu)選的，所述隔柵孔的直徑大于照度訃探頭直徑。0026優(yōu)選的，所述筒體內設有3-5層隔柵。0027優(yōu)選的，所述隔柵等間距設置。0028優(yōu)選的，所述筒體的長度為300-350mm,外徑為50-100mmo0029 本發(fā)明的有益效果為:0030 1、避免了測試儀器的局限性：不需要通過積分計算，而直接讀數，測量時照度計測 量到LE

11、D光源射向照度計探頭范用內的光線得知光通量和面積，通過公式：照度(lux)=光 通量(lm)/面積(n?)得到光通量變化，從而得知光衰,準確度很高。0031 2、避免了探光距離產生的誤差：本方案屮不論遠近，照度訃只要冇讀數即可，而幾 由干LED光源在黑色裝置內，沒有雜光影響°0032 3、降低了位置與角度的影響：一次安裝完畢后，直到測屋出結果無需移動LED光 源，照度計每次測笊都是筒體內相同面積上的照度值，因此多次測吊:過程屮的位置與角度 是一致的，能將此影響降至最低。0033 4、降低人為因素的影響：一次安裝完畢后可以一直放置到測量出結果才拆卸，避 免了多次拆裝產生的位置及角度變化

12、；測試的讀數由照度計木身完成，不心在人為讀數差 異。0034 5、降低了夾具對測試結果的影響：一次安裝完世后，直到測量出結果，因此多次測 量過程中的夾具的夾緊位置與角度是一致的，能將此影響降至最低。0035 綜上可知，測試的準確性提高了。附圖說明0036圖1是實施例筒體的結構示意圖;0037圖2是托架的結構示意圖；0038圖3是實施例1中測試裝置的裝配圖；0039圖4是實施例2中筒體的內部示意圖；0040圖5是實施例3的測試裝置的裝配示意圖；0041 圖6是圖5的剖視圖；0042 圖7是固定架的結構示意圖；0043圖8是固定架使用狀態(tài)的結構示意圖。0044圖中：0045 筒體-1隔固定卡孔-1

13、2隔柵孔T3托架-2照度計-3探頭-31I£D光源-4散熱器-5固定架-6安裝孔-61同定卡圈-7具體實施方式0046為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易帰，下面結合附圖和具體實 施方式對本發(fā)明作進一步詳細的說明。0047 實施例1 :0048 參照圖1-圖3, 種LED光源的光衰測試方法，測試裝置包括一個內層表面為黑色 的中空的筒體1,一個托架2和一個照度計3（常用工具），參照圖3和圖4,筒體1底部敞 開,結合圖6, LED光源4安裝在托架2底部（為常規(guī)技術，在此不做贅述），托架2頂部套 在筒體1敞開端外。參照圖1,筒體1另一端面上開設有一個與照度汁圓形探頭31適配的 圓

14、孔狀的固定卡孔12,參照圖3,照度計探頭31卡在該固定卡孔12內，面向筒體1內。裝 完后，LED光源發(fā)射的光射向照度計,讀取照度值；然后保持LED光源4不動，移走照度計3 或關閉照度計3,隔固定吋間拿冋來或再打開照度計3讀取一次,重復上述步驟，多次讀取, 每次測試后，記錄照度值及測試的日期/時間；可以發(fā)現每次的測量數據波動極具有規(guī)率, 當記錄照度值次數較多時，以測試日期/時間與照度值建立坐標系,將每個照度值用平滑 的曲線連接起來，得到一條比較直的曲線，以此可以得出光衰從而算出LED光源4壽命。0049 對于筒體1的氏度，在測試時以使探頭31能接攻到LED光源4發(fā)出的光線（即測 試時照度訃3上有

15、非零的數值）的長度即可,筒體越長理論卜測試結果越準,們光線存?zhèn)鞑?過程屮有損耗，照度計3接收到的光線也就越弱，因此。結合生產要求及安裝測試要求，建 議采用的長度為300-350mm,外徑為50-100mmo0050 本測試方法具有如下優(yōu)點：0051 1、避免了測試儀器的局限性：不需要通過積分計算，而直接讀數，測量時照度計測 量到LEI）光源射向照度計探頭范用內的光線得知光通量和面積，通過公式：照度（lux）=光 通量（Im）/面積（m2）得到光通量變化，從而得知光衰,準確度很高。00522、避免了探光距離產生的誤差：本方案中不論遠近，照度讓只要有讀數即可，而11由于LED光源在黑色裝置內，沒有

16、雜光影響。00533、降低了位置與角度的影響：一次安裝完畢后，直到測量出結果無需移動LED光源,照度計每次測吊都是筒體內相同面積上的照度值，因此多次測ht過程屮的位置與角度 是一致的，能將此影響降至最低。00544、降低人為因素的影響：一次安裝完畢后可以一直放置到測量出結果才拆卸，避免了多次拆裝產生的位置及角度變化；測試的讀數由照度計本身完成，不存在人為讀數差 異。00555、降低了夾具對測試結果的影響：一次安裝完比后，直到測量出結果，因此多次測 量過程中的夾具的夾緊位置與角度是一致的，能將此影響降至最低。0056£、由于筒體內層表面是黑色的，避免了雜光的影響。0057 綜上可知，測

17、試的準確性提高了。0058同時，安裝完畢，直到測量出結果，都不用進行多次的拆裝操作，操作更為簡單便 捷省事，提高了測試效率。0059 實施例2 :0060 LED光源4發(fā)出的光線是向四而八方發(fā)射的，在LED光衰過程屮，其任意角度的出 光量都是隨時間的變化而減少的,在上述實施例1中的御體1內設置一層或多層隔柵11,并 在隔柵11上開孔，如圖4。定期測量此位置上的照度值，根據多次測量出的結果計算出出 LED光源4的光衰速度,估算出壽命值，使照度汁3每次都測量LED光源4該一固定的小范 由內出光方向的照度值，這樣的測試結果史準確。優(yōu)選的，孔的直徑略大照度計探頭31 直徑，避免安裝時人為誤差導致LED

18、光源4光線被隔柵11擋住過多。0061 參照圖4,優(yōu)選的，LED光源4的中軸線與隔柵孔13的中軸線以及照度計探頭31 中軸線巫合，這樣可以保證照度計可以接收到垂直的光線，便于照度訃的安裝，使測試結果 最準確。0062 參照圖4,優(yōu)選的，隔柵11等間距排列,測試結果更加準確。0063 隔柵11的數目越多測試結果越準確，但生產越困難,結合測試要求及生產要求, 建議采用3-5層隔柵。0064 實施例3 :0065 參照圖圖5和圖6,對于以上實施例，在LED光源4底部裝一散熱器5, LED光源4 安裝在一個固定卡圈7卜，兩端通過螺釘鎖緊固定，固定卡圈7固定在在托架2底部，提高 LED光源彳的散熱性。0066 實施例4 :r00671 參照圖7和圖8,為了同時進行多個LED光源4的測試，提高測試效率，可以設計一 個多層，每層上有多個安裝孔61的固定架6,每個安裝孔61內安裝一個筒體1,可同時進行 多個LED光源4的測試，提高了效率。0068 實施例5 :0069 對丁上述各實施例，將測試裝置放進一個恒溫房（圖中未示出）內，降低外界環(huán)境 的影響：測試全在恒溫房中進行，將外界的光、熱、風對測試的影響降至最低，而且不影響散 熱。0070本測試裝置中，只需要一個照度計，價格便宜，主要的筒體、托架、固定架均為自